【課題】 鉄鋼中のカーボン分析において、定性分析で得られるスペクトルに基づく簡易的な定量分析の精度を向上させることの可能な定量分析方法を提供する。
【解決手段】 試料10に電子線を照射し、該試料10の表面より放出される特性Ｘ線を検出して試料10の定量分析を行う定量分析方法において、鉄鋼の定性分析時にカーボンの分析に要する電子線照射時間の検出Ｘ線強度に対する影響を測定し、分析計測時間影響曲線を作成し登録するステップと、鉄鋼の定性分析を行い、カーボンの分析に要した分析計測時間に応じて、予め登録されている前記分析計測時間影響曲線に基づいて、定性分析結果得られたエネルギースペクトル強度によるカーボンの定量分析結果に対して定量補正を行うステップとを備える。 （もっと読む）

【課題】結晶サイズの異なる各種の試料に対しても精度の高い測定が可能となるＸ線結晶構造解析装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線結晶構造解析装置は、発生するＸ線を所定の位置において点状に絞り込む集光ミラー１１を備えており、Ｘ線発生装置１０から発生したＸ線を、ゴニオメータ２０に備えた試料ホルダ上に保持された試料Ｓに照射してその結晶構造を解析するが、更に、Ｘ線発生装置１０とゴニオメータ２０との間の相対的な距離を可変するための手段として、距離可変手段を移動用レール（ガイド）１５，２４を、その一方又は双方に設け、低分子の大きな結晶を含む各種の試料に対しても精度の高い測定を可能にした。 （もっと読む）

手荷物検査へのＣＳＣＴの使用は、大きな視野を必要とし、結果として大きな遠心力を維持しなくてはならない大きなガントリになる。したがって、より小さなガントリサイズを可能にする様々なＣＳＣＴ幾何構成が記載される。特に、焦点中心でない検出器ユニットを有するＣＳＣＴスキャナが記載される。
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【課題】機器等に内包されているガンマ線源の放射性核種の識別、放射性核種別のガンマ線濃度及び空間分布を非破壊で計測し、画像化する。
【解決手段】ガンマ線源２を内包する容器１と、その周囲に配置されてガンマ線源から放出されるガンマ線をコリメータ６を通して検出するガンマ線検出器７と、検出したガンマ線検出信号を処理してエネルギーと計数値を計測するガンマ線検出信号処理装置９と、単位時間あるいは単位位置毎に計測したガンマ線エネルギーとガンマ線強度とのスペクトル分析により放射性核種の識別と放射性核種の強度とを解析するエネルギー弁別処理装置１０と、識別された放射性核種毎にガンマ線源の濃度及び空間分布を画像化する画像化計算処理装置１１と、その計算処理の結果に基づき可視化表示する画像化表示装置１２とを有する可視化装置である。 （もっと読む）

【課題】 ステージ移動の際の被測定物とＸ線測定光学系との衝突危険性を判断し、衝突防止を図る。
【解決手段】 Ｘ線源１１とＸ線検出器１２との間に被測定物が位置するように被測定物を載置するためのステージ１４と、ステージを並進および回転するステージ駆動機構１５と、ステージ上に載置された被測定物を撮影する光学カメラ１６と、ステージを回転しつつ被測定物を光学カメラで撮影したときの画像データに含まれる被測定物の軌跡データに基づいて被測定物とＸ線測定光学系との衝突危険領域を設定する衝突危険領域設定部３２と、設定した衝突危険領域に基づいてステージを移動する際の衝突危険性を判定する衝突判定部３３とを備える。 （もっと読む）

地下、容器内、壁、隔壁等の背後に隠された物体をリアルタイムで安全に検出する凝視コンプトン後方散乱Ｘ線用の、独特なロブスターアイ（ＬＥ）構造、Ｘ線発生器、シンチレータベースの検出器、および冷却ＣＣＤ（すなわち増感ＣＣＤ）に基づいたロブスターアイＸ線画像処理システム。既存の走査型ペンシルビームシステムとは対照的に、ロブスターアイＸ線画像処理システムの真の焦点が調整されたＸ線光学系は、１つまたは２以上のＸ線発生器からの広いオープンコーンビームによって照射されたシーン全体から、弾道コンプトン後方散乱光子（ＣＢＰ）を同時に得る。ロブスターアイＸ線画像処理システムは、４０から１２０ｋｅＶの範囲（すなわち波長λ＝０．３１から０．１オングストローム）において、現在の後方散乱画像処理センサ（ＢＩＳ）よりも何千倍も多い後方散乱硬Ｘ線を収集する（焦点に集める）ので、高感度で高信号対雑音比（ＳＮＲ）であり、地面、金属、壁等を貫通する能力を提供する。ロブスターアイＸ線画像処理システムの収集効率を最適化して、放射されるＸ線パワーを低減し、装置を小型化する。該装置は、Ｘ線ベースの検査システムに特に好都合であり、該Ｘ線ベースの検査システムの要件、すなわち、地面、金属、および他の隠蔽材料を通したＸ線の貫通、安全性、および人による可搬性の要件を満たしている。ここに開示された先進技術は、医療診断や、地雷探知、手荷物検査等のような軍事的応用にも適用可能である。 （もっと読む）

【課題】 試料から微小サンプルを切り出す作業を迅速に且つ正確に行うことができ、また、微小サンプルを試料台に配置させる作業を迅速に且つ正確に行うことができる装置及び方法を提供する。
【解決手段】 プローブに負の電圧を印加し、試料の輝度を計測する。プローブによって試料から微小サンプルを切り出す場合には、輝度が減少したときに、プローブが試料に接近したと判定し、輝度が更に減少した後に急激に増加したとき、プローブが試料に接触したと判定する。プローブに接続された微小サンプルを試料台に配置する場合には、輝度が減少したときに、プローブに接続された微小サンプルが試料台に接近したと判定し、輝度が更に減少した後に急激に増加したとき、プローブに接続された微小サンプルが試料台に接触したと判定する。 （もっと読む）

【課題】 従来異物の有無を検査することができなかった領域についても検査することができ、異物の有無の判定の信頼性を従来より向上することができるＸ線異物検出装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線異物検出装置のコンピュータは、搬送される被検査体を透過したＸ線量に基づいて生成されたＸ線画像中の被検査体に対応すると想定される被検査体領域３１を強影響領域３１ａ及び非強影響領域３１ｂに分割し、強影響領域３１ａのＸ線画像に対して強影響領域３１ａ用の処理によって異物の有無を判断し、非強影響領域３１ｂのＸ線画像に対して非強影響領域３１ｂ用の処理によって異物の有無を判断する。 （もっと読む）

【課題】 面内回転を必要とする試料とスリットとを一体に支持して正確な測定を行うことができるＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線を発生するＸ線焦点Ｆと、試料Ｓを支持する試料ホルダ１７と、試料ホルダ１７に着脱可能に取り付けられると共にＸ線焦点Ｆから見て試料Ｓの前に配置されるマスクスリット１９を備えたマスク部材１８と、試料Ｓで回折したＸ線を検出するＸ線検出装置４と、Ｘ線光軸Ｘ０に対して直角であって試料Ｓを通るθ軸線を中心として試料ホルダ１７をθ回転させるθ回転装置５、１３と、θ回転した試料ホルダ１７をθ軸線に対して直角であってＸ線光軸Ｘ０と交差するβ軸線を中心として面内回転させるβ回転装置３７とを有するＸ線分析装置１である。 （もっと読む）

【課題】 エネルギー分解能を大幅に向上させて、低エネルギー化を図ることができ、試料の表面の組成を精度良く把握することができる３次元構造物分析システムを提供する。
【解決手段】 試料の少なくとも一部にイオンビームを照射して、前記試料を３次元的に加工するイオン銃と、イオンビームにより３次元的に加工した試料に対して電子を照射する電子銃と、前記電子が照射された試料からのＸ線を検出するＸ線検出器と、該Ｘ線検出器での検出結果に基づいて前記試料の組成分析を行う組成分析装置と、を備える３次元構造物分析システムである。Ｘ線検出器は、エネルギー分散型の超伝導Ｘ線検出器からなる。 （もっと読む）

【課題】 簡単な構成で、大気圧で分析すべき試料が真空で分析されるのを防止できる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】 真空と大気圧に雰囲気が切り替えられる分析チャンバ11内で、試料ホルダ8 に収納された試料3 に１次Ｘ線2 の照射などを行う分析装置本体10と、複数の試料ホルダ8 が載置される試料テーブル21を有し、分析装置本体10に対して試料ホルダ8 の搬出入を行う試料交換機20と、試料テーブル21における試料ホルダ8 の載置場所21a ごとに、試料3 に適用される雰囲気などの分析条件が設定される分析条件設定手段33と、その分析条件に従い分析装置本体10および試料交換機20の動作を制御する制御手段34とを備える。試料テーブル21における試料ホルダ8 の各載置場所21a に、分析チャンバ11内のいずれかの雰囲気が割り当てられており、その割り当て状況が表示手段31または試料テーブル21自体に表示される。 （もっと読む）

【課題】 マッピング測定を行う全反射蛍光Ｘ線分析装置において、十分正確な測定強度の分布を短時間で求められるものを提供する。
【解決手段】 以下のように動作する制御手段２４Ａを備える。基準試料９について、測定点３２ごとに適切なステージ角度を補正ステージ角度φ_ｍとして記憶しておき、分析対象試料１については、各測定点３２で、その測定点３２に対応させて記憶した補正ステージ角度φ_ｍに調整し、その状態での基準Ｘ線５ａの強度を基準点３１での基準強度と比較して、補正ステージ角度φ_ｍに調整することが適切でないと判断される場合にのみ、改めて適切なステージ角度に調整して、蛍光Ｘ線５ｂの強度を測定し、測定強度の分布を求める。 （もっと読む）

【課題】 小型かつ簡易な構造であっても、複雑な形状等を有する測定試料の元素分布マップを精度良く作成することができるＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】 測定試料に電子線を照射して、当該測定試料から発生する特性Ｘ線の強度を測定するための検出手段を備えたＸ線分析装置であって、測定試料及び検出手段の相対位置を変更するための回転手段と、測定試料の特性Ｘ線の強度を複数位置で測定するための検出手段と、特性Ｘ線強度の加算値を求めるとともに、当該加算値に基づいて、測定試料の元素分布マップを作成する作成手段と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】 試料のサイズの変化や、主成分の違いによる感度の変化、共存元素の影響によるバックグランドの大きさの変化があった場合でも毎回同じ検出下限で測定できる蛍光Ｘ線装置を提供する。
【解決手段】 試料サイズの変化や共存元素によるバックグランド強度の変化９をリアルタイムに測定し、測定時間を自動的に変化させ検出下限を一定に保つ。 （もっと読む）

【課題】 高輝度化及び小型化できるＸ線発生器を提供する。
【解決手段】 電子を発生する電子発生手段（カーボンナノチューブ２０、引き出し電極２４）及び支持部材１４に支持されたＸ線ターゲット１２を真空管１８内に備え、前記電子発生手段から前記Ｘ線ターゲット１２へ電子を照射することにより生じるＸ線を所定位置へ導く管状のＸ線ガイド手段（Ｘ線ガイドチューブ）３０を真空管１８外に備えるＸ線発生器において、真空管１８に設けた凹部２８にＸ線ガイド手段３０を挿入した構成とする。 （もっと読む）

【課題】 異物混入により搬送系から外部に排出される被検査物の排出量を極力最少量に抑えることのできるＸ線異物検出装置を提供する。
【解決手段】 管状搬送路１１中を搬送される被検査物にＸ線を照射するＸ線照射手段１２と、被検査物を透過したＸ線を検出するＸ線検出手段１３と、検出された透過Ｘ線量に基づいて被検査物が異物を含むか否かを判定する判定手段３１と、被検査物を搬送路外に排出可能な排出手段１４と、判定手段の判定結果に基づいて排出指令信号を出力する排出制御手段３２とを備えたＸ線異物検出装置において、搬送路中を搬送される被検査物の流速を計測する流速計測部２１を設けて、排出制御手段３２が、流速計測手段２１の計測情報に基づいて、異物を含む被検査物を排出手段１４により搬送路外に排出する排出タイミングを、制御する。 （もっと読む）

【課題】
検体試料中のＡｌ又はＣｕの測定を高精度で行うことができる二次イオン質量分析法を提供すること。
【解決手段】
本発明の二次イオン質量分析法は、イオンビーム調整用試料を用いてイオン光学系の調整を行う工程と、調整されたイオン光学系の下で検体試料中の検出対象元素の二次イオン強度を測定する工程を備える二次イオン質量分析法であって、検出対象元素がＡｌ又はＣｕであるとき、イオンビーム調整用試料が、実質的に検出対象元素と異なる元素のみからなる材料で形成されることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 断層像の画素情報から被写体の輪郭抽出を行う従来の方法に比して、より高精度に輪郭抽出を行うことのできる画像処理方法と、その方法に基づく輪郭抽出機能を備えた放射線断層撮像装置を提供する。
【解決手段】 被写体Ｗの断層像Ｓの中心を通る線Ｃと交差する輪郭上の点Ｐの位置情報を、その線Ｃと直交する方向からの放射線透過データに基づく被写体Ｗの放射線透過像Ｔの該当位置ｐの近傍の画素の輝度分布から求めることにより、再構成演算等において誤差（ノイズ）が含まれる断層像Ｓ上の画素情報から輪郭の位置情報を求める場合に比して、より正確な位置情報を求めることを可能とする。 （もっと読む）

サンプルを分析するために、Ｘ線、中性子線、ガンマ線、または粒子ビーム放射を使用して、分析エンジンの放射境界面にサンプルを呈示する技法が開示される。保護障壁は、放射に対して透過性であり、かつサンプルをエンジンから分離し、障壁移動システムを使用して、放射境界面に対して可動である。一実施形態の障壁は、サンプルが配置される空洞にわたって可動であり、空洞にわたって膜のほぼ連続的な供給を提供および回収するリールシステムで可動である膜である。空洞は、サンプルが通って可動であるサンプル経路の一部を形成することが可能である。サンプル経路が加圧される場合、膜は、分析エンジンによるサンプルの分析中に圧力を維持する。

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