【課題】２端子インピーダンス部品について、補正の対象となる測定系が実測時と同じ状態のままで校正作業を行うことができる、電子部品の高周波特性誤差補正方法を提供する。
【解決手段】高周波特性の異なる少なくとも３つの補正データ取得用試料を、基準測定系と実測測定系で測定し、実測測定系で測定した測定値と基準測定系で測定した測定値とを、伝送路の誤差補正係数を用いて関連付ける数式を決定する。任意の電子部品２を実測測定系で測定し、決定した数式を用いて、電子部品を基準測定系で測定したならば得られるであろう電子部品の高周波特性の推定値を算出する。 （もっと読む）

【課題】２端子インピーダンス部品について、補正の対象となる測定系が実測時と同じ状態のままで校正作業を行うことができる、電子部品の高周波特性誤差補正方法を提供する。
【解決手段】高周波特性の異なる少なくとも３つの補正データ取得用試料を、基準測定系と実測測定系で測定し、実測測定系で測定した測定値と基準測定系で測定した測定値とを、伝送路の誤差補正係数を用いて関連付ける数式を決定する。任意の電子部品２を実測測定系で測定し、決定した数式を用いて、電子部品を基準測定系で測定したならば得られるであろう電子部品の高周波特性の推定値を算出する。 （もっと読む）

【課題】２端子インピーダンス部品について、補正の対象となる測定系が実測時と同じ状態のままで校正作業を行うことができる、電子部品の高周波特性誤差補正方法を提供する。
【解決手段】高周波特性の異なる少なくとも３つの補正データ取得用試料を、基準測定系と実測測定系で測定し、実測測定系で測定した測定値と基準測定系で測定した測定値とを、伝送路の誤差補正係数を用いて関連付ける数式を決定する。任意の電子部品２を実測測定系で測定し、決定した数式を用いて、電子部品を基準測定系で測定したならば得られるであろう電子部品の高周波特性の推定値を算出する。 （もっと読む）

【課題】製品内パターンでの高周波特性の保証を比較的低コストで実施でき、パッドに対する物理的ダメージを気にする必要がなく、且つ、複数箇所の同時検査も可能な実用性に秀れたプリント配線板の検査方法の提供。
【解決手段】グラウンド層及び信号層を有するプリント配線板の特性インピーダンス若しくはＳパラメータ等を検査する方法であって、プリント配線板の導体ネットのうち少なくとも一組をショート導体により電気的にショートさせた状態で前記特性インピーダンス若しくは前記Ｓパラメータを測定した後、前記ショート導体を除去し、更に電気的な導通・絶縁検査を行う。 （もっと読む）

【課題】
本発明の目的は、複数個の誘電体共振器を搭載した測定ヘッドを用いる配向測定で、隣接する二つの誘電体共振器が互いの測定値に影響を与えない高精度な測定が可能であり、かつ測定時間が冗長にならない配向測定装置を提供することである。
【解決手段】
本発明は複数個の誘電体共振器を搭載した測定ヘッドを用いたマイクロ波による配向測定装置において、隣接する二つの誘電体共振器のブランク測定時の共振周波数の差の絶対値と試料測定時の共振周波数の差の絶対値の内、小さい方の絶対値が装置の構成条件で決まる特定値以上であることを特徴とするものである。また、本発明は前記特定値が隣接する二つの誘電体共振器の共振周波数が互いに干渉しない最小の周波数値であることを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】可変コンデンサの調整処理を高速に行うことができるインピーダンス整合装置を提供すること。
【解決手段】 高周波電源Ａと負荷Ｂとの間に接続された第１及び第２可変コンデンサＣ１，Ｃ２と、負荷側Ｂの反射係数ρの実部Ｚの大きさに応じた第１検出値（Ｚ’値）と虚部φの大きさに応じた第２検出値（φ値）とを検出する検出部１２と、この検出部１２で検出した第１検出値に基づいて第１可変コンデンサＣ１の静電容量値を調整し、第２検出値に基づいて第２可変コンデンサＣ２の静電容量値を調整する制御部とを備えており、検出部１２は、負荷側Ｂの反射係数ρの実部Ｚの大きさに応じた値に反射係数ρの大きさに応じた値を加算した値を第１検出値（Ｚ’値）として検出する。 （もっと読む）

【課題】近接場電磁波の共振周波数の検出値を大きくすることにより、試料の誘電率の分解能を向上することができる誘電率の測定方法及び誘電率の測定装置を提供すること。
【解決手段】試料１４よりも高い導電性を有する導電性基板を試料１４の一方の面に密着させる工程と、試料１４の他方の面をプローブ共振器３の放射面１１ｂに密着させる工程と、プローブ共振器３の放射面１１ｂから近接場電磁波を放射させる工程と、近接場電磁波の共振周波数を検出する工程と、この共振周波数に基づいて試料１４の誘電率を特定する工程とを含む。 （もっと読む）

【課題】広い周波数で誘電体の誘電率を精度よく測定可能な、誘電率の測定方法および測定装置を提供する。
【解決手段】測定試料１は、誘電体試料１１および誘電体試料１１の主表面１３，１４に配置された導体板１２とを備える。測定試料１はフィルタとしての機能を有する。導体板１２により、透過率が極小値となる周波数を変更することができる。スペクトラムアナライザ４は、送信アンテナ２から測定試料１に照射される平面波の周波数を走査する。受信アンテナ３およびスペクトラムアナライザ４は、測定試料１を透過した平面波の電界強度を測定する。コンピュータ５は、コンピュータ５に入力されたパラメータおよびスペクトラムアナライザ４による測定結果を用いて、ＦＤＴＤ法に従う数値計算によって誘電体試料１１の誘電率を算出する。 （もっと読む）

【課題】非常に薄い薄膜の誘電率、透磁率、および抵抗率を精確に計測する。
【解決手段】被測定物である薄膜を超伝導共振器１０上に成膜する前後において超伝導共振器１０の共振周波数およびＱ値を求めることにより、共振周波数のずれおよびＱ値の変化から薄膜の誘電率、透磁率、および抵抗率を精度良く求めることができる。また、伝送線路２０に複数の超伝導共振器１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃを配置することで、一度に多数の試料の測定や広い周波数領域での試料の特性の変化を測定することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】液体の誘電率を簡易に測定するとともに測定精度を向上させる。
【解決手段】本発明の液体の比誘電率測定装置では、導電性の容器１に液体を挿入する収容空間１１を設け、この容器が第１の電極となる。もう一方の第２の電極である芯線部２５が突出したフタ２により収容空間１１の開口１１ａを密閉する。測定では、フタ２と同様な形状をした開放型、短絡型、負荷型の校正用フタ４１、４２、４３により測定系の校正を行う。また、校正用フタ４１を用いて測定誤差となるフリンジ容量をあらかじめ測定し、実際の測定結果からフリンジ容量による誤差を引くことで誘電率測定の精度の向上を図る。 （もっと読む）

【課題】キャビティ内にガイドを設け、所定温度の気流により測定試料の温度を一定にしながら複素誘電率を測定する。
【解決手段】内部でＴＭ_０ｎ０モード（ｎ＝１〜４の整数）の電磁波の共振が成立するキャビティ（１）と、共振周波数およびＱ値を測定するためのケーブル接続ポート（２）と、測定試料を装てんした時に電磁波が漏れない内径と長さをもったスリーブ（３）と、−１９８℃から＋３２０℃の範囲で物理的強度が著しく変化しない、誘電損失の小さな素材でできたガイド（Ｂ）と、試料温調槽（８）とを備えた空洞共振器において、試料温調槽（８）とガイド（Ｂ）と測定試料を、気流によって所定の温度に設定しながら複素誘電率の測定を行うことが可能な空洞共振器。 （もっと読む）

【課題】パッシブロードプルおよびアクティブロードプルの両方を利用するハイブリッドシステムの使用を提案する。
【解決手段】
本発明は、当該技術分野において一般的に被験装置（すなわち、ＤＵＴ）と称される高周波装置の挙動を比較的高い電力レベルで分析する、またはその特性を評価するための測定システムおよび測定方法に関する。係る装置は、例えば、携帯電話ネットワーク、または他の電気通信に関連する基地局において用いられる増幅器等、高電力（大信号）高周波増幅器に使用するために当該装置を設計するかまたは当該装置を用いる回路を設計する際に分析する必要がある場合がある。高周波入力信号に対する電子装置の応答を測定する測定装置が、測定対象の電子装置に接続可能なアクティブロードプル回路を具備する。パッシブロードプル装置はアクティブロードプル回路に含まれる。 （もっと読む）

【課題】バイアス電圧を印加した状態で、誘電体の電気特性を測定する。
【解決手段】電気特性測定システム２００では、まず、測定対象となる試料１００を上部導体板１０６ａと下部導体板１０６ｂで挟み、これを支持台１０８により安定させる。上部導体板１０６ａ、下部導体板１０６ｂには直流電源１０４が接続されており、これにより試料１００には直流電圧が印加される。この状態で、ネットワークアナライザ１０２は、ケーブル１１０ａ、１１０ｂにより、試料１００のＳパラメータを測定し、直流電圧が印加された状態での試料１００の比誘電率を測定する。 （もっと読む）

【課題】波長に比べて十分に小さな寸法の被測定試料の誘電率などの材料特性を，広帯域の周波数について，機械的な加工精度の厳しい要求なしに，簡便に計測できる高周波材料定数測定システムを提供すること。
【解決手段】自由空間において，送信アンテナにより発生した任意の周波数の既知の強度の放射電界中に被測定試料を設置し，その誘電分極により生じる散乱波電界を，遠方の既知の距離に設置した受信アンテナにより計測する。その散乱波による電界強度が，散乱体である被測定試料の誘電率と一意に定まる関係にあることを用いて，試料の高周波誘電率を推定する。 （もっと読む）

【課題】ＶＮＡ（Vector Network Analyzer：ベクトルネットワークアナライザ）に使用される５ポート接合のシステムパラメータの新規な測定方法を提供する。
【解決手段】ＶＮＡは、ＤＵＴ（Device Under Test：被測定デバイス）の入射波と反射波、または入射波と透過波の振幅比と位相差（Ｓパラメータ：散乱行列要素）を測定するための装置である。新しい知見として、５ポート接合においては、SパラメータをHと電力差分率（｛P（S)／P（０）｝−１）とを使った線形結合で表せることを見いだした。新しい知見によりパラメータＨを直接計算することができるようになった。既知の標準器最低３個を使ってパラメータＨを計算で簡単に導出でき、従来よりも計算量を削減できる。 （もっと読む）

より高い周波数で被試験デバイス（「ＤＵＴ」）を分析する。位相シフターは、ＤＵＴに連結される伝送線上の定在波の位相を変化させる。定在波の大きさが、位相シフトのそれぞれにおいてサンプリングされ、ＤＵＴの１つ以上の特性が、サンプリングした大きさおよび位相シフトの関数として決定される。さらなる態様は、導波路の中に形成される複数の副共振スロットを有し、かつ信号に適用される位相シフトを制御するようにスロットを装荷するための能動素子を有する、導波路を備える、関連位相シフターを含む。
（もっと読む）

【課題】コストを低減して化合物半導体結晶の導電率を測定する、導電率測定方法および導電率測定装置を提供する。
【解決手段】円柱形状の化合物半導体結晶１０を準備する工程と、マイクロ波を用いて化合物半導体結晶１０の導電率を測定する工程とを備えている。化合物半導体結晶１０は、５０ｍｍ以上２００ｍｍ以下の直径を有し、５０ｍｍ以上５００ｍｍ以下の厚みを有することが好ましい。化合物半導体結晶１０は、側面に平坦面１１を有することが好ましい。 （もっと読む）

【課題】プリント配線板の配線パターンの信号減衰量測定方法であって、信号減衰量を簡単かつ正確に測定する方法を提供することを課題とする。
【解決手段】第１テストクーポンと、第１テストクーポンよりも長さが大きい第２テストクーポンとを用意し、上記第１テストクーポン及び第２テストクーポンのそれぞれの信号減衰量をそれぞれ同じ条件で測定し、上記第２テストクーポン及び上記第１テストクーポンのそれぞれの減衰量の測定値の差を信号減衰量の測定値とする。 （もっと読む）

【課題】 電磁シールド材などの試料の評価や設計に利用できる、測定装置に依存しない面抵抗値の推定値を精度良く得られる面抵抗値測定システムを提供する。
【解決手段】 楕円形の扁平筒状の空洞である２焦点型扁平空洞における短軸を通る平面上にシート状試料を装着し、第１の焦点から放射され、試料を通過後に第２の焦点に到達した電磁波から透過係数を得、また、試料が装着されていない場合の透過係数も得、両透過係数からシールド効果の測定値を得る。面抵抗値の候補値を定め、試料を方形導波管とみなしたときの透過係数を計算する。この計算された透過係数を適用し、面抵抗値の候補値を適用した際のシールド効果の算出値を得る。シールド効果の測定値に近似した算出値が得られた面抵抗値の候補値を、面抵抗値の推定値とする。 （もっと読む）

【課題】姿勢の自己保持が困難な試料の電磁特性を測定することが可能な電磁特性測定装置及び電磁特性測定方法を提供する。
【解決手段】試料２１０の測定では、導波管１１０の軸方向に試料を挟み込む２つの支持部材を用いる。２つの支持部材３１０，３２０によって試料２１０を挟み込むと、試料２１０の外周面２１１は、導波管１１０の内壁と正しく接し、且つ、平面２１３，２１４は導波管１１０の軸方向に対して正しく垂直に保持される。これにより、図示しない治具を用いて、支持部材３１０，３２０に挟み込まれた試料２１０を導波管１１０の所望の位置に移動させれば、試料２１０はその位置に留まり、測定器１２０を用いてＳパラメータを正しく測定することが可能となる。 （もっと読む）