【課題】バックラッシュに起因する波長設定誤差の影響を回避し、３次元蛍光スペクトル測定の高速化または高精度化を図る。
【解決手段】コンピュータ１０は、励起側分光器２および蛍光側分光器７が輝線スペクトルを有する入射光を往方向および復方向にスペクトルスキャンしたとき、検知器８によって得られる蛍光スペクトルを取得し、その蛍光スペクトルを既知の輝線の波長と比較することによって、励起パルスモータ１２や蛍光パルスモータ１１で設定される往方向および復方向スキャン時の波長設定誤差を取得し、各方向スキャン時の波長校正値とする。従って、両方向スキャン時での蛍光スペクトルの波長校正が可能となる。従って、片方向スキャン時の蛍光スペクトルしか利用できない場合に比べ、３次元蛍光スペクトル測定の高速化または高精度化が可能となる。 （もっと読む）

本発明は、校正用線源に関するものであり、これは、開口部（１２）を有するハウジング（４）と、ハウジング（４）内に保持された基板（２２）と、基板（２２）に実装されて光ビームを発する半導体放射線源（１８）と、上記開口部（１２）の領域に光出射開口部（１５）を有する出射開口支持要素（１４）とを備え、光ビームは光出射開口部を通ってハウジング（４）の外に放射される。出射開口支持要素（１４）は、ハウジング（４）から切り離されていて、半導体放射線源（１８）の基板（２２）に固定されている。 （もっと読む）

【課題】複数の波長の各々での測定を順次行うために、回転駆動機構で波長分散素子の向きを各波長に対応した向きに変更するときに、波長分散素子を常に正しい位置で停止させることができる分光光度計用制御装置を提供する。
【解決手段】複数の波長の各々での測定の順序を、予め設定されていた順序から波長順に変更し、変更後の順序に従って回転駆動機構を制御する。これにより、回転駆動機構は波長が次第に長くなる又は短くなる一方向のみに回転して波長分散素子の向きを順次変更する。すなわち、回転駆動機構の回転方向を一度も反転させることなく全設定波長での測定を行うことができるため、バックラッシュによる波長分散素子の停止位置のずれの発生を防ぐことができ、波長分散素子を常に正しい位置で停止させることができる。 （もっと読む）

本発明は、決められた方向に従って偏光されたＮ（Ｎは、３以上の整数である）波長のビームでシーン（１）を照明するステップを含む、シーン（１）の画像を識別するための方法である。それには、以下のステップ、すなわち、
− 前記方向に従って偏光された画像、すなわちｉが１からＮまで変わる、Ｘ_‖（λ_ｉ）で示されたＮ画像（１１）、および前記方向に垂直な方向に従って偏光された画像、すなわちＸ_⊥（λ_ｉ）で示されたＮ画像（１２）であって、これらの画像Ｘ_⊥（λ_ｉ）が画像Ｘ_‖（λ_ｉ）と空間的に異なる画像の、各波長用の同時取得ステップと、
− Ｘ_‖（λ_ｉ）およびＸ_⊥（λ_ｉ）の線形結合である強度画像の、各波長用の計算ステップであって、したがってこれらのＮ強度画像に対して、各画素用に強度スペクトルが対応するステップと、
− Ｘ_‖（λ_ｉ）およびＸ_⊥（λ_ｉ）の関数として計算された強度比に基づいた偏光コントラスト画像の、各波長用の計算ステップであって、したがってこれらのＮ偏光コントラスト画像に対して、各画素用に偏光コントラストスペクトルが対応するステップと、
− 分光偏光コントラスト画像と名付けられ、かつＳＰＣ画像と呼ばれる、シーンの画像の計算ステップであって、この画像の各画素が、検討される画素の強度スペクトルおよびコントラストスペクトルに基づいて取得されるステップと、
が含まれる。
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【課題】簡易な構成でありながら、より高い波長分解能を有する光スペクトル測定装置を提供する。
【解決手段】被測定光Ｐ１を放出する光源１と、非線形光学結晶２と、波長選択フィルタ３と、分光器４と、制御部５とを順に備える。非線形光学結晶２は、光源１から入射する被測定光Ｐ１に対して自発的パラメトリック下方変換を生じさせ、変換光Ｐ２を射出する。変換光Ｐ２においては、被測定光Ｐ１におけるわずかな波長の変化が大きく拡大されて表れる。そのため、分析器４によって、比較的高精度な変換光Ｐ２のスペクトルが得られる。被測定光Ｐ１の波長と、変換光Ｐ２の波長との関係を調べることにより、制御部５における換算によって、変換光Ｐ２のスペクトルから被測定光Ｐ１のスペクトルが求められる。このようにして得た被測定光Ｐ１のスペクトルは、分光器４によって直接測定したものよりも高精度なものである。 （もっと読む）

【課題】小型化が可能で且つ複雑な光軸合わせが不要な光検出器及びスペクトル検出器を提供すること。
【解決手段】本発明の光検出器は、基板と、前記基板上に形成され、複数の凸部を有する半導体とを有する光検出器であって、前記複数の凸部に入射した光のうち前記複数の凸部を透過する光を検出する。本発明によれば、回折格子やプリズム等の光学部品を用いなくとも、特定のピーク波長を有する光を検出することができ、複雑な光学系の光軸調整不要な小型の光検出器を実現することができる。 （もっと読む）

【課題】太陽などの光を利用して発電する光電池の開発研究や使用時において、簡便に光電池の分光感度スペクトルとともに、同時に光電池の電流電圧特性を測定する評価装置を提案する。
【解決手段】一つの白色光源３の周囲に２つの集光ミラー１，２を配置し、集光された光の一方は分光器４に導入され単色光に変換されたのち出射され、もう一方の光は擬似太陽光スペクトルフィルタ５を通じて出射され、これら二つの光は二分岐ファイバ８，９を通じて重畳されて被測定光電池１０１を照射することができる光電池の分光感度測定装置および電流−電圧特性測定装置、で分光感度測定および電流電圧特性測定を測定する。 （もっと読む）

【課題】小型で持ち運びやすく、設置場所に制限されず、かつ低電圧で動作できる装置が実現可能となる、フォトダイオードを用いた波長スペクトル検出方法を提案する。
【解決手段】任意の光の波長スペクトルを検出する方法であって、光電変換素子であるフォトダイオードを用いて、前記フォトダイオードから得られる光電流値（もしくは光電流に起因した電圧値）を用いて、前記フォトダイオードに、予め波長と光電流値が判明している比較用の光を入射させたときの光電流値を検出し、前記フォトダイオードに前記任意の光を入射させたときの光電流値と数式２に基づいて、前記任意の光の波長スペクトルを検出する。 （もっと読む）

【課題】屈折レンズのみを用いた光学系により垂直照明を可能とし、かつＤＵＶ−ＵＶ（１９０ｎｍ〜４００ｎｍ）領域の広帯域色補正を行うことを可能とする分光光学系および分光測定装置を提供する。
【解決手段】光源100、折り返しミラー110、視野絞り120、及び試料上に集光させる物体側集光レンズ系130と、該物体側集光レンズ系の結像面に配置される像側集光レンズ系140と、前記試料からの正反射光を分光する分光器150とを有し、前記物体側集光レンズ系130と、前記像側集光レンズ系140は、波長１９０〜４００ｎｍのブロードな帯域で色補正され、かつ垂直照明可能な屈折型レンズのみで構成される分光光学系であって、レンズのワーキングディスタンス（WD）が、所定の距離以下で設定され、かつ各接合レンズ間隔Ｄが、所定の距離以上で設定されている。 （もっと読む）

【課題】従来から用いられる載置台に載置された試料を加熱する方法では、複数の発熱体を使用することで、温度に斑が生じたり、載置台の回転によって生じる風、特に乱流によって試料の温度にばらつきが生じる恐れがあった。
【解決手段】本件発明では、複数個の試料を円形に載置可能で、その円の中心を中心として回転する載置台と、載置台の下に空間を隔てないで前記回転の軌跡に沿った円環状の円環状発熱体と、載置台と円環状発熱体とを収納して内部を一定雰囲気に保つチャンバと、チャンバに設けられる分光測定用ガラス窓と、前記測定のための分光測定部と、を有する分光測定装置を提供する。これにより、載置台に載置された複数の試料を均一に加熱することが可能となり、正確な分光測定を行うことが可能となる。 （もっと読む）

【課題】ソーラシミュレータの分光放射特性を正確に測定すると共に、光源ランプとその点灯回路の診断機能をも併せ持った標準分光放射計を提供する。
【解決手段】パルス点灯型ソーラシミュレータ２から放射された閃光を複数の光ファイバ７１〜７５によって分岐伝導し、伝導された閃光をそれぞれの分光器８１〜８５で分光し、分光された分光光をそれぞれ検出する第１の光検知手段９１〜９５を備える標準分光放射計において、ソーラシミュレータ２から放射された閃光を検知する第２の光検知手段１０と、第２の光検知手段１０によって検知された検出電圧と閾値基準電圧とを比較し、前記検出電圧が前記閾値基準電圧以上になったとき判別信号を出力する閾値判別回路１３と、前記判別信号を入力して測定開始信号を出力する遅延時間発生回路１４を備え、各第１の光検知手段９１〜９５は前記測定開始信号を入力すると検知を行うことを特徴とする標準分光放射計である。 （もっと読む）

【課題】 分光器内で発生する迷光の影響を低減することが可能な分光測定装置、測定方法、及び測定プログラムを提供する。
【解決手段】 試料Ｓが内部に配置される積分球２０と、試料Ｓからの被測定光を分光して波長スペクトルを取得する分光分析装置３０と、データ解析装置５０とを備えて分光測定装置１Ａを構成する。解析装置５０は、波長スペクトルにおいて励起光に対応する第１対象領域、及び試料Ｓからの発光に対応する第２対象領域を設定する対象領域設定部と、試料Ｓの発光量子収率を求める試料情報解析部とを有し、リファレンス測定及びサンプル測定の結果から発光量子収率の測定値Φ_０を求めるとともに、リファレンス測定での迷光に関する係数β、γを用い、Φ＝βΦ_０＋γによって迷光の影響を低減した発光量子収率の解析値Φを求める。 （もっと読む）

【課題】測定対象光源（被試験光）の入射角度が変化しても高精度に被試験光の色度、照度などを高精度に測定することが可能な測光装置を提供する。
【解決手段】拡散光学系としての積分球２を備え、測定対象光源１００の特性を測定する測光装置１において、積分球２は、測定対象光源１００からの光が入射する入射部開口２２と、積分球２の内壁面２１で拡散された拡散光が光検出部３へと出射する検出部開口２３とを有し、光検出部３は、検出部開口２３に近接して、積分球２からの拡散光を分光する入射角依存性を有した分光手段３１と、分光手段３１に隣接して、分光手段３１により分光された光が入射する光電変換素子列３２とを備え、入射部開口２２には、拡散透過板４を設置する。 （もっと読む）

【課題】透過または反射スペクトルが測定可能であり、上述の制約を受けない波長分光装置を提供する。
【解決手段】本発明は、基板上に、スペーサ膜によって離間された２つのミラーで構成されるフィルタ・セルＣＦを備え、該フィルタ・セルが複数の干渉フィルタで構成される波長分光装置に関する。さらに、上記装置は複数の放射源を備える放射セルＣＥをさらに備え、上記放射源が各々上記干渉フィルタの１つと関連付けられる。
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【課題】より高い波長分解能が得られる分散素子及び分散素子を備える光学機器を提供すること。
【解決手段】 光が出射する出射部と、前記出射部の光出射側に配置された光学系と、該光学系の光出射側に配置された分散素子と、前記分散素子の光出射側に配置された光偏向部材と、前記光偏向部材からの光が入射する入射部を備え、光偏向部材は複数の偏向素子で構成され、該複数の偏向素子は、互いに独立して制御可能であり、前記分散素子はイマージョンプリズムである。 （もっと読む）

【課題】簡便に持ち運びできるように小型化でき、蛍光画像情報と形状画像情報とを両方検出可能にするとともに、測定対象物の温度上昇を防止できる分光イメージング装置を提供する。
【解決手段】２次元分光センサ３０には、半導体光電変換素子が２次元アレイ状に並べられている。測定対象となる試料プレパラート３１に半導体発光素子３２から白色光を照射して、試料からの透過光を検出して、試料の構造や形状に関する可視画像を取得する。他方、半導体発光素子３２から励起光を試料プレパラート３１に照射して、試料からの蛍光を検出して、蛍光画像を取得する。上記可視画像及び蛍光画像を得るために、半導体光電変換素子は、光電変換領域の深さ方向の幅又は位置を変化させることで分光を行っている。 （もっと読む）

【課題】 測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを容易に確認しながら、試料室に試料を配置することができる分光光度計を提供すること。
【解決手段】 試料１７中の被測定箇所に、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射する照明部２０と、試料１７が配置されるための試料室１４と、試料室１４に配置された試料１７中の被測定箇所を透過した透過光を検出する検出器１０と、照明部２０を制御する制御部３０とを備える分光光度計１であって、制御部３０は、試料１７が試料室１４に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部２０を自動的に制御することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ユーザによる煩雑な操作を行うことなく、キセノンランプの電極消耗による発光点像の位置変動を容易に補正することのできる分光蛍光光度計を提供する。
【解決手段】キセノンランプから成る光源１１と、光源１１の光を反射する反射鏡１２と、反射鏡１２によって反射された光から所定波長の光を励起光として分離する第１の分光系１３〜１５と、前記励起光を受けて試料が発する光を分光する第２の分光系２１〜２３と、該第２の分光系で分光された光を検出する検出器２５と、反射鏡１２の角度を変更する反射鏡駆動手段３０と、検出器２５からの出力信号が最大となるように反射鏡駆動手段３０を制御する制御手段４１、４２とを設ける。制御手段４１、４２が検出器２５からの出力信号に基づいて反射鏡駆動手段３０を制御することにより、反射鏡１２の角度が最大励起光量が得られる最適角度へと自動的に調整される。 （もっと読む）

【課題】蛍光物質を含む複数の試料を走査し、各試料の光学特性を、短時間で正確に測定できる光学特性測定装置を提供する。
【解決手段】照明部２、３と、放射光１ａの分光分布を測定する分光部５と、試料の光学特性を算出する演算制御部６とを備えた光学特性測定装置１０であって、照明光２ａおよび３ａは、蛍光物質の励起光の励起波長域と蛍光波長域との相対分光分布において、互いに異なる分光分布を有し、分光部は、放射光の異なる波長成分を受光する複数の受光素子を有し、受光素子ごとに異なる位相で受光した各波長成分を積分して読み出す電荷蓄積型センサアレイを備え、センサアレイは、各受光素子が受光した各波長成分を積分して読み出す動作を繰り返し複数回行い、演算制御部は、試料に照明光３ａを照射する期間が、蛍光の波長成分を受光する各受光素子の積分期間内であるように、照明光２ａ、３ａの照射を制御することで試料１の光学特性を測定する。 （もっと読む）

【課題】交流電源の電源周波数に依存せずに、常に検出下限性能が最適化された状態で測定データを取得することができる原子吸光分光光度計を提供する。
【解決手段】原子吸光分光光度計１１０に搭載されたマイコンチップ４２上で動作する制御プログラムにおいて、交流モータ２２を駆動させる交流電源周波数（５０Hz／６０Hz）の各場合に対して検出下限性能を最適化した、光源１１、１２の点灯期間及びサンプリングデータ抽出期間を複数記憶しておく。装置使用時、制御プログラムにより、装置で使用している交流電源の電源周波数が識別され、記憶されている複数の点灯期間及びサンプリングデータ抽出期間の中から、識別された電源周波数及び予め装置使用者により設定された測定モードに対応したものが選択され、適切な点灯期間がハードウェア（ＰＬＤ４３）に設定される。これにより、電源周波数に依存せずに、常に検出下限性能が最適化された状態で測定データを取得することができる。 （もっと読む）