【課題】厚いゲート絶縁層を有する薄膜トランジスタと、薄いゲート絶縁層を有する薄膜トランジスタとを備えた回路基板を提供する。
【解決手段】ポリシリコン半導体層の上下に、ボトムゲート型薄膜トランジスタのゲート絶縁層とトップゲート型薄膜トランジスタのゲート絶縁膜とを各々設け、トップゲート型薄膜トランジスタのゲート絶縁膜の厚さをボトムゲート型薄膜トランジスタのゲート絶縁層の厚さと異ならせる。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、撮影した複数の赤外線画像から欠陥位置特定に適した画像を抽出して、短絡欠陥部の位置を正確に特定することを目的とする。
【解決手段】 本発明の配線検査方法は、基板に形成された配線の短絡欠陥部の有無を検査する配線検査方法であって、配線に電圧を印加して前記短絡欠陥部を発熱させる発熱工程（Ｓ３〜Ｓ６）と、基板を撮影して複数の時刻毎の赤外線画像を取得する画像取得工程（Ｓ２〜Ｓ５）と、所定時刻の赤外線画像を用いて発熱領域を認識する発熱領域認識工程（Ｓ８）と、発熱領域から短絡欠陥部の位置を特定できるか判定する発熱領域判定工程（Ｓ９）と、発熱領域から短絡欠陥部の位置を特定する欠陥位置特定工程（Ｓ１０）とを含み、発熱領域認識工程はさらに、発熱領域判定工程において短絡欠陥部の位置を特定できないと判定されたとき、所定時刻と異なる別時刻の赤外線画像を用いて、発熱領域を認識することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】外装枠の温度上昇を抑えつつ、表示パネルの駆動回路部の過熱を防止すること。
【解決手段】液晶表示装置１００は、液晶パネル１０５の表示面側の周縁部を覆うことで外装枠を構成する上フレーム１０６と、表示パネル１０５の周縁部を背面側から支持する下ホルダ１０７を備える。表示パネル１０５に背面から光を照射するバックライト光源１１０は、バックライトケース１０９に収容されている。表示パネル１０５を駆動する液晶ドライバＩＣ１０１は、下ホルダ１０７の貫通部１０７ｂ内に設けた熱伝導部材１１２を介してバックライトケース１０９と熱的に結合しており、液晶ドライバＩＣ１０１が発生した熱をバックライトケース１０９に放熱させる構造とした。 （もっと読む）

【課題】並列に電気的に接続された複数の保持容量を積層した場合でも、いずれの保持容量に不具合が発生したかを容易かつ確実に検査することのできる電気光学装置、および当該電気光学装置を備えた電子機器を提供すること。
【解決手段】電気光学装置１００においては、並列に電気的に接続された第１保持容量７０ａと第２保持容量７０ｂとによって保持容量７０が形成され、かつ、第１保持容量７０ａと第２保持容量７０ｂとは積層された構造になっている。また、素子基板１０の端部と画像表示領域との間には、第１保持容量７０ａと同一の層構造を備えた検査用第１容量と、第２保持容量７０ｂと同一の層構造を備えた検査用第２容量が形成されているとともに、検査用第１容量に電気的に接続する第１容量検査用端子対と、検査用第２容量に電気的に接続する第２容量検査用端子対とが設けられている。 （もっと読む）

【課題】酸化物半導体層を備えたＴＦＴ素子などのアクティブ素子の良否の予測を精度高く行うことができる回路基板を提供する。
【解決手段】絶縁基板２には、第１の電極４と、第１の電極４とは電気的に分離されている第２の電極６と、第１の電極４および第２の電極６と接するように形成された酸化物半導体層５と、を備えたトラップ準位測定用パターン３が設けられている。 （もっと読む）

【課題】表示品質を向上させることが可能な電気光学装置、電気光学装置の製造方法、及び電子機器を提供する。
【解決手段】液晶装置１００は、ＴＦＴ３０と、ＴＦＴ３０に電気的に接続された容量素子１６とを備え、容量素子１６は、ＴＦＴ３０と第２層間絶縁層１１ｃを介して形成された第１容量電極１６ａと、第１容量電極１６ａに第１誘電体層１６ｂを介して対向配置され、ＴＦＴ３０の半導体層３０ａに第２層間絶縁層１１ｃに形成されたコンタクトホールＣＮＴ５３を介して電気的に接続された第２容量電極１６ｃとを有し、第２容量電極１６ｃは、第１導電層１６ｃ１と第１導電層１６ｃ１上に積層された第２導電層１６ｃ２を有し、第１導電層１６ｃ１は、コンタクトホールＣＮＴ５３と重なる領域が除去されてなり、第２導電層１６ｃ２と半導体層３０ａとがコンタクトホールＣＮＴ５３を介して電気的に接続される。 （もっと読む）

【課題】製造性を損なうことなく電圧印加による電気光学物質の劣化を抑制可能とした電気光学装置を提供する。
【解決手段】本発明の電気光学装置は、電気光学物質層を挟持して対向配置された第１基板及び第２基板と、第１基板と第２基板とを貼り合わせるシール材と、複数の画素が配列された画素領域と、画素領域とシール材との間に電極が備えられたイオントラップ部と、第１基板及び第２基板の電気光学物質層側の表面に形成された配向膜と、を有する電気光学装置であって、イオントラップ部は、電気光学物質層に直流電圧を印加する第１トラップ電極と第２トラップ電極とを有しており、第１トラップ電極と配向膜との間、及び第２トラップ電極と配向膜との間の少なくとも一方に、電気光学物質層中のイオン性不純物を吸着保持するトラップ部絶縁膜が設けられていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】導電性構造部が機械的にコンタクト形成のできない基板のもとでも検査の実施が可能となる装置を提供する。
【解決手段】基板１上に形成される少なくとも１つの導電性構造部３の検査に必要とされる電界を、基板１に形成するための装置であって、電界が、導電性構造部３の機械的接触なしでの励起によって形成され、電気的な信号９が基板ホルダー５を介して導電性構造部３へ入力される、装置において、基板ホルダー５が別個のフラット電極を有しており、フラット電極には、電気的信号９が励起のために印加され、さらに、基板ホルダー５は電気的に中性であるように構成する。 （もっと読む）

【課題】外部配線を直接接続しない基板の「割れ」、「欠け」等を簡単に検出することができる表示装置用パネルおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】表示装置用パネルは、第１電極部１１、および該第１電極部１１を外部配線に対して電気的に接続する接続部１２を含む第１基板１０と、第１基板１０と対向して設けられた、第２電極部２１を含む第２基板２０と、第１電極部１１と第２電極部２１とを電気的に接続するコモン転移材３０とを備える。第２電極部２１は、第２基板２０の損傷を検出するための検出部分を含み、検出部分は、コモン転移材３０を介して第１電極部１１および外部配線に対して電気的に接続される。 （もっと読む）

【課題】高い作業効率および高い検査精度で欠けもしくはクラックを検査可能な表示装置を提供することである。
【解決手段】本発明に係る表示装置１は、第１主面22aに表示領域Ｅ_Ｄを有する第２基
板22と、第２基板22の第１主面22ａ上に集中的に設けられた外部接続用の複数の電極端子WCPと、第２基板22上に第２基板22の外周に沿って１ヶ所で切れた環状に設けられた検査
用配線Ｔと、検査用配線Ｔの一方端側に接続された第１検査用電極TP1と、検査用配線Ｔ
の他方端側に接続された第２検査用電極TP2とを備えており、第１検査用電極TP1および第２検査用電極TP2は、複数の電極端子WCPとともに集中的に配置されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】液晶層中のイオン性不純物の拡散による偏在に起因する表示ムラが低減された液晶装置、および該液晶装置を備えた電子機器を提供すること。
【解決手段】本適用例の液晶装置は、一対の基板間に挟持された液晶層５０と、一対の基板のうち一方の基板に設けられた複数の画素電極１５と、一対の基板のうち他方の基板に設けられ、複数の画素電極１５と対向する第１電極としての共通電極２３と、液晶層５０を駆動することによって生ずる液晶分子ＬＣの流動を阻害するための電位が印加される第２電極としての補助電極２５と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】反射層の上層に屈折率の異なる複数の透光膜を積層した場合でも、透光膜の膜厚の測定結果に基づいて、透光膜の表面側からの研磨量やエッチング量を適正に設定することのできる電気光学装置用基板の製造方法、および電気光学装置用基板を提供すること。
【解決手段】電気光学装置の素子基板１０の製造方法では、画素電極９ａと同一の層あるいは画素電極９ａより下層側にモニター用反射パターン７ｚ、９ｚを形成しておき、画素電極９ａおよびモニター用反射パターン７ｚ、９ｚの上層側に第１透光膜１８１、および第２透光膜１８２を形成する。また、第２透光膜１８２のモニター用反射パターン７ｚ、９ｚに重なる部分を除去した後、第３透光膜１７を形成する。この状態で、モニター用反射パターン７ｚ、９ｚに光を照射し、膜厚を測定する。 （もっと読む）

【課題】画像表示領域内でのイオン性不純物の凝集に起因する表示品位の低下が発生しにくい液晶装置、当該液晶装置を備えた投射型表示装置、および電子機器を提供すること。
【解決手段】液晶装置１００において、第１期間と第２期間とにおいて、素子基板１０側の画素電極９ａと対向基板２０側の共通電極２１との極性を反転させ、かかる反転駆動に対応させて、素子基板１０側の第１電極８１および第２電極８２を駆動する。その際、対向基板２０側の第３電極８３に対する第１電極８１の極性は、共通電極２１に対する画素電極９ａの極性とは反対であり、対向基板２０側の第３電極８３に対する第２電極８２の極性は、共通電極２１に対する画素電極９ａの極性と同一である。 （もっと読む）

【課題】 アクティブマトリクス用ゲート線駆動回路を用いた画像表示装置において、コンタクトホール近傍の金属薄膜の腐食を抑制することができる駆動回路を提供する。
【解決手段】 表示領域ＤＡの外側の額縁領域ＰＡ１に形成され、アレイ基板１００から供給された所定の電位を持つ透明電極２７０を具備し、この透明電極２７０はカラーフィルタ基板２００上おいて、アレイ基板１００に対向する面上にゲート線駆動回路１６０を覆うように形成され、前記所定の電位はゲート線駆動回路１６０内のコンタクトホールに供給される最大電位以上の電位とする。 （もっと読む）

【課題】 外観の良好な液晶表示装置を提供する。
【解決手段】 アレイ基板２０と、アレイ基板２０と対向するように配置された対向基板１０と、アレイ基板２０と対向基板１０との間に挟持された液晶層ＬＱと、マトリクス状に配置された複数の表示画素ＰＸを含む表示部ＤＹＰと、表示部ＤＹＰを囲む額縁部ＦＲＭと、を備え、アレイ基板２０は額縁部ＦＲＭに配置され表示部ＤＹＰから離れる方向に延びる避雷針パタン２４を備えた第１配線ＣＯＭと、接続パッド２６Ａ、２６Ｂと、テスタパッドＰＤＣ、ＰＤＶと、表示部ＤＹＰに対してテスタパッドＰＤＣ、ＰＤＶと反対側に配置されたテスタ配線ＷＣ、ＷＶ、Ｗｃｏｍと、備え、避雷針パタン２４は絶縁層Ｌ１を介してテスタ配線ＷＣ、ＷＶ、Ｗｃｏｍの少なくとも一部と重畳している液晶表示装置。 （もっと読む）

【課題】額縁部分の遮光性を高めることのできる液晶表示装置を提供する。
【解決手段】ＴＦＴ基板３２０は、複数の画素がマトリクス状に形成されている矩形の領域である画素領域３２１と、画素領域の外側で画素領域を縁取るように形成された領域である額縁領域３２２と、少なくとも画素領域３２１の矩形の３辺の外側を囲うように形成され、スリットを有する遮光メタル配線３２３と、遮光メタル配線３２３の外側に形成され、自らの断線を検出するための断線検出メタル配線３２４と、画素領域３２１の画素回路を駆動するためのドライバ回路が形成されたドライバ回路部３２５と、主にドライバ回路部３２５が画像情報等の情報のやりとりを行うための端子部３２６と、端子部３２６内の端子であり、断線検出メタル配線３２４に接続された２つの端子３２７と、遮光メタル配線３２３が接続され、画素回路内での共通電位を保持する共通電極３２８と、を有する。 （もっと読む）

【課題】液晶表示素子表面の傷や打痕の検査を効率的且つ安定的に行うことが可能な液晶表示素子を提供する。
【解決手段】傷又は打痕の検査対象となる第ニ電極基板２の外表面に、検査対象エリアを縁取る検査用パターン１３を設ける。検査用パターン１３は、傷の検査規格に応じた長さを有する個片状の傷検査用パターン１３ａと、打痕の検査規格に応じた長さを有する個片状の傷検査用パターン１３ｂとが、検査対象エリアの縁に沿って複数個交互に配置された集合体で構成されている。検査者は、検査用パターン１３を見るだけで検査対象エリアを正確に特定することができ、また、傷検査用パターン１３ａと打痕検査用パターン１３ｂを参照することで、傷と打痕の良否判定を効率的に行うことができる。 （もっと読む）

【課題】電気光学装置の基板間導通端子の導通不良を原因とする不具合が発生している場合において、導通不良となっている基板間接続端子を効率よく探し出せるようにする。
【解決手段】対向基板１２の４隅とＴＦＴ基板１１との間には基板間導通端子１，２，３，４がある。ＴＦＴ基板１１における基板間導通端子１，２と外部回路接続端子８との間には配線Ｌ_１８及びＬ_２８がある。基板間導通端子１及び２間、基板間導通端子１及び３間、基板間導通端子３及び４間、基板間導通端子２及び４間には配線Ｌ_１２，Ｌ_１３，Ｌ_３４，及びＬ_２４がある。配線Ｌ_１８と配線Ｌ_２３の間には基板間導通端子１を迂回する配線Ｌ_ＤＴＲ１がある。配線Ｌ_２８と配線Ｌ_２４の間には基板間導通端子２を迂回する配線Ｌ_ＤＴＲ２がある。 （もっと読む）

【課題】ショート欠陥部の破片の発生を抑えつつ、かつ確実に配線のショートを解消すること。
【解決手段】薄膜トランジスタを内蔵するＴＦＴパネルと、前記ＴＦＴパネルの表面上にマトリクス状に配置され、かつ画素電極を含む画素と、を有するディスプレイパネルの製造方法であって、前記ＴＦＴパネルを準備する工程と、前記ＴＦＴパネルの表面に画素電極をパターニングする工程と、前記画素電極のショート欠陥部を検出する工程と、前記ショート欠陥部に電圧を印加し、前記ショート欠陥部を溶断する工程と、を有する、ディスプレイパネルの製造方法。 （もっと読む）

【課題】清掃装置によるＣＦ基板の損傷を防止することにある。
【解決手段】プローブ装置は、電極を備える被検査体の上方に配置されて、またプローブ装置本体と、該プローブ装置本体に結合された清掃装置と、該清掃装置を前記プローブ装置に結合する結合装置とを含む。前記プローブ装置本体は、前記電極に接触されるように下方に向けられた針先を有する。前記清掃装置は、前記プローブ装置本体と前記被検査体とが相寄り相離れる上下方向への相対移動により前記電極に接触可能の前端部を前記針先より下方及び前方に備える。前記結合装置は、上方ほど後方となる斜めの方向に前記清掃装置と前記プローブ装置本体とを相対的に移動可能に結合している。 （もっと読む）