【課題】蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】試料１０からの蛍光Ｘ線を測定する測定装置２と、試料１０全体及び試料１０の測定箇所の画像データをそれぞれ取得する撮像装置３と、試料１０全体及び測定箇所の画像データをそれぞれ測定結果と対応付けて管理する管理部１３とを備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は厚い窓材を有する撮像窓を備える分析室内の試料に対して、分析室外から分析対象位置を鮮明に撮像できるようにして、分析位置の特定ができなかった試料の分析を可能にするＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】窓材４１を有する撮像窓４０を備える分析室２内でＸ線を試料Ｓに照射して分析を行うＸ線分析装置であって、窓材４１を透過させて試料Ｓを照明する試料照明手段７と、試料Ｓを分析室２の外部から撮像する撮像手段８であって、撮像部８１とフード８２を有し、試料照明手段７からの照射光が、窓材の裏面４１ｂで反射光となって撮像部８１内に入射しないように形成されている撮像手段８とを有し、試料照明手段７がフードを取り囲むように配置され、フードの窓近位部８２ｂの端部が撮像窓４０に近接しているＸ線分析装置。 （もっと読む）

【課題】試料１０の位置ずれを高い信頼性で検出可能な蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】試料１０を載置するステージ２２と、このステージ２２を収納し、開閉可能なカバーが設けられた筐体を有し、試料１０にＸ線を照射して、試料１０からの蛍光Ｘ線を検出することにより測定を行う測定装置２と、カバーを開けた状態で試料１０をステージ２２上に載置した後であってカバーを閉める前後に、試料１０の同一箇所の画像をそれぞれ撮像し第１及び第２の画像データをそれぞれ取得する撮像装置３と、第１及び第２の画像データを用いて試料１０の位置ずれを検出する位置ずれ検出部１３と、位置ずれを通知する通知部１４とを備える。 （もっと読む）

【課題】しきい値とベースラインとの関係による影響を受けることなく、対象物の境界面を常に正確に表すことのできる３次元画像化方法と、その方法を利用したＸ線断層雑像装置を提供する。
【解決手段】対象物Ｗのボリュームデータを構成するボクセルから、あらかじめ設定されているしきい値を用いて一定濃度の境界を表現するポリゴンデータを生成した後、その各ポリゴンの各頂点について、当該頂点を通り、かつ、その近傍の物体境界面の法線方向への軸に沿って、その軸の両側所定領域の濃度値を積算して得られるプロファイルを微分することによって得られるピーク値の座標を求め、その座標を当該頂点の座標として、各ポリゴンの各頂点座標を補正することで、しきい値に依存することなく正確に対象物の３次元画像を得る。 （もっと読む）

【課題】薄膜積層体上に厚い膜がある試料に対し、薄膜積層体の膜厚を高い精度で計測し、検査することが可能なＸ線反射率測定法を提供する。
【解決手段】薄膜積層体上に厚い膜の膜厚の３分の１以下に集光したＸ線を、厚い膜の端面から入射し、厚い膜を透過して、薄膜積層体に入射し、反射したＸ線が再度、厚い膜を透過し、入射面とは反対の端面から、反射Ｘ線として取り出すことで、厚い膜に埋もれた薄膜積層体のＸ線反射率を測定し、フーリエ変換法や理論曲線との最小二乗法解析により、厚い膜に埋もれた薄膜積層体の膜厚を検査する。 （もっと読む）

【課題】計測範囲の特定について再現性を高め、特徴量の算出を客観的かつ簡易に行なうことができるボリュームデータ処理装置およびボリュームデータ処理プログラムを提供する。
【解決手段】本発明に係るボリュームデータ処理装置は、ボリュームデータに基づいて、被検体の体軸に平行な特定の平面上で、骨を表す数値範囲に含まれる測定値のラインプロファイルを算出するプロファイル算出部と、前記ラインプロファイルの極大または極小位置を基準にして関心領域を設定する領域設定部と、前記関心領域について特徴量を算出する特徴量算出部と、を備える。このようにプロファイルの極大値または極小値をとる位置を基準に、関心領域を設定するため、一つの被検体について再現性よく関心領域を設定することができる。すなわち、同じ被検体に対して前回の処理のときの位置と同じ位置に領域を設定することができる。 （もっと読む）

本発明は、多染性放射源２及びエネルギー分解放射検出器６を含む、物体２０を画像化する画像化システムに関する。画像化システムは、異なる方向から打切り投影を得るため、物体２０及び放射源２を互いに関連して移動させる駆動装置を更に含む。計算ユニットは、打切り投影から、物体２０及び物体２０内の物質のうちの少なくとも１つのｋエッジ成分を決定し、決定されたｋエッジ成分から、非打切り投影を決定する。再構成ユニットは、非打切り投影を使用して、物体を構成する。
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【課題】直感的に撮像パラメータを決定することができ、オペレータにとって使いやすい放射線断層撮像装置を提供する。
【解決手段】互いに異なる画像を表示する独立した複数のモニタ１５ａ〜１５ｄを備え、その各モニタの表示画面にはそれぞれパラメータ設定部Ｄが設けられ、その各モニタ１５ａ〜１５ｄのうちのいずれかのパラメータ設定部Ｄによる設定内容が、全モニタ１５ａ〜１５ｄのパラメータ設定部Ｄの設定内容に反映されて表示されるとともに、各モニタ１５ａ〜１５ｄにより表示される画像は、その設定内容に従って内容となるように構成することで、オペレータは所要の画像が表示されているモニタを見ながら、そのモニタに設けられているパラメータ設定部Ｄを操作して各種パラメータを設定することが可能となり、条件設定のために多くの画像を表示しても、良好な作業性のもとに直感的に条件設定を行うことが可能となる。 （もっと読む）

【課題】物品の合否判定に使用する計測値や判定基準値を表示するための領域が広くなることを抑制し、表示領域を効率よく利用できる物品検査装置を提供する。
【解決手段】物品を搬送している間に該物品の物理量を計測する計測手段と、該計測手段により計測した計測値と予め設定された判定基準値とを比較して前記物品の合否を判定する合否判定手段とを有する物品検査装置において、前記計測値の前記判定基準値に対する量または比率となる比較値を算出する比較値算出手段と、前記比較値を表示する際に異なる色および単一色における異なる濃淡の少なくともいずれかの表示色を選択する表示色選択手段と、前記表示色および予め設定した表示形態で前記比較値を表示する比較値表示手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】被検査物の合否判定に使用する基準値を適切に検査者に設定させることができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】被検査物を搬送する搬送手段と、前記搬送手段によって被検査物を搬送している間に被検査物にＸ線を曝射し透過したＸ線の透過画像データに基づいた判定対象値を生成する判定対象値生成手段と、前記判定対象値と基準値とを比較して前記被検査物の合否を判定する合否判定手段とを有するＸ線検査装置において、前記判定対象値に基づいた表示対象値を記憶する表示対象値記憶手段を備え、前記表示対象値記憶手段によって記憶された複数の前記表示対象値に関するヒストグラムを表示するヒストグラム表示手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】食品等の種類および特性に対応する基準値と、センサーが食品等に混入した異物に反応して出力する反応信号に関する反応値に基づいて更新する精度の高い基準値とを用いて、異物の有無を、高精度で検出できる異物検出装置を提供する。
【解決手段】搬送路上を搬送される被検査物に混入している異物に反応して反応信号を出力するセンサーと、該反応信号に基づく反応値と第一基準値Ｋ_１とを比較して異物の有無を判定する第一判定手段とを有する異物検出装置において、良品の反応値に基づいて第二基準値Ｋ_２を設定する第二基準値設定手段と、第二基準値Ｋ_２設定後、反応値と第二基準値Ｋ_２とを比較して異物含有の可能性の有無を判定する第二判定手段と、第二判定手段において異物含有の可能性有りと判定されたとき、その旨を警告する警告手段とを備える。 （もっと読む）

【課題】外観撮影手段を用いなくとも物品やその検査条件を視覚的に把握可能な画像を用いて、品種選択作業を容易化したり検査中の品種の照合・判定を容易化したりし得る低コストのＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】物品Ｗを透過したＸ線を検出するＸ線検出手段１０と、その情報に基づき物品Ｗの品質状態に対応するＸ線画像を生成する画像生成手段２１と、品種ごとの物品情報とＸ線検出手段１０及び画像生成手段２１の動作条件とを設定する設定手段２２と、その設定情報を記憶する設定情報記憶手段２３とを備え、Ｘ線画像に基づき物品Ｗの品質状態を検査する装置で、設定情報記憶手段２３は、設定手段２２により品種ごとにＸ線検出手段１０及び画像生成手段２１の動作条件が設定されるときのＸ線画像を品種ごとの情報に関連付けた設定時Ｘ線画像として記憶する。 （もっと読む）

【課題】
欠陥の特徴を的確に提示することが可能な欠陥画像表示画面を提供する。
【解決手段】
欠陥のサムネイル表示画面において、検査情報や欠陥種類等から、欠陥毎にその欠陥の特徴を最も顕著に表すような画像を決定し、表示する。また、欠陥の詳細表示画面において、検査情報や欠陥種類等を基に、その欠陥の特徴を顕著に表すように表示する画像やその画像の表示順序を定め、表示する。さらに、欠陥画像撮像中または欠陥画像撮像後に、予め指定した規則に基づいて別の欠陥画像取得装置や別の撮像条件により表示用の画像を撮像するためのステップを撮像シーケンスに追加する。 （もっと読む）

【課題】 高分解能の電子顕微鏡の特徴であるノイズ成分を多く含む画像に対し、ノイズの低減と画像の輪郭の強調という、従来技術では相反する画像処理を同時に行うことのできる電子顕微鏡の画像処理システムを提供する。
【解決手段】 走査電子顕微鏡１０は、電子銃から電子線を試料に照射し、試料から発生した二次電子を検出することによって顕微鏡画像を生成する。パーソナルコンピュータ２０は電子顕微鏡１０によって生成された顕微鏡画像を取得し、前記顕微鏡画像に最大エントロピー法を用いた画像処理を施す。パーソナルコンピュータ２０は、前記顕微鏡画像に最大エントロピー法を用いた画像処理を施す際に、あらかじめ取得された大照射電流量の電子顕微鏡画像と、最大エントロピー法を用いた画像との比較に対する評価結果に基づいて前記画像処理のためのフィルタリング条件を決定する。 （もっと読む）

再構成ユニットは、対象物の構造情報を表すデータセットのシーケンスを受信する。再構成ユニットはまた、データセットのシーケンスに含まれるデータセットに関連するスケジューリング情報を受信する。そして、データセットのシーケンス及びスケジューリング情報を用いることにより、対象物の粗い再構成のシーケンスが再構成される。その後、粗い再構成の各々にそれぞれのモデルを適応化させることによって、対象物の適応化モデルのシーケンスが生成される。そして、各適応化モデルの所定部分の動きが決定され、この所定部分の動きが最小である適応化モデルに対応する特定のデータセットが、データセットのシーケンスから選択される。最後に、再構成ユニットは、この特定のデータセットを用いて、対象物の少なくとも一部分を細かく再現したものを再構成する。
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Ｘ線検査装置１００が記述されており、この装置は、人為的動作可能な制御入力装置２１及び表示装置２２を保持する可動キャリッジ１０を有し、キャリッジ１０は、前方側１１及び後方側１２を有し、人為的動作可能な制御入力装置は、キャリッジの前方側１１の近くに配置され、表示装置は、キャリッジの後方側１２の近くに配置され、キャリッジは、表示装置がその画像スクリーンを実質的にキャリッジの前方側１１に向くよう方向づける制御位置と、表示装置がその画像スクリーンを実質的にキャリッジの後方側に向くよう方向付ける医師位置とを有し、表示装置は、制御位置と医師位置との間で変位可能なように可動キャリッジに実装されている。
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【課題】 Ｘ線画像全体の中でのポインタの現在位置を確認しながら、所望の画素を精度よく指定することができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線測定光学系１３で撮影した映像信号に基づいて作成したＸ線画像２４ａを表示装置のモニタ画面に表示するＸ線検査装置であって、モニタ画面に表示されたＸ線画像上の任意の位置を指定するためのポインタ２３ａをモニタ画面上に表示するポインティングデバイス２３を備えるとともに、ポインタ２３ａにより指定される位置近傍の部分拡大Ｘ線画像２４ｃを、前記Ｘ線画像２４ａの上に重ねるようにして表示する部分拡大画像表示手段３６、４３とを備える。 （もっと読む）

【課題】 ポインティングデバイスを用いた簡単な操作で所望の測定位置に視野調整することができるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】被測定物を載置するステージと、Ｘ線測定光学系に対する位置が関係付けられ被測定物全体の外観画像を撮影する光学カメラと、ステージ上の被測定物とＸ線測定光学系との位置関係を調整する駆動部と、モニタ画面と、透視Ｘ線像の画像表示を行うＸ線画像表示制御部と、光学カメラで撮影された外観画像を表示する外観画像表示制御部と、入力操作に基づいて指定した測定位置をＸ線測定光学系の測定視野に移動させるための駆動部制御信号を発生するＸ線検査装置であって、外観画像上でポインタにより指定した測定位置を予め操作ボタンに登録し、登録後に操作ボタンを指定する入力によりその操作ボタンに登録された測定位置を外観画像上で指定する入力操作を代行する制御を行う操作ボタン登録制御部を備える。 （もっと読む）

【課題】収束電子回折法を利用した格子歪み及び応力測定法において、HOLZ線の特定精度を高くして、測定精度を高くする
【解決手段】被測定物である結晶材料２に収束電子１を入射して得られるホルツ（HOLZ）図形のHOLZ線の位置に応じて、結晶材料の格子歪みを定量化する格子歪み測定方法において、ホルツ図形から抽出される複数の点の座標をハフ変換してハフ変換画像に置き換え、複数のハフ変換画像の多重点を抽出し、当該多重点を逆変換してホルツ図形のホルツ線を特定する。そして、特定されたホルツ線の位置に応じて、結晶材料の格子定数を定量化する。測定作業者による恣意的なホルツ線の特定工程を伴わずに、所定の演算工程によりホルツ線を特定することができるので、ホルツ線の特定精度を高くすることができる。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線ＣＴデータのような空間離散データによる内部欠陥検査について、より高精度な検査を行えるようにする。
【解決手段】空間離散的な要素で対象物の空間的な形状・構造を記述する空間離散データに基づいて対象物における内部欠陥を検査する内部欠陥検査方法について、要素を複数の含むサイズの第１の検出領域を空間離散データに設定する処理１０２、欠陥検出対象とする第１の検出領域を抽出する処理１０４、抽出された欠陥検出対象の第１の検出領域の特徴量を計測する処理１０５、欠陥検出対象の第１の検出領域を細分化した第２の検出領域を第１の検出領域に設定する処理１０６、第２の検出領域の特徴量を計測する処理１０７、第１、第２の各検出領域の特徴量を用いて実際の欠陥と擬似的な欠陥を判別するための欠陥判別基準を設定する処理１９８、および欠陥判別基準に基づいて欠陥を検出する処理１０９を含むものとしている。 （もっと読む）