【課題】２次元の光切断法において隙間の間隔および段差を、エッジの形状に関係なく、高精度に算出することが可能な２次元光切断法による隙間および段差の測定装置を実現する。
【解決手段】ユーザが間隔寸法、段差寸法を求めたい対向面中のレーザ輝線をモニタ１７の画面２０に指定する。間隔寸法、段差寸法共に、ＣＰＵ１４は、指定された範囲内でレーザ輝線の位置をサブピクセル精度で抽出し、間隔寸法を測定する場合は、対向する面上のそれぞれのレーザ輝線の直線方程式を計算し、両直線の互いの間隔を算出する。また、ＣＰＵ１４は段差寸法を測定する場合は、段差を形成する２つの面上のそれぞれのレーザ輝線の直線方程式を計算し、両直線の互いの間隔を算出する。そして、算出された間隔寸法、段差寸法を、モニタ１７に表示させる。 （もっと読む）

【課題】複数の撮像画像に亘って頻繁に撮像対象となった被写体を推定できる解析装置、撮像装置、サーバ装置、解析システムを提供する。
【解決手段】撮像装置１において、ＣＰＵ１１が特定プログラムを実行することにより、推定プログラムの実行により推定された画像データごとの領域を同一平面上に重ね合わせた際の、重ね合わせ度合いが所定値以上となる箇所を被写体の存在位置として特定するように構成した。 （もっと読む）

【課題】試験体に沿って移動させる機構を不要とすること。
【解決手段】試験体の輪郭を撮像した画像の画素毎の輝度情報を抽出し、各画素を第１方向に分割して複数の小領域を定義するとともに、各小領域の輝度情報を、各画素の輝度情報および第１方向に隣接する他の画素の輝度情報に基づいて決定する小領域定義部２１と、第１方向に直交する第２方向に並ぶ複数列のそれぞれの前記画素について、小領域定義部２１により決定された各小領域の輝度情報を第１方向に走査して、輝度情報が所定の閾値を越える境界の小領域の位置情報を抽出する作業を実施して試験体の輪郭データを生成する輪郭データ生成部２２とを備える。 （もっと読む）

【課題】タイヤの誤検知を抑制して、車軸の検知確率を改善した車軸検知システムを得る。
【解決手段】車両３の三次元データＡを取得する三次元画像撮像装置１と、三次元データＡに対して誤検知データ軽減処理を行う三次元データ閾値処理装置２１と、誤検知データ軽減処理後の三次元データＡ’から検知領域Ｒでのゲート処理後の三次元データＢを抽出する高さ・距離ゲート装置２２と、検知領域Ｒを高さ方向に分割して総数Ｎ個の高さビンを作成し、ゲート処理後の三次元データＢの高さヒストグラムＣを作成する高さヒストグラム算出装置２３と、高さヒストグラムＣに基づきゲート処理後の三次元データＢが所定数以上格納されたビン数ｎと高さ方向に分割したビン総数Ｎとの比率ｎ／Ｎをデータ存在確率Ｐとして算出するデータ存在確率算出装置２４と、データ存在確率Ｐに基づき検知フラグＦを発生する検知フラグ発生装置２５とを備えている。 （もっと読む）

【課題】溶接用ワイヤの製造工程において、溶接用ワイヤのフラックス充填率の低下に繋がる異常状態（フープ材の揺れや回転）を検出する。
【解決手段】本発明に係る溶接用ワイヤの製造工程における異常状態の検出方法は、ライン成形により、帯状のフープ材Ｗの幅方向両端を上方に反らせることで当該フープ材Ｗの幅方向中央部に溝条部を形成し、この溝条部にフラックス１を挿入し、その後、フープ材Ｗの幅方向両端を更に反らせることで両端を接合し断面円形状に成形して、フラックス１が内包された溶接用ワイヤ２を製造するに際し、ライン成形中のフープ材Ｗの揺れや軸芯方向周りの回転を検出することで、溝条部からフラックスが溢れを検知する。 （もっと読む）

【課題】プレス加工等により所定の繰り返しピッチで複数個が帯状の材料に加工された連続部品に対する検査技術を提供する。
【解決手段】連続部品の検査方法は、正常品である連続部品の画像を取得する画像取得手順Ｓ１と、その画像から垂直エッジを検出してエッジピッチを求め、エッジピッチのヒストグラムを作成するエッジピッチヒストグラム作成手順Ｓ６と、連続部品の繰り返しピッチである基準ピッチを求める基準ピッチ算出手順Ｓ７と、連続部品が存在する画像領域の上限と下限を求め、その間の領域で基準ピッチ内に単一の部品が納まる画像領域を切り出すテンプレート領域抽出手順Ｓ８と、切り出された画像領域をテンプレートとして登録するテンプレート登録手順Ｓ９と、検査対象の連続部品の画像を取得し、テンプレートと基準ピッチとを用いて良否を判定する検査手順とを備える。 （もっと読む）

【課題】 ダイレクトセンシングにおいて、第１画像データのテンプレート領域が第２画像データの撮像領域から外れてしまう可能性を低減する。
【解決手段】 第１画像データにおけるテンプレート領域が、第２画像データの中で物体の移動と直交する方向において変位する変位方向と変位量を取得する。取得した変位方向と変位量に基づいて前記方向においてテンプレートパターンを切り出す位置を設定する。 （もっと読む）

【課題】障害物に明部と暗部が存在し、障害物の連続する輪郭が明部と暗部にまたがって存在する場合でも誤検知の少ない安定した障害物検知を可能とする障害物検知装置を提供する。
【解決手段】撮像画像から障害物検知のための処理画像を生成する処理画像生成部と、処理画像を複数の小領域に分割する小領域分割部と、複数の小領域と処理画像の画素値から小領域毎のエッジ閾値を設定するエッジ閾値設定部と、複数の小領域と処理画像から小領域毎の濃淡勾配値を算出し、算出された濃淡勾配値に対応する小領域のエッジ閾値を用いて、エッジ画像と勾配方向画像とを生成するエッジ抽出部と、エッジ画像内で設定されたマッチング判定領域内のエッジ画像及びエッジ画像に対応する勾配方向画像から障害物の有無を判定する障害物認識部と、を有し、小領域分割部は、自車外の照明状態に基づいて処理画像を複数の小領域に分割する障害物検知装置。 （もっと読む）

【課題】本発明は、フォトマスクの特性を検出することができるフォトマスクの特性検出装置およびフォトマスクの特性検出方法を提供する。
【解決手段】被検出体に形成されたパターンの光学像に基づいて検出データを作成する検出データ作成部と、前記パターンに関する参照データを作成する参照データ作成部と、特性の検出対象となるパターンに対応する参照パターンと、前記参照パターンの位置情報と、を前記参照データから抽出する抽出部と、前記参照パターンに基づいて特性を検出する領域を設定するとともに、前記位置情報に基づいて前記検出データから前記特性の検出対象となるパターンを抽出する第１の領域設定部と、前記特性を検出する領域における前記特性の検出対象となるパターンの特性を受光面上に結像された光学像を光電変換することで検出する検出部と、前記検出された特性を集計する集計部と、を備えたことを特徴とするフォトマスクの特性検出装置が提供される。 （もっと読む）

【課題】高速の画像処理が可能で、エッジ付近の汚れや形状不良の影響を受けず、簡単な構成で、正確な表面検査を行うことができる、表面検査装置および方法を提供することを課題とする。
【解決手段】被検査面に光を照射する光源と、前記被検査面からの反射光を受光し撮像する、互いに視野がオーバラップするように前記被検査面の幅方向に配列された複数台のカメラと、該カメラからの撮像信号を１対１対応で処理する複数台の画像処理装置と、該画像処理装置からの疵情報を処理する計算機とを備え、前記被検査面に存在する表面疵を検出する表面検査装置であって、前記画像処理装置は、それぞれ独立に、かつ、同一の処理を行う、エッジ検出処理手段およびエッジ処理手段を備える。 （もっと読む）

【課題】多重解像度画像を用いた対応点探索処理の処理性能を改善する。
【解決手段】互いに対応する画像内容を含んだ原基準画像と原参照画像とを取得する画像取得手段と、取得した原基準画像と原参照画像とを低解像度化することによって、解像度の異なる複数の画像を階層的に生成する多重解像度画像作成手段と、注目階層に属する注目基準画像に注目点を設定する注目点設定手段と、注目点についての、注目基準画像と注目参照画像との視差を求める視差特定手段と、視差特定手段が視差を求めるにあたって1)注目点を内包するウィンドウが注目基準画像内に収まるときには、ウィンドウ内の画像情報を用いる第１視差特定規則を、2)ウィンドウが注目基準画像からはみ出すときには、注目基準画像の外部領域からの寄与度を第１視差特定規則よりも低めた第２視差特定規則を、選択的にそれぞれ適用させる選択適用手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】対象物の撮影画像に基づいて指定した目的像を対象物に投影する投影システムにおいて、撮影手段と投影手段との光軸差から生じる投影像と目的像とのずれを補正する処理を迅速に行う。
【解決手段】プロジェクタ１０の原像面上にて、目的像を構成する注目点Ｘに対応する原像対応点Ｗを探索する際の探索範囲を、注目点Ｘそれぞれに対応してビデオカメラ８及びプロジェクタ１０に関するエピポーラ幾何により定まる原像面におけるエピポーラ線Ｌpのうち一部区間に限定する。 （もっと読む）

【課題】部材の角にダレや欠けが発生している箇所と発生していない箇所が混在している部材の外形線を、画像処理を用いて正確に認識する。
【解決手段】平面を有する部材４を平面に垂直な方向から撮像した画像から部材４の外形線を演算する画像処理部３は、撮像部１が撮像した画像で部材の外形線と交差する複数の認識ラインのそれぞれで、部材４の外から内への方向で輝度が明から暗に変化する暗変化端点候補を検出する暗変化端点候補検出部３Ｃ、部材４の外から内への方向で輝度が暗から明に変化する明変化端点候補を検出する明変化端点候補検出部３Ｄ、暗変化端点候補と明変化端点候補とから端点を検出する端点検出部３Ｅ、複数の認識ラインで検出された端点との誤差の和が最小になるように部材の外形線を決定する外形線決定部３Ｆを有する。 （もっと読む）

【課題】パターンマッチングにより位置認識を行う際、サーチエリアのサイズを小さくしても、認識エラーが発生する危険性を極めて低くできるようにする。
【解決手段】パターンマッチング処理手段１０２は、カメラによって撮像された画像上のサーチエリア内において、テンプレートとの相関値が最も高くなる第１のエリアの位置を求める。判別手段１０２は、テンプレートに最も類似した本来の認識すべきエリアである第２のエリアが、サーチエリアからはみ出しているか否かを判別する。サーチエリア変更手段１０４は、第２のエリアがサーチエリアからはみ出していると判別された場合、第１のエリアの相関値を利用して第２のエリアのはみ出し量を推測し、推測したはみ出し量に応じて上記画像上に設定するサーチエリアのサイズおよび位置を変更する。 （もっと読む）

【課題】１台のステレオカメラで周辺を見る画角を広げることが可能なシステムにおいて、統合処理や画像変換処理の負担を増大させることなく、かつ、対応点探索における対応付け精度を低下させることのない周辺表示装置を提供する。
【解決手段】ステレオカメラＳＣで撮影された画像データが入力される画像入力部１１と、画像入力部１１から出力される画像データに基準点および比較点を設定するポイント設定部と、基準点が設定された基準画像データおよび比較点が設定された比較画像データにウインドウを設定するウインドウ設定部１３と、ウインドウが設定された画像データに対応点探索処理を施す対応点探索処理部１４とを備えている。 （もっと読む）

【課題】遠景と近景とが共存する同一の被写体をとらえた複数の画像を対象とした対応点探索の高精度化を図ることが可能な技術を提供する。
【解決手段】画像処理装置が、第１視点から被写体を時間順次に撮像することで得られる複数の第１画像と、第２視点から被写体を時間順次に撮像することで得られる複数の第２画像とを取得する部分と、各第１画像に対して基準点を含む基準領域を同一配置となるように各々設定するとともに、各第２画像に対して基準領域の形状に対応する比較領域を同一配置となるように各々設定する部分と、複数の基準領域に係る画素値の分布から１つの２次元以上の空間に係る画素値の基準分布を生成するとともに、複数の比較領域に係る画素値の分布から１つの２次元以上の空間に係る画素値の比較分布を生成する部分と、画素値の基準分布と画素値の比較分布とを用いて、基準点に対応する複数の第２画像における対応点を検出する部分とを備える。 （もっと読む）

【課題】同一の被写体に関する複数の被写体像を撮像して生成された画像データを用いて計測を行う際に、第１の被写体像に設定された計測点に対応する、第２の被写体像に設定された対応点の視認性を保つ。
【解決手段】ＣＰＵ１８は、画像データに基づく第１の被写体像に計測点を設定し、計測点の位置に基づいて、画像データに基づく第２の被写体像に対応点を設定する。また、ＣＰＵ１８は、対応点の位置に基づいて第２の被写体像に情報表示領域を設定する。モニタ４は、第１の被写体像、第２の被写体像、計測点、対応点、および情報表示領域を表示する。ＣＰＵ１８は、計測点の位置および対応点の位置に基づいて、画像データを用いて被写体を計測する。 （もっと読む）

【課題】処理の高速化及び装置の低コスト化を図りつつ、画像補正が行われた場合であっても高い位置検出精度を実現する。
【解決手段】一対の画像からなるステレオ画像に生じている光学的な歪みを部分的に異なる補正量で補正して補正ステレオ画像を出力する補正手段１２Ｌ，１３Ｌ，１２Ｒ，１３Ｒと、補正ステレオ画像のうちの一方を基準画像、他方を比較画像として、該基準画像内に設定される検出対象領域にマッチングする比較画像内のマッチング領域を探索する探索手段１４と、探索手段１４が探索に用いる検出対象領域のサイズを、基準画像中の当該検出対象領域を設定すべき位置における補正手段１２Ｌ，１３Ｌによる補正量に応じて変更するサイズ変更手段１５と、基準画像内の検出対象領域の位置及び比較画像内のマッチング領域の位置から求まる視差に基づいて、撮影された物体の撮影地点からの距離を算出する距離算出手段１６とを備える。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の測定範囲が撮像領域と比較して極小・広大の何れの場合であってもその測定対象物の表面上の位置を測定可能な位置測定装置及び位置測定方法を提供する。
【解決手段】ワーク２６よりも小さい寸法の撮像領域３０を有する撮像素子５０を、ワーク２６の表面３２上を相対的に移動させながら、ワーク２６の表面３２を撮像する。撮像領域３０内の画像Ｉ（ｔ）からワーク２６の表面３２上の模様（例えば、丸型溝８２）を抽出し、抽出された前記模様の、撮像領域３０内の画像Ｉ（ｔ＋１）中での変位量を検出し、検出された前記変位量及び前記寸法に基づいてワーク２６の表面３２上の位置を測定する。 （もっと読む）

【課題】多重解像度画像を用いた対応点探索における処理コストを抑制しつつ、対応点探索の精度や信頼度を向上できる技術を提供する。
【解決手段】原基準画像と原参照画像とを取得する画像取得手段と、前記原基準画像と前記原参照画像のそれぞれの多重解像度画像を生成する多重解像度画像作成手段と、注目基準画像上の注目点に対応する対応点の探索処理を行うための探索基準点を、注目参照画像に設定する探索基準点設定手段と、前記対応点を探索する対応点探索手段と、前記探索処理が下位の階層から上位の階層に向けて実行されるように前記探索基準点設定手段と前記対応点探索手段とを制御する制御手段と、を備える画像処理装置であって、前記対応点探索手段は、前記対応点をサブピクセル分解能で探索するとともに、前記探索基準点設定手段は、探索された前記対応点に基づいて、注目参照画像の１つ上位階層の参照画像上に探索基準点を設定する。 （もっと読む）