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Fターム[2G001HA12]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 表示、記録、像化、観察、報知等 (3,732) | 可光;写真;螢光手段 (206)

Fターム[2G001HA12]に分類される特許

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【課題】X線源から放出するX線を効率よく利用して、X線源の強度および波長特性不安定性に影響されることなく良好なスペクトルを取得する。
【解決手段】X線集光素子3により、X線源1から放出された広帯域X線2を集光してその一部を試料4へ照射し、X線結像素子6により、試料4を透過した透過光5Aと試料4を透過せずX線集光素子3から直接届いた直接光5Bの像を同時に転送し、波長分散素子7により、一次元空間情報を保ったままその転送像を波長分解し、二次元X線検出器9により、信号X線8Aと参照X線8Bのスペクトルを吸収スペクトルおよび参照スペクトルとして同時に取得する。 (もっと読む)


【課題】簡単な機構と制御で検査倍率を保ち、画像の明るさ変化の少ない透視角度可変のX線透視検査装置を提供する。
【解決手段】検査領域がX線のほぼ光軸上に位置すると共に、X線源と被検体テーブル13間距離を調整し、被検体21の検査倍率を設定するように、被検体テーブル13を平行移動させて位置設定するテーブル移動手段14と、X線の照射領域内において、X線検出器を被検体テーブルのテーブル面に対して傾斜した検出器移動方向に直線的に移動させて位置設定する検出器移動手段15と、固定したX線源に対してX線検出器を位置設定させるように検出器移動手段15を制御し、検査領域がX線のほぼ光軸上に位置するように被検体テーブルを位置設定させて検査領域のテーブル面法線から所定の傾斜角αで傾斜した方向の透過画像を検出させるようにテーブル移動手段14を制御させる機構制御手段16を有する。 (もっと読む)


【課題】構成部品の増大につながるプリズムを用いることなく、CCDが放射線に晒されないようにする。
【解決手段】放射線を出射する放射線源2と、該放射線源2から出射された放射線を可視光に変換する平板状の波長変換手段3と、該波長変換手段3により変換された可視光を撮像する撮像手段4とを備え、波長変換手段3が、放射線に対して傾斜して配置され、撮像手段4が、放射線の経路外に配置されている放射線観察装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】試料の厚さや材料種類などに依存することなく、前記試料の内部欠陥や内部構造を十分な精度で観察することができる新規な方法及び装置を提供する。
【解決手段】所定の陽電子源から陽電子を放出し、所定の試料に対して照射し、前記陽電子の、前記試料を透過して得た像を透過画像として得る。この透過画像は前記試料の内部構造などを反映しているので、この透過画像を分析することにより、前記試料の内部構造などを知ることができるようになる。 (もっと読む)


【課題】 X線画像を用いた算術演算や論理演算を実行しようとする場合に、直感的に演算内容を把握することができる入力画面を表示するようにしたX線検査装置を提供する。
【解決手段】 X線画像を用いてそのX線画像に対する算術演算や論理演算の画像処理を行う機能を備えたX線検査装置1であって、実行する演算の種類を入力する演算子入力部62とその演算の対象となるX線画像を入力する項入力部61とが演算式を構成するように表示される演算式入力画面2を表示するようにして演算の種類およびX線画像の入力を促す演算入力画面表示制御部34を備える。 (もっと読む)


【課題】搬送状態にある被検体内部の異物を検出するのに好適な装置を提供する。
【解決手段】被検体12を搬送するコンベア11と、コンベア11で搬送される被検体12にX線を照射するX線源1と、X線源1から照射されたX線の被検体12を透過する透過量を検出し、かつ互いに異なる検出感度を有する第1検出部及び第2検出部を備えるX線検出器4と、X線検出器4の第1検出部で検出されたX線の透過量に基づく第1画像、及びX線検出器4の第2検出部で検出されたX線の透過量に基づく第2画像を、同一の被検体12について取得するX線画像取得制御装置3と、第1画像及び第2画像を記憶する第1、第2画像記憶装置6、7と、第1画像及び第2画像について減算処理を行う演算処理装置8と、を備える異物検出装置100。 (もっと読む)


【課題】 測定点間を移動する際の被測定物とX線測定光学系との衝突を予測し、衝突防止を図る。
【解決手段】 X線源11とX線検出器12との間に被測定物Sが位置するように被測定物を載置するためのステージ14と、駆動機構15とを備え、ステージ上に載置された被測定物の複数の測定点についてのX線検査を行うX線検査装置1において、光学カメラ画像に基づいて被測定物の立体形状を抽出する立体形状抽出部36と、測定点に関する位置情報の入力を受ける測定点情報入力部37と、測定点間を最短経路で移動させるときに移動中の被測定物が通過する範囲を抽出する通過範囲抽出部38と、X線測定光学系13と被測定物の通過範囲との位置関係とに基づいて衝突可能性を判定する衝突判定部41と、衝突可能性がある場合に回避ルートを算出する回避ルート算出部42とを備える。 (もっと読む)


【課題】複数の試料に対してX線回折測定を行う場合に、それぞれの試料のX線回折パターンが独立に正確に得られにくいという問題点があった。
【解決手段】X線を試料に向けて照射するためのX線照射部と回折X線を検出するための回折X線検出部と試料を保持するための試料保持部とを有するX線回折装置において、
試料保持部の所定位置に光を照射する光照射部と、光照射部から発生した光を試料に照射して得た反射光を受光する受光部と、反射光の受光角度又は受光位置を測定し、それに応じて試料保持部の試料の厚さ方向の移動距離を決定する位置制御部と、決定された移動距離に応じて試料保持部を試料の厚さ方向に移動させる移動部とを有する位置調整機構を有する、ことを特徴とするX線回折装置。 (もっと読む)


【課題】RT−GUCHI法を適用して信頼性の高い欠陥部のサイジングが作業性がよく得られるようにしたRT3次元サイジング装置を提供すること。
【解決手段】 対象物1に存在する欠陥部2の近傍に基準線部材3を載置し、放射線源4を一方の位置Lと他方の位置Rにして放射線を照射し、2方向から撮影した各々の透過写真によりサイジングを行うというRT−GUCHI法を適用したサイジングに際して、画像ディジタル変換部11と画像処理部16、それに3次元解析部32を設け、前記透過写真を画像ディジタル変換部11によりディジタル画像化し、ディジタルデータ記憶部15に記憶した上で、画像処理部16により処理し、欠陥部2の画像を表示モニタ30に拡大表示させ、指定範囲の濃度分布を表示モニタ30にグラフ表示させ、指定位置間寸法を機械的に測長させ、3次元解析部32により欠陥部の3次元の寸法をリアルタイムで表示モニタ30に表示されるようにしたもの。 (もっと読む)


【課題】限られた空間を持つ装置内に載置された二次元検出器を用いて、投影像の輝度の減衰を抑えつつ、投影像の拡大率を向上させる。
【解決手段】X線源1と、二次元検出手段2と、X線源1のX線焦点と二次元検出手段2との間に配置され被検査体7を載置してX線焦点から二次元検出手段7の初期位置検出面に降ろした垂線に直交する回転軸を中心に設定された角度変位で回転する回転手段とを用い、各角度位相毎に撮像された投影像より被検査体7の内部構造データを再構成する方法において、X線焦点から二次元検出手段2の検出面に降ろした垂線の長さを一定に、かつ検出面の側端部が各々の位置で一部重なるよう、被検査体7の回転軸と平行でX線焦点を通る回転軸について二次元検出手段2を旋回させる。そして各撮像位置において各角度位相の投影像を撮像し、撮像された投影像から再構成計算を行い、被検査体の内部構造データを再構成する。 (もっと読む)


【課題】 ポインティングデバイスを用いた簡単な操作で所望の測定位置に視野調整することができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】被測定物を載置するステージと、X線測定光学系に対する位置が関係付けられ被測定物全体の外観画像を撮影する光学カメラと、ステージ上の被測定物とX線測定光学系との位置関係を調整する駆動部と、モニタ画面と、透視X線像の画像表示を行うX線画像表示制御部と、光学カメラで撮影された外観画像を表示する外観画像表示制御部と、入力操作に基づいて指定した測定位置をX線測定光学系の測定視野に移動させるための駆動部制御信号を発生するX線検査装置であって、外観画像上でポインタにより指定した測定位置を予め操作ボタンに登録し、登録後に操作ボタンを指定する入力によりその操作ボタンに登録された測定位置を外観画像上で指定する入力操作を代行する制御を行う操作ボタン登録制御部を備える。 (もっと読む)


【課題】 マウスを用いて移動方向と移動速度を同時に制御することができるようにしたX線検査装置を提供する。
【解決手段】 X線源11とX線検出器12との間において被測定物を載置するステージ14と、ステージ上の被測定物とX線測定光学系13との位置関係を調整する駆動部15と、モニタ画面24aと、X線検出器12により撮影された映像信号に基づいて透視X線画像を作成するX線画像作成部31と、モニタ画面に透視X線画像の画像表示を行うX線画像表示制御部32と、モニタ画面の任意の位置にポインタを表示するとともにクリック操作によりポインタの位置を指定するマウス23と、モニタ画面24aに表示した透視X線画像24b上でマウスのクリック操作による位置指定が行われたときに、指定位置に応じて駆動部16に対する駆動信号を発生する駆動信号発生部33とを備える。 (もっと読む)


【課題】 同一形状の被測定物を次々測定する際に、ティーチングを行う必要なく簡単な入力操作で各測定点を入力することがX線検査装置を提供する。
【解決手段】 同一形状の被測定物群を一定間隔ごとに規則的に配列する搭載治具15を用いてステージ14上に複数の被測定物群Sを載置し、初回測定点位置、測定点間距離、測定繰り返し回数を含む測定位置情報の入力を促す測定位置情報入力制御部33と、入力された測定位置情報に基づいて各測定点位置を算出する測定点位置算出部34と、算出された各測定点位置を順次X線測定光学系の測定視野内に移動するステージ駆動機構制御部35とを備える。 (もっと読む)


【課題】 目視や光学顕微鏡等では判別不能な破面が発生する金属材料の破壊原因を正確に推定することを目的とする。
【解決手段】 被破壊材料の破面から所定の深さの領域における結晶方位分布を検出し、当該結晶方位分布に基づき前記被破壊材料の破壊原因を推定する。 (もっと読む)


【課題】
校正用測定以降、特に検査実行中に帯電状態の変化に起因する焦点オフセットの変化を補正することができるようにした写像投影型電子線式検査装置及びその方法を提供することにある。
【解決手段】
写像投影型電子線式検査装置において、合焦測度センサ部を有し、該合焦測度センサ部で変換された複数の画像信号から合焦測度を算出する合焦測度算出手段と、該合焦測度算出手段で算出された合焦測度を基に、電子結像光学系に関し対物レンズによる面状電子ビームの収束面と共役な共焦点面の高さを算出し、該算出された共焦点面の高さに基づいて検査領域の合焦検査画像を検査画像検出センサ部で検出するための対物レンズの焦点位置を算出する焦点位置算出手段と、該焦点位置算出手段によって算出された対物レンズの焦点位置に応じて対物レンズの焦点位置を補正する焦点位置補正手段とを有する合焦点制御部を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】従来のX線,超音波画像におけるコントラストと空間解像度の問題を補い、癌の検査の正確率を上げることにある。
【解決手段】予めコリメートされた入射X線I(W)は、非対称モノクロ・コリメータ10によって反射され、面状波X線P(W)を発生する。面状波X線P(W)は、試料12を通過する。試料12を通過したビームR(W)は、角度アナライザ14によって角度分析され、屈折された成分D(W)のみが、角度アナライザ14を通過することが許される。屈折された成分D(W)は、X線暗視野撮像として、写真フィルム16に記録される。 (もっと読む)


【課題】 結晶面に対応した複数の回折X線を同時に検出して、膜内の複数の結晶構造を迅速にかつ同時に特定すること。
【解決手段】 測定用媒体2を固定設置し、かつ、膜の表面に対する放射光X線11の入射角度を所定の角度に制限した状態にして、放射光X線11を入射させ、膜内の結晶面に対応して発生した複数の回折X線21を全て同時に検出し、検出された複数の回折X線21の強度を評価して測定用媒体2内に存在する複数の結晶構造を同時に特定する。 (もっと読む)


【課題】 高感度で小型化が容易であり、しかも放射線損傷が少ない一次元イメージセンサを提供する。
【解決手段】 基本構成として、被検体(不図示)を透過した放射線1(電磁波あるいは放射線)の入射する方向に延在するシンチレータ2を備えている。そして、放射線1の入射する方向に対しほぼ直交する方向であって上記シンチレータ2の下部に配置された光学素子3と、該光学素子3の更に下部に配置された二次元受光素子4とを有する。これ等は、好ましくはスリット状の開口部5を有する遮蔽体6に覆われている。上記開口部5の所定の箇所にはシンチレータ2で発生するシンチレーション光の遮光膜7が取り付けられる。そして、二次元受光素子4の光電変換で生成した電気信号の出力を外部に伝送するケーブル8、電気回路9が取り付けられる。 (もっと読む)


セラミックシンチレータは、Pr、TbおよびEuから選ばれる少なくとも1種の元素を付活剤として含有する酸硫化ルテチウム蛍光体の焼結体を具備する。酸硫化ルテチウム蛍光体の焼結体は5〜15ppmの範囲のアルカリ金属元素と5〜40ppmの範囲のリンとを含有する。このようなセラミックシンチレータによれば、酸硫化ルテチウム蛍光体が本来有する特性を十分に生かし、小型化した場合においても良好なX線検出感度を得ることができる。
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【課題】荷電粒子線の光学系の光軸に垂直な平面内、もしくは少し傾斜した平面内における回転機構をもった装置の回転操作に伴って発生する観察・加工位置の移動の補正を簡便かつ高精度に実現すること。
【解決手段】荷電粒子線装置における試料ホルダー、絞り装置、バイプリズムなどの、当該回転機構の2次元位置検出器とコンピュータ制御による駆動機構を利用し、さらにコンピュータの演算能力を利用することによって該平面内の回転に伴う移動量を演算によって求め、これを相殺させる様に駆動、制御を行なう。また、ひとつの入力によって複数の回転機構を互いに関連をもって操作させる。 (もっと読む)


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