【課題】 ２次元画像における輪郭などの特徴から３次元物体を認識する３次元物体認識装置において、隠れの影響を排除してロバスト性を向上させるとともに、位置及び姿勢を最適化して認識精度を高める手段を提供する。
【解決手段】 本発明に係る３次元物体認識装置は、３次元物体を撮影するカメラと、３次元物体の位置及び姿勢を変化させながらカメラ画像に投影し、各投影点の座標及びエッジの向きを算出する手段と、それに基づいて作成したルックアップテーブルを記憶する手段と、ピラミッド画像を作成する手段と、解像度が最も低いピラミッド画像についてエッジを抽出する手段と、方向付きディスタンスマップを作成する手段と、方向付きディスタンスマップ上に各投影点をマッピングする手段と、位置及び姿勢を評価する手段と、位置及び姿勢を最適化する手段と、を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】薄板状の被測定物の厚み分布の測定において，簡易な装置構成により，被測定物の振動の影響を受けずに高精度で厚み分布の測定を行うことができること。
【解決手段】被測定物１の表裏各面について，レーザ光源２の出射光を２分岐したビーム光をさらに２分岐させて参照面及び表裏相対する測定点１ａ，１ｂに反射させ，参照光と物体光とを直交する偏光成分とする非干渉光Ｐａｘ，Ｐｂｘを得て，それを複数に分岐させ，分岐光のうちの１つ以上について波長板ａ２６１，ａ２６３，ａ２６４等で直交する偏光成分の位相差に変化を与えて位相シフトを行い，位相シフト後の分岐光における参照光及び物体光の偏光方向を基準とする共通の偏光成分の抽出により干渉光Ｑａ１〜Ｑａ４，Ｑｂ１〜Ｑｂ４を得て，それらの強度から前記非干渉光における前記参照光及び前記物体光の偏光成分の位相差を算出し，その位相差の分布から被測定物１の厚み分布を算出する。 （もっと読む）

【課題】多様なパターンで温度及び形状が変化する被測定物の三次元の熱変形特性を正確に測定できること。
【解決手段】同期信号Ｓtrgを時系列で発生させ，その同期信号Ｓtrgに同期して，サーモカメラ２０及び複数の可視カメラ２１から撮像時点が同じ前記熱画像及び複数の前記可視画像のデータの組合せをサンプリングし，撮像時点ごとの可視画像のデータに基づくステレオ画像処理を通じて，撮像時点ごとの三次元形状のデータを算出し，撮像時点が異なる複数の可視画像のデータに基づくデジタル画像相関法でのパターン追跡処理を通じて，前記撮像時点ごとの観測部位の像の前記可視画像上での変位量を算出し，それら算出結果に基づいて，観測部位の撮像時点ごとの三次元座標系での位置及び温度のデータが対応付けられたデータを記録する。 （もっと読む）

周波数走査型干渉計(１０)が検査対象物(１２)の広い推定オフセット範囲にわたる多重表面(１４,１５,１６)を同時に測定するために構成される。合成測定波長(λ_実効)に基づくアンビギュイティインターバル(Ｕ)内の中心に検査表面をおくために、検査表面の推定位置の知見が一連のアンビギュイティインターバルと比較される。
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【課題】製造コストを低減させることができ、構成を簡素化することができるレーザ干渉計の提供。
【解決手段】レーザ干渉計１は、所定の周波数を有する変調信号にてレーザ光を変調することでレーザ光の中心波長を安定化して射出するレーザ光源２と、レーザ光を反射する参照鏡４、及び測定鏡５を備える。また、レーザ干渉計１は、参照鏡４、及び測定鏡５にて反射される光の干渉光を変調信号の周波数に対して２以上の整数倍となる周波数のサンプリング周波数でサンプリングしてサンプリング値を取得するサンプリング手段７１と、サンプリング手段７１にて取得される時系列のサンプリング値をサンプリング周波数に応じて平均して平均値を算出する平均値算出手段７２１とを備え、平均値算出手段７２１にて算出された平均値に基づいて、測定鏡５の変位を算出する。 （もっと読む）

【課題】
安価で信頼性の高い信号処理装置を提供する。
【解決手段】
本発明の信号処理装置は、被計測物の位置を計測する計測装置に用いられる信号処理装置１であって、被計測物の位置に応じた信号の位相を時間に対して回帰することにより、被計測物の速度を算出する回帰演算器１９と、第１のサンプリング時における被計測物の位置に回帰演算器１９で算出された速度を加算することにより、第２のサンプリング時における被計測物の予測位置を求める予測演算手段（加算器２２）と、位相演算手段で求められた第２のサンプリング時の計測位相から予測位置を減算して予測誤差を求める誤差演算手段（減算器２３）と、桁拡張した予測誤差を予測位置に加算することにより、第２のサンプリング時における被計測物の位置を求める位置演算手段（加算器２１）とを有する。 （もっと読む）

【課題】計算負荷が低く、処理時間が短くて済む周波数推定方法、周波数推定装置、表面形状測定方法及び表面形状測定装置を提供すること。
【解決手段】干渉縞や電気信号などの有周期性の観測データにおける周波数を推定する周波数推定方法であって、観測データを取得するステップと、仮定した任意周波数の正弦波状関数をモデル信号として前記観測データに適合させるステップと、前記観測データと前記モデル信号との部分的な位相のずれ量を求めるステップと、前記モデル信号の周波数と、前記位相のずれ量についての位相勾配とに基づいて、前記観測データの周波数を算出するステップとを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】登録される３次元モデルの精度を確保する。
【解決手段】３次元認識の対象とするワークの実物モデルをそれぞれ異なる方向から計測することにより復元された３次元情報ａ，ｂ，ｃのうちの情報ａを基準として、他の３次元情報ｂ，ｃをそれぞれ基準の３次元情報に位置合わせされるように座標変換し、変換後の３次元情報ｂ´，ｃ´および基準の３次元情報ａをすべて含む３次元情報ｄを作成する。この３次元情報ｄは３次元モデルとして仮登録される。一方で、統合された３次元情報ａ，ｂ´，ｃ´間の差異量を算出し、この差異量に基づく評価指数を３次元モデルが表す輪郭パターンのイメージ図と共に表示する。ユーザは、この表示画面で、同一部位を表す輪郭線のばらつき度合や評価指数の値から３次元モデルの精度を確認し、３次元モデルｄを本登録するか否かを判定する。 （もっと読む）

被験物体からの試験光と参照光とを合成して、検出器上に干渉パターンを形成する光学系を含む広帯域走査干渉計システムから構成される装置。本装置は、共通の光源から検出器への試験光と参照光との間の光路差（ＯＰＤ）を走査するように構成されたステージと、一連のＯＰＤ増分の各々に対する干渉パターンを記録する検出器を含む検出系であって、各ＯＰＤ増分の周波数がフレームレートを定義する、検出系とを含む。光学系は、走査時のＯＰＤの変化を示す少なくとも２つの監視干渉信号を生成するように構成され、検出系は、監視干渉信号を記録するように構成される。本装置は、フレームレートより高い周波数において、ＯＰＤ増分への摂動に対する感度でＯＰＤ増分に関する情報を決定するように構成されたプロセッサを含む。
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【課題】物体の変位や速度を高い分解能で計測し、計測に要する時間を短縮する。
【解決手段】物理量センサは、物体１０にレーザ光を放射する半導体レーザ１と、発振波長が増加する第１の発振期間と発振波長が減少する第２の発振期間のうち少なくとも一方が繰り返し存在するように半導体レーザ１を動作させるレーザドライバ４と、半導体レーザ１から放射されたレーザ光と物体１０からの戻り光との自己結合効果によって生じる干渉波形を含む電気信号を検出するフォトダイオード２および電流−電圧変換増幅部５と、電流−電圧変換増幅部５の出力信号に含まれる干渉波形の周期を干渉波形が入力される度に計測する信号抽出部７と、信号抽出部７が計測した個々の周期に基づいて物体１０の変位と速度のうち少なくとも一方を算出する演算部８とを備える。 （もっと読む）

【課題】認識精度を確保しつつ、一定の時間内に対象物を認識する処理を終了する。
【解決手段】認識対象物のモデルの特徴点群から各辺の長さが所定の基準値を満たす三角形を抽出し、モデル三角形として登録する。認識対象物の２次元画像から抽出された特徴点群についても同様に、基準値を満たす三角形を抽出して比較対象三角形として登録する。つぎにモデル三角形と比較対象三角形とを順に対応づけ、頂点の対応関係を複数とおりに設定して、対応づけられた頂点（ＡとＡ´、ＢとＢ´、ＣとＣ´）の座標を用いて、両三角形の対応関係を表す変換パラメータを算出する処理と、モデルの特徴点群と対象物の特徴点群との関係に対する当該変換パラメータの適合度を求める処理とを実行する。そして、対応づけ毎に求められた適合度に基づいてモデルの特徴点群と認識対象物の特徴点群との対応関係を示す変換パラメータを特定することによって、対象物を認識する。 （もっと読む）

【課題】長手方向にわたって細かく径が変化するワークを高い精度で測定が可能なワーク計測システムを提供する。
【解決手段】ワーク計測システム１は、第１ワーク台１１および第２ワーク台１３と、計測部５と、ディスプレイ４１とを備えている。第１ワーク台１１および第２ワーク台１３は、ワークＷを載置可能である。計測部５は、ワークＷを計測するための機構であって、ワークＷの長手方向に第１ワーク台１１および第２ワーク台１３と相対移動可能である。ディスプレイ４１は、計測部５からの計測データに基づいてワークＷの形状を表示する。 （もっと読む）

【課題】物体の変位や速度を高い分解能で計測し、計測に要する時間を短縮する。
【解決手段】物理量センサは、物体１０にレーザ光を放射する半導体レーザ１と、発振波長が増加する第１の発振期間と発振波長が減少する第２の発振期間のうち少なくとも一方が繰り返し存在するように半導体レーザ１を動作させるレーザドライバ４と、半導体レーザ１から放射されたレーザ光と物体１０からの戻り光との自己結合効果によって生じる干渉波形を含む電気信号を検出するフォトダイオード２および電流−電圧変換増幅部５と、電流−電圧変換増幅部５の出力信号に含まれる干渉波形の周期を計測する信号抽出部７と、信号抽出部７の計測結果を基準周期と比較することにより補正し、補正した個々の周期に基づいて物体１０の変位と速度のうち少なくとも一方を算出する演算部８とを備える。 （もっと読む）

【課題】画像情報の明るさを適切に制御することができる画像処理装置の提供。
【解決手段】画像処理装置は、落射照明用ＬＥＤ２１、及び透過照明用ＬＥＤ３と、光量設定手段５１と、光量判定手段５２と、電流制御手段５３とを備える。光量設定手段５１は、ＬＥＤ２１，３にて被測定物を照明する光量を設定する。光量判定手段５２は、光量設定手段５１にて設定される光量がＬＥＤ２１，３の低光量域における光量か、高光量域における光量かを判定する。電流制御手段５３は、光量判定手段５２にて低光量域における光量と判定されたときに、ＬＥＤ２１，３に印加する電流をパルス制御する低光量域制御部５３１と、光量判定手段５２にて高光量域における光量と判定されたときに、ＬＥＤ２１，３に印加する電流を制御する高光量域制御部５３２とを備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、安価な構造で温度とひずみを同時に計測できる光ファイバセンサ装置の提供を目的とする。
【解決手段】本発明は、ＯＦＤＲ方式に適用される光ファイバセンサ装置であって、光ファイバのコアに形成したＦＢＧからなるひずみ検知用のセンサ部３と、該ひずみ検知用のセンサ部に接続されてその端部に反射部を備えた温度検知用光ファイバからなる温度検知用のセンサ部７とを具備した光ファイバセンサＳと、参照用反射端１６と、光源１２と、受光器１３とが備えられ、前記温度検知用光ファイバの光路長の変化量から温度変化を計測し、前記ＦＢＧのブラッグ波長のシフト量から前記計測された温度変化に相当するブラッグ波長のシフト量を減算することによりひずみを計測する。 （もっと読む）

【課題】移動ウェブに関する速度、変位、歪みを効率的に測定する。
【解決手段】移動するウェブ部材14の近くに第１、第2の光センサ配列16、18を設置する。第１、第2の光センサ配列１６，１８はウェブ部材14の走行方向に沿って所定距離ｄだけ離れている。第１、第２の光センサ配列16、18の双方に結合されている処理装置40は、第1、第2、第3のコード区画それぞれにより制御され、それぞれ、第１の光センサ配列16でウェブ部材１４上のパターンを検出させ、第２の光センサ配列18でウェブ部材１４上で前記検出されたパターンを認識させ、そして、ウェブ部材１４の速度、距離ｄ、および第１のコード区画に応答するパターンの検出と第２のコード区画に応答するパターンの認識との間の経過時間に基づきウェブ部材１４の歪みを計算する。 （もっと読む）

【課題】被写体が３次元表示に適さないものであっても、視認性の高い３次元画像を取得すること。
【解決手段】被写体の特徴点情報とその距離情報とを対応付けた点群情報に含まれる距離情報のうち、特定の距離情報よりも大きい距離範囲に属する距離情報が小さくなるように補正する。そして、このようにして補正された点群情報を用いて３次元画像を生成する。このようにすれば、主要被写体と背景被写体との距離が大きい場合であっても、点群情報における主要被写体と背景被写体との距離情報が小さくなる。これにより、補正された点群情報を用いて生成される３次元画像においては、３次元画像を構成する三角形ポリゴンがいびつな形状となることを回避できる。その結果、視認性の高い３次元画像を得ることができる。 （もっと読む）

【課題】表面を透明膜で覆われた測定対象物の透明膜の表面高さ、透明膜の裏面高さ、透明膜の膜厚、及び測定対象物の表面形状を求める。
【解決手段】参照面を光の進行方向に対して任意角度の斜め傾斜姿勢で配備して測定対象面と参照面から同一光路を戻る反射光により干渉縞を発生させる。干渉縞の各画素の強度値をＣＣＤカメラで１回撮像し、ＣＰＵは算出対象画素毎とその近傍画素の強度値において、当該画素とその近傍画素の干渉縞波形の直流成分、正弦成分の振幅、及び余弦成分が一定であると仮定することで、干渉縞波形の直流成分、正弦成分の振幅、及び余弦成分の振幅を求めて測定対象物のパラメータおよび装置のパラメータに基づいて当該画素の光の強度値を参照面からの参照光の強度値と測定対象物からの物体光の強度値に分離する。両強度値から未知パラメータである透明膜の表面高さ、裏面高さ、膜厚、及び測定対象物の表面形状を求める。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ひずみや温度変化が生じた光ファイバ位置を高い空間分解能で特定できる光ファイバセンサとその測定方法と光ファイバセンサ装置の提供を目的とする。
【解決手段】本発明は、光ファイバのコアに形成したＦＢＧをセンサとし、該センサからのブラッグ反射光と参照用の反射端からの反射光の干渉強度の周期的変化から、前記センサの位置を特定するとともに、前記センサからのブラッグ反射光の波長の変化量から検知部のひずみや温度変化を計測する光周波数領域反射測定（ＯＦＤＲ）方式に用いられる光ファイバセンサであって、ＦＢＧからなるひずみや温度変化を計測するための複数のセンシング部１と、これら複数のセンシング部の間に設けられ、ひずみや温度変化をセンシングした光ファイバ位置を特定するための光学マーキング部３を具備してなることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】発光装置（対象物）の位置を追跡しつつ、データの読み取りも円滑に行うことが可能な技術、発光装置を提供する。
【解決手段】「色彩の変化の変化（変化の切り替え）」でデータを表す発光装置を提供する。最初の１次変化で、その物体の特定、位置の特定を行い、その後、いわば２次変化（１次変化の切り替え）でデータを表している。したがって、物体の位置の特定を行いつつ、自由にデータを表すことが可能となったものである。 （もっと読む）