【課題】実際の検査に用いられた画像を用いて、検査結果の確認に適した見本画像を簡単に登録できるようにする。
【解決手段】部品実装後の検査のための検査装置１Ａと、はんだ付け後の検査のための検査装置１Ｂと、情報処理装置２とによる基板検査システムにおいて、各検査装置１Ａ，１Ｂから情報処理装置２に、検査に使用した画像や検査結果を被検査部位毎に送信する。情報処理装置には、あらかじめ、良品や不良品の見本画像が表すべき内容を示す指標データが複数登録されており、指標データ毎に、検査装置１Ａ，１Ｂから送信された画像の中から当該指標データに最も適合するものを抽出し、見本画像として登録する。 （もっと読む）

【課題】難認識で知られる非格子配置（ランダム配置）ＢＧＡに対して、強力な認識能力を発揮することが可能なボール部品の認識方法及び装置を提供する。
【解決手段】画像入力部と、ボールパターン認識部と、部品認識部と、制御部とから構成される部品認識装置を用いて、ボール部品を画像により認識する方法であって、画像からボール電極の座標を次々と抽出し、画像抽出電極とボールパターン定義電極を結合したデータを節とするグラフでなる経路を生成して格納し、経路を入力として、ボールパターン定義電極について画像上に存在予測領域を出力し、画像抽出電極座標と前記予測領域の包含を判定し、包含されると判定されたとき、節を追加して経路を成長させ、経路とボールパターンを照合する。 （もっと読む）

【課題】 低コストで検査時間の短縮を図りながら検査精度の良い、組付け位置検査装置を提供する。
【解決手段】 組付け位置検査装置は、検査対象物１が締め込まれたワーク２の穴３の周囲に当接する基準面４を備えた本体５と、被検査対象物１に接触する軸部６と透過穴７とが形成されていて基準面４に対して相対変位可能に本体に支持された検知部材８と、本体側に設けられ検知部材８の変位に伴う透過穴７の変位経路に位置するとともに検知部材と本体との相対変位量が基準範囲の場合に透過穴７と重合する基準穴９と、基準穴９に光を照射する光源１０を備えている。 （もっと読む）

【課題】液晶パネルの外形精度には関係なく、正確な検査領域を決定できる液晶パネル検出装置を提供する。
【解決手段】液晶パネル１２を載置するステージ１８と、液晶パネルの裏面から光を当てる照明装置２０と、照明された液晶パネル１２を撮影するＣＣＤカメラ２２と、撮影した画像からブラックマトリックス３８の内周側を検出し、その検出位置から検出領域を決定し、その検出領域に基づいて液晶パネル１２の割れ、欠け等を検査する制御部２４とよりなる。 （もっと読む）

【課題】部品吸着位置とラインセンサの撮像中心との位置関係がずれてしまう場合であっても、部品認識動作の高速化を図り実装機の稼働効率を向上させることのできる部品認識方法、同装置および表面実装機を提供する。
【解決手段】前記部品供給部から供給された部品をヘッドユニットにより吸着し、この部品吸着位置から前記ヘッドユニットをラインセンサに対して副走査方向に移動させた場合に、前記吸着部品全体が主走査方向部品認識領域内を通過できるか否かを判断し、通過できると判断した場合には、主走査方向部品認識領域の中心位置に対して前記部品吸着位置が主走査方向にオフセットしている状態であっても、その状態を保ったまま前記ヘッドユニットを副走査方向に移動させることにより吸着部品を撮像して部品を認識する。 （もっと読む）

【課題】複数の異なる波長の光の反射光を波長毎に分離可能な撮像カメラを用い、部品の位置、形状、及び傾きを高精度で検出する。
【解決手段】作業ヘッド２０に吸着された部品２４に緑色光を照射する第１の照明部２６と、緑色の光とは異なる波長の赤色光を照射する第２の照明部２８と、第１と第２の照明部から略同時に照射された緑と赤の反射光を取り込み、各反射光を波長毎に分離して画像信号を出力する撮像カメラ２２と、撮像カメラ２２から出力された画像信号を波長毎に分離して画像処理し、作業ヘッド２０の中心軸に対する部品２４の位置、形状、及び傾きを演算する制御部５０を備えている。 （もっと読む）

【課題】被検査物を外観的に検査する外観検査装置の検査処理速度は、画像データ比較による自動判定で一致しないとされた被検査物の状態を、さらに人間の目視によって判定することが避けられないために、その間の処理が停止し、検査時間を短縮することができないという問題があった。
【解決手段】本願発明は、人間による目視判定処理と自動判定処理との間で、それら各処理をそれぞれ独立して行えるようにすることにより、撮像カメラ４の移動から撮像、および撮像後の被検査物画像と正画像の画像処理による一つの被検査物に対する自動判定までの一連の動作を完結させ、目視による検査者が目視判断を終了することを待たずに次の被検査物の検査に移ることができるようにして上記検査時間の短縮を可能とした。 （もっと読む）

【課題】適正な部品認識条件を容易に設定することを可能とする電子部品実装装置における部品認識条件の評価方法を提供することを目的とする。
【解決手段】電子部品実装装置における部品認識条件としての照明条件の適否判定評価において、照明条件に起因する位置認識誤差の発生傾向と関連付けて設定される特定の移動パターン（ノズル回転パターン）にしたがって部品をノズル軸廻りに回動させる部品移動工程において同一の照明条件にて部品撮像および部品位置認識を複数回実行し、初回の部品位置認識において取得された部品の認識中心が部品回転移動後の部品位置認識において取得された認識中心と一致するか否かを検出する。これにより、回転移動後にあるべき位置に部品があるか否かを判断して、照明条件の適否を判定する。 （もっと読む）

【課題】環境変動に強く、パターンサーチ、自動処理領域決定、外形検査等で用いる特徴量抽出の技術の処理で使うのに適した特徴量抽出技術を提供することを課題とする。
【解決手段】オペレータにより、パターンサーチ等の処理を行う対象となる特徴点の抽出すべき個数が指定される。画像処理装置は、入力画像からエッジ強度画像を生成し、さらに、エッジ強度の度数分布７０を生成する。そして、度数分布７０に基づいて、エッジ強度の高い側から指定された特徴点の個数分だけエッジ点を加算し、特徴点個数を超えない最低のエッジ強度を求め、これをエッジ強度閾値７３とする。画像処理装置は、エッジ強度閾値７３よりエッジ強度の高い点を特徴点とし特徴点抽出処理を実行する。 （もっと読む）

【課題】 半導体部品を基板の所定の位置にボンディングすることができる半導体部品の位置検出方法、位置検出装置および半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 移載ヘッド４０に保持された半導体部品４４を撮像した第１画像データと、半導体部品４４を基板に搭載する位置決めを行うための基準部品４３を撮像した第２画像データとを検出する画像検出手段２２と、第１画像データおよび第２画像データに基づいて、基準部品４３に対する半導体部品４４の位置を検出する画像解析手段２３と、検出結果に応じて半導体部品４４を基板に搭載する位置を補正する信号を出力する出力手段２４と、を具備する。 （もっと読む）

【課題】 チップ部品の実装精度を簡易に、そして正確に測定可能な実装部品の検査装置及び実装部品の検査方法を提供すること。
【解決手段】 チップ部品パターンの寸法を、複数種類の伸縮度について伸縮し、伸縮されたチップ部品パターン毎にチップ部品の画像とのパターンマッチングを行う。そして、パターンマッチングの結果、最もマッチング度の高いチップ部品パターンを選択する。
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【課題】 複数の部品の同時撮像にも対応する長い１次元の撮像装置を用いて小型の部品を撮像する場合でも、短い処理時間を実現しつつ、光学系の中心付近で撮像を行うことができる撮像装置の提供
【解決手段】 受光素子が一列に並んだ受光素子アレイ１２１と、前記各受光素子が発生させた電荷をそれぞれ受け取り、受け取った電荷を二つの領域に分けて出力するシフトレジスタ１２２と、前記各受光素子が発生させた電荷を前記シフトレジスタ１２２へ転送するのを前記領域毎に許否するシフトゲート１２３と、前記受光素子アレイと撮像対象物との間に配置される光学系１２５と、前記受光素子アレイ１２１の両端部と、前記シフトレジスタの領域の境界近傍に対応する部分とを遮光する三枚の遮光板と、当該三枚の遮光板の少なくともいずれかを前記受光素子アレイ１２１の長さ方向に駆動し遮光範囲を連続的に可変とする駆動手段とを備えた遮光手段１３０とを備える。 （もっと読む）

【課題】 大型の部品の撮像にも対応する長い１次元の撮像装置を用いて小型の部品を撮像する場合でも、短い処理時間を実現しつつ、光学系の中心付近で撮像を行うことができる撮像装置の提供
【解決手段】 受光した光量に対応して電荷を発生させる複数の受光素子が一列に並んだ受光素子アレイ１２１と、前記各受光素子が発生させた電荷をそれぞれ受け取り、受け取った電荷を出力部に出力するシフトレジスタ１２２と、前記各受光素子が発生させた電荷を前記シフトレジスタへ転送するのを許否するシフトゲート１２３と、前記受光素子アレイ１２１と撮像対象物Ｐとの間に配置される光学系１２５と、前記受光素子アレイ１２１の両端部を遮光する二枚の遮光板１３１と、当該二枚の遮光板を前記受光素子アレイの長さ方向に駆動し遮光範囲を連続的に可変とする駆動手段とを備えた遮光装置１３０とを備える。 （もっと読む）

【課題】 大型の部品の撮像にも対応する長い１次元の撮像装置を用いて小型の部品を撮像する場合でも、短い処理時間を実現しつつ、光学系の中心付近で撮像を行うことができる撮像装置の提供
【解決手段】 受光素子アレイ１２１と、前記各受光素子が発生させた電荷を出力部に出力するシフトレジスタ１２２と、前記各受光素子が発生させた電荷を前記シフトレジスタ１２２へ転送するのを許否するシフトゲート１２３と、光学系１２５と、前記受光素子アレイ１２１の両端部を遮光する所定間隔で配置される二枚の遮光板１３１を備える第１遮光手段１３０ａと、前記第１遮光手段１３０ａと遮光する範囲を異にする所定間隔で配置される二枚の遮光板１３１を備える第２遮光手段１３０ｂと、前記第１遮光手段１３０ａと第２遮光手段１３０ｂとを切り替えて前記受光素子アレイ１２１を遮光する範囲を変更する切替手段１３７とを備える。 （もっと読む）

【課題】 トルクコンバータのフロントカバー外周に取着されているセットブロックのネジ穴の位置精度を測定する為の装置であって、ＣＣＤカメラを用いて短時間で、しかも高精度の測定を可能とする測定装置の提供。
【解決手段】 先端にレンズ１３を備えたＣＣＤカメラ７をＸ軸方向及びＹ軸方向へ移動する為のＸ軸サーボモータ６とＹ軸サーボモータ３を備え、そして上記レンズ１３がＺ軸方向へ移動する為のＺ軸サーボモータ１１を取付けている。更にネジ穴を照らす為の照明１４を昇降動可能に備えている。 （もっと読む）

【課題】取得した画像を無駄にしないと共にスループットの短縮化を図ることのできる自動外観検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】対象ワークＫに形成された複数の同一のパターンＤＤを自動的に検査する自動外観検査装置１において、パターン一つ分の画像であるマスター画像ＭＺ及び良品画像ＲＺを記憶する良品画像記憶部９１と、隣合う画像が共通領域ＯＬをもつように各パターンを分割撮像する所定サイズの視野領域Ｑを有する撮像手段５１と、隣合う画像を繋ぎ合せ可能とする画像が共通領域に存在するか否かを探索し、繋ぎ合せ可能とする画像が共通領域に存在するときは、隣合う画像をその繋ぎ合せ可能とする画像に基づいて繋ぎ合せ、繋ぎ合せ可能とする画像が共通領域に存在しないときは、隣合う画像をマスター画像に基づいて繋ぎ合せて検査画像ＫＺを作成する画像繋合せ処理部９２と、検査画像と良品画像とを比較する比較処理部９２とを備える。 （もっと読む）

【課題】位置認識や検査のための撮像時間を短縮して、生産効率を向上させることができる基板検査装置および基板検査方法ならびにテープ貼付け状態検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】基板６に電子部品接合用の接合テープを貼付けるテープ貼付装置に付随して設けられた基板検査装置において、２つのカメラ２６，２７の相互の間隔を基板位置認識用間隔に変更して基板６の２つの認識マークを撮像し、次いで認識マークの位置認識結果に基づいて基板を位置決めして接合テープを基板６に貼付けた後、カメラ２６，２７の間隔を２つの検査箇所を撮像するための検査用間隔に変更して、カメラ２６，２７によって２つの検査箇所を同時に撮像する。 （もっと読む）

改善されたピッキング評価を有する電子アセンブリ機械（１０、２０１）が提供される。本装置（１０、２０１）は、部品（３０４）を着脱可能にピックアップして保持するための少なくとも一つのノズル（２０８、２１０、２１２）を有する取り付けヘッド（２０６）を含む。ロボットシステムが備えられて、取り付けヘッド（２０６）と、工作物（２０３）、たとえば回路基板との間の相対運動を生成する。画像取得システム（３００）が配設されて、部品ピックアップ位置（１６）の少なくとも一つのピッキング前画像と、部品ピックアップ位置（１６）の少なくとも一つのピッキング後画像とを得る。ピッキング前画像は複数の画像部を含み、異なる視点からのピックアップ位置の視界を各画像部にとらえさせる一方で、ピッキング後画像は複数の画像部を含み、異なる視点からのピックアップ位置の視界を各画像部にとらえさせる。
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【課題】簡単な構成で正確な測長及び位置の確認が可能な測定装置及び測定方法を提供する。
【解決手段】本発明の測定装置は、被測定物の一面上の第１及び第２の場所からの反射光をそれぞれ取り込む第１及び第２の平行プリズムと、第１及び第２の平行プリズムからの光を収束又は発散させる光学レンズと、光学レンズからの光を取り込み、第１の場所及び第２の場所の映像を電気信号に変換するイメージセンサと、電気信号に基づき第１の場所及び第２の場所の映像を一つの画面に表示する表示装置と、を有することを特徴とする。本発明によると、１画面上で離れた複数の場所の測定を１つの光学系を用いることで可能となる。本発明の測定装置及び測定方法によると、平行プリズムを用いることにより光路を被測定物の直上で高さ方向に対し９０度曲げることができ、光学系の大きさ・高さ（ワークディスタンス）を小さくでき、測定装置を小型化することができる。 （もっと読む）

【課題】 １台の装置を用いて単焦点でトーリックな（非球面の）眼鏡レンズに吸着治具を取り付けることができるようにすること。
【解決手段】 非球面眼鏡レンズの吸着治具取付装置において、前記特性測定光学手段により測定された前記非球面眼鏡レンズの第一光軸座標と、前記回動手段により１８０°回動した後、前記特性測定光学手段により測定された前記非球面眼鏡レンズの第二光軸座標を求め、第一光軸座標と第二光軸座標との中間座標を演算し、中間座標をもとに前記非球面眼鏡レンズにおける前記吸着治具の取付位置を特定する演算手段を備えた。 （もっと読む）