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Fターム[4G077EE07]の内容

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【課題】 金属液滴を成長核として用いるナノワイヤ形成法において、隔絶のための薄膜の厚さ等の制限無くかつ方向の揃ったナノワイヤを安定的にかつ再現性よく製造する。
【解決手段】 半導体ナノワイヤ44の製造方法であって、半導体から成る基板42上に非結晶から成る薄膜43を形成する工程と、薄膜43上に金属液滴41を形成する工程と、金属液滴41を成長核として上記半導体から成る半導体ナノワイヤ44を結晶成長する工程とを有し、薄膜43は金属液滴41と化学反応する材料から成る。 (もっと読む)


【課題】平坦性のよい高品質な窒化物単結晶半導体層を第2の基板の表面に接合した半導体複合装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体複合装置の製造方法において、母材基板101の表面に窒化インジウム層を含む第1の窒化物単結晶半導体層102を形成する第1工程と、第1の窒化物単結晶半導体層の表面に第2の窒化物単結晶半導体層103を形成する第2工程と、第2の窒化物単結晶半導体層をパターン形成する第3工程と、パターン形成された第2の窒化物単結晶半導体層113を被覆する保護膜を形成する第4工程と、第1の窒化物単結晶半導体層を活性水素に曝露して窒化インジウム層を金属インジウム層に改質させる第5工程と、金属インジウム層をエッチングして第2の窒化物単結晶半導体層を第1の基板から剥離する第6工程と、剥離した第2の窒化物単結晶半導体層を第2の基板の表面に接合する第7工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】結晶方位に関し反対向きの構造を取る異なる極性A、Bを混在させた結晶において少なくとも表面において極性Aの単結晶としてデバイスをその上に製造するに適した単結晶基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】結晶方位に関し反対向きの構造を取る異なる極性A、Bを持つ部分が混在する結晶において、一方の極性Bの部分をエッチングして表面部分を除去し、あるいは除去せずそのままに極性Bの上を異種物質(マスク)Mで被覆し、さらに同じ結晶の成長を行い極性Aの結晶によって表面を覆うようにする。 (もっと読む)


【課題】結晶成長におけるクラックの発生を低減することができ、高品質なIII族窒化物半導体単結晶を高速に製造できるIII族窒化物半導体単結晶の製造方法、及びIII族窒化物半導体単結晶基板の製造方法を提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体からなり、単一の指数面の結晶成長面を有する種基板を準備する種基板準備工程S10と、結晶成長面上にIII族窒化物半導体単結晶をエピタキシャル成長させる結晶成長工程S20とを備え、結晶成長工程は、自発的に形成された低指数面からなる複数の結晶表面で囲みながらIII族窒化物半導体単結晶を成長させる工程であり、低指数面は、結晶面を表す個々の面指数をいずれも3以下とすることにより、結晶成長時の微細クラックの発生が抑制された高品質のGaNインゴットが得られる。続いて、GaNインゴットを切断工程S30で切断、スライスし、III族窒化物半導体単結晶のウエハを製造する。 (もっと読む)


【課題】結晶欠陥をより抑制することが可能なSiC単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】CVD法によりエピタキシャル膜2を成長させると、成長させるエピタキシャル膜2の不純物濃度に応じて貫通転位3の成長方向を一定方向に規定できる。例えば、SiC基板1内に含まれていた貫通転位3は、エピタキシャル膜2内においてc軸に対する角度θが(11−22)面もしくは(11−22)面に対して±3°の範囲内、例えば[11−23]方向に平行もしくは[11−23]方向に対して±3°の範囲内の方向に向く。このため、この現象を利用し、エピタキシャル膜2の側面から貫通転位3を排出させることにより、エピタキシャル膜2の成長表面から貫通転位3をほぼ無くすことが可能となる。そして、このようなエピタキシャル膜2を種結晶として昇華法によりSiC単結晶4をバルク成長させれば、結晶欠陥をより抑制することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】ダイヤモンド膜の表面にマスキング及びエッチングを施すことなく簡便に凹部を形成できるダイヤモンド膜の選択的形成方法及びこのダイヤモンド膜を切刃に用いたCMPパッドコンディショナーを提供する。
【解決手段】母体1の表面1Aに、薬液により除去可能とされ、かつ、ダイヤモンド膜Dの生成を助長する性質の第1膜12と、第1膜12上に配されダイヤモンド膜Dの生成を阻止する性質の第2膜13とを選択的に形成して、表面1Aを、非マスキング領域を有しつつ第1、第2膜12、13によりマスキングする工程と、CVD法により、非マスキング領域における表面1Aの部分と、この部分の周縁部に立設する第1膜12の壁面12Cとにダイヤモンド膜Dを生成させて、このダイヤモンド膜Dの母体1側とは反対側を向く表面2Aに凹部2Bを形成する工程と、薬液により第1膜12とともに第2膜13を表面1Aから取り除く工程と、を備える。 (もっと読む)


改良された特性を備えた半導体材料、基板、およびデバイスの製造方法および構造が開示される。歪みが低減された構造を形成するための構造および方法が、複数の実質的に歪み緩和されたアイランド構造を形成し、半導体材料の歪み緩和された実質的に連続した層を引き続きさらに成長するために、このようなアイランド構造を利用することを含む。 (もっと読む)


【課題】ダイヤモンド膜を母体の表面に比較的厚膜に、かつ、精度よく選択的に形成でき、ダイヤモンド膜のコンタミネーションを防止できるダイヤモンド膜の選択的形成方法及びCMPパッドコンディショナーを提供する。
【解決手段】母体1の表面1Aに、薬液により除去可能とされ、かつ、ダイヤモンド膜Dの生成を助長する性質の第1膜12と、第1膜12上に配されダイヤモンド膜Dの生成を阻止する性質の第2膜13とを選択的に形成して、表面1Aを、非マスキング領域を有しつつ第1、第2膜12、13によりマスキングする工程と、薬液を希釈して用い、非マスキング領域における表面1Aの部分の周縁部に立設する第1膜12の壁面12Cを溶解して凹部12Dを形成する工程と、CVD法により表面1Aの部分及び凹部12Dにダイヤモンド膜Dを生成させる工程と、薬液により第1膜12とともに第2膜13を表面1Aから取り除く工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】製造過程が容易であり、製造コストが低廉な多元系ナノワイヤーの製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る多元系ナノワイヤーの製造方法は、(a)複数の気孔を有する陽極酸化アルミニウムナノテンプレートを準備するステップと、(b)前記陽極酸化アルミニウムナノテンプレートの一側面上に電極層を形成するステップと、(c)前記陽極酸化アルミニウムナノテンプレートを所定の多元系溶液に浸漬させ、前記陽極酸化アルミニウムナノテンプレートを陰極とする電気めっき法によって、前記陽極酸化アルミニウムナノテンプレートの前記気孔を通じて多元系ナノワイヤーを成長させるステップと、(d)前記陽極酸化アルミニウムナノテンプレートを除去するステップとを含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ELOG法を用いて形成された開口面積の大きい空洞を半導体層内部に導入することにより成長用基板をウェットエッチング処理または外力印加によって容易に剥離することができる半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】
成長用基板上を部分的に覆う選択成長用のマスクを成長用基板上に形成する。次に、成長用基板上のマスクで覆われていない非マスク部において、マスクの膜厚よりも厚い緩衝層を成長させた後、緩衝層の表面に所定のファセットを表出させる。次に、緩衝層を起点として半導体膜を横方向成長させてマスク上部に空洞を形成しつつマスクを覆う横方向成長層を形成する。横方向成長層の上にデバイス機能層をエピタキシャル成長させる。空洞形成工程は、互いに異なる成長速度で半導体膜の成長を行う第1ステップおよび第2ステップを交互に複数回実施する。 (もっと読む)


本発明は、成長面(105)を含む支持体(100)上でのエピタキシャル成長により窒化物単結晶を製造するための方法において、− 支持体(100)上に犠牲床(101)を形成するステップと;− 前記犠牲床上にピラー(102)を形成するステップであって、前記ピラーがGaNエピタキシャル成長と相容性のある材料で作られているステップと;− 窒化物結晶層(103)がピラーの間に形成されたホール(107)内を支持体に至るまで延在しないような成長条件の下で、ピラー上に窒化物結晶層(103)を成長させるステップと;− 支持体から窒化物結晶層を除去するステップと、を含む方法に関する。
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【課題】多結晶のGaN結晶の成長を抑制できるGaN結晶の成長方法およびGaN結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】GaN結晶の成長方法は、以下の工程が実施される。まず、下地基板が準備される(ステップS1)。そして、下地基板上に、開口部を有し、かつSiO2よりなるマスク層が形成される(ステップS2)。そして、下地基板およびマスク層上に、GaN結晶が成長される(ステップS5)。マスク層の曲率半径が8m以上である。 (もっと読む)


【課題】多結晶のGaN結晶の成長を抑制できるGaN結晶の成長方法およびGaN結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明のGaN結晶の成長方法は、以下の工程が実施される。まず、下地基板が準備される(ステップS1)。そして、レジストを用いて、下地基板上に開口部を有するマスク層が形成される(ステップS2)。そして、下地基板およびマスク層を酸性溶液が洗浄される(ステップS3)。そして、酸性溶液で洗浄するステップS3後に、下地基板およびマスク層を有機溶媒で洗浄される(ステップS4)。そして、下地基板およびマスク層上に、GaN結晶が成長される(ステップS5)。 (もっと読む)


【課題】多結晶のGaN結晶の成長を抑制できるGaN結晶の成長方法およびGaN結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】GaN結晶の成長方法は、以下の工程が実施される。まず、下地基板が準備される(ステップS1)。そして、下地基板上に、開口部を有し、かつSiO2よりなるマスク層が形成される(ステップS2)。そして、下地基板およびマスク層上に、GaN結晶が成長される(ステップS5)。マスク層の表面粗さRmsは2nm以下である。 (もっと読む)


【課題】従来のリフトオフ材料が持っている高温での不安定性の問題を克服することができる新規材料を利用して、高温で安定してナノワイヤを成長及びパターニングすることができる方法を提供する。
【解決手段】本発明による基板の表面にナノワイヤをパターニングする方法は、(a)上記表面に、フッ化バリウム犠牲層が所望のパターンで形成された上記基板を提供するステップと、(b)上記フッ化バリウム犠牲層を含む上記基板の表面全体にわたって、ナノワイヤを成長させるステップと、(c)溶媒によって上記フッ化バリウム犠牲層を除去することにより、上記フッ化バリウム犠牲層の表面にある上記ナノワイヤごと除去して、上記基板の上記表面に直接接触した状態の上記ナノワイヤを残すことにより、上記ナノワイヤを上記基板の上記表面上にパターン化するステップとを含むことを特徴とする。 (もっと読む)


III−窒化物材料の半導体構造および層のエピタキシャル成長中に、連続する層の品質が連続して改善されるように応用可能な方法。中間エピタキシャル層は、成長ピットが、最初の表面に存在する表面転位で形成されるように、最初の表面に成長される。それから、次の層は、横方向に広がって少なくとも交差成長ピットの凝集を密閉するように、エピタキシャル横方向オーバーグロースの知られた現象に従って中間層上に成長される。好ましくは、横方向成長材料中の転位の数を減少させるために、次の層の成長より前に、誘電体材料が不連続に堆積するように誘電体材料の不連続膜が堆積される。本発明の方法は、同じ構造に対して複数回行うことができる。また、これらの方法によって製作された半導体構造。
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【課題】選択エピタキシャル成長を用いて基板上に半導体膜を選択的に形成する際に、半導体膜の形状制御が可能で、かつ、再現性・安定性の高い成膜手法を提供する。
【解決手段】基板300の表面に露出したシリコン表面にシリコン系の堆積膜を選択成長させる基板処理方法において、基板を処理室201内に搬入する工程と、前記処理室201内の圧力を制御する第1の圧力制御工程と、前記処理室201内に少なくともシラン含有ガス、又は、シラン含有ガス及びゲルマン含有ガスを供給して前記基板300に堆積膜を成長させる工程と、前記処理室201内の圧力を制御する第2の圧力制御工程と、前記処理室201内に少なくともエッチングガスを供給して表面に露出したシリコン表面以外の部分をエッチングする工程と、を有する基板処理方法である。 (もっと読む)


【課題】 反りが少なくクラックが発生しない導電性の窒化物半導体結晶基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 下地基板の上に、幅或いは直径sが10μm〜100μmであるドット被覆部或いはストライプ被覆部を間隔wが250μm〜10000μmであるように並べたマスクを形成し、HVPE法によって成長温度が1040℃〜1150℃であって、5/3族比bが1〜10であるような3族、5族原料ガスと、Siを含むガスとを供給することによって下地基板の上に窒化物半導体結晶を成長させ、下地基板を除去することによって、比抵抗rが0.0015Ωcm≦r≦0.01Ωcm、厚みが100μm以上、反りの曲率半径Uが3.5m≦U≦8mの自立した導電性窒化物半導体基板を得る。 (もっと読む)


【課題】単結晶ナノ構造を基板の上に成長させる方法を提供する。
【解決手段】基板1の主表面上にパターン2を最初に形成する工程であって、パターン2は基板1の表面まで延びた開口部を有する工程と、パターン2の開口部中の、露出した主表面の上に、金属3を供給する工程と、開口部をアモルファス材料4で、少なくとも部分的に埋める工程と、アモルファス材料4と金属化合物3とを、300℃と1000℃の間の温度でアニールし、金属媒介結晶化により、アモルファス材料4を単結晶材料5に変える工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】効率良く量産可能であり、走査プローブ顕微鏡において高分解能観察や高精度微細加工が可能な先端半径と、高アスペクト比構造観察に十分な長さの針をもち、且つ、先端の耐摩耗性に優れたダイヤモンド探針と、これを備えた走査プローブ顕微鏡用カンチレバー、フォトマスク修正用プローブ、電子線源を提供する。
【解決手段】反応性イオンエッチング等では作製困難な長さを有する針状ダイヤモンドを、熱化学加工法によって作製し、プラズマ中でエッチングもしくはマイクロ波プラズマCVD成長により先端部分を先鋭化することで、効率良く量産可能な先鋭化針状ダイヤモンド5を得ることができる。先鋭化針状ダイヤモンド5のうち少なくとも一本もしくは複数本を、走査プローブ顕微鏡用カンチレバーの探針として備える。 (もっと読む)


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