【課題】安価で、誤検出なく、ハンドリングが良く、地下水の少ない地山でも確実に検出でき、故障・破損時には容易に交換できるカッタビットの摩耗検出装置を提供する。
【解決手段】ビット本体２１の反切羽側の底面２３から切羽側に向かってビット本体２１に形成された収容穴４０と、収容穴４０に挿抜可能に形成されビット本体２１の摩耗と共に摩耗する材質で且つ導電材質からなる摩耗部材５０と、摩耗部材５０を収容穴４０の内部に挿入した状態でビット本体２１に固定すると共にその固定を解除するための固定解除手段６０と、一端が摩耗部材５０の所定位置に装着され他端が収容穴４０から引き出された検知線７０と、検知線７０の他端と摩耗部材５０との間の抵抗を測定するための抵抗値測定手段８０とを備えたもの。 （もっと読む）

【課題】被覆の施された配管であっても、手間と時間がかからずに配管の減肉の有無を判定することができる装置を提供する。
【解決手段】減肉検知装置１は、配管１０の内面より所定深さの位置に埋め込まれ、配管１０を流れる流体と接触したことを検知する圧力センサ１１と、圧力センサ１１による検知結果に基づき減肉の有無を判定する減肉判定部２０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】タンク本体の開口部を画定する内壁と、該開口部に取付けられるタンク用口金との間に配設され、前記内壁とタンク用口金との間を密閉するシール部材の組付け状態を簡単且つ確実に検出するタンク検査装置及びタンク検査方法を提供する。
【解決手段】タンク本体１０の開口部１１に取付けられる口金本体２１と、口金本体２１の外周面１３に配設され、口金本体２１と開口部１１を画定する内周面１２との間を密閉するＯリング３０を有するタンク用口金２０が組付けられたタンク１００の検査を行うタンク検査装置である。タンク本体１０と、口金本体２１と、Ｏリング３０を含む回路に通電を行う通電手段と、前記通電の状態を検出する検出手段を備え、Ｏリング３０は、導体部３１と不導体部３２を有し、前記回路は、導体部３１と、タンク本体１０及び口金本体２１とが導通した際に通電される。 （もっと読む）

【課題】膜に存在する欠陥を短時間に確実に検出することが可能な欠陥センシング方法を提供する。
【解決手段】導電性溶液５は、膜１、シールリング４及び筐体３により形成された空間内に注入される。導電性溶液５を注入した後、空間内の減圧が行われる。その減圧により、欠陥１ａ内に留まっていた気泡は、上から押さえ込む力の減少によって欠陥１ａより乖離しやすくなる。その結果乖離した気泡ａは溶液５中を上昇することとなり、導電性溶液５が確実に欠陥１ａへ浸入することとなる。続いて、導電性溶液５と基材２との間の電気抵抗を測定することで、膜１に存在する欠陥１ａの有無を判別する。 （もっと読む）

【課題】潜在部でのピンホールも顕在化させてピンホール試験の信頼性を高める。
【解決手段】導線引張装置１において導線６の一端６ａを固定部３に固定し、そのままドラム４ａ，４ｂ間に複数回巻回して回転部材１０の上端に固定する。次に、操作レバー１１によって回転部材１０を左回転方向へ９０°回転させて、導線６を長さ方向へ引張して所定割合だけ伸張させる。この伸張により、絶縁被覆の傷や被膜の薄い部分等の潜在部でピンホールが発生する。その後、導線引張装置１から導線６を取り外し、加熱処理した後、フェノールフタレイン溶液を食塩水に滴下した試験液中に浸し、導線６を−極、試験液を＋極にして直流電圧を加えて絶縁被膜の外部に漏れる電流を検出する。 （もっと読む）

【課題】検査対象物の表面の微小領域を精度良く検査可能な表面検査装置および表面検査方法を提供する。
【解決手段】表面検査装置１に、検査対象物２の表面に対向して配列される複数の検出用電極１１・１１・・・を備え、複数の検出用電極１１・１１・・・のそれぞれと検査対象物２との間の静電容量を検出する静電容量検出部１０と、静電容量検出部１０を検査対象物２に対して相対移動する移動部３０と、検査対象物２に対する静電容量検出部１０の相対位置を検出する相対位置検出部と、静電容量検出部１０により検出された複数の検出用電極１１・１１・・・のそれぞれと検査対象物２との間の静電容量、および、検査対象物２に対する静電容量検出部１０の相対位置に基づいて、検査対象物２の表面の形状を判定する形状判定部５０と、を具備した。 （もっと読む）

【課題】代用特性でなく、製品の接触抵抗を直接測定でき、この接触抵抗に基づいて短時間で精度高く接合状態を判定し、その判定結果を振動制御部へフィードバックすることができる超音波接合装置を提供する。
【解決手段】超音波振動を与えるホーン３０とアンビル２０との間に２枚の被接合材を挟んで加圧し、被接合材の接触面に平行に超音波振動を加えて固相接合する超音波接合装置１であって、振動制御部７０と接合検査部８０とを有する制御装置６０を備え、接合検査部８０は、ホーン３０とアンビル２０間に電圧を印加する電圧印加部８２と、ホーン３０とアンビル２０間の印加電圧を測定する電圧計８３と、ホーン３０とアンビル２０間に流れる電流を測定する電流計８４と、電圧計８３および電流計８４の各測定値から接触抵抗を算出して接合状態を判定する電気抵抗測定回路８１と、を備えている。 （もっと読む）

例示的な一実施形態は、半導体の製造中に、半導体ウェハ（１０２）またはリソグラフィマスク（２０２）などの平坦リソグラフィ物体と、チャック（１０４）との間の不要パーティクル（１２２）の存在を検出するための方法（５００）である。例示的な方法は、この実施形態においては、前記半導体ウェハ（１０２）などの前記平坦リソグラフィ物体を前記チャックの上に配置するステップ（５０４）を含む。前記方法は、前記チャック（１０４）と半導体ウェハ（１０２）間のキャパシタンスの、前記不要パーティクルにより引き起こされる変化を測定する（５０６）など、前記チャックと前記平坦リソグラフィ物体により、両者の間に形成される少なくとも１つの電気的特性の変化を測定するステップを含む。
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【課題】圧粉磁心部品の内部状態を簡易に評価することができる圧粉磁心部品の内部状態評価方法を提供する。
【解決手段】圧粉磁心部品の比抵抗を測定し、測定した比抵抗値と予め作製した基準圧粉磁心材料について測定した基準比抵抗値とを比較することにより、圧粉磁心部品の製造工程等において、圧粉磁心部品の内部状態を簡易に評価することができる。 （もっと読む）

【課題】各ステントの測定された電気抵抗値に基づいて１つまたは複数のステントの疲労試験を行うためのシステムおよび方法を提供する。
【解決手段】オーム計から延びたリード線の対が各ステントに接続されている。各ステントは、テーパした内側部分を有するエキスパンダー上に取り付けられており、この内側部分に、対応するようにテーパした拡張ピンが受容される。拡張ピンが対応する１つのエキスパンダー内に挿入されると、各ステントに周期的な負荷がかけられる。周期的な負荷がステントの構造および材料の性能を超えると、ステントの疲労または破壊が生じる。このような疲労または破壊は、電気抵抗値の上昇によって確認できる。疲労または破壊の開始をより容易に特定できるように抵抗を連続的に監視することができる。拡張ピンは、可動プレートから延びており、エキスパンダーは、固定プレートから延びた対応するステーションの一部を構成している。 （もっと読む）

【課題】故障位置の特定のみならず、故障状態をも特定することができる半導体デバイスの欠陥評価方法及び欠陥評価装置を提供する。
【解決手段】半導体デバイスの欠陥評価方法は、評価対象の半導体デバイスにプローブ光を照射して半導体デバイスに発生させた電流を検出する第１電流検出ステップと、発生させた電流から半導体デバイスの欠陥位置を検出する欠陥位置検出ステップと、検出した半導体デバイスの欠陥位置にプローブ光を所定範囲で波長を変化させて照射することにより、欠陥位置における電流を検出する第２電流検出ステップと、検出した欠陥位置における電流から欠陥位置の光励起準位を検出する光励起準位検出ステップと、を備える。 （もっと読む）

【課題】多層型パワーモジュールの放熱性能検査を、簡単かつ正確に行う。
【解決手段】過渡熱抵抗測定器２６によって、検査対象の多層型パワーモジュール２０に通電し、通電前後で変化する素子１０のしきい値電圧（Ｖｔｈ）を通電時間（Ｔ）に関連付けて測定し、通電時間毎に通電前後の前記しきい値電圧の変化量（ΔＶｔｈ）を求める。そして、判定手段２８では、特定の二つの通電時間（Ｔ_n、Ｔ_n+1）において生じたしきい値電圧の変化量の差（ΔＶｔｈ_n+1−ΔＶｔｈ_n）を、当該特定の二つの通電時間の差（Ｔ_n+1 −Ｔ_n）で除した算出値を、検査対象の多層型パワーモジュール２０を構成する複数の部材のうち、特定の部材の、放熱性欠陥の有無を把握するための判断資料として用いる。 （もっと読む）

【課題】 電線の表面に点在する表面欠陥による凸部を装置構成が複雑でなく、設置が簡単で、低コストで検出することが可能な電線の表面欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】 内部に中空部を有する筒状体とその端面に設けられた検出導体に被検出対象である電線を貫通移動させる。検出導体は、電線の表面に点在する表面欠陥による凸部と接触可能な位置に配置されており、電線が貫通移動する際、電線の表面欠陥による凸部が存在した場合には、その凸部が検出導体と接触する。
検出導体には外部への接点出力と電源を持つ検出出力部が接続されておりその一方は接地されている。被検出対象の電線の端も接地されており、電線の表面欠陥による凸部が検出導体と接触した場合に、閉ループが構成され、検出出力部から外部に所定の出力が送出することにより電線の表面欠陥による凸部の検出が可能となる。 （もっと読む）

【課題】軸方向及び周方向の２種類のき裂を検出する誘導型交流電位を用いた非破壊検査装置の提供
【解決手段】（ａ）端子ホルダ１２２に周方向欠陥用電位差測定端子１１２を設置しており，端子ホルダ１２４に軸方向欠陥用電位差測定端子１１４を設置している。周方向欠陥用電位差測定端子１１２と軸方向欠陥用電位差測定端子１１４は、２本の端子の向きが互いに９０°となるように設置されている。端子ホルダ駆動カム軸１３８を回転することで、端子ホルダ駆動カム１３２は、端子ホルダ１２２，１２４を上下に動かしている。また、センサ軸１４０には、（ｂ）に示すように、斜め方向に誘導コイル１４２が巻かれている。
このような構成のセンサ部で、誘導コイル１４２に印加される交流電流により誘起される電位差を２方向同時に計測でき、試験体の内面にある、軸方向や周方向のいずれのき裂も検出できる。 （もっと読む）

【課題】接触式ながらモータへの負荷が少なく、簡易かつ正確に流体軸受モータの浮上回転数を検査できる軸受検査方法、及び、当該軸受検査方法による浮上回転数検査を有するモータの製造方法を提供する
【解決手段】流体軸受モータの回転子に固定された回転電極２１と固定電極２３との間に導電性液状物質２２を介在させることで、固定電極２３からの回転子への負荷による、モータ回転数の減少やモータの回転停止は発生せず、正確にモータの浮上回転数の検査を行うことが可能となる。また、流体軸受モータ検査工程の浮上回転数検査で、正確にモータの浮上回転数の検査を行うことができるため、最適な合格判定基準値を用い信頼性の高い浮上回転数の検査を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】最内層が破損したかどうかを容易に判断することができ、包装容器のコストを低くすることができるようにする。
【解決手段】最外層４５、紙基材４６、導電性を有するバリヤ層４８及び最内層４９を備えた包材４１から成り、流動性食品を収容した包装容器の、流動性食品と電気的に接続された第１の導通部に当接させられる第１の電極と、包装容器の、バリヤ層４８の所定の部分から成る第２の導通部に当接させられる第２の電極と、第１、第２の電極間に電圧を印加したときの、電気変量に基づいて最内層４９が破損したかどうかを判断する破損判定処理手段とを有する。第１、第２の電極間に電圧を印加したときの、電気変量に基づいて最内層４９が破損したかどうかを判断するようになっているので、オペレータの主観に基づいて最内層４９が破損したかどうかを判断する必要がない。 （もっと読む）

【課題】従来の問題を解決する、シールの完全性を監視するための方法及び装置を提供することである。
【解決手段】フィルター要素１０がハウジング２０内に包囲され、ハウジング２０と接触してシールを形成する。シール材料には伝導性ガスケットが含まれる。伝導性材料は、その電気抵抗が材料の圧縮あるいは歪みの関数であることがよく知られていることから、その抵抗値を監視する。 （もっと読む）

【課題】被測定半導体装置の故障部位を高感度で迅速に検出できる半導体解析装置を提供する。
【解決手段】被測定半導体装置に電源電圧を供給する電源部と、前記半導体装置の主面にレーザ光を走査しながら照射するレーザ走査部とを有し、前記照射に伴う前記半導体装置を流れる電流の変化を検出して、前記半導体装置の故障部位を解析する半導体解析装置であって、前記電源部から前記半導体装置に供給される電源電圧にリップルを重畳させる重畳部を備える。 （もっと読む）

【課題】迅速に検査結果を出す印刷回路板の検査用の検査装置を改良する。
【解決手段】印刷回路を走査検査装置に関して移動させるための第一駆動ローラ及び第二駆動ローラを各々が有する、上側ハウジング及び下側ハウジングと、上側ハウジング又は下側ハウジングの少なくとも一つ上に位置決めされる印刷回路板を電気的に短絡させるための短絡マトリックスであって、前縁及び後縁を有する、短絡マトリックスと、短絡マトリックスの前縁に隣接しかつ短絡マトリックスの後縁に隣接し、上側ハウジング又は下側ハウジングの少なくとも一つ上に位置決めされた電気接触子とを備え、電気接触子は、検査信号を印刷回路板から測定用電子装置へ伝送する。 （もっと読む）

【課題】簡易な方法で、はんだ接合部に対する加速寿命の信頼性判断を精度良く行う。
【解決手段】接合評価装置は、はんだ接合部８に対して加熱と冷却とを繰り返し行う冷却部１２及び加熱部１３と、熱供給中のはんだ接合部８の抵抗値を所定周期で測定する測定回路部１１及び測定部２２と、抵抗値が測定される毎に得られた抵抗値から抵抗変化率及び抵抗変化率の変化速度を算出する演算部２３と、算出された抵抗変化率の変化速度から該抵抗変化率の速変化度が低下を開始する変曲点に達したか否かを判断する判断部２４と、変曲点に達した後に、抵抗変化率と予め設定された基準閾値とを比較することではんだ接合部８の信頼性に関する評価を開始する評価部２５と、抵抗変化率が予め設定された基準閾値を超えたとき、その旨を報知する報知部３とを備えている。 （もっと読む）