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Fターム[2H025AA02]の内容

フォトレジストの材料 (104,520) | 目的 (13,098) | 解像度 (2,108)

Fターム[2H025AA02]に分類される特許

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【課題】 解像性が高く、優れた屈曲性および難燃性を有する膜が得られる感放射線性樹脂組成物および感放射線性カバーレイ、並びに感放射線性カバーレイから得られる保護膜を有するフレキシブルプリント配線板を提供する。
【解決手段】 本発明の感放射線性樹脂組成物は、(A)成分:酸変性エポキシアクリレート樹脂、(B)成分:カルボキシル基およびび水酸基を有し、かつガラス転移温度が0℃以下の架橋ポリマー粒子、(C)成分:リン含有重合性化合物、(D)成分:光重合開始剤、および(E)成分:溶剤を含有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】高感度、高解像度のフォトレジスト材料を提供する。
【解決手段】下記式(1)で表される1〜4種類の環状化合物が90%以上含まれる組成物。


[式中、8個のRは、m個(mは0〜7から選択される1〜4種類の整数)の水酸基と、n個(nは8−mの1〜4種類の整数)の水酸基以外の同一の置換基である。] (もっと読む)


【解決手段】(A)一般式(1)で表される繰り返し単位を有する高分子化合物、(B)ラクトン環及び/又は水酸基及び/又は無水マレイン酸由来の骨格を有し、酸の作用によりアルカリ現像液に可溶となる高分子化合物、(C)高エネルギー線の露光により酸を発生する化合物、(D)有機溶剤を含有するレジスト材料。


【効果】本発明のレジスト材料は、波長200nm以下の放射線に対して優れた透明性を有し、樹脂構造の選択により液浸リソグラフィーにおける各種性能の調整が可能で、入手及び取り扱いが容易な原料からの製造が可能である。 (もっと読む)


【課題】絶縁膜を形成する際の基板の反りが抑えられ、且つ優れた解像性、電気絶縁性等を有するネガ型感光性絶縁樹脂組成物、及びこれが硬化されてなる硬化物を提供する。
【解決手段】(A)下記式(1)で表される構造単位(a1)と、下記式(2)で表される構造単位(a2)とを有するブロック共重合体、(B)分子中に2個以上のアルキルエーテル化されたアミノ基を有する化合物(b1)、オキシラン環含有化合物(b2)及びオキセタニル環含有化合物(b3)から選ばれる少なくとも1種の化合物、(C)光感応性酸発生剤、(D)溶剤を含有するネガ型感光性絶縁樹脂組成物。
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【課題】 基板に対する密着性に優れ、高感度、高解像度のパターンを形成できる感光性樹脂として有用な共重合体を提供する。
【解決手段】 分子内に炭素炭素二重結合を複数個有するビニル単量体[(メタ)アクリル酸エステル誘導体及び(メタ)アクリル酸アミド誘導体を除く](ビニル単量体A)と、カルボキシル基又はカルボン酸無水物基を有するビニル単量体(ビニル単量体B)とを少なくとも含む単量体混合物を重合して得られる共重合体。ビニル単量体Aには、下記式(1)
【化1】


(式中、R1は水素原子又は置換基を有していてもよい炭化水素基を示し、R2、R3及びR4は、同一又は異なって、水素原子又はメチル基を示し、Xは連結基を示す。nは1〜3の整数を示す)で表される化合物が含まれる。 (もっと読む)


【課題】液浸露光法において用いられる上層膜形成組成物であって、焦点深度を向上させることができ、且つ、良好なパターンを得ることができる上層膜形成組成物および該上層膜形成組成物から得られる上層膜並びに該上層膜を用いたパターン形成方法を提供する。
【解決手段】フォトレジスト膜の表面上に上層膜を形成するために用いられる上層膜形成組成物であって、該組成物は、前記フォトレジスト膜を現像する現像液に溶解する樹脂成分(A)とアミド基含有化合物(B)とを含有する上層膜形成組成物である。 (もっと読む)


【課題】高感度であり、基板依存性がなく、塩基性基板を用いた場合でもプロファイル形状の優れたポジ型レジスト組成物及びこれを用いたパターン形成方法の提供。
【解決手段】酸の作用により分解してアルカリ可溶性基を生じる基、及び、ジアゾ基を少なくとも1つずつ有する化合物(N)を含有することを特徴とする化学増幅型ポジ型レジスト組成物及びこれを用いたパターン形成方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】レジストパターンの倒れ、ラインエッジラフネス、並びにスカムの発生が改良され、プロファイルの劣化も少なく、更に、液浸露光時に於ける液浸液に対する追随性が良好であるレジストパターンを形成することが可能な感光性レジスト組成物、及び該感光性レジスト組成物を用いたパターン形成方法を提供すること。
【解決手段】(A)酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解度が増大する樹脂、(B)活性光線または放射線の照射により酸を発生する化合物、(C)主鎖にエーテル結合及びフッ素原子を有する樹脂、を含有する感活性光線または感放射線性樹脂組成物。 (もっと読む)


【課題】絶縁膜を形成する際の基板の反りが抑えられ、且つ優れた解像性、電気絶縁性等を有するポジ型感光性絶縁樹脂組成物、及びこれが硬化されてなる硬化物を提供する。
【解決手段】本発明のポジ型感光性絶縁樹脂組成物は、(A)下記式(1)で表される構造単位(a1)と、下記式(2)で表される構造単位(a2)とを有するブロック共重合体、(B)架橋剤、(C)キノンジアジド基含有化合物、(D)溶剤、を含有する。


[式(1)のRは水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基を表す。また、式(2)のR及びRは炭素数1〜4のアルキル基を表す。] (もっと読む)


【解決手段】一般式(1)で表される繰り返し単位を有する高分子化合物(P1)を含むレジスト保護膜材料。


(R1は水素原子、メチル基又はトリフルオロメチル基である。R2a及びR2bは水素原子、又は炭素数1〜15の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基であり、R2aとR2bは互いに結合してこれらが結合する炭素原子と共に環を形成することもできる。R3は単結合、又は炭素数1〜15の直鎖状、分岐状又は環状のアルキレン基である。R4は炭素数1〜20の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基又はフッ素化アルキル基であり、−O−又は−C(=O)−を含んでもよい。)
【効果】上記レジスト保護膜材料はヘキサフルオロアルコールの水酸基が保護された構造を含み、波長200nm以下の放射線に対して優れた透明性を有する。 (もっと読む)


【課題】90nm以下の短波長の光源を用いた微細なレジストパターンの形成に対応することができ、解像性能に優れるだけでなく、LWRが小さく、PEB温度依存性が良好で、パターン倒れ耐性および欠陥性能に優れ、液浸露光工程においても好適に用いられる。
【解決手段】側鎖にアダマンチルラクトンを有する繰り返し単位(a−1)、および酸解離性基を有する繰り返し単位(a−2)を含む樹脂(A)と、特定構造のスルホニウム塩を含む感放射線性酸発生剤(B)とを含有する。 (もっと読む)


【課題】放射線に対し高い感度を有し、密着性、高耐熱性、解像度、高透過率、高信頼性の層間絶縁膜を形成でき、またマイクロレンズの形成に用いる場合にあっては高い透過率と良好なメルト形状を有するマイクロレンズを形成でき、保存安定性に優れた感放射線性樹脂組成物を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、(A)共重合体、(B)1,2−キノンジアジド化合物を含有する感放射線性樹脂組成物であって、(A)共重合体が、(a1)不飽和カルボン酸及び/又は不飽和カルボン酸無水物、並びに(a2)エポキシ基含有不飽和化合物を含む単量体を、下記式(1)で表される化合物の存在下で重合する工程を経て製造された共重合体を含む感放射線性樹脂組成物によって達成される。
【化1】



〔式(1)において、ZおよびZ2 は相互に独立に炭素数4〜18のアルキル基または置換されていてもよいベンジル基を示す。〕 (もっと読む)


【課題】活性光線又は放射線に感応し、ナノエッジラフネス、感度及び解像度に優れ、微細パターンを高精度に且つ安定して形成可能な化学増幅型ポジ型レジスト膜を成膜できる感放射線性樹脂組成物等を提供する。
【解決手段】本組成物は、樹脂と、式(b1)の酸発生剤と、低分子化合物とを含有しており、該低分子化合物は、式(c1)の化合物、窒素原子を2個有する化合物、窒素原子を3個以上有する化合物等のうちの1種である。
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【課題】微細なレジストパターンを良好な形状で形成できるポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法を提供する。
【解決手段】酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)、および露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有するポジ型レジスト組成物であって、前記基材成分(A)が、ヒドロキシスチレンから誘導される構成単位(a10)、側鎖に3級炭素を有する脂肪族単環式基を有する構成単位(a11)および側鎖に3級炭素を有する脂肪族多環式基を有する構成単位(a12)を有する高分子化合物(A1)を含有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】感度、解像度、密着性、レジスト形状及び硬化後の剥離特性がいずれも良好な感光性樹脂組成物、並びにこれを用いた感光性エレメント、レジストパターンの形成方法及びプリント配線板の製造方法を提供すること。
【解決手段】(A)バインダーポリマー、(B)光重合性化合物及び(C)光重合開始剤を含有する感光性樹脂組成物であって、(B)が式(1)の化合物を含む感光性樹脂組成物。
[化1]


[式中、R及びRは水素原子又はメチル基を示し、Yは炭素数3〜9の脂環式環を示し、2個のベンゼン環は上記脂環式環の同一炭素に結合し、−(AO)−及び−(OB)−は、(ポリ)オキシエチレン鎖、(ポリ)オキシプロピレン鎖、又はエチレンオキサイドとプロピレンオキサイドとの共重合鎖を示し、オキシエチレン基の総数は1〜40であり、オキシプロピレン基の総数は0〜40である。] (もっと読む)


【課題】解像性能に優れるだけでなく、LWRが小さく、パターン倒れ耐性に優れ、且つ、欠陥性にも優れた化学増幅型レジストとして有用な感放射線性樹脂組成物およびこの感放射線性樹脂組成物に樹脂成分として使用できる重合体を提供する。
【解決手段】樹脂(A)と、感放射線性酸発生剤(B)とを含有する感放射線性樹脂組成物。樹脂(A)が、ノルボルナンラクトンを末端に有するオキシアルキレン基で置換された(メタ)アクリル酸エステルに由来する特定の繰り返し単位(a−1)と、スルホンアミド基を有する(メタ)アクリル酸エステルに由来する特定の繰り返し単位(a−2)と、酸解離性基を有する繰り返し単位(a−3)とを含む重合体である。 (もっと読む)


【課題】解像性能に優れるだけでなく、LWRが小さく、パターン倒れ耐性に優れ、且つ、欠陥性にも優れる。
【解決手段】樹脂(A)と、感放射線性酸発生剤(B)とを含有し、樹脂(A)が、側鎖にノルボルナンカルボン酸に由来するラクトン骨格を有する繰り返し単位(a−1)と、側鎖に1,1,1−トリフルオロ−2−トリフルオロメチル−2−ヒドロキシ構造を有する繰り返し単位(a−2)と、酸解離性基を有する繰り返し単位(a−3)とを含む重合体である感放射線性樹脂組成物。 (もっと読む)


【課題】ArFエキシマレーザーを高原とするフォトリソグラフィー工程に用いられ、90nm以下の線幅を可能とする短波長の光源を用いた微細なレジストパターンの形成に対応することができ、解像性能に優れるだけでなく、パターン倒れ耐性にも優れた樹脂の提供。
【解決手段】ノルボルナンカルボン酸に由来する特定のラクトン骨格を側鎖に有する(メタ)クリル酸エステル(a−1)および特定のアダマンタン骨格を側鎖に有する(メタ)クリル酸エステル構造単位(a−2)とからなる樹脂(A)と、感放射線性酸発生剤とからなる樹脂組成物。 (もっと読む)


【課題】高い解像性で、良好な形状のレジストパターンを形成できるポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法を提供する。
【解決手段】酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)、および露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有するポジ型レジスト組成物であって、前記基材成分(A)が、ヒドロキシスチレンから誘導される構成単位(a10)、側鎖に3級炭素を有する脂肪族単環式基を有する構成単位(a11)および側鎖に酸解離性基含有エステル構造含有基を有する構成単位(a13)を有する高分子化合物(A1)を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。 (もっと読む)


【課題】高い解像性で、良好な形状のレジストパターンを形成できるポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法を提供する。
【解決手段】酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する基材成分(A)、および露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有するポジ型レジスト組成物であって、前記基材成分(A)が、ヒドロキシスチレンから誘導される構成単位(a10)および下記一般式(a11−1)で表される構成単位(a11)を有する高分子化合物(A1)を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。
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