【課題】Ｘ線回折法に基づいて硬組織を評価する際に、硬組織を破壊することなく測定を行うことができるようにし、もって、硬組織の評価を簡単且つ短時間で行えるようにする。
【解決手段】Ｘ線源１から出射したＸ線を硬組織４に入射させ、硬組織４で回折して硬組織４の透過側に出射したＸ線をＸ線検出器５で検出する硬組織の評価方法である。Ｘ線源１はＭｏＫα線以上のエネルギを有する特性Ｘ線を発生し、硬組織４は自身の長手方向にｃ軸配向した性質を有し、硬組織４は自身の長手方向がＸ線の光軸と交差するように配置され、Ｘ線検出器５はｃ軸に対応する格子面である（００２）面で回折した回折線の子午線Ａ−Ａ方向の強度を検出し、さらにＸ線検出器５は参照面である（３１０）面で回折した回折線の子午線Ａ−Ａ方向の強度を検出し、参照面と（００２）面の回折線強度との比較に基づいて硬組織を評価する。 （もっと読む）

【課題】投影画像の合成処理が容易であり且つ鮮明な画像を得ることができるトモシンセシス画像取得方法を提供する。
【解決手段】本発明のトモシンセシス画像取得方法は、Ｘ線発生源２より発生されたＸ線を、モノクロメータ３ａ及びコリメータ３ｂにより単色且つ平行にし、単色且つ平行にされたＸ線を被検体４に照射する。そして被検体４を透過したＸ線を検出して撮影装置６により被検体４の投影画像の撮影を行う。この撮影を、被検体４を回転させることにより放射線を異なる角度で被検体に入射させて複数回行い、複数回の撮影により得られた被検体４の複数の投影画像を処理装置７により合成してトモシンセシス画像を作成する。 （もっと読む）

顕微鏡対象物を検査するための装置。レンズの下には複数のＬＥＤがアレイで配列される。ＬＥＤのいくつかは点灯され、ＬＥＤのいくつかは点灯されない。コンピュータは、ＬＥＤアレイを制御する。コンピュータは、アレイから選択されたＬＥＤをオンにして点灯されたＬＥＤを形成する。また、コンピュータは、アレイから選択されたＬＥＤをオフにして点灯されないＬＥＤを形成する。点灯されたＬＥＤは、レンズの下に点灯されたＬＥＤのパターンを形成する。好ましい実施態様においては、レンズはコンピュータ制御されるカメラに接続され、顕微鏡対象物は顕微鏡的結晶である。別の好ましい実施態様においては、ＵＶ ＬＥＤが利用されて結晶を上方から照射する。別の好ましい実施態様においては、ＵＶ ＬＥＤが利用されてハンプトン・ピンのループを照射し、Ｘ線結晶解析のためにハンプトン・ピンのループにおける結晶の位置を求める。
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【課題】屈折コントラストＸ線撮像法と同じ密度分解能及びダイナミックレンジで、測定時間が短く、経時的な観察が可能で、かつ入射Ｘ線強度が時間的に変動している場合でも高い感度で試料を観察できるＸ線撮像装置及び撮像方法を提供する。
【解決手段】試料によって生じたＸ線ビームの屈折角を、複数のアナライザー結晶１１，１２による複数回のＸ線回折を利用してＸ線検出器１８で同時に検出する。 （もっと読む）

【課題】小角Ｘ線散乱と広角Ｘ線散乱とを同時に測定できると共に、広角Ｘ線散乱の測定精度を向上できる小角広角Ｘ線測定装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線源Ｆから出たＸ線を試料Ｓに照射し試料Ｓから発生する散乱線を小角度領域内で検出器２６によって検出する小角Ｘ線光学系と、試料Ｓと検出器２６との間に設けられており試料Ｓから発生する散乱線を広角度領域内で検出する広角Ｘ線光学系７とを有する小角広角Ｘ線測定装置である。広角Ｘ線光学系７は、試料Ｓと検出器７との間のＸ線光路上に設けられており、Ｘ線像を可視光像に変換する蛍光体３８と、蛍光板３８上に形成された可視光像を反射する光反射体４２と、光反射体４２で反射した可視光像を検出する光検出器４７とを有する。Ｘ線光路と交わる部分の蛍光体３８及び光反射体４２のそれぞれにＸ線用開口３９，４２が設けられ、その開口３９，４２は小角度領域の最大角度値を見込む開口径を有する。 （もっと読む）

【課題】容積測定（volumetric）タイプのコンプトン散乱Ｘ線深度視覚化、画像化、および情報プロバイダを提供すること。
【解決手段】一態様は、個体の少なくとも一部の少なくとも一部の物質に対して印加されている少なくとも１つのＸ線のコンプトン散乱に少なくとも部分的に基づく、個体の少なくとも一部の少なくとも一部の物質の、１つまたは複数の断層撮影タイプのコンプトン散乱ベースの視覚化、画像、または提供される情報を捕捉することに関する。別の態様は、少なくとも１つのコンプトン散乱Ｘ線を形成する、個体の少なくとも一部の少なくとも一部の物質内における、少なくとも１つの印加されるＸ線の散乱によって、少なくとも部分的に得られる、少なくとも一部のデータに実質的に一致する少なくとも１つの物質特徴分布関数を導き出すことに関する。 （もっと読む）

【課題】検査面積の大型化が可能で、検査速度の速い簡便な有機薄膜の検査方法及びその装置を提供すること。
【解決手段】本発明に係る有機薄膜の検査方法は、有機薄膜に電荷を注入し、有機薄膜内部における電荷分布の時間変化を可視化することを特徴とする。
また、本発明に係る有機薄膜の検査装置は、有機薄膜に電荷を注入する電荷注入手段と、有機膜中に光電子を発生させる光電子発生手段と、有機薄膜から放出される光電子を可視化する光電子可視化手段と、を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線等の被検体を透過する放射線を用いることにより被検体の寸法や形状によらず内部構造の観察や内部欠陥等を検出することができ、被検体を回転させる簡素な構造で装置を小型化することができる汎用性、取扱い性に優れるステレオ透視装置の提供。
【解決手段】Ｘ線源５と、被検体２０を移動自在に保持する位置設定機構６と、前記被検体２０を挟んで前記Ｘ線源５に対向配置され前記被検体の透過画像を検出する平面状のイメージセンサ１０と、前記位置設定機構６により少なくとも二種類の回動角度で保持されたときに前記イメージセンサ１０で得られる前記被検体２０の透過画像に基づいて、当該被検体２０の三次元構造を表す三次元座標データを生成する座標データ生成部（制御部３）とを備えたことを特徴とするステレオ透視装置。 （もっと読む）

【課題】被検査体を破壊することなく、放射線を用いて非破壊で被検査体内部の状態を従来に比べてより識別しやすく検査することのできる非破壊検査方法及び非破壊検査装置を提供する。
【解決手段】被検体に電磁波または放射線を照射し、被検体を透過した電磁波または放射線を検出して透過量に応じた輝度データを取得し、輝度データに基づいて表示手段に表示して被検体の検査を行う。輝度データをデジタルデータとして量子化した輝度データを、複数の領域に分けて抽出し、各領域毎の前記量子化した輝度データに対して輝度の明暗を拡張するように再度量子化し直し、この再度量子化し直した輝度データにより表示手段に表示する （もっと読む）

【課題】
本発明の目的は、狭隘な場所に取り付けられた配管を短時間で断層撮影できる配管の検査方法及び配管の検査装置を提供することにある。
【解決手段】
本発明の配管の検査方法は、前記配管に対して対向配置した放射線源と放射線検出器を並進走査する第１の工程と、任意の走査距離ごとに、前記放射線源が照射した放射線を前記放射線検出器が検出する第２の工程と、前記放射線検出器が検出した放射線量に基づき、前記配管の透過画像を作成する第３の工程と、前記透過画像に基づき、前記配管の断層像又は立体像を構築する第４の工程とを備えたことを特徴とする。
【効果】
本発明によれば、狭隘な場所に取り付けられた配管を短時間で断層撮影できる配管の検査方法及び配管の検査装置を提供することができる。 （もっと読む）

【課題】結晶の外形に対して結晶軸がどのように取り付いているかを調べる全３軸の方位決定を高速で、かつ高精度に行うことのできるＸ線単結晶方位測定装置および測定方法を提供することにある。
【解決手段】特性Ｘ線による回折を利用する、ディフラクトメータ法を基本とし、Ｘ線検出器として、ＴＤＩ読み出しモードで動作するＣＣＤをベースにした２次元検出器を採用したことと、該２次元検出器により特定の（狙った）指数の反射を２点で捕らえることにより全３軸の方位決定を行うことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】従来に比べてより簡易に精度の高い検査を行うことのできる非破壊検査方法及び非破壊検査装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線源１から放出されるＸ線２を被検体３に照射し、被検体３透過したＸ線２の強度をイメージインテンシファイア４にて検出し、この検出信号をイメージプロセッサ７と計算機８にて処理してモニタ９に表示する。Ｘ線源１のエネルギーに相当する管電圧、強度に対応する管電流を線源コントローラ６にて調整可能となっている。また、被検体３の前面に、Ｘ線２を減衰させるマスクとしての金属板１２を挿入可能となっており、金属板１２の枚数によってマスク厚を変更できる。イメージインテンシファイア４は、金属板１２のみを透過して被検体３を透過しないＸ線ａと、金属板１２と被検体３の内部を透過したＸ線ｂ、ｃを検出する。 （もっと読む）

本発明は、分析平均面（analysis mean plane）（４）を画定する試料（１）の分析ゾーン（２）を放射する、一定の入射方向（３）で放出されるＸ線ビームの発生部（１０）と、前記放射された分析ゾーン（２）で回折したＸ線を少なくとも１次元座標上で検出する検出器（３０）と、を備えた試料（１）のＸ線解析装置において、更に、前記試料（１）と検出器（３０）の間に配置され、前記分析平均面（４）に含まれる回転軸（５）を中心に回転する周面の一部を切り取った面（partial
surface）からなるＸ線回折面（２１）を含むアナライザシステム（２０）を備え、前記回転軸（５）は前記Ｘ線の入射方向（３）とは異なる方向で前記分析ゾーン（２）の中心を通り、前記回折面（２１）を経て前記検出器（３０）に向かって回折されたＸ線を出射させるように前記回折面（２１）が配置されることを特徴とする。
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【課題】
従来のベルトやロープ等を使用して設置する方法では、設置作業時に作業員の１人が放射線装置を支えながらもう１人の作業員がベルトの締め付け作業を行う必要があり、２人以上の作業員が必要となっていた。また、高所で作業する場合重量のある放射線装置を支えている時間が長く、危険が増える。１箇所撮影するたびに締め付けを緩めて装置を移動させ、再度締め付け作業をするので、作業時間がかかり効率が悪くなることと、締め付け作業ごとに撮影位置がずれる可能性があり、設置精度の低下の恐れがあった。
【解決手段】
ベルトに放射線装置を吊り下げるためのフックが連続して配置されており、鋼管の中心軸と放射線装置の角度が検査に必要な所定の角度を得られる構造を有しているフックを使用し、放射線装置を鋼管に取り付ける。フックには、鋼管との接触部分にフックによる傷防止と滑り止めを目的とする緩衝材が取り付けられている。 （もっと読む）

【課題】光学系21のフォーカスを自動的に調整できるＸ線イメージ管11における撮像装置20のフォーカス調整装置31を提供する。
【解決手段】光学系21のフォーカス状態を測定する指標となる治具32を、Ｘ線イメージ管11および撮像装置20を用いて撮像する。撮像したデータから、測定手段33がフォーカス状態を測定する。測定したフォーカス状態に応じて、制御手段34がフォーカス調整手段23により光学系21のフォーカスを調整する。 （もっと読む）

【課題】 結晶粒の方位分布測定を短時間で実行可能としてインライン又はオンラインで検査可能な方位分布測定方法及びそのための装置を提供する。
【解決手段】 測定試料における結晶粒の方位分布測定を行なう結晶粒の方位分布測定方法であって、単色化したＸ線をＸ線ビームに形成し、当該形成したＸ線ビームを前記測定試料の表面に対し、所定の入射角を中心にした所定の角度幅で入射し、当該所定の角度幅で入射したＸ線の回折像を、ＴＤＩ読み出しモードで動作するＣＣＤ３４により構成した二次元検出器で検出して、その回折方向において積分して極点図を取得し、当該得られた極点図から結晶粒の方位分布測定を行なう。 （もっと読む）

【課題】 面方位測定の大幅な時間短縮を実現し、サブグレイン構造やリネージ構造の試料に対し高速マップ測定が可能なＸ線結晶方位測定装置及び方法を提供する。
【解決手段】 被測定結晶Ｓの測定面にＸ線を照射し、当該Ｘ線の照射により結晶の格子面に対応して得られる回折スポットをＸ線検出器３０で検出し、当該検出した回折スポットの中心位置を測定して結晶の格子面法線を算出するＸ線結晶方位測定装置及び方法において、当該被測定結晶の測定面の照射点からの回折スポットを、ＴＤＩ読み出しモードで動作するＣＣＤ（TDI-CCD）３４により構成した二次元検出器で検出する。 （もっと読む）

【課題】回折格子を用いることなくモアレ縞を確実に撮像することができる新たなＸ線撮像フイルムを提供する。
【解決手段】Ｘ線撮像ユニット１１は、タルボ用回折格子から略タルボ距離Ｌ離れた位置に配置され、タルボ用回折格子によって回折されたＸ線を撮像するためのユニットである。Ｘ線撮像ユニット１１は、Ｘ線画像（Ｘ線タルボ画像）を撮像するためのＸ線撮像フイルム２０と、このＸ線撮像フイルム２０の光路上直前位置に配置されるシャッタ３０とを備えている。Ｘ線撮像フイルム２０は、Ｘ線に対して感光性を有する材料で形成されたストライプ状の感光部２１と、Ｘ線に対して感光性を実質的に有さない材料で形成されたストライプ状の非感光部２２とが交互に配置されてなる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、格子を形成する部材の厚みをより薄くし得るＸ線用透過型回折格子、該Ｘ線用透過型回折格子を用いたＸ線タルボ干渉計およびＸ線撮像装置を提供する。
【解決手段】本発明のＸ線用透過型回折格子１１は、一方向に線状に延びるＸ線を透過する複数の透過部Ｒ１と一方向に線状に延びるＸ線を透過しない複数の非透過部Ｒ２とが交互に平行に配設された格子を備え、前記非透過部Ｒ２は、入射Ｘ線が前記格子によって回折される方向とは異なる方向に前記入射Ｘ線の進行方向を変化させる。 （もっと読む）

【課題】 リムとタイヤの組付け状態を、タイヤの一周に渡り短時間で連続的に測定できる、リム組付けタイヤの組付け状態測定方法を提供する。
【解決手段】 タイヤ内部構造測定装置１０に、リム３０にタイヤ５６を組み付けたリム組付けタイヤ１２を回転可能に支持し、リム組付けタイヤ１２を、押圧負荷のない無負荷状態で回転させ、Ｘ線照射装置２０からＸ線をリム３０の接線方向に照射し、Ｘ線検知装置２２により、リム３０とタイヤ５６との組付部のＸ線透過情報を所定のタイミングで取り込み、取り込んだＸ線透過情報に基づいて、画像形成処理部２８で接線方向透過画像を形成し、得られた接線方向透過画像を用いて、リム３０とタイヤ５６の特定部位の位置情報を得る。 （もっと読む）