【課題】基材上のメッキ膜中の検査対象元素の有無の判定や定量を可能にする標準メッキ膜試料およびこの試料を用いた新規なメッキ膜の検査技術を提供する。
【解決手段】プラスチック基材上にメッキ膜を形成した後、このメッキ膜に対し化学的および物理的損傷を実質的に与えない方法でプラスチック基材を除去して標準メッキ膜試料を得る。この標準メッキ膜試料から求めた検査対象元素の濃度と、標準メッキ膜試料から蛍光Ｘ線分析法により求めた検査対象元素の特性Ｘ線強度とから、標準メッキ膜試料中の検査対象元素の濃度と特性Ｘ線強度との関係を求め、基体上メッキ膜中の検査対象元素についての特性Ｘ線強度から、この関係を用いて、基体上メッキ膜中の検査対象元素の濃度を求める。 （もっと読む）

【課題】各種材料、製品、部品よりなる被検体に、ＲｏＨＳ指令で規制対象となっている六価クロムが検出される可能性があるクロメート膜が存在する可能性の有無を、非破壊で迅速に検査・判定することが可能となる有害材料判定方法および装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線で励起した特性Ｘ線を用いてクロムの有無を検査し、クロムを検出した場合に、クロムがある特性値以下であり、アルミニウムがある特性値以上、銅がある特性値以上、亜鉛がある特性値以上、およびニッケルがある特性値以上の少なくともいずれか一つの条件が充足された場合に、クロメート膜が存在する可能性があると判定する。 （もっと読む）

【課題】検出下限を改善し、重元素を主成分とする試料のみならず、軽元素を主成分とした試料に含有された微量な着目元素を定量することが可能である蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】蛍光Ｘ線分析装置は、試料Ｓを支持する試料台３と、所定の照射位置Ｐ１を中心として一次Ｘ線Ｐを照射するＸ線源４と、照射位置Ｐ１に向って配置され、試料Ｓから発生する蛍光Ｘ線Ｑを検出する検出器５とを備えている。試料台３は、試料ＳをＸ線源４及び検出器５に近接させて固定する着脱自在の試料保持具１０を有し、被照射面Ｓ１を照射位置Ｐ１に一致させる第一の検査位置Ａ、または、試料Ｓを試料保持具１０に固定し、被照射面Ｓ２をＸ線源４に近接させるとともに、被検出面Ｓ３を検出器５に近接させる第二の検査位置Ｂのいずれか一方に、試料Ｓを選択的に配置して測定可能である。 （もっと読む）

【課題】 鉄鋼中のカーボン分析において、定性分析で得られるスペクトルに基づく簡易的な定量分析の精度を向上させることの可能な定量分析方法を提供する。
【解決手段】 試料10に電子線を照射し、該試料10の表面より放出される特性Ｘ線を検出して試料10の定量分析を行う定量分析方法において、鉄鋼の定性分析時にカーボンの分析に要する電子線照射時間の検出Ｘ線強度に対する影響を測定し、分析計測時間影響曲線を作成し登録するステップと、鉄鋼の定性分析を行い、カーボンの分析に要した分析計測時間に応じて、予め登録されている前記分析計測時間影響曲線に基づいて、定性分析結果得られたエネルギースペクトル強度によるカーボンの定量分析結果に対して定量補正を行うステップとを備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、陽電子線源と被測定試料を隔離して陽電子寿命を測定することができ、時間分解能の半値幅が１８０ｐｓ以下となる陽電子寿命測定装置及び測定方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の陽電子寿命測定は、装置陽電子線源と、前記陽電子線源との間に被測定試料を挟んで配置された光検出装置と、前記被測定試料に、前記陽電子線源から入射された陽電子が該被測定試料中で消滅する際に発生するγ線を検出するγ線検出装置と、を備え、前記光検出装置は、前記陽電子線源から前記陽電子が前記被測定試料中に入射された際に発生するチェレンコフ光を検出することを特徴とする。 （もっと読む）

【目的】
本発明は、溶液中に含まれる元素を蛍光X線分析法で高精度に定量分析する手法を提供し、飲料の品質管理や、河川水や湖・沼水、地下水などの陸水に関しての環境評価等の化学分析分野で活用するものであり、実験室内で高精度溶液分析を実施する溶液試料中の元素濃度を簡便にスクリーニングする手法としても利用可能である。
【構成】
疎水剤を塗布した有機高分子膜上に溶液試料を滴下・乾固させて、その残渣を蛍光X線分析法によって分析することで、溶液中の元素の濃度を定量分析する方法であり、標準溶液を前述した方法で調整・分析し、X線強度と濃度との相関関係を明らかにすることで、定量の下限と精度の検証を行う構成。 （もっと読む）

【課題】本発明の課題は、微小ビームで励起した蛍光X線を用いて、実装はんだおよびプリント板実装部品に、規制対象となっている鉛が含まれるか否かを検査・判定するためのインテリジェント化された分析装置及び方法を提供することを目的とする。
【解決手段】上記課題は、Ｘ線で励起した特性Ｘ線による元素マッピングを用いて電子部品に含有される特定物質を分析する分析装置であって、特定物質を構成する任意の元素に関し、エネルギーの異なる２種類以上の特性Ｘ線を用いることによって、第一の元素と第二の元素とが共存を示す分布を２種類以上取得する共存分布取得手段と、前記２種類以上の分布の差分を取得する差分分布取得手段と、前記差分を示す分布によって前記電子部品の部品内部における前記第一の元素と第二の元素の存在を判定する内部共存元素判定手段とを有する分析装置によって達成される。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線源から放出するＸ線を効率よく利用して、Ｘ線源の強度および波長特性不安定性に影響されることなく良好なスペクトルを取得する。
【解決手段】Ｘ線集光素子３により、Ｘ線源１から放出された広帯域Ｘ線２を集光してその一部を試料４へ照射し、Ｘ線結像素子６により、試料４を透過した透過光５Ａと試料４を透過せずＸ線集光素子３から直接届いた直接光５Ｂの像を同時に転送し、波長分散素子７により、一次元空間情報を保ったままその転送像を波長分解し、二次元Ｘ線検出器９により、信号Ｘ線８Ａと参照Ｘ線８Ｂのスペクトルを吸収スペクトルおよび参照スペクトルとして同時に取得する。 （もっと読む）

【課題】建材中に石綿が含まれているか否かを極めて簡易かつ高い精度で分析することが可能な建材簡易分析方法、及び、その含有される石綿の種類を極めて簡易かつ高い精度で分析することが可能な建材簡易分析方法を提供すること。
【解決手段】建物から採取した建材を、粉砕することなく、そのまま又は所定形状に切断若しくは破断して建材試料とし、該建材試料の切断又は破断面を走査型電子顕微鏡により観察後、繊維が確認された場合、繊維の径の測定及び組成分析を行う建材簡易分析方法である。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で６価クロムを定量分析できる蛍光Ｘ線分析装置などを提供する。
【解決手段】Ｘ線源４、発散スリット１１、分光素子６、受光スリット２０、検出器８、分光素子６と受光スリット２０および検出器８とを連動させる連動手段１０、ならびに、検出器８の測定結果に基づいて定量分析を行う定量分析手段１８を備えた走査型蛍光Ｘ線分析装置である。定量分析手段１８が、Ｃr −Ｋα線２２において強度が最大となるピーク分光角が６価クロムの含有率対クロム全体の含有率の比に応じて変化することに基づいて、６価クロムの含有率を算出する。発散スリット１１、分光素子６、受光スリット２０および検出器８の組合せとして分解能が相異なる複数の検出手段２３を備え、ピーク分光角の変化を検出する際に、クロム全体の含有率または強度を求める際に選択される検出手段２３Ａよりも分解能が高い検出手段２３Ｂが選択される。 （もっと読む）

【課題】 プラスチック中の微量カドミウムの量を正確に測定できるＸ線分析装置を提供する。
【解決手段】 Ｒｈターゲットを有するＸ線管５と、プラスチック試料４間に、Ｘ線フィルタ６が配置されている。第１Ｘ線フィルタ６ａはジルコニウムからなり、第２Ｘ線フィルタ６ｂは銅からなり、第３Ｘ線フィルタ６ｃはモリブデンからなる。第１フィルタ６ａの厚さは１００μｍ程度、第２フィルタ６ｂの厚さは２００μｍ程度、第３フィルタ６ｃの厚さは４０μｍ程度である。 （もっと読む）

本発明は、次のような校正用の標準セットに関する。すなわちこの標準セットは、少なくとも３つの校正標準を含み、これらの校正標準は、元素Ｃｄ、Ｃｒ、Ｐｂ、ＨｇおよびＢｒを含む熱可塑性ポリマーからなる成形体から構成される。この場合、これら３つの校正標準のいずれにおいても、ＣｒとＰｂとＨｇとＢｒとＣｄの比が異なる。本発明は、これら校正標準を製造する方法と、Ｘ線蛍光分析のためにこれら校正標準を使用することにも関する。 （もっと読む）

【課題】水溶液中に存在する微量元素の濃度分析を、蛍光Ｘ線分析装置を使用し、簡便に比較的高いレベルの精度で行うことができる水溶液中の微量元素分析方法の提供。
【解決手段】微量元素を含む水溶液１を吸着材２ともに煮沸容器３に入れ、これを加熱して水分を蒸発させ、水分蒸発後に残った煮沸容器内の吸着材を含む固形成分５を微粉状又は粒状にすりつぶし、得られた粉状又は粒状試料中の微量元素の含有量を、蛍光Ｘ線分析装置９を用いて計測する。 （もっと読む）

【課題】検査対象となる物品全体の中で、他の部位とは異なる検査条件が適用されるべき特定の部位を予め指定することができないような場合にも、そのような特定の部位にその他の部位とは異なる検査条件を適用することを可能にし、物品を効率よく検査することができる検査システム及び検査装置を提供する。
【解決手段】検査システム１は、金属検査装置１０と、Ｘ線検査装置２０とを備える。金属検査装置１０は、物品Ｐを検査する。Ｘ線検査装置２０は、金属検査装置１０よりも物品Ｐの搬送方向について下流側に位置する。Ｘ線検査装置２０は、物品Ｐの指定部位２０２と指定部位２０２以外の物品Ｐの非指定部位２０１，２０３とに異なる画像処理ルーチンＲ１，Ｒ２を適用して、物品Ｐを検査する。指定部位２０２は、金属検査装置１０による物品Ｐの検査結果に基づいて指定される。 （もっと読む）

基材を識別するために、Ｘ線蛍光分光法を用いて試料を分析し、電子部品および電子組立品における６価クロムを測定する。確認された基材に基づき、様々な抽出および分析の手順から手順を選択し、選択した手順を用いて６価クロムを試料から抽出する。抽出された６価クロムを１，５−ジフェニルカルバジドと反応させ、各種類の識別された基材に対し独自の校正曲線を用いて、紫外分光法を用いて測定する。測定された６価クロムの量に基づき、試料の単位面積の関数として６価クロムの濃度を算出する。
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【課題】合金化溶融亜鉛めっき鋼板における組成が深さ方向に不均一なめっき被膜の付着量および組成を十分正確に分析できる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】所定の入射角φで試料１に１次Ｘ線６を照射するＸ線源７と、所定の取り出し角α，βで試料１から発生する蛍光Ｘ線８の強度を測定する検出手段９とを備え、前記入射角φと取り出し角α，βの組合せにおいて少なくとも一方が相異なる２つの組合せで蛍光Ｘ線８の強度を測定し、蛍光Ｘ線８の強度が測定対象膜の付着量を増大させたときの上限値の９９％となる付着量で示される測定深さについて、前記２つの組合せでの測定深さがいずれも前記めっき被膜３の付着量よりも大きくなるように、各組合せにおける入射角φおよび取り出し角α，βが設定されている。 （もっと読む）

【課題】基底基準吸収回折法による定量法において基底板から正確な回折線強度情報を得ることを可能にすることにより、極めて正確な検量を行うことができるＸ線回折定量装置を提供する。
【解決手段】物質Ｓの重量をＸ線を用いて測定するＸ線回折定量装置において、物質Ｓを物質保持領域Ａｓ内に保持するフィルタ３３と、物質Ｓに照射するＸ線を発生するＸ線源Ｆと、物質Ｓで回折した回折Ｘ線を検出するＸ線検出器２０と、フィルタ３３におけるＸ線照射面の反対側に設けられ物質保持領域Ａｓよりも小さい基底板３１と、Ｘ線源Ｆから見てフィルタ３３の背面側であって基底板３１の外周側面の周りに設けられた非晶質部材３０とを有するＸ線回折定量装置である。非晶質部材３０からは強いピーク波形を持った回折線が出ないので、基底板３１からの回折線に誤差変動が生じることがなくなる。 （もっと読む）

【解決手段】基板に重ねられた材料の層の積重ねにおける１つの層の元素組成の面密度を確立するための方法及びコンピュータプログラムソフトウェア製品である。入射する透過性放射線は、１又は複数の元素のそれぞれに関連した複数の線の特性蛍光Ｘ線放射を励起する。連続する元素の特性蛍光の強度比に関する方程式の自己一致した解によって、連続した層の面密度が決定される。 （もっと読む）

【課題】 湾曲分光結晶を用いるＸ線分光器において、分光結晶の有効回折領域のみを使用するようにして、分析に用いる特性Ｘ線の波長分解能、特性Ｘ線対バックグランド比の向上を図る。
【解決手段】 湾曲分光結晶３の表面位置からローランド円の内側方向に起立するＸ線遮蔽板Ａを設け、Ｘ線発生点Ｓから湾曲分光結晶３に向かう入射Ｘ線及び湾曲分光結晶３によって回折されＸ線検出器に向かう回折Ｘ線の一部をＸ線遮蔽板Ａにより遮蔽する。遮蔽される領域は入射Ｘ線の入射角θに応じて変化し、常に最適又はそれに近い湾曲分光結晶３上の有効回折領域を用いることができる。 （もっと読む）

【課題】 水質の評価において、被測定水中に含まれる含有物が通水量や時間に対して、評価基板への付着依存性があっても、付着成分や量を正確に評価できる評価方法を提供することを目的としたものである。
【解決手段】 複数の評価基板に被測定水をそれぞれ所定の量、所定の時間接触させて、上記評価基板に付着した付着物を分析することにより、上記被測定水中の含有物の評価基板への付着依存性があっても、精度よく被測定水の水質を評価できるようにしたものである。 （もっと読む）