説明

Fターム[2G001HA12]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 表示、記録、像化、観察、報知等 (3,732) | 可光;写真;螢光手段 (206)

Fターム[2G001HA12]に分類される特許

201 - 206 / 206


【課題】線幅0.2μm以下のパターンの評価を、高いスループット、かつ、高い信頼性を確保しておこなう。
【解決手段】電子銃2から放出された電子線を矩形に成形し、試料S上の視野を走査し、その走査領域から放出された電子を写像投影光学系で拡大し、その拡大像をシンチレータ51に結像させ、リレー光学系でCCDに導き、二次元像を得る構成の電子線装置において、前記CCDには前記二次元像を映像できる面を少なくとも二つ設け、一方の面が拡大像を受像中に他の面から画像データを取り出すことを特徴とする電子線装置。 (もっと読む)


【課題】 X線検出器の交換回数を減らして長寿命化を図る。
【解決手段】 X線検出センサ5bは、検出面5baがX線の照射領域平面上で被検査体の搬送方向と直交する方向に検出用パイプ3bの外径よりも2倍以上長くライン状に形成される。現在運用しているX線検出センサ5bの検出面5baのX線検出感度が低下して寿命がきた場合に、検出用パイプ3bと異物検出部5を含む筐体2とを予め設定により分割された検出面5baの幅a分だけY方向に相対移動させ、X線検出センサ5bの検出位置を変更する。X線検出センサ5bの検出位置変更前後では、X線検出センサ5bの検出面5baの未使用領域が遮蔽部材6によって遮蔽される。 (もっと読む)


L次元画像をM次元位相にトレーニング、マッピング、および整列させて方位角を得る(112)。次いで、整列させたL次元画像をN次元位相にトレーニングおよびマッピングして、2(N)頂点分類を得る(113)。方位角および2(N)頂点分類を使用して、L次元画像をO次元画像にマッピングする(114)。

(もっと読む)


ハイブリッド型金属異物検知装置(1)は、マグネットブースタ(5)、X線装置(7)、センサコイル(8)を含む。ベルトコンベヤ(4)で搬送されてくる被検出物(6)に混入された金属異物はマグネットブースタ(5)を通過するとき磁性が強くなりセンサコイル(8)で検知しやすくなる。X線装置(7)から発生するX線の焦点は、センサコイル(8)の感度が一番低下する領域に設定することによって、被検出物の表面、中央部分に混入した金属異物を良好に検知できる。 (もっと読む)


【課題】 多層プリント配線板の内層の各導体層の変形量を観測、記録する。
【解決手段】 多層プリント配線板60の内層用の両面配線板61の表裏の導体層に中実ガイドマーク22と中空ガイドマーク23が形成され、例えば、中実ガイドマーク22−1bに、隣接した導体層に設けられた中空ガイドマーク23−2aが同心に配置され、隣接した導体層毎に同心に配置された中実、中空ガイドマーク22、23を形成する。X線カメラの視野内に納まる外形のガイドマーク枠21内に、例えば3行3列に、同心の中実、中空ガイドマーク22(1a〜5a)、23(1b〜5b)の組が配されている。ガイドマーク群20は多層プリント配線板の、たとえば4隅に配置され、1個のガイドマーク群は1回のX線照射で枠内のガイドマーク全ての像を取り込み、それらの座標値が計算される。4個のガイドマーク群内のガイドマークの座標値から、各導体層に形成された配線用パターンの変形量が計算され、結果を記録できる。 (もっと読む)


【課題】 試料を支持する試料板からの回折X線の影響を排除して、試料に関する正確なX線回折測定をできるようにする。
【解決手段】 単結晶試料板21によって支持する試料SにX線を照射し、試料Sから発生する回折X線を2次元X線検出器2によって検出し、検出された回折X線の座標及び強度をX線読取り装置によって読み取り、そしてその読取り結果に基づいて演算を行って回折X線強度分布を求めるX線測定装置である。単結晶試料板21から出る回折X線が2次元X線検出器2によって検出される座標位置を、回折X線強度分布の演算に寄与させないブランク領域として認識する。単結晶試料板21からの回折X線がX線強度の演算に算入されないので、試料Sからの回折X線だけに関して正確にX線強度分布を求めることができる。 (もっと読む)


201 - 206 / 206