【課題】白色校正板としてセラミックよりも安価な材料を採用した場合であっても、高精度に白色校正を行うことができる測色装置及び白色校正方法を提供する。
【解決手段】係数記憶部２５２は、透明保護部材１２２が取り外された第１の条件で白色校正板１２３を測色したときの測色データＤ１と、透明保護部材１２２が取り付けられた第２の条件で白色校正板１２３を測色したときの測色データＤ２とに基づいて予め算出された補正係数Ｋを記憶する。白色校正値算出部２５４は、補正係数Ｋを基に、値付け値記憶部２５１に記憶された基準値付け値Ａを第２の条件で測色された基準値付け値Ａ´に補正し、Ａ´／Ｄ３により、白色校正値Ｗを算出する。色情報算出部２５６は、白色校正値算出部２５４により算出された白色校正値Ｗと試料測色データＤ４とを用いて、試料の色情報を算出する。 （もっと読む）

【課題】容易に被測定物の分光特性を測定可能であるとともに、構成が簡単で安価な分光測定装置、校正装置、分光測定方法、および校正方法を提供する。
【解決手段】分光測定装置１０は、アレイ状に配列されるとともに、被測定物１００から出力される光を受光して受光した光に応じた受光信号を出力する複数の受光素子と、受光素子から出力される受光信号を認識する受光信号認識手段３２１と、各受光素子のそれぞれに対する分光感度特性値を記憶する記憶手段３１と、受光素子から出力される受光信号、および記憶手段３１に記憶される各受光素子に対する分光感度特性値に基づいて、二次元マトリクス演算処理により、各受光素子に対応する各画素の分光特性値を演算する分光特性演算手段３２２と、を具備した。 （もっと読む）

本発明は、本発明は、スペクトル検出器の製造方法に関し、フォトディテクタアレイとコレステリック液晶材料を電磁スペクトル検出器のすべての部分の光を測定するために含む。前記コレステリック液晶材料の異なる部分で紫外放射を異なる曝露強度又は曝露時間で制御されつつ暴露することにより、前記コレステリック液晶材料の部分が得られ、一般的にそれぞれの部分はそれ自体の伝達性を持つ。さらに、本発明はまた本発明の方法により製造されるスペクトル検出器に関する。
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光学的キャビティモードの光学的干渉を使用することにより光学的キャビティモードの条件変化の検知又は分析のための装置を含む、少なくともひとつのマイクロキャビティ又は少なくともひとつのマイクロキャビティのクラスターの光学的キャビティモードの分析用システム。
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【課題】分光放射測定の不確かさが非常に小さく、高速測定可能で、掃引波長誤差も小さく、高精度の絶対分光放射計を提供する。
【解決手段】測定系を校正する国際標準の標準電球からなる光源３と被測定光源２とを切り替え可能に設けた光源１と、光源１の光を導入するための入射光学系４〜１０と、該入射光学系からの光を取り込み、複数個の波長域毎に最適化された、各々の波長域毎に分岐された光ファイバ１１〜１５と、分岐された光ファイバ１１〜１５毎に並列配置した各分光器１６〜２０と、各分光器に対応して設けられた各検知器２１〜２５と、を有することを特徴とする絶対分光放射計である。 （もっと読む）

【課題】ステージ装置を不要とするとともに、より少ないデータ数で解析を可能とし短時間で解析可能とする干渉装置を提供する。
【解決手段】干渉装置（１００）は、スペクトル幅の広い光を照射する広域スペクトル光源（１１）と、広域スペクトル光源から光を分岐するビームスプリッター（ＢＳ）と、ビームスプリッターで分岐された一方の光（Ｌ２）を、スペクトル幅内の第１波長領域と該第１波長領域と異なる第２波長領域とで位相を変調する位相変調部（３０）と、位相が変調された光束を第１反射面（ＲＭＲ）に照射し、ビームスプリッターで分岐された他方の光を第２反射面（ＳＡ）に照射し、第１反射面で反射した第１反射光と第２反射面で反射した第２反射光を合成して合成光とする光分割合成部（ＰＢＳ、２６）と、を備える。 （もっと読む）

【課題】
重水素放電管に関して、最小の放電開始電圧，最短のフィラメントの予熱時間で点灯性を向上させた光源電源を提供する。
【解決手段】
図１に示す重水素放電管１９の初期値の放電開始電圧で重水素放電管１９が点灯しない場合、放電開始電圧を検出回路、及び放電電流を検知する回路から得た検出結果を光源電源制御部のＣＰＵ５へ取り込み、演算処理を実行し、再度、最適な重水素放電間の放電開始電圧を算出する。分析装置制御部上位マイコン２２より光量の測定データと放電電圧を検出回路，放電電流検知回路，点灯電流検出回路、及び点灯電圧検出回路から得た検出結果を光源電源制御部のＣＰＵ５へ取り込み、演算処理を実行し、最適な重水素放電管１９の放電電流値，タングステンランプの点灯電圧値を算出する。 （もっと読む）

【課題】分光される光（入射光）が微弱な場合であっても、これを分光することが可能な高感度の光電交換素子を提供する。
【解決手段】基板と、該基板に形成される層であって、入射光が吸収されることにより発生するキャリアを捕獲するための第一層と、該第一層に接するように配置され、該第一層で捕獲されたキャリアを外部に取り出すための第二層と、該第一層上に配置される誘電体層と、該誘電体層上に配置され、ゲート電圧が印加されるゲート電極層とを備え、該ゲート電極層の少なくとも一部は、入射光に対して透光性を有する材料からなる光電変換素子およびこれを用いたイメージセンサーである。 （もっと読む）

【課題】検定の内容に精通しているいないを問わず、測定者が容易に溶液入りのセルや減光板（フィルタ）の配置を行うことができる分光光度計１を提供する。
【解決手段】複数の試料用セルＳＢ等を配置できる試料用枠７１〜７４を備え、試料用枠７１〜７４を移動させて試料光路４上に配置する試料用セルＳＢ等を入れ替える試料用セルポジショナ７と、複数の対照用セルＲＢ、ＲＡを配置できる対照用枠８１、８２と、を備え、対照用枠８１、８２を移動させて対照光路５上に配置する対照用セルＲＢ、ＲＡを入れ替える対照用セルポジショナ８とを有し、制御部ＣＯＮＴは、検定に必要な試料用セルＳＢ等と対照用セルＲＢ、ＲＡを試料用枠７１〜７４と対照用枠８１、８２のそれぞれに配置させることにより、試料用セルＳＢ等の前記入れ替えと対照用セルＲＢ、ＲＡの入れ替えの制御を行っては、透過率の算出をすることで、検定を実施する。 （もっと読む）

【課題】より簡単な構成により分光測定を行う。
【解決手段】カメラ１１は、軸上色収差を発生させるレンズ２２と、レンズ２２を介して測定対象物２を撮像する二次元のイメージセンサ２１とを備える。記憶部３３は、測定対象物までの距離と所定の複数波長におけるイメージセンサ２１の出力信号との関係を記憶する。移動部３２は、レンズ２２の光軸に沿ってステージ１２を移動させることにより、レンズ２２と測定対象物２とを相対移動させる。測定部３１は、移動部３２により測定対象物２を移動しつつ撮像し、イメージセンサ２１の出力信号と記憶部３３に記憶されている前記関係とから測定対象物２の分光特性を測定する。本発明は、例えば、分光分布測定装置に適用できる。 （もっと読む）

【課題】測光装置の測光特性の補正をユーザ側で容易且つ精度良く行うことが可能な技術を提供する。
【解決手段】測光装置の補正用基準光源であって、各単波長光と所定波長域光の強度分布を各々検出する参照用分光器と、各単波長光の強度を各々検出する強度参照用センサと、各単波長光について、参照用分光器で検出された各単波長光の強度分布から求まる強度と、強度参照用センサで検出された強度とに基づいて算出された参照用分光器と強度参照用センサとの感度比の初期値を各々記憶する記憶手段と、各単波長光について、参照用分光器で検出された各単波長光の強度分布から求まる強度と、強度参照用センサによって検出される強度とに基づいて参照用分光器と強度参照用センサとの変動後の感度比を各々算出する感度比算出手段と、感度比の初期値と変動後の感度比と所定波長域光の強度分布とに基づいて、所定波長域基準光の分光放射輝度を導出する。 （もっと読む）

【課題】光学システムはアジャイルスペクトル画像形成を実施する。
【解決手段】システムは、光源からの光を合焦する第１のレンズを備える。合焦された光は複数の波長のスペクトルにわたって分散される。第２のレンズは、分散された光をマスク上に合焦する。マスクは、光源のスペクトルの波長を、光の行き先の像平面上に選択的に減衰させる。光源および光の行き先の配置に応じて、システムは２として動作することができる。光源はシーンであり、光の行き先はセンサであり、装置はアジャイルスペクトルカメラ、ビューワ、スペクトルプロジェクタ、または光源として動作する装置。この配置を組み合わせて立体視覚システムを提供することもできる。 （もっと読む）

【課題】分光光度計を構成する要素の切替えによって検出信号のグラフに生じるノイズや段差を分析者が容易に判別できるようにする。
【解決手段】外部制御装置１０は光測定部８で得られた検出データに基づいて吸光度スペクトルなどのグラフを作成してデータ表示部１６に表示させることができ、さらに、切替え波長記憶部１２に格納されている各切替え波長の位置をデータ表示部１６のグラフ上に表示させることもできる。
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【課題】屈折・回折型レンズを用いたSchupmann光学系で配置される分光光学系により垂直落射照明を可能とし、かつ、ＤＵＶ−ＵＶ（２００ｎｍ〜４００ｎｍ）領域の広帯域色補正を行うことを可能とする分光光学系および分光測定装置を提供する。
【解決手段】光源１１０と、視野絞り１１１と、リレーレンズ系１４０と、フィールドレンズ系１５０と、結像レンズ系１６０と、分光器１７０とを有し、リレーレンズ系１４０、フィールドレンズ系１５０および結像レンズ系１６０は、屈折型レンズおよび／または回折型レンズによるSchupmann光学系で配置され、かつ、リレーレンズ系１４０と結像レンズ系１６０のいずれか一方に回折型レンズを有する分光光学系であって、フィールドレンズ系１５０が２枚以上のレンズで構成され、そのうちの１箇所においてレンズが所定の距離だけ離して配置されている。 （もっと読む）

本発明においては、ジオプタ（１１）と、前記ジオプタ（１１）において記録する記録手段（１５，１８）と、２つの干渉ビーム（Ｆ１，Ｆ２）から形成され、ジオプタ（１１）の平面（ｘ０ｙ）においてインタフェログラム（１２）の横断軸（０ｘ）に沿って干渉ライン（１３）を形成するインタフェログラムと、を有する分光器に関し、前記記録手段（１５，１８）は、前記インタフェログラム（１２）の空間的分配を検出ように備えられた検出要素（１９）のネットワークを有する分光器であって、検出要素（１９）の前記ネットワーク（１８）は二次元であり、前記記録手段（１５，１８）及び前記インタフェログラム（１２）の少なくとも一部は、インタフェログラム（１２）の横断軸（０ｘ）に沿って互いに角度が付けられている、分光器について開示されている。本発明はまた、２つの干渉ビーム（Ｆ１，Ｆ２）を出射する手段を有する分光イメージング装置と、分光器とに関する。

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【課題】蛍光増白試料の全分光放射率係数を求めるにあたって、蛍光基準試料や煩雑な校正作業を必要とすることなく、さらに前記蛍光増白試料の二分光蛍光放射率係数の選択についてユーザに負担をかけることなく、高い精度で蛍光試料の光学特性を求める。
【解決手段】代表的な蛍光増白紙であるコート紙と通常紙との二分光蛍光放射率係数を二分光データメモリ８３に予め記憶しておき、ＣＰＵ８０が、共に励起域にあって分光分布の異なる２つの照明光（紫光）３３，（紫外光）４３で被測定試料１を照明して励起効率を測定し、その相対比に基づいて、ＣＰＵ８０が前記記憶されている二分光蛍光放射率係数から、被測定試料１のものに相対的に近似する二分光蛍光放射率係数を係数メモリ８４から自動選択し、選択された二分光蛍光放射率係数に基づいて、蛍光増白試料の評価用照明光による全分光放射率係数を算出する。 （もっと読む）

【課題】低輝度における高精度の標準光源を提供すること。
【解決手段】光源Ｌ_ｓを含む光源ボックスＳ_０で輝度Ｌ_ｓが定義される。第１の積分球Ｓ_１内の内壁上相互拡散反射によって、その内壁上に輝度Ｌ_０を第１の積分球Ｓ_１の半径の２乗に反比例する一定の減衰率で減衰させた輝度Ｌ_１が定義される。第２の積分球Ｓ_２内の内壁上相互拡散反射によって、その内壁に輝度Ｌ_１を積分球Ｓ_２の半径の２乗に反比例する一定の減衰率でさらに減衰させた輝度Ｌ_２が定義される。第２の積分球でさらに減衰した輝度Ｌ_２は、第２の積分球Ｓ_２上の出力開口部Ａ_２３で定義され、標準光源出力が得られる。 （もっと読む）

【課題】シングルチャネル和周波分光法を高機能化し、赤外光と可視光の波長を可変にしたＳＦＧ分光装置及びその測定方法を提案する。
【解決手段】パルスレーザ光源と、その出力光を分岐し、分岐の一部を波長変換する波長可変の長波長励起光発生器と、他の一部を波長変換する波長可変の短波長励起光発生器と、長波長励起光を試料に照射する第１光学系と、短波長励起光を試料に照射する第２光学系と、遅延器と、試料からの光から和周波光を選択する第３光学系と、光検出器とを備える。長波長励起光発生器は、波長帯域を掃引し、短波長励起光発生器では試料ごとに出力波長を変える。第１光学系と第２光学系および遅延器は、長波長励起光と短波長励起光とを試料で空間的および時間的に重なるように照射する。第３光学系は、和周波光の光路を調整して光検出器に入射させ、選択された和周波光以外の光を抑制する。 （もっと読む）

【課題】発光状態が時間的・空間的に高速変動する非定常発光体の発光現象を、的確に把握するための方法を提供する。
【解決手段】非定常発光体を高速撮影し、複数の撮影像における発光スペクトルを時間的に積算し、該発光スペクトルの時間的積算量を用いて、元素分析および／または温度解析を行うようにする。 （もっと読む）

【課題】 分光器の出射スリットから出射する光の波長が予め設定した波長となるように波長校正を短時間でかつ高精度に行うことができる分光器を得ること。
【解決手段】 単一の光源からの光束であって分光手段で分光した光のうち、所定の波長の光を出射スリットの開口部から出射する分光器において、
前記出射スリットから射出した光が投影される位置に配置され、該出射スリットから射出される光のスペクトルを取得し、該取得されたスペクトルに基づいて前記分光手段を校正することにより該出射スリットから射出する光の波長を決定可能な空間分解能を持つ強度センサを有すること。 （もっと読む）