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Fターム[2G043BA07]の内容

蛍光又は発光による材料の調査、分析 (54,565) | 検出物質 (3,793) | 他元素 (155)

Fターム[2G043BA07]に分類される特許

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【課題】 混和剤の性能に対して大きな影響を及ぼす官能基の量を求めるために、複数の分析装置を組み合わせて分析する必要がなく、簡単且つ迅速に前記官能基の量を求めることができる混和剤の分析方法を提供する。
【解決手段】 本発明は、混和剤中の官能基と塩を形成しているアルカリ金属及びアルカリ土類金属のモル数を個々に求め、該モル数に前記金属の価数をそれぞれ乗じた後に総和し、この総和した値をカルボキシル基及びスルホン酸基のモル数の総量とするようにした。 (もっと読む)


【課題】 金属試料に含まれる元素を発光分光分析技術によって定量するにあたり、元素ごとに金属試料と対電極をそれぞれ最適の位置に移動させて高精度かつ短時間で分析する方法および装置を提供する。
【解決手段】 不活性ガス雰囲気にて金属試料と対電極との間で多数回のスパーク放電を行なう発光分光分析にて、各元素ごとに金属試料と対電極とをそれぞれ最適の位置に移動させて定量する。 (もっと読む)


監視対象空間に照射した2以上の異なるレーザー光に起因する波長概ね309nmの被検出光を集光し、電子画像に変換し、増幅し、再度光学像に変換することで特定波長の空間強度分布を画像化することを特徴とする水素ガス及び水素火炎監視方法。 2以上のレーザー光源と、監視対象空間におけるレーザー光に起因する波長概ね309nmの被検出光の集光手段と、当該被検出光を電子画像に変換し、増幅し、再度光学像に変換する結像手段と、特定波長の空間強度分布の画像化手段とを有することを特徴とする水素ガス及び水素火炎監視装置。
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本発明は、被検物質を検出するための化学的検知装置に関する。この装置は、光源、該光源により照射された時に発光可能であり、該発光が該被検物質により改変され、それによって、熱の発生を変化させることができ、該発熱変化が該被検物質の濃度に比例する、少なくとも一種の発光試薬、焦電もしくは圧電素子および電極を有し、熱の変化を電気信号に変換できる変換器、および電気信号を被検物質の濃度指示に変換することができる検出器を含んでなる。 (もっと読む)


低分解能ラマン分光法を使用して体液試料中の分析物をインビトロで検出するための方法及び装置が開示される。体液分析器が、表面増強ラマン散乱を提供するために金ゾルゲルを含む目標領域上に体液の試料を受け取るための使い捨てストリップを含む。光源が、目標領域を照射して、散乱された電磁放射からなるラマン・スペクトルを発生し、このスペクトルが、分散要素によって様々な波長の成分に分離される。検出アレイが、散乱光の波長成分の少なくともいくつかを検出して、データを処理するためのプロセッサにデータを提供する。処理されたデータの結果が画面上に表示されて、体液試料中の分析物に関してユーザに情報提供する。
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【課題】Zrを含有する複酸化物粉末を実際に触媒に使用したときにどのような排気ガス浄化特性になるかを事前に知る上で有用な触媒用複酸化物の検査分析方法を提供する。
【解決手段】ラマン分光分析により、上記複酸化物粉末に含まれる酸素原子に関連するラマンシフトの第1波数域のピーク強度I1と第2波数域のピーク強度I2との比I1/I2を、還元雰囲気中、複数の温度において求め、このピーク強度比I1/I2が温度に依存して変化する度合を求め、この変化度合に基いて上記複酸化物粉末の酸素原子が関与する結晶構造特性を検査することを特徴とする。 (もっと読む)


本発明は、真空ライン18に連結されたチャンバ10内で行われる凍結乾燥処理中の脱水運転を監視するための装置に関する。この装置は、チャンバ10内に含まれる気体を分析するための手段を備え、この手段は、プラズマを発生するように構成された発生器と結合された気体と接触しているプラズマ源3を含む、気体をイオン化するためのシステム1、及び、プラズマにより放出される放射スペクトルの発生を分析する装置22に連結されたプラズマ発生区域の近くに配置された放射線センサ20を含む、イオン化された気体を分析するためのシステムを含む。このプラズマ源は誘導結合によって生成されることが好ましく、放射スペクトルを分析する装置は発光分析装置である。
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【課題】 スパーク放電発光分光分析法によって金属試料を分析するに際し、切断して得た金属試料が平滑度の低い金属試料であっても精度良く分析する。
【解決手段】 試料支持台10に装着された金属試料3と、当該金属試料に対向して配置される対電極4との間で、多数回のスパーク放電を不活性ガス雰囲気中で発生させ、スパーク放電毎の発光を分光して金属試料中の元素を定量する発光分光分析方法において、前記金属試料を前記試料支持台に設けた突起部11の上に装着してスパーク放電させる。金属試料は突起部と接触するので、金属試料に凹凸が存在しても、凹凸の影響を受けることなく分析することができる。 (もっと読む)


【課題】材料表面近傍における微小な同一領域における材料の電気的・光学的特性を測定する方法として、光励起による発光、または電流励起による発光を測定する方法等が知られているが、同一微小領域に対してこれら両測定を実施することは極めて困難であった。このため、同一装置でプローブ位置を変えることなくこれらの測定を可能にする装置の実現を目的とした。
【解決手段】先端が光透過性と導電性とを有するプローブと、照射光と試料が発光した光とを導光する光伝送路を有し、照射光の試料への入射系と反射系および試料が発光した光をこれら照射系の光から分離し光検出器に導光する光学系と不要光波長成分を除去する光バンドパス・フィルタとを有する光分波器を上記光伝送路の途中に挿入した構成とした。 (もっと読む)


本発明は、サンプル化学成分を決定するためのツールの分野に関する。特に、本発明は、レーザ誘起蛍光法(LIF)によるサンプル内化学元素検出の改善に関する。本発明は、物質内の化学元素を検出するためのシステムであって、前記物質の一部をイオン化して蛍光を生成するための少なくとも1つのレーザ発光部と、前記元素の逆励起波長に対応する波長をフィルタ処理するための少なくとも1つの透過ブラッグ格子と、前記フィルタ処理波長に対応する輝線を検出するための少なくとも1つのフォトダイオードと、を含むシステムに関する。本発明は、前記少なくとも1つのブラッグ格子が、前記フィルタ処理波長を変化させるように移動可能であることを特徴とする。
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【課題】 定盤の研磨面に埋め込まれた砥粒の面密度を適切に評価することの可能な研磨装置を得ること。
【解決手段】 本装置は、研磨時に研磨対象物を載せる定盤21と、前記定盤の研磨面に平行な面を有する部材41と、砥粒を含むスラリーを前記研磨面に供給するスラリー供給手段109と前記研磨面に光を照射する手段104,103と、前記研磨面からのラマン散乱光の強度変化を分析する手段104とを有する研磨装置である。研磨装置に使用される定盤に砥粒を含むスラリーを滴下し、定盤の研磨面に平行な面を有する部材と定盤とを相対的に運動させる。研磨面に光を照射し、研磨面からのラマン散乱光の強度変化に応じて、スラリーの滴下量等を調整する。これにより、所定の面密度で砥粒が研磨面に埋め込まれた定盤を作成することができる。 (もっと読む)


本発明は、光学センサの耐用寿命を延ばす方法を提供する。一態様では、この方法は、センサの放射線源のデューティサイクルが、検体に関するデータを前記センサが定期的に取得する連続期間にわたって100%未満であるように光学センサを構成する工程を含む。上記の発明の方法によりセンサを動作させることにより、光学センサの指示分子は、センサが物質の存在または濃度に関するデータを供給する必要がある連続期間全体にわたって励起されない。そのため、この方法により、指示分子の寿命が延びる。
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絶縁性材料で形成された流路に該流路の断面積よりも著しく小さい断面積を有する狭小部を設け、該流路および狭小部に導電性液体を満たした後、前記狭小部に電界が通過するように該狭小部に電界を印加し、前記狭小部でプラズマを発生させるプラズマの発生方法および元素分析方法。絶縁性材料で形成された流路に該流路の断面積よりも著しく小さい断面積を有する狭小部が配設され、前記狭小部に電界が通過するように該狭小部に電界を印加するための手段が配設されてなるプラズマの発生装置および前記プラズマの発生装置を有する発光分光分析装置。 (もっと読む)


封止されたエンクロージャに含まれる気体に放電を生成する方法が開示される。方法は、RF周波数で螺旋状コイル共振器を駆動して高圧気体に放電を生成するのに十分なRF電磁界を生成するステップを含む。放電は、発光スペクトルを生成し、それは、気体の組成および不純物含量を決定するために、分光的に分析されてもよい。
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結晶性の被測定試料の光学測定に際して、その試料に対してラマン散乱が選択則により禁止される偏光方向で励起光を入射し、金属探針を前記被測定試料に近接させて、探針先端近接部のみ局所的に選択則を緩和し、ラマン散乱が活性になるようにすることにより、探針先端近接部のみからのラマン信号を検出する。また、被測定試料に対して、励起光を照射し試料から再放射される信号光を計測する光学配置を備えた光学測定装置において、励起光または信号光の偏光状態を制限する手段と、被測定試料に金属探針を近接させる手段とを備え、前記被測定試料に金属探針を近接させることにより局所的に前記偏光状態の制限を緩和することで得られた信号光を計測する光学測定装置とすることによって,シリコンのラマン散乱光などを、光の回折限界を超える高い空間分解能で測定することを可能にする。 (もっと読む)


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