【課題】特定の高い山でなくとも、安定的な気象条件であれば、地上付近を測定場所として実現可能な、太陽を光源とした分光放射計を校正する校正法を提供する。
【解決手段】校正対象とした直達分光放射計と比較基準とした直達日射計を用いて直達太陽光を同時測定し、同時に、サンフォトメーター、マイクロ放射計など測定装置を用いて、大気状態を測定する。そして、大気モデルを利用して、測定場所で実測した気象データを用いて、大気圏外から大気を通して測定場所に到達するまでの直達太陽スペクトルを精度よく計算する。また、そのスペクトルの積分値、つまり直達日射照度を求めて、直達日射計の測定値と比べて、精度のよいスペクトルを選ぶ。そのスペクトルを仲介として、分光放射計を校正する。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で所定の波長領域に於けるスペクトル画像を取得可能なスペクトル画像取得装置を提供する。
【解決手段】対物レンズを含む第１光学系４７，４８と、該第１光学系を介する光束の一部を選択的に通過させる光束選択部材５５と、該光束選択部材が物側焦点位置又は略物側焦点位置となる様配置されると共に干渉膜が形成され、前記光束選択部材の位置に応じて該光束選択部材を通過する光束の波長領域を選択する光学部材５８と、該光学部材へ光束を導く第２光学系４９と、前記光学部材により選択される波長領域の光を受光する撮像素子５２とを具備する。 （もっと読む）

【課題】サイズと、重量と、コストとに関して、大幅に簡素化された、気体の検出用の３チャネルの分光計を提供する。
【解決手段】３チャネル分光計１００は、入射放射線１０１を受け取って、入射放射線の第１の部分と、第２の部分と、第３の部分とを透過するビームスプリッタ要素１０５と、第１の部分を受け取って、第１の波長の範囲の第１のスリット出力放射線を透過する第１のスリットと、第２の部分を受け取って、第２の波長の範囲の第２のスリット出力放射線を透過する第２のスリットと、入射放射線の第３の部分を受け取って、第３の波長の範囲の第３のスリット出力放射線を透過する第３のスリットと、第１と、第２と、第３のスリット出力放射線を受け取って、平行にする共通の光学フォーム１１１と、共通の光学フォームから、平行にされた第１と、第２と、第３のスリット出力放射線を受け取って、反射する分散要素１１３とを含む。 （もっと読む）

【課題】焦点合わせに要する時間を短縮できる分光撮像装置を提供する。
【解決手段】被写体からの光を集光する集光レンズ１０と、集光された光のうち、被写体のライン状領域からの光を通過させるスリット２１ａが形成された遮光部材２１と、分光手段２２と、光の強度をライン状領域の長手方向の位置及び波長ごとに検出することにより、ライン状領域の画像を取得する光検出手段２６と、光検出手段からライン状領域の画像を順次受け付けて、撮像領域の画像を取得する画像取得部４１と、被写体に対する集光レンズ、スリット、分光手段又は光検出手段の光軸方向の相対距離を変更して、画像の焦点を合わせる焦点合わせ手段３０とを具備し、画像取得部が、焦点を合わせようとする部分を含み被写体における撮像領域よりも狭い領域の画像を、相対距離を設定して取得し、狭い領域の画像の焦点が合うときの相対距離で、撮像領域の画像を取得するようにした。 （もっと読む）

【課題】最新のダイアモンド機械加工プロセスを用いて全てが作成される、モノリシックオフナー分光器及び、回折格子及びスリットのような、様々なコンポーネントの製造方法を提供する。
【解決手段】モノリシックオフナー分光器はダイアモンド機械加工プロセスを用いて直接作成される。別の実施形態において、モノリシックオフナー分光器はダイアモンド機械加工プロセスで作成された金型を用いて作成される。また別の実施形態において、回折格子はダイアモンド機械加工プロセスを用いて直接作成される。さらにまた別の実施形態において、回折格子はダイアモンド機械加工プロセスで作成された金型を用いて作成される。また別の実施形態において、スリットはダイアモンド機械加工プロセスを用いて直接作成される。 （もっと読む）

【課題】真空紫外線領域で透過率の高いグリズムを提供する。
【解決手段】 プリズムと、複数のバイナリ型回折格子を有する回折格子とを備えているグリズムを提供する。このグリズムでは、プリズムは、フッ化リチウム、フッ化マグネシウムからなる群から選ばれる少なくとも一種である第１光学材料を用いて形成されており、バイナリ型回折格子は、フッ化リチウム、フッ化マグネシウムからなる群から選ばれる少なくとも一種である第２光学材料を用いて形成されており、バイナリ型回折格子の表面粗さの平均二乗偏差値（ｒｍｓ値）は、５ｎｍ以下である。このグリズムは、フッ化リチウムおよびフッ化マグネシウムの屈折率が大きく変化する２００ｎｍから短波長側の吸収端波長までの真空紫外線領域で好適に利用できる。 （もっと読む）

【課題】前分光方式の分光イメージングにおいて、所定の波長毎に得られる分光画像に含まれるノイズを除去する。
【解決手段】照射領域Ｐ内に基準白色部５及び基準黒色部６が配置されており、撮像部３が、照射領域Ｐの被写体Ｗ、基準白色部５及び基準黒色部６を同一画像に撮像するものであり、画像処理部４が、所定の波長域毎に得られた分光画像ｉを取得し、各分光画像ｉに含まれる基準白色部５の白色成分又は基準黒色部６の黒色成分を比較して、それらの白色成分又は黒色成分が同一となるように分光画像ｉを補正して、補正後の分光画像ｉを合成してカラー画像又は疑似カラー画像Ｉを生成する。 （もっと読む）

【課題】ハイパースペクトルイメージデータに基づく標的検出のためのシステム、回路、及び方法が開示される。
【解決手段】フィルタ係数は、修正済みの制約付きエネルギー最小化（ＣＥＭ）法を用いて決定される。修正済みＣＥＭ法は、制約付きリニアプログラミング最適化を実行するように動作可能な回路に使用することができる。フィルタ係数を含むフィルタを、ハイパースペクトルイメージデータの複数のピクセルに適用することにより、それらピクセルのＣＥＭ値が形成され、このＣＥＭ値に基づいて一又は複数の標的ピクセルが特定される。本プロセスを繰返すことにより、ハイパースペクトルイメージデータから前記特定された標的ピクセルを除外することによって決定されるフィルタ係数を使用して、標的認識を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】スペクトルを変えるか、又は調整できることができる放射発生装置、スペクトル分析装置提供する。
【解決手段】調整可能な分光組成を有する電磁放射を発生させるための放射発生装置において、駆動時に放射素子固有電磁放射４ａ〜４ｎをそれぞれ発生させるように構成された多数の放射素子１，１ａ〜１ｎであって、そのうちの第１の放射素子を第２の放射素子とは独立に駆動させることができる多数の放射素子１，１ａ〜１ｎと、分光素子２と、光開口３とを備え、分光素子２が放射素子固有電磁放射４ａ〜４ｎをその波長とそれぞれの放射素子固有電磁放射を発生させる放射素子の位置とに応じて偏向させるように構成され、それにより各放射素子固有電磁放射の特定のスペクトル範囲が光開口３から出ることができ、その結果、多数の放射素子１ａ〜１ｎを選択的に駆動させることにより、光開口３を通して出る生成電磁放射２２０の分光組成を調整できる。 （もっと読む）

【課題】測定対象からの光のスペクトルを測定するスペクトル測定装置であって、スペクトル測定の測定結果であるスペクトルデータのデータ量を縮小可能にするスペクトル測定装置を提供する。
【解決手段】測定対象２０からの光を通過させるスリットが設けられる遮蔽板１２と、スリットを通過した光を分光する分光器１４と、分光された成分ごとの光の強度を測定する複数の受光素子から構成される測定器１６とを備えるスペクトル測定装置１０において、分光器１４と測定器１６との間の距離を変更可能にする距離変更部２４を備える。 （もっと読む）

分光測光器はモノリシック半導体基板と、１以上の波長分散手段と、１以上の波長検出手段とを具え、モノリシック基板（１）は導波手段（２）と、特定の光の波長の検出器として動作し、かつ導波手段の近くに配置された１以上の共振器（３〜１４）とを有し、これによりその光の波長に対してエバネセント光結合が発生する。 （もっと読む）

【課題】撮影環境によらずにより正確な反射スペクトルを測定することが可能なハイパースペクトル画像処理装置及びハイパースペクトル画像処理方法を提供する。
【解決手段】被測定物のハイパースペクトル画像を取得する画像処理装置であって、被測定物12からの反射光を分光する分光手段13と、分光された光を受光し撮像データを取得する２次元の撮像素子14と、撮像素子14の各ピクセルにおける複数の受光量での感度特性データを保存するメモリ16と、前記撮像データを前記保存されている感度特性データで補正して補正された撮像データに変換する演算手段17とからなることを特徴とする画像処理装置11である。 （もっと読む）

分析される入力光信号を伝送する入力光信号導波路；各々が入力光信号導波路に接続され、かつ入力光信号に関連している結合光信号を伝送するカプラ出力を各々が含む複数のカプラを有する平面導波路回路（ＰＬＣ）に実装されている変換分光計である。交互配置の非対称な導波路マッハツェンダー干渉計（ＭＺＩ）がＰＬＣ上に形成されており、ＭＺＩの各々は少なくとも１つの入力ＭＺＩ導波路を有し、ＭＺＩ入力導波路の各々は、カプラ出力の各々から結合光信号を受信する。入力ＭＺＩ導波路の少なくともいくつかは、ＰＬＣの共通層内で、許容できない減数無しに結合信号を伝送可能な角度にて交差する。この構成は、ＰＬＣの空間的効率を向上させ、更に多くのＭＺＩの実装を可能にし、スペクトル分解能の向上をもたらす。
（もっと読む）

【課題】閃光の分光特性を測定する低価格・小型・軽量・高速・高分解能・高効率・広帯域の分光放射計を実現する。
【解決手段】被測定光が入射される入射スリット２と、入射スリット２を通過した被測定光を平行光にする光学素子３と、光学素子３を出射した被測定光を分光する分光素子４と、分光素子４によって分光された分光光を検知する第１及び第２の光検知手段８、９と、分光素子４と第１及び第２の光検知手段８、９間の光学系中に設けられたダイクロイックフィルタ５とを備え、第１の光検知手段８は、ダイクロイックフィルタ５を透過した第１の波長帯域の分光光を検知し、第２の光検知手段９は、ダイクロイックフィルタ５によって反射された前記第１の波長帯域とは異なる第２の波長帯域の分光光を検知することを特徴とする分光放射計である。 （もっと読む）

【課題】ターゲット、ハイパー分光器または光学系を移動させずに、ターゲット全体のハイパースペクトル画像を走査することができる。
【解決手段】焦点面１７０上に、複数の列光学画像１７１、１７２、１７３を含むターゲット１４０の光学画像を合焦させる光学系１１０と、光学系１１０と別に設置されたハイパー分光器１２０と、選択的に複数の列光学画像１７１、１７２、１７３のうちの１つをハイパー分光器１２０へ伝達させる中継モジュール１３０と、を備えるハイパースペクトル走査装置が提供される。 （もっと読む）

【課題】信頼性、特に正確な分光特性を維持しつつ小型化を図ることができる分光器を提供する。
【解決手段】分光モジュールを、後面４ｂの平行方向及び垂直方向への本体部４の移動をパッケージ３の内壁面２７，２９，２８によって規制した状態で、パッケージ３によって直接支持することにより、小型化を図った場合でも、分光モジュール２を確実に支持すると共に、パッケージ３の入射口２２ａ、分光モジュール２の分光部６及び光検出素子７同士の位置精度を十分に確保する。また、パッケージ３にリード２３が埋め込まれてリード導出部２６で導出及び支持することにより、ワイヤボンディングによってリード２３と光検出素子７とを電気的に接続する際に、パッケージ３のリード導出部２６自体に基台の役割を果たさせ、分光モジュール２の破損やずれなどを防止する。 （もっと読む）

最新のダイアモンド機械加工プロセスを用いて全てが作成される、モノリシックオフナー分光器及び、回折格子及びスリットのような、様々なコンポーネントが説明される。一実施形態において、モノリシックオフナー分光器はダイアモンド機械加工プロセスを用いて直接作成される。別の実施形態において、モノリシックオフナー分光器はダイアモンド機械加工プロセスで作成された金型を用いて作成される。また別の実施形態において、回折格子はダイアモンド機械加工プロセスを用いて直接作成される。さらにまた別の実施形態において、回折格子はダイアモンド機械加工プロセスで作成された金型を用いて作成される。また別の実施形態において、スリットはダイアモンド機械加工プロセスを用いて直接作成される。
（もっと読む）

【課題】二次元的に分布する分光対象物に対して各々の位置における分光強度スペクトルを迅速かつ簡便に測定すること。
【解決手段】分光対象物から受光素子に至る光路中に、外部信号によりスペクトルを変更することの可能な可変色フィルターを設置し、該可変色フィルターのスペクトルを変化させながら分光対象物を撮像し、撮像素子上の各受光素子において得られた一連の受光強度データと、あらかじめ本発明のデータ処理部に保存されていた該可変色フィルターのスペクトル情報と受光素子の受光感度スペクトルの情報とから演算処理によって、該受光素子に到達する光の分光強度スペクトルを求める。 （もっと読む）

フォークト関数を用いたライン・バイ・ライン計算において従来よりも５０〜１００倍高速に計算できる計算方法及びプログラムを提供する。
フォークト関数をピーク近傍の第１の範囲と、該第１の範囲に含まれない裾部分とに分け、該第１の範囲を３次関数で置き換え、該裾部分をフォークト関数として等間隔の所定の範囲で計算する。さらに第１の範囲のピーク近傍を３次関数で置き換え、裾部分をフォークト関数と３次関数の差の関数として前記第１の所定の間隔よりせまい第２の所定の間隔で計算する。これを所望の精度になるまで繰り返す。また、これら所定の間隔の間を４または５分割する補間を行う。
（もっと読む）

【課題】 光学計測システム３００は、フィルタ１３０と画像センサ１５０とを自動制御し、目的とする波長と偏波面変位角および対象物の向きと傾きとに対して精度の高い画像データを連続的に取得することを目的とする。
【解決手段】 偏光分光放射計１００では、光を入射し、フィルタ１３０が、入射した光を選別し、画像センサ１５０が、光から画像データを取得する。偏光分光放射計１００に対して、偏光分光放射計制御装置２００で、フィルタ電圧制御部２１０は、フィルタ１３０にかける電圧を制御し、フィルタ１３０にかけた電圧により選別する波長を出力する。フィルタ回転制御部２２０は、フィルタの回転を制御し、フィルタ１３０の回転により選別する偏波面変位角を出力する。センサ制御部２３０は、フィルタ電圧制御部２１０が出力した波長と、フィルタ回転制御部２２０が出力した偏波面変位角とに対する駆動量に基づいて画像センサ１５０を駆動する。 （もっと読む）