【課題】コイルの絶縁皮膜の傷の状態を検査した後に、絶縁皮膜にダメージを与えることなく、製品化可能なコイルの非破壊検査方法を提供すること。
【解決手段】溶解性パラメータ（ＳＰ値）が１１．０ｃａｌ／ｃｍ²未満であり、分子量が７０以上である有機化合物よりなる導電性液体と、フッ素系不活性溶液とを含有してなる検査液４を検査容器１０内に収容し、モータコア８に装着されたコイル７と、電極２とを検査容器１０の検査液４内に浸漬し、コイル７と電極２との間に電圧を付与して両者の間に流れる電流の値を測定することにより、コイル７の傷の状態を判定する。導電性液体４は、エーテル系、グリコールエーテル系、または炭化水素系であることが好ましい。特に、導電性液体は、酢酸ブチル、３−メトキシ−３−メチル−１−ブタノール、ベンゼン、またはヘプタンであることが好ましい。 （もっと読む）

【課題】接合部など電気伝導性を有する導電部の亀裂面積率を定量的且つ連続的に測定することができる亀裂面積率算出方法および装置を提供する。
【解決手段】本発明の亀裂面積率算出方法は、電気伝導性を有する導電部の亀裂面積率を算出する亀裂面積率算出方法であって、予め求めた導電部の固有抵抗値に基づいて、抵抗変化と亀裂面積率の関係式を設定する関係式設定ステップと、導電部の抵抗変化を測定する抵抗変化測定ステップと、関係式設定ステップで設定された関係式に基づいて、抵抗変化測定ステップで測定された抵抗変化から導電部の亀裂面積率を算出する亀裂面積率算出ステップと、を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】Pool Frenkel障壁高さを求めることにより電子デバイスの絶縁性薄膜の信頼性評価を行う方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様は、ＭＬＣＣ１を用意し、ＭＬＣＣの第１の導電体が抵抗素子２の一方端に電気的に接続され、抵抗素子２の他方端が直流電源３に電気的に接続され、直流電源３がＭＬＣＣ１の第２の導電体に電気的に接続された接続状態で、直流電源３によって抵抗素子２の他方端と第２の導電体との間に電圧Ｖを印加した時に抵抗素子２に流れる電流Ｉを測定し、測定された前記電流Ｉと前記電圧Ｖからｌｏｇ（Ｉ／Ｖ）とＶ^１／２の関係を求め、前記関係を直線近似した近似直線を求め、前記近似直線によってＶ^１／２が０である時のｌｏｇ（Ｉ／Ｖ）の値Ｃを求め、前記値ＣからPool Frenkel障壁高さΦ_ＰＦを求めることにより、前記絶縁性薄膜の質が良いか悪いかを判定する。 （もっと読む）

本発明の解決すべき課題は、高温超伝導帯の超伝導バンドの輸送電流に関する技術利用に関し、大きな工業的スケールでの製造工程での品質のモニタリングを可能にし、且つ、バンドの製造時の全製造速度に実質的に制限されることのない、超伝導バンドの品質管理のための方法および装置を提供することである。
次の（ａ）〜（ｅ）の各工程を含むことを特徴とする、超伝導バンドについての臨界電流の輸送能力に関する超伝導バンドの品質管理方法および装置。
ａ）前記超伝導バンドの長さが前記超伝導バンド部分長の倍数となる該超伝導バンドの部分が、超伝導状態となる時点の温度まで該超伝導バンド部分を冷却する工程と、
ｂ）電圧が一定あるいは時間に依存して調整される輸送電流を生成し、好適には、電圧調整装置により前記輸送電流が生成される該輸送電流を生成する装置手段により、給電コンタクトおよび放電コンタクトの間で、輸送電流を生成するために、
前記バンドの長手方向に離間して配置した給電コンタクトおよび放電コンタクトを有するコンタクト構成により前記バンドと接触させて、前記バンドの長手方向での超伝導バンド部分において電気的な輸送電流を生成する工程と、
ｃ）前記超伝導バンド上、あるいは、前記輸送電流を生成する装置上のどちらか、または、その両方において、前記輸送電流に関して反応する測定装置を設置する工程と、
ｄ）前記超伝導バンドの長手方向の超伝導バンドを介して進む輸送電流を生成するために、移動したバンドについて電気的な接触をすることにより、コンタクト部あるいは測定部のどちらか、または、その両方を介して超伝導バンドの長手方向において、少なくとも前記超伝導バンドの一部分を継続して移動させる工程と、および、
ｅ）物理測定パラメータは、前記超伝導バンド部分、あるいは、前記超伝導バンドの一部分が超伝導状態での電気の輸送特性に関しての測定値であるよう、前記測定部を介して前記バンドの少なくとも一部分が移動する間に前記測定コンタクト手段によって、測定部と結びつけて生成された輸送電流に基づき、前記物理測定パラメータを測定する工程からなる。

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本発明は、ＬＣ共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの検査装置を提供する。本発明に係る検査装置は、ＣＴＳＰのＩＴＯセンサー電極間の静電容量と結合して電気的共振を起こすＬＣ共振回路を含むＬＣ共振部と、前記ＬＣ共振部に接続され前記ＬＣ共振部のＬＣ共振回路を発振し、共振周波数の波形を矩形波に変換するＯＰアンプ駆動部と、前記ＬＣ共振部に接続され前記ＬＣ共振回路と前記ＣＴＳＰのＩＴＯセンサー電極とを対として並列連結するリレー部と、前記ＯＰアンプ駆動部に接続され前記リレー部を駆動し、前記ＯＰアンプ駆動部から出力される前記矩形波をカウントして周波数を測定し、ＣＴＳＰの不良有無を判断するマイコン部とを含んでなる。

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【課題】カーボンブラックを含む印刷インキ用組成物において、漆黒度等のインキ特性を低下させることなく、エージング工程における終点判定、すなわち、ＣＢ粒子表面がビヒクルでよく湿潤されたことの判定を適性に行えるようにすること。
【解決手段】カーボンブラック含む印刷インキ用組成物を分散処理した後、エージングする際に、該印刷インキ用組成物の静電容量を測定し、その測定値の変化率を算出することを特徴とする、印刷インキ用組成物の評価方法、該評価方法を有する印刷インキの製造方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】繰り返し使用によって顕在化される微小欠陥を精度よく検出することが可能な電子写真感光体の検査方法を提供する。
【解決手段】導電性支持体上に感光層を有する電子写真感光体の検査方法において、第１の導電性ローラを電子写真感光体表面に圧接し、該電子写真感光体を回転させながら直流電圧を印加するとともに、該導電性ローラと該電子写真感光体との間で発生する放電領域に対して、電子写真感光体が感度を有する光を照射する第１の工程、及び、第１の工程の後に、電子写真感光体表面に第２の導電性ローラを圧接して、電子写真感光体に直流電圧を印加する第２の工程を行う。第２の工程により、導電性ローラから電子写真感光体へ流れる電流値を、電流測定手段により測定し、測定された電流値に基づいて、電子写真感光体の欠陥の有無を判定する工程を行う。 （もっと読む）

【課題】液晶パネルの寿命検査にかかる時間を短縮するとともに、より現実に近い条件での検査を可能にする。
【解決手段】液晶パネルＰに光を照射する照射部１３と、液晶パネルＰの比抵抗値を測定する比抵抗測定部１１と、基準となる寿命を有する基準液晶パネルＰｒに対して前記光と同等の光を照射した時に、基準液晶パネルＰｒの比抵抗値が所定の値だけ変化するのに要する基準期間を記憶する記憶部１６と、液晶パネルＰの比抵抗値が所定の値だけ変化するのに要した第１期間と基準期間とを比較することにより、液晶パネルの良否を判断する演算部１８とを備える。 （もっと読む）

【課題】遊星ローラ式動力伝達装置に用いる簡単な構成で低コストの内ローラの傷検出手段を提供する。
【解決手段】入力軸１５と一体の太陽ローラ１５ａと、ケーシング１１に回転方向を固定され外周が開いているコの字型断面を有しリング側面１３ｂに押し力を付与することにより内側に変形して内径を小さくする弾性リング内ローラ１３と、出力軸１６と一体のキャリア１６ａに固設されたキャリアピン１４に回転自在に支承された複数の遊星ローラ１８とにより構成され、それぞれのローラが予圧状態で外接及び内接されてなる遊星ローラ式動力伝達装置において、弾性リング内ローラ１３の外向き溝内に該溝に沿って導線が巻き付けられたコイル３１が形成され、コイル３１に交流電流を流してインピーダンスを測り、該インピーダンスの変化より弾性リング内ローラ１３のひび、割れ等の傷の故障を検出する手段を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】傷サイズを精度良く求めることができるコイル傷検査方法の実用性を確保すべく、所望する既知の大きさで模擬的なコイル傷を再現性良く形成することができ、かつ、容易に安定的に得ることができる基準電極を提供する。
【解決手段】基準電極１には、ベース基板２と、該ベース基板２上に形成されるパターン４と、該パターン４を覆って形成されるレジスト３と、を備えるプリント基板が用いられ、レジスト３を所定の大きさだけ除去して、パターン４を所定の大きさだけ露出させることによって、所定の既知の大きさで導体露出部５を形成する。 （もっと読む）

【課題】静電集塵式の粒子状物質センサを用いつつ、高い精度で故障を検知できる排気浄化フィルタの故障検知装置を提供すること。
【解決手段】本発明のＤＰＦの故障検知装置は、センサ電極部に所定の電圧を印加することでこのセンサ電極部にＰＭを付着させるサンプリング処理（Ｓ３）を実行した後、センサ電極部の静電容量変化量ΔＣを測定する測定処理（Ｓ４）を実行する。また、サンプリング処理を実行している間におけるエンジンの運転状態を示す運転状態パラメータ（回転数Ｎ，燃料噴射量Ｗ）を記録しておき、この運転状態パラメータ（回転数Ｎ，燃料噴射量Ｗ）と、測定された静電容量変化量ΔＣと、に基づいてＤＰＦの故障を検知する。 （もっと読む）

【課題】巻線及びウェッジ監視システムを、緩みの発生予測が可能となるよう改良する必要がある。更に、予防保全に役立つよう、この監視システムに、巻線の温度と部分放電とを検出する特徴を加える。
【解決手段】巻線診断システムを開示する。このシステムは、磁束を発生させる巻線から成る鉄心を有する。巻線を正位置に担持するために、担持装置３２が設置されている。このシステムは更に、センサ５０を有し、このセンサ５０は、担持装置３２の状態を検出し、巻線の少なくとも１つの態様を示す信号を発する。センサ５０は、圧電センサ５０とすることができ、巻線の少なくとも１つの態様に関連付けられた信号を発するようにできる。巻線の態様を、温度、振動、及び、部分放電のうち少なくとも１つから構成することができる。 （もっと読む）

【課題】電子デバイスの電気的特性評価方法及び電子デバイスの電気的特性評価装置に関し、実電子デバイスの電気特性を高精度でモニタリングするとともに、実測したモニタリング結果から抽出した物性値を用いて理論計算を行って精度の高いキャリア分布を取得する方法の提供。
【解決手段】電子デバイス試料の電気的物性値を測定する測定工程と、前記電子デバイス試料の歪み分布及び元素分布を数値的に畳み込んだ電気抵抗モデルを用いて、前記電子デバイス試料の電気的物性値を計算する計算工程と、前記測定工程で取得した実測値と前記計算工程で取得した計算値を照合して、前記実測値との差分が最小になるまで畳み込みの度合いを変化させて反復計算を続ける反復計算工程とを用いて前記電子デバイス試料のキャリア分布を取得する。 （もっと読む）

【課題】オープン不良だけでなく、不濡れ不良も精度良く検出することができる電子装置の接続状態検査方法を提供する。
【解決手段】電子部品の一面に配列された複数のはんだバンプと、はんだバンプに対応して配線基板における電子部品搭載面に形成された複数のランドとを接続し、配線基板の上方に電子部品を実装してなる電子装置において、はんだバンプとランドとの接続部位の電気的な接続状態を検査する接続状態検査方法であって、接続部位として、電子部品の一面にはんだバンプに隣接して形成された検査用はんだバンプと、検査用はんだバンプに対応して配線基板に形成された検査用ランドからなり、電気的な接続機能を提供しない検査用の接続部位を含み、電子部品及び配線基板の少なくとも一方に、上記検査用接続部位における電子部品と配線基板とが離反する方向の外力を印加した状態で、検査用の接続部位の抵抗値を測定するようにした。 （もっと読む）

測定回路（１）は、カードスライバ、ロービング、糸又は織布のように動かされる縦長の繊維供試品の容量性検査のために使用することができる。それは供試品を受入れる測定コンデンサ（２）を含んでいる。更にそれは、電気制御信号（７１）により可変な容量を持つ部材（３）を含んでいる。それにより測定回路（１）を簡単に速やかに安価にかつ特に自動的に整合することができる。
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【課題】導電性内容物の絶縁性密封容器に高電圧を印加させてリークの有無を迅速かつ正確に判定する。
【解決手段】導電性内容物が封入された被検査物１２に高電圧を印加して前記被検査物１２を流れる電流の受信信号をＡ／Ｄ変換してリークの有無の判定を行う密封容器のリーク検査方法において、前記Ａ／Ｄ変換した後、放電ノイズを除去する最小値フィルタ処理を行い、前記最小値フィルタ処理後の受信信号と予め定めた閾値とに基づいて、リークの有無の判定を行うことを特徴としている。 （もっと読む）

【課題】被架設物にＳＭＡを固定した状態でＳＭＡの張力を検査することができる検査装置、検査方法を提供する。
【解決手段】被架設物に架設し固定された形状記憶合金の張力を検査する検査装置であって、架設した形状記憶合金の抵抗値を測定する抵抗値測定手段を有することを特徴とする検査装置。 （もっと読む）

【課題】試料を破壊することなく、迅速かつ正確にシリコン半導体薄膜の結晶性の評価結果を得ること。
【解決手段】基材上に成膜されたシリコン半導体薄膜の結晶性を評価するための装置であって、シリコン半導体薄膜の表面の所定の領域にキャリアを励起させるための励起光１４を照射するＬＥＤ１と、前記所定の領域における表面光電圧を検出してその検出信号を出力する透明電極６と、前記検出信号を処理してシリコン半導体薄膜の結晶性を評価するためのデータを作成する信号処理装置１１とを備えている。 （もっと読む）

【課題】基板を平坦化しつつ支持するとともに測定部を基板に容易に近接させて高精度な測定を実現する。
【解決手段】基板測定装置では、第１多孔質部材２１１から基板９の上面９１上の対象領域９１１の周囲に向けて第１流体が噴出され、基板９を挟んで第１多孔質部材２１１と対向する第２多孔質部材２２１から基板９の下面９２に向けて第２流体が噴出される。これにより、第１多孔質部材２１１と第２多孔質部材２２１との間において基板９を平坦化しつつ支持することができる。また、測定部移動機構４により測定電極３１を第１多孔質部材２１１に対して上下方向に相対的に移動することにより、第１流体の制御のみでは近接させることが困難な所望の位置（測定電極３１と基板９の上面９１との間の距離が０．３μｍとなる位置）まで測定電極３１を基板９に容易かつ迅速に近接させることができ、これにより、高精度なＣ−Ｖ特性の測定を実現することができる。 （もっと読む）

【課題】連続的な測定が可能であり、また、シート表面を損傷によるシート材の性能低下を生じさせることがない、シート材の欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】導電性添加材を分散させた樹脂を押し出し成形により成形されたシート材１００の表面に測定用電極１３，１４を当接させて電気抵抗を測定する測定装置１を用い、前記測定用電極１３を前記シート材１００の幅方向端部１０４に配置し、前記シート材１００を周方向に連続的に移動させて検出信号を連続的に検出し、前記検出信号に基づいて前記検出信号の所定周期を有する抵抗変化をハイパスし、前記ハイパスされた抵抗変化に基づいて前記シート材の欠陥の有無を検出する。 （もっと読む）