【課題】修正液を継続的に供給することが可能なため、画素欠陥を一回で修正することができる画素修正装置および画素修正機台を提供する。
【解決手段】画素修正装置は、表示パネル１０１中の欠陥画素１０２を修正し、修正液を収納する容器と、容器と連通するノズル１０６ａ，１０６ｂ，１０６ｃ，１０６ｄと、容器と接続し、修正液を駆動し、ノズル１０６ａ，１０６ｂ，１０６ｃ，１０６ｄから流出させるエアポンプ１０７と、を備える。 （もっと読む）

【課題】最表面の性質を評価することの可能な評価装置を提供する。
【解決手段】基材Ｍの一の表面上に誘電率または分極率の異方性を有する薄膜Ｆが形成された積層基材Ｓに向かって所定の光を所定の角度で射出する光射出部１０と、積層基材Ｓを通過した光を検出する光検出部２０と、光検出部２０で検出した光の光強度情報を用いて基材Ｍの薄膜Ｆ側の表面状態を評価する評価部３０とを備える。積層基板Ｓでは、薄膜Ｆが基材Ｍの薄膜Ｆ側の表面を構成する分子または分子の一部を構成する原子団との間で相互作用を起こし、基材Ｍの薄膜Ｆ側の表面状態に応じた光学作用が発現するので、薄膜Ｆによって発現した光学作用を受けた光の光強度情報には、基材Ｍの薄膜Ｆ側の表面状態を反映した情報が含まれている。これにより、基材Ｍの薄膜Ｆ側の表面状態を反映した情報が含まれた光強度情報から、基材Ｍの最表面の性質を評価することができる。 （もっと読む）

【解決手段】本発明は、光学機能部材と表示部とが一体化された光学機能部材一体型表示装置の製造方法において、上記光学機能部材と上記表示部とを接着する接着剤組成物には、原料ポリマー、光重合開始剤及び有機過酸化物が含有されなり、この接着剤組成物を予め光硬化させて部分的に架橋状態の接着剤組成物を作製し、次いで、この接着剤組成物を介して上記光学機能部材と上記表示部とを貼り合わせ、その後、加熱処理により上記接着組成物を熱硬化させることを特徴とする光学機能部材一体型表示装置の製造方法を提供する。
【効果】本発明の製造方法によれば、被着体との密着性に優れ、冷熱サイクル試験等の耐久試験をクリアーした光学機能部材一体型表示装置を製造方法することができ、工業的に有利な製造方法である。 （もっと読む）

【課題】表示パネルに光を照射して異物検査を行なうための表示パネル検査治具において、表示パネルの載せ替え作業がしやすく、なおかつ、光漏れを抑えることができるようにする。
【解決手段】表示パネル検査治具１０３は、表示パネル１に下方から光を照射するための開口部２と、表示パネル１を載せるための平坦な上面５において開口部２の外周を取り囲むように延在し、表示パネル１の下面のうち外周縁部に沿った枠状の領域に前記上面を当接させて下方から支えるための支持領域１１と、開口部２の外周に近接した位置で支持領域１１に隣接するように上面５に設けられた曲面状に凹んだ取出し用凹部９とを有する。取出し用凹部９は、表示パネル１が載置されたときに表示パネル１が覆う領域に対して支持領域１１を分断しない程度に開口部２寄りに部分的に入り込んで配置されている。 （もっと読む）

【課題】フラットパネルディスプレイなどに使われる基板の欠陥検査装置などで、上下変動無く安定して搬送を行うための搬送機構における基板把持機構に関するものである。
【解決手段】基板搬送部に設置され基板を浮上させる基板浮上機構と、基板を把持する把持手段と、把持手段を移動させる把持搬送手段を備えた基板搬送装置において、把持手段は、基板端部を基板挟み部により挟み込む上ブロックおよび下ブロックと、上ブロックおよび下ブロックを支えかつ移動軸をそろえるための支柱と、上ブロックと下ブロックの基板挟み部の外側に配置されるチャック開閉チューブと、チャック開閉チューブ内部に流体を給排する流体給排手段と、上ブロックと下ブロックの間に配置される反発ばねと、上ブロックおよび下ブロックを支える支え梁および支えばねとを備え、少なくとも１以上の把持手段を往復運動させる把持搬送手段を備えた基板搬送装置用把持機構。 （もっと読む）

【課題】搬送装置間で基板を受け渡しながら検査を行う構成において、装置を小型化かつ構造を簡略化する。
【解決手段】基板検査装置１は、浮上ステージ１１で浮上させたガラス基板Ｗを搬送するための第１の搬送部１２と、第２の搬送部１３が搬送方向に順番に設置されている。第１、第２の搬送部１２，１３は、搬送方向に平行な同軸上に配置されている。さらに、２つの搬送部１２，１３間でのガラス基板Ｗの受け渡しを行うローラ式搬送部１４が設けられている。ローラ式搬送部１４は、浮上ステージ１１に対して突没自在に昇降する自走式のローラ４１を備える。ガラス基板Ｗを受け渡す際には、第１の搬送部１２の吸着を解除してからローラ４１をガラス基板Ｗに当接させ、第２の搬送部１３に向けてガラス基板Ｗを移動させる。 （もっと読む）

【課題】時間をなるべく短くし、工程を増やさず、かつ、正常デバイスに対する負担を少なくしてエージング欠点を検出するアレイ基板の検査方法を提供する。
【解決手段】本発明のアレイ検査は、ゲート線２、ソース線１、トランジスタ３、補助容量線５、および画素４を備えたアレイ基板の各画素４に配設されているＣｃｓ容量部に対して電荷の蓄積後、蓄積した電荷の読み出しを行ない、読み出した電荷の容量値を定量的に計測して各画素４の検査を行なう、アレイ基板の検査方法であって、各画素４に対して実駆動を行ない、この実駆動の条件を短時間所定量変化させてこの変化に基づく上記読み出した電荷の容量値の変化量を算出し、この算出結果を、予め用意した容量値の変化量と実駆動の条件とパネル化した後エージング工程を行った時に目視して欠点となるか否かの情報とを対応付けた対応表を用いて対比し、各画素４が将来欠点となるか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】高精細ピッチの接続端子に対してプローブを安定して正確に導通接触させることができ、且つ、駆動回路素子を搭載せずに実駆動時と略同じ条件で高精度の機能検査を容易に実施できる電子デバイス用機能検査装置を提供する。
【解決手段】機能検査用ドライバチップ２と検査プローブ３が一対体移動可能に設置された検査フレーム１５を検査対象液晶表示パネル１に向けて回動させ、検査プローブ３を対応する入力配線に導通接触させると共に、実駆動に用いるドライバチップと同じ機能検査用ドライバチップ２を、その突起電極２０２先端面に固着した導電性粒子を介してゲートライン、データライン及び入力配線の対応する各接続端子に導通接触させ、検査信号供給装置４からフレキシブル配線基板７を介して供給される検査信号を、検査プローブ３から機能検査用ドライバチップ２を通じて液晶表示パネル１に入力する。 （もっと読む）

【課題】製造した透明基板の板厚のむらを容易に確認できるようにする透明基板の検査方法を提供する。
【解決手段】板厚分布の状況が既知である第一の透明基板と、検査対象となる第二の透明基板とを準備し、第一の透明基板と第二の透明基板の平均板厚の差を５０μｍ以内とする。第一の基板と第二の基板の基板間隙を０．１ｍｍ以上とする。ピーク輝度に対する半値幅が５ｎｍ以上である光を照射する。第一の透明基板および第二の透明基板を通過する光の干渉強度分布によって、第二の透明基板の板厚分布の程度を判断する。 （もっと読む）

【課題】点灯検査の効率を高めつつ、端材の貼合せ基板母材への落下を防止して、表示パネルの品質向上を図る。
【解決手段】貼合せ基板母材２０を、点灯検査した後に各パネル形成領域毎に個別に分断することにより、複数の表示パネルを製造する表示パネルの製造装置であって、第２基板母材２２における第１基板母材２１とは反対側の表面を、鉛直下方に向けた状態で保持する保持機構２７と、保持機構２７に保持された貼合せ基板母材２０の第２基板母材２２における端子部１４に対向する領域を分断し、端材２８として除去する端材除去手段３０とを備える。 （もっと読む）

【課題】被検査物の欠陥検出の感度を向上することができる欠陥検出方法を提供する。
【解決手段】欠陥検出方法は、被検査物の撮像画像に対して欠陥強調処理を行う欠陥強調処理工程と、その工程で得られた各画素の欠陥強調値に基づいて欠陥を検出する欠陥検出工程を有する。欠陥強調処理工程は、検査対象画素を順次選定する検査対象画素選定工程ＳＴ２１と、検査対象画素の周囲に所定距離離れて複数配置された比較対象画素を、複数の比較対象画素群に分けて設定する比較対象画素群設定工程ＳＴ２２と、比較対象画素群の各比較対象画素と検査対象画素の各輝度値の差である輝度差データを求め、その値が最小となる最小輝度差を比較対象画素群毎に求める最小輝度差算出工程ＳＴ２３と、比較対象画素群毎に算出された最小輝度差のうち、値が最大となる最小輝度差を前記検査対象画素の欠陥強調値とする欠陥強調値算出工程ＳＴ２４とを備える。 （もっと読む）

【課題】接触子と被検査体の端子間において十分に高い接合強度と広い接触面積とを確保し、電気的接続の信頼性を向上した、検査用治具と被検査体との接続構造を提供する。
【解決手段】接触子を有する検査用治具と、接触子と電気的に接続する端子を有する被検査体と、接触子を被検査体の端子に所定圧以上で押し付け、電気的に接続させる押圧手段とを備えた接続構造である。接触子３は内部樹脂８上に導電膜９が覆われてなり、導電膜９は端子２０２に直接導電接触している。内部樹脂８は、その主断面の形状が底辺８ａと外辺８ｂとによって囲まれており、底辺８ａの両端を第１の点１６とし、主断面の最大幅となる位置での外辺８ｂ上の点を第２の点１７とすると、押圧手段によって接触子３が端子２０２に押し付けられたことにより、第１の点１６と第２の点１７とを結ぶ直線Ｌと、基材２の面Ｓとのなす角θが、鋭角に形成されている。 （もっと読む）

【課題】不良箇所の位置検出や修繕の度に、精密なアライメント動作を必要とする従来方式の場合、位置検出や位置合わせに多くの時間を必要とする。
【解決手段】Ｎ本の画素制御線と、当該画素制御線と直交するＭ本の映像信号線と、Ｎ本の画素制御線とＭ本の映像信号線の各交点に配置される画素回路とで構成された表示領域を有するアクティブマトリクス駆動型の表示パネルについて考える。この場合、画素回路内の画素制御線又は映像信号線に位置識別パターンを１又は複数飛ばしで配置する。 （もっと読む）

【課題】基板の製造条件、検査結果、検査データ等の基板情報を表示できる基板収納容器を提供する。
【解決手段】基板収納容器２０は、被処理基板もしくは処理済基板１０_iを収納する容器本体２２と、前記処理済基板１０_iに関する情報を受信する受信装置２４と、前記容器本体に設けられ、前記受信装置２４が受信した前記処理済基板１０_i情報を表示する情報表示装置としての表示パネル２６とを備えていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】被測定物の特性に応じて、より高精度に光学異方性を測定できる光学異方性測定装置および光学異方性測定方法を提供する。
【解決手段】光源１１８は、所定の紫外波長範囲（たとえば、１８５ｎｍ〜４００ｎｍ）を含む波長範囲の光を発生し、照射部１１４は、円偏光の光を被測定物ＯＢＪに照射する。分光部１２０は、入射光が被測定物ＯＢＪで反射されて生じる反射光を分光し、マルチチャンネルフォトディテクタ１２０ｂが、反射光の分光スペクトルを出力する。データ処理部２は、反射光の分光スペクトルのうち、特定波長のエリプソパラメータに基づいて、被測定物ＯＢＪの光学異方性を測定する。 （もっと読む）

【課題】階調設定の変化量に対して階調電圧の変化量が微小である場合においても、データバスラインの欠陥を容易に検出することが出来る表示パネル駆動装置を提供することを目的としている。
【解決手段】保持回路と変換回路との間にセレクタ回路を設け、当該セレクタ回路に入力されるテスト信号に応じて、下位ビットのビット値を上位ビットのビット値に置換する表示パネル駆動装置。 （もっと読む）

【課題】液晶の物性値を高精度に測定することが出来る方法と装置を提供する。
【解決手段】液晶の配向分布に捻れがない液晶セルを用いて、入射角の少なくとも１水準が波長の２水準以上に分かれ、かつ波長の少なくとも１水準が入射角の３水準以上に分かれるように、入射角と波長とを相違させた少なくとも計４つの条件で、前記液晶セルの光学特性を測定し、測定値とシミュレーション計算値とのフィッティングから液晶の常光屈折率ｎ_ｏの波長依存性および異常光屈折率ｎ_ｅの波長依存性を決定する。 （もっと読む）

【課題】表示素子の画像品質検査が正確に行える表示素子の検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】表示素子１に表示される検査用画像パターン７を、互いに所定の間隔を隔てて配置された複数の個片状画像パターン７ａで構成し、各個片状画像パターン７ａを順次個別に点灯（明表示：図中黒塗り部分）させると共に、その点灯された個片状画像パターン７を撮像手段により撮像して画像データを取得し、取得した各画像データを画像処理により互いの表示位置関係を保ったまま重ね合わせて一つの合成画像データを作成し、作成した合成画像データに基づいて各個片状画像パターン７ａの互いに隣接する個片状画像パターン７ａ間の配置間隔８を測定し、その結果に基づいて表示素子１の良否を判定する。合成画像は、互いに隣接する個片状画像パターン７ａ間における投射光の相互干渉による影響が無く鮮明であるため、画像認識による配置間隔８の測定が精確に行える。 （もっと読む）

【課題】ラビング処理で発生する塵埃を効率良く除去し、液晶表示装置の高輝度化、高精細化により求められる高品質の光学補償フィルムを製造すると共に、ラビングシートの長寿命化を図ることで生産性を向上できるラビング処理方法および装置を提供することを目的とする。
【解決手段】透明フィルム１２の配向膜形成材料層の表面を回転状態のラビングローラ１６に接触させて配向膜を形成する配向膜形成工程と、ラビングローラ１６を、透明フィルム１２と接触した後、ラビングローラ１６の表面を除電した後、除塵するラビングローラ処理工程と、配向膜の形成後の透明フィルム１２を、搬送に伴う同伴風を打ち消すように送風しながら除電する長尺可撓性帯状物除電工程と、を有することを特徴とするラビング処理方法である。 （もっと読む）

【課題】欠陥検査装置で検査されたカラーフィルタ基板の欠陥をカラーフィルタ修正装置にて修正する際、カラーフィルタ基板を精度良く、短時間に位置決めするためのカラーフィルタ基板の位置決め方法を提供することを目的とする。
【解決手段】欠陥検査が終了した修正対象のカラーフィルタ基板２０をステージ１０上に載置し、カラーフィルタ基板２０のアライメントマーク２１位置を計測し、アライメントマーク２１の基準値からのズレ量に応じて、エアーブロー圧を算出し、エアーブロー圧を制御するためのエアーブロー圧制御レギュレーターにその値を設定する。また、クランプシリンダー３０のクランプ圧を算出し、クランプ圧を制御するためのクランプ圧制御レギュレーターにその値に設定する。クランプ圧制御レギュレーターに設定された値でカラーフィルタ基板２０をクランプし、カラーフィルタ基板２０の位置決めを行う。 （もっと読む）