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Fターム[2H052AB17]の内容

顕微鏡、コンデンサー (26,857) | 顕微鏡の観察光学系 (3,012) | 2個以上の光路を持つもの (1,321)

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【課題】測定時間又はアライメント時間の短縮を実現する画像測定装置を提供する。
【解決手段】画像測定装置は、被測定対象を載置する測定テーブルと、被測定対象を撮像する異なる位置に設置された複数の撮像手段と、前記複数の撮像手段によって得られた前記被測定対象の画像を表示する測定表示部と、前記複数の撮像手段を前記測定テーブルに対して相対的に移動させる移動手段と、前記複数の撮像手段によって得られた前記被測定対象の画像情報を入力して前記被測定対象の測定処理を実行する測定処理手段とを備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】顕微鏡装置を構成する光学系により生じる偏光状態の変化を補正することが可能な顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】顕微鏡装置100を、照明光L1を射出する光源1と、NAが1以上の領域を透過する照明光L1を試料30に照射する対物レンズ4と、照明光L1を直線偏光状態に変換するポラライザ5と、ポラライザ5を透過した照明光L1を対物レンズ4の瞳面4aに集光する集光レンズ6と、試料30を出射し、対物レンズ4を透過した観察光L2を集光して試料30の像Iを結像する結像レンズ8と、透過する光の偏光面がポラライザ5と直交するように配置されたアナライザ9と、ポラライザ5と集光レンズ6との間に配置された第1のコンペンセータ7と、から構成とする。 (もっと読む)


【課題】操作性向上とユーザーの負担低減を図ることができるようにする。
【解決手段】顕微鏡システムは、各種光学部材の駆動を行うことで第一の観察方法と第二の観察方法を切り換えて観察を行うものであり、観察体19を移動させる電動ステージ20と、観察体19の撮影を行うビデオカメラ3と、ビデオカメラ3により撮影された観察体19の画像を蓄積する画像データ記録部4と、観察体19の画像の表示を行うモニター5と、画像データ記録部4により蓄積された第一の観察方法における観察体19の画像から観察体19の指標画像を作成する事や観察体19の画像に指標画像を重ね合わせ表示する事などを行うホストシステム2等を備える。ここで、ホストシステム2は、第二の観察方法による観察時、観察体19の画像に指標画像を重ね合わせ表示し、指標画像が電動ステージ20の動きに連動して移動する。 (もっと読む)


【課題】試料を斜め方向から観察する際にも観察位置を迅速に認識できるようにする。
【解決手段】対物レンズ105a若しくは105bを備えており、ステージ102の載置面上に載置された試料101の光学像を得る光学系が鏡筒部106に備えられている。制御部は、この光学系に備えられている開口絞り112の開口径を、当該載置面に対するこの光学系の光軸の傾き角度に基づいて制御することによって、当該光学系の被写界深度を制御する。 (もっと読む)


【課題】対象物における微小な高さを測定するに際し、測定に要する時間を短くし、ケース内のICの検査を可能にし、繰り返し測定精度を高め、測定装置の構成を簡易なものとする。
【解決手段】光軸に関して対称的に配設された1対の異なる色のフィルターF1,F2が設けられたフィルター付マスクMと撮像用レンズLとを備えた撮像用光学系を有する撮像装置で対象物をその基準表面に対して合焦させて撮像し、得られた画像について画像解析を行い、画像における対象物の凸部または凹部についての異なる色で分離した像の重心位置の間隔を算出する。一方で、この異なる色で分離した像の重心位置の間隔と凸部の高さまたは凹部の深さとの比例関係を表す換算係数を予め求めておき、この換算計数と実際に撮像により得られた重心位置の間隔とから凸部の高さまたは凹部の深さを求める。 (もっと読む)


【課題】液浸対物レンズの光学性能を低下させることなく、長時間の観察を行えるようにする。
【解決手段】光ファイバ81と受光センサ82からなる検知部は、液浸用の対物レンズ22Aと底部透明部材2Aとの間に満たされている液浸水71の残量を検知し、リザーバ83は、液浸水71の残量が不足している場合、補充用に溜められた水72を、液浸用の対物レンズ22Aと底部透明部材2Aとの間に供給する。これにより、液浸用の対物レンズ22Aの先端の液浸部は、常に十分な量の液浸水71で満たされることになるので、長時間の観察を行う場合でも液浸用の対物レンズ22Aの光学性能が低下することはない。本発明は、液浸対物レンズ有する顕微鏡で用いられる液体供給装置に適用できる。 (もっと読む)


【課題】本発明では、経験の有無に係わらず全ての観察者が異物付着位置特定および異物除去が行えるようにすることを目的とする。
【解決手段】顕微鏡を構成する光学ユニット毎に、顕微鏡または撮像装置の光路上にある光学ユニットに異物が付着しているか否かをユーザに確認させる異物確認情報と、異物を取り除く異物除去情報が格納されている格納手段と、操作対象の顕微鏡を構成する光学ユニットに関する情報を取得する対象ユニット情報取得手段と、格納手段から取得した光学ユニットに対応する異物確認情報及び異物除去情報を抽出し、抽出した異物確認情報または異物除去情報に対して、対話形式でユーザが質問に答えていくことによって、次の画面に順次移行するウィザード画面を生成するウィザード画面生成手段と、そのウィザード画面を表示させる表示制御手段と、を備える異物確認除去誘導システムにより、上記課題の解決を図る。 (もっと読む)


【課題】比較的簡便な構成でかつコストをさほど高めることなく、ワークの表面及び裏面を高精度に観察することを可能とするワークの表面及び裏面観察装置を提供する。
【解決手段】第1,第2の面4a,4bを有する透光体4の第2の面4bに光を反射させる反射層5が形成されており、第1の面4a上にワーク2が載置され、反射鏡3と隔てられて凸レンズ6が設けられており、凸レンズ6及び反射鏡3の少なくとも一方を光軸6aに沿って移動させるように移動装置8が設けられており、移動装置8により、凸レンズ6とワーク2の表面2aとの間の距離が凸レンズ6の焦点距離となる第1の間隔と、凸レンズ6から透光体4を通り、反射層5で反射され、ワークの裏面2bに焦点を結ぶ第2の間隔との間で光軸に沿って凸レンズ6及び/または反射鏡3が移動装置8により移動される、ワークの表面及び裏面観察装置。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、任意のタイミングで精細な画像を得ることができる生体観察装置を提供することにある。
【解決手段】本発明は、励起光ビームを射出するための光源部と、前記励起光ビームを走査するための走査光学系と、前記励起光ビームを生体試料に照射するための対物レンズと、前記生体試料に接触する生体接触面を有し、かつ前記走査光学系による第1の走査線におけるマーカ断片の距離と、第2の走査線におけるマーカ断片の距離との違いに基づいて復元可能なマーカが前記生体接触面上に配置された、マーカ付与手段と、前記生体試料からの検出光を検出する検出光学系と、前記検出光学系から出力された電気信号を画像データとして表示する画像表示手段と、前記画像表示手段によって表示された画像データを前記マーカの位置情報に基づいて再構成する画像再構成手段と、を具備する、生体観察装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】レーザー光の照射領域を調節するとともに、その照射領域の中で強度を均質に保つ照明手段を備えた顕微鏡を提供する。
【解決手段】上記課題は、レーザー光源から順に、ビーム径を変更する光学系と、標本面と共役な位置に配置された視野絞りとを備え、以下の関係式を満たすことによって解決される。
A≦D/2
ただし、Aは前記視野絞りの径、Dは前記視野絞りに入射するビームのビーム径とする。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、正立顕微鏡と倒立顕微鏡とを備えた顕微鏡装置に関し、試料の水平方向の同一位置を上方および下方から容易,確実に観察することを目的とする。
【解決手段】 試料の上方から前記試料の観察像を取得する正立顕微鏡と、前記試料の下方から前記試料の観察像を取得する倒立顕微鏡と、前記正立顕微鏡および前記倒立顕微鏡において観察する前記試料を載置する共通のステージと、前記正立顕微鏡または前記倒立顕微鏡で観察した前記試料の水平方向の観察位置が、前記倒立顕微鏡または前記正立顕微鏡の水平方向の観察位置になるように前記ステージを移動する移動手段とを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】容易にズーム倍率が確認できるズーム顕微鏡を提供すること。
【解決手段】ズーム変倍操作に応じて変倍する顕微鏡100に備えられているズーム光学系10のズームレンズ群を移動させるズームレンズ移動手段の変位を検出し、前記ズームレンズ移動手段のいずれかの部材と係合する係合部を有する変位検出手段と、前記変位検出手段を保持し、前記ズーム光学系10と顕微鏡100に備えられている他の光学系11との間の光路に着脱可能であり、装着時前記係合部が前記ズームレンズ移動手段のいずれかの部材と係合する保持手段とを有することを特徴とするズーム倍率検出ユニット20。 (もっと読む)


【課題】簡便な方法でありながら試料の最表面の検出精度を維持する。
【解決手段】一の走査位置50の周囲走査位置の第1層の高さ情報の平均値が演算される(S801)。当該走査位置50の全ての層に関して、各高さ情報と平均値との差分が演算される(S802)。当該走査位置50に含まれる層の上記差分値が最も小さい層が検出される(S804)。そして、周囲の走査位置の第1層と相関が最も大きい当該走査位置50の層の高さ情報が最表面高さ情報として再設定される(S805)。 (もっと読む)


【課題】非常に強化された深度即ちZ方向の分解能を提供する3次元光学顕微鏡法のための方法及び装置を提供する。
【解決手段】標本(94)についてデュアル対向対物レンズ(70、72)及び拡張インコヒーレント照明(84)を用いて向上された深度分解能を提供する3次元光学顕微鏡法のための方法及び装置が開示される。両対物レンズからの観察光は画像検出器(128)に入射され、ここで光路長調節器(138)によって干渉させられる。 (もっと読む)


【課題】 画像処理ソフトの操作が不要で、ユーザーが特に意識することなく、リアルタイムに画像比較できる共焦点顕微鏡システムを実現する。
【解決手段】 複数の光路21,22を有し、光路の切り換えによって上下または左右の方向が変わる画像を撮像手段5を介して画像取込装置6に取り込む共焦点顕微鏡システムにおいて、画像回転ユニット7は、光路切換信号に対応して、複数光路21,22による画像が同一撮像方向となるように、撮像手段5から出力された画像データを上下または左右の方向に反転、および90度の整数倍回転、の少なくともいずれかで処理し画像取込装置6に出力する。 (もっと読む)


【課題】非共鳴背景信号現象の影響を受けることなく、弱い信号においても雑音に強く、優れた感度および分解能を有するコヒーレントアンチストークスラマン散乱を用いた映像獲得装置および方法を提供する。
【解決手段】アンチストークス周波数を有するアンチストークス光を発生させるためにポンプ光およびストークス光を試料に照射するためのポンプ光源およびストークス光源と;参照光を発生させるための参照光源;および前記アンチストークス周波数付近における前記試料の屈折率の変化による前記参照光の位相変化を利用して前記試料の映像を獲得する映像獲得手段を含む。 (もっと読む)


【課題】本発明は、複数のスライス画像を同時取得することが可能であり、しかもそれらのスライス画像の高さ関係を変更することのできる共焦点顕微鏡を提供する。
【解決手段】共焦点顕微鏡は、点光源(231)を形成する点光源形成光学系(24)と、前記点光源から射出した照明光を試料上に集光する集光光学系(25,26)と、前記照明光に応じて前記試料から射出し前記集光光学系へ入射した観察光を、前記照明光の集光点と共役な位置に配置された共焦点絞り部(280)を介して検出器(57)で検出する検出光学系(24,27,57)とを備え、前記点光源形成光学系と前記検出光学系とからなる照明検出ユニット(100)は、前記集光光学系の光軸方向に亘って複数化されており、複数の前記照明検出ユニット(100A,100B,100C)は、前記点光源と前記共焦点絞り部との光学的関係を個々のユニット内で保持しつつ、前記点光源から前記集光光学系までの光学的距離をユニット毎に調節することが可能であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】使用波長ごとにビームスプリッタを交換しないことによって、簡便でコンパクトな光学機器を提供する。
【解決手段】直線偏光を試料に照射して、前記試料から放射される光線を検出する光学機器において、実質的に波長依存性のない平行平面板ガラス5を、前記直線偏光の照明光路と前記光線の検出光路の合成部分に配置し、前記直線偏光を前記平行平面板ガラス5へS偏光で入射してその反射光を前記試料へ導き、前記試料からの前記光線は前記平行平面板ガラス5を透過させて検出することを特徴とすることによって解決される。 (もっと読む)


【課題】波面収差補償技術を採用して広範囲の対象物について観察または計測をすることができる観察装置を提供する。
【解決手段】観察装置1は、光源部10、二軸走査系20、波面変調部30、光分岐部40、光検出部50、波面検出部60および制御部70等を備える。波面変調部30は、入力光の収差を補償する補償用位相パターンを呈示するとともに、入力光を第1および第2の光に分岐する分岐用位相パターンを呈示する。波面検出部60は、入力された光を受光して、その光の波面を検出する。波面検出部60による光の波面歪みの検出と、この検出結果に基づく制御部70による位相パターンの調整と、波面変調部30による位相パターンの呈示と、を含むループ処理において、波面収差補償を行う為の補償用位相パターンはフィードバック制御される。 (もっと読む)


【課題】できるだけ試料に光を当てる時間を短くして観察を行うことを可能にする撮像型顕微鏡装置における透過ディテクタのゲインの決定方法を提供する。
【解決手段】蛍光を使用した試料の観察が終わったら、装置の状態を変化察せず、そのときの画像の明るさをT、前記光源111の光量をLとするとき、透過ディテクタ113のゲインGを
G=T/(L・α) …(1)
として求める。ただし、αは、照明装置の対物レンズ118a〜118cと透過ディテクタ113との間にある光学要素によって予め定まる定数である。 (もっと読む)


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