【課題】正確な良否判断が可能な電気設備の良否診断システムを提供する。
【解決手段】電気設備の良否診断システム１は、診断対象となる電気設備Ｍに流れる電流から特徴量を検出する特徴量検出手段２と、電気設備が正常状態のときに特徴量検出手段２で得られた特徴量の平均と標準偏差とを導出して記憶しておく演算記憶手段４と、電気設備の診断をする際に、特徴量検出手段２により得られた特徴量と演算記憶手段４に記憶されている平均と標準偏差とに基づいて決定される楕円体の内側に存在する確率値を求める確率計算手段５と備え、電気設備の複数相に流れる電流を同期計測し、各相に流れる電流から各相毎の確率値を確率計算手段５で導出し、各相で得られた確率値をかけ合わせる若しくは足し合わせることで得られた確率値に基づいて電気設備が正常か異常かを診断する診断手段６を備える。 （もっと読む）

【課題】バリスタの短絡故障状態の短絡電流によるバリスタの破裂・発火を防ぐとともに、この短絡故障状態のとき電源再投入の場合にも被保護対象装置の被害を抑止する。
【解決手段】ヒューズ１０２と、過大サージに対して保護される被保護対象装置１０７と、過大サージを吸収するバリスタ１０６と、を備え、電源ラインに設けられたスイッチ１１１とこれをオフする励磁コイル１１０とからなる励磁コイル内蔵型遮断手段１０４を設け、バリスタ１０６に熱結合された温度スイッチ１０５を設け、励磁コイル１１０と温度スイッチ１０５の直列接続回路を電源ラインに接続し、バリスタ１０６が短絡状態で故障した場合、バリスタ１０６による発熱を温度スイッチ１０５が検知してオフ動作し、スイッチ１１１を遮断して電源ラインを切断し、バリスタの短絡状態故障時にスイッチ１１１のオン操作による電源再投入があった場合、温度スイッチ１０５による発熱検知で電源ラインを再切断すること。 （もっと読む）

【課題】電子機器の性能劣化を抑制しつつ当該電子機器の故障を判定することが可能な技術を提供する。
【解決手段】トランス４にはＤ／Ａ変換器３の出力信号が入力される。磁界検出部５は、トランス４が発生する磁界を非接触で検出する。制御部２は、磁界検出部５の出力信号に基づいて、電子機器１００の故障を判定する。また、トランス１４には受信部１２の出力信号が入力される。Ａ／Ｄ変換器１３にはトランス１４の出力信号が入力される。磁界検出部１５は、トランス１４が発生する磁界を非接触で検出する。制御部２は、磁界検出部１５の出力信号及びＡ／Ｄ変換器１３の出力信号に基づいて、電子機器１００の故障を判定する。 （もっと読む）

【課題】負荷の短絡等を電気的に迅速かつ確実に検出可能な負荷の異常検出装置を得る。
【解決手段】インバータ２によって駆動される容量性のオゾン発生器５の異常を、オゾン発生器５の電気特性を模擬する模擬回路として並列コンデンサ１１をオゾン発生器５に並列に接続し、並列コンデンサ１１に流れる電流を並列回路ＣＴ１２にて検出する。検出制御回路１７は、並列コンデンサ１１に流れる電流が所定値を超えたとき、オゾン発生器５に短絡や断線等の異常が発生したとしてインバータ２を停止し、警報する。オゾン発生器５に異常が発生してインピーダンスが変化すると並列コンデンサ１１に流れる電流が急変するので、負荷であるオゾン発生器５の異常を迅速かつ確実に検出できる。 （もっと読む）

【課題】配電線を事故探査する路上変圧器用の課電端子アダプタを提供する。
【解決手段】アダプタ１０は、本体７０及びヒューズ筒８１を備える路上変圧器７に用いられる。本体７０は、地中線から供給される電力を変圧する変圧器７３を内部に有する。ヒューズ筒８１は、カットアウト８の接続穴８１０に装着され、中間部が接続穴８１０に設けた第１電極ｅ１を介して地中線に接続し、先端部が接続穴８１０に設けた第２電極ｅ２を介して変圧器７３に接続する。アダプタ１０は、ヒューズ筒８１に代えて接続穴８１０に装着される。最初に、第１導体棒１１と第２導体棒１２とを結合したアダプタ１０に課電端子５を結合した状態で、接続穴８１０に挿入する。次に、第１導体棒１１と第１絶縁棒１５とを結合したアダプタ１０に課電端子５を結合した状態で、接続穴８１０に挿入する。課電端子５を課電することにより、地中線又は変圧器７３の事故を特定できる。 （もっと読む）

【課題】ＴＦＴアレイ検査において欠陥の検出精度を高める。欠陥位置の検出精度を高め、欠陥種の欠陥判別の判定精度を高める。
【解決手段】全ピクセルから欠陥アレイを有する欠陥ピクセルを検出する点欠陥検出工程と、点欠陥検出工程で検出した欠陥ピクセルの欠陥種を判別する欠陥種判定工程と、欠陥ピクセルの位置を特定する欠陥ピクセル位置特定工程とを備える。点欠陥検出工程によって欠陥ピクセルを検出し、検出した欠陥ピクセルについて、欠陥種判定工程によって欠陥種を判別し、さらに、欠陥ピクセル位置特定工程によって欠陥ピクセルの位置を特定する。 （もっと読む）

【課題】 集積回路の動作を確認するために、集積回路のデバッグ用の端子（TAP：Test Access Port）を用いてテスト信号の入出力を測定するバウンダリスキャンテストに用いるテスト方法で用いる治具がある。しかし、正常動作する製品の端子の一部を一時的に短絡させるためには、手作業による半田付け等による加工が必要になるが、そのような加工を行うと、修復不能なダメージを基板に与えてしまうことが多い。本発明は、上記課題を解決すべくなされたものであり、端子間を短絡させる連結部の取付けを迅速かつダメージなく行うことを目的とする。
【解決手段】
上記課題を解決すべく、本発明にかかる回路検査用治具は、導電部材と、導電部材を支持する支持部材と、を備え、支持部材は、複数の端子を有する集積回路の隣り合う二つの端子に導電部材が接触するように固定するための面を有する。 （もっと読む）

【課題】ＴＦＴアレイの検査において、走査画像の高い位置分解能と短い検査時間とを両立させ、ピクセル位置に対する走査画像の位置精度を高め、欠陥の検出精度を向上させる。
【解決手段】ＴＦＴアレイ検査は、１ピクセル当たりに照射する荷電粒子ビームの照射点数を増やし、ピクセルの境界に跨ることなくピクセルの中心側を照射する照射点の個数を増やす。照射点数を増やすことによって、隣接するピクセルの影響を受けることなく各ピクセルの取得データを取得して走査画像の位置分解能を向上させる。１ピクセルについて取得する取得データのデータ数を増やすことによって、走査するフレーム数を減少させて検査時間を短縮し、これによって、走査画像の高い位置分解能と短い検査時間とを両立させる。 （もっと読む）

【課題】溶着作業中に発生する絶縁破壊やコロナ放電が、被加熱体の品質に影響を与えない一時的な場合には、溶着作業を継続することが可能な誘電加熱用高周波電源装置を提供する。
【解決手段】高周波出力部１０は、所定の周波数を有する高周波を生成して出力する。高周波印加部２０は、高周波出力部１０が出力する高周波を、加工部６０の一対の電極６１及び６２に印加する。加工部６０は、高周波印加部２０によって一対の電極６１及び６２に印加される高周波を利用して、被加熱体６３を加工する。絶縁破壊検出部３０は、加工部６０で生じる絶縁破壊現象を検出する。放電検出部４０は、加工部６０で生じる放電現象を検出する。出力制御部５０は、絶縁破壊検出部３０及び放電検出部４０における検出結果に基づいて、高周波出力部１０からの高周波出力を一時的停止又は完全停止によって制御する。 （もっと読む）

【課題】点灯状態を判定するための設定値を、基板種やスキャン条件によって調整することを要することなく、パネルの点灯状態を判定する。
【解決手段】電子線を基板に形成されるパネル上を走査して得られる二次電子を検出することによりパネルのＴＦＴアレイを検査するＴＦＴアレイ検査装置において、パネルのＴＦＴアレイに検査信号を印加して、パネル上に所定パターンの電位分布を形成する検査信号印加手段と、二次電子の検出強度を用いてパネルの点灯状態を判定する信号処理手段とを備える。二次電子の検出強度に対するデータ数から得られる強度分布を求め、この強度分布を正常に点灯した際に得られる強度分布と比較することによってパネルの点灯状態の正否を判定する。この強度分布による判定は基板種やスキャン条件に依存しないため、基板種やスキャン条件が変化した場合であっても判定のための調整は不要である。 （もっと読む）

【課題】多結晶シリコンアレイ基板の断線、短絡検査を行い得る液晶表示装置及びその検査方法を提供する。
【解決手段】スイッチング素子13を介して接続される画素電極14，基板の縁端部に設けられた複数の入出力端子21〜27、行電極駆動回路18、並びに入出力端子21〜27を介して外部から加えられる映像信号を列電極の一端に加える列電極駆動回路19を有するマトリクスアレイ基板と、画素電極に対向電極を対向させる対向基板と、画素電極14及び対向電極16間に挟持された液晶層15とを備えるものにおいて、列電極12の他端を少なくとも一つの入出力端子27に共通接続するアレイ基板上配線32を基板面に形成し、アレイ基板上配線32が接続された入出力端子27と、これらの入出力端子以外の少なくとも映像信号を供給する入出力端子21〜26との間に所定の電圧を印加し、そのときの電流を測定して不良を検出する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、高額な検査装置を使用することなく、製品とした場合にも表示機能の低下を招かず、効率的に検査し得るアクティブマトリックス型基板と、該検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】
アクティブマトリックス型基板において、複数のデータ線の一方の端にデータ線毎に検査用の検査用基準画素を作成し、検査用基準画素の出力と各データ線に接続された画素をデータ線を通じて比較する比較器を各データ線毎に設置し、比較器の出力を保持する 保持器兼シフトレジスターを配置し、表示領域の全画素に検査用データを書き込み、検査用基準画素に検査用基準画素用検査データを書き込み、順次表示領域の各画素内のデータと検査用基準画素内のデータとを比較し、比較の結果をシフトレジスタ−に格納し、表示領域の画素に欠陥がある場合には、シフトレジスタ−内のデータをシフトアウトして欠陥の画素を特定する。 （もっと読む）

【課題】診断対象となる電気設備の正常状態のみの診断データのみを用意しておくことで、効率的にその設備の良否判断が可能な電気設備の良否診断システムを提供することを課題とする。
【解決手段】上記課題を解決するための電気設備の良否診断システム１は、診断対象となる電動機Ｍが正常状態のときに演算部３の平均・標準偏差演算部４は、特徴量検出部２で得られた特徴量の平均と標準偏差とを導出して記憶する。演算部３の確率演算部５は、実際に設備を診断する場合に、特徴量検出部２で得られた特徴量と、平均・標準偏差演算部４に記憶されている前記平均と標準偏差とに基づいて決定された楕円体の内側に存在する確率を計算すると、診断部６は、その計算された確率値に基づいて当該設備が正常か異常かを診断して表示部７に表示させる。 （もっと読む）

【課題】 電子部品の信頼性評価方法に関し、落下による電気的な短絡の原因となるウイスカの表面酸化膜の状態の評価を短時間で且つ低コストで行う。
【解決手段】 錫を含むめっきが施された部材に発生したウイスカを一対の電極の少なくとも一方の電極に接するように前記電極間に設置し、前記電極間に電圧を印加して前記電極間に流れる電流の有無を検査する。 （もっと読む）

【課題】プローブの狭ピッチ化を実現するとともに多数のプローブを高精度で組み立てることができるプローブユニットを提供する。
【解決手段】板状をなす複数の導電性のプローブを板厚方向に積層して固着することによって形成されるプローブ束を複数有し、該複数のプローブ束がプローブの積層方向に沿って積層されてなり、二つの回路構造と接触する接触部と、接触部における複数のプローブ束の積層方向の両端部を挟持することによって積層方向の力を加えながら複数のプローブ束を保持するプローブホルダと、接触部を積層方向に貫通し、両端部が前記プローブホルダに固定される棒状部材と、を備える。 （もっと読む）

【課題】 液晶パネル、プリント基板等（被検査体）の電極と、検査装置または実装品の電極との導通を確実にとった上で、被検査体の電極に損傷を生じるおそれのない、異方性導電シート等を提供する。
【解決手段】 絶縁性で厚み方向にクッション性を有するシート１と、シートの一方の表面である第１面１ａ上に形成された第１面配線パターン３ａと、第１面と反対側の表面である第２面１ｂに位置する第２面端子部３ｂと、第１面配線パターンと第２面端子部とを導通するためのシート面間導通部３ｃとを備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】設備劣化による事故予兆を常時監視して検出することができる電気設備事故予兆検出装置を提供する。
【解決手段】Ａ／Ｄ変換部１bにより変換されたサンプリング波形データに基づいて、起動判定部１eが、各送電線の零相電圧または零相電流が、予め設定された起動レベルを越えているとき、かつ、その起動レベルを連続して超えた期間が１サイクル以下であるとき、記憶対象の波形データであると判定すると、第１波形メモリー４から一定時間遅延させたサンプリング波形データを、第２波形メモリー５に予め設定された時間分記憶する。上記第２波形メモリー５に記憶されたサンプリング波形データに基づいて、所内の母線に接続された複数の送電線の全てにおいて零相電流の最大値の極性が、所内に外部から地絡電流または短絡電流が流入する方向であることを表しているとき、データ解析エンジン部２cにより所内で事故予兆現象が発生したと判定する。 （もっと読む）

【課題】基板検査装置の検査用ステージを軽量化する。
【解決手段】基板検査装置において検査対象の基板を載置する基板検査装置用ステージを、少なくとも２枚の長尺状の板材を含む構造部材を互いに交差させ結合させてなる枠体構造とする。枠体構造には、２枚の長尺状の板材の互いに長尺辺部で結合してなるＬ字型の断面形状を備える構造部材１３、３枚の長尺状の板材の互いに長尺辺部で結合してなるコの字型の断面形状を備える構造部材１２、あるいは４枚の長尺状の板材の互いに長尺辺部で結合してなるロの字型の断面形状を備える構造部材１１を用い、何れか一種類の構造部材、あるいは複数種類の構造部材を組み合わせる。 （もっと読む）

【課題】チャック不良を検出可能として正確な検査を行う。
【解決手段】抵抗１３ｂと直流電源１３ｃが直列接続された電源部１３から電解コンデンサ１の陽極・陰極端子３，４間に直流電圧Ｖを印加し、ケース５と陽極出力端子１３ｄとの間の電圧波形Ａおよび直流電源１３ｃから出力される電流の電流波形Ｂを直流電圧Ｖの印加開始から測定し、波形Ａを判定エリアＣと、波形Ｂのピーク値を判定値Ｄと比較し、波形Ａ全体が判定エリアＣに含まれピーク値が判定値Ｄ以上のときは陽極端子３とケース５とが非短絡状態にあると判別し、波形Ａの一部が判定エリアＣに含まれず、ピーク値が判定値Ｄ以上のときは陽極端子３とケース５とが短絡状態にあると判別し、波形Ａの一部が判定エリアＣに含まれず、ピーク値が判定値Ｄ未満のときは陽極出力端子１３ｄと陽極端子３とが非接続かまたは陰極出力端子１３ｅと陰極端子４とが非接続であると判別する。 （もっと読む）

【課題】二次電池を用いた集合電池の地絡位置の特定を迅速にすることのできる二次電池システムを提供することにある。
【解決手段】二次電池Ｐ１１〜Ｐ４６により構成された集合電池２と、集合電池２の正極と負極とを中間点で等分に分圧する分圧抵抗３１Ａ，３１Ｂと、この中間点を接地する地絡検出抵抗３２と、地絡検出抵抗３２を流れる電流に基づいて、地絡を検出する地絡検出３３と、地絡検出抵抗３２を流れる電流の方向に基づいて、地絡箇所が集合電池２の正極側ＧＰか負極側ＧＮかを判定する電流方向判定回路３４とを備えた二次電池システム。 （もっと読む）