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Fターム[4K029BA49]の内容

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Fターム[4K029BA49]に分類される特許

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【課題】蒸発速度、成膜速度を向上して製造コストを低減する。
【解決手段】ZnO蒸着材は、ZnOの多孔質焼結体からなり、その焼結体が0.1〜500μmの範囲の平均気孔径を有する。その多孔質焼結体は3〜50%の範囲の気孔率を有することが好ましく、1〜500μmの範囲の平均結晶粒径を有する粒子の焼結体であることが更に好ましい。その製造方法は、純度が99.0%以上あって平均粒径が0.1〜10μmであるZnO粉末とバインダと有機溶媒とを混合してZnO粉末の濃度が45〜75重量%のスラリーを調製する工程と、そのスラリーに気体を吹込んで混入することによりガス含有スラリーを得る工程と、そのガス含有スラリーを噴霧乾燥して平均粒径が50〜300μmの造粒粉末を得る工程と、その造粒粉末を成形して成形体を得る工程と、その成形体を所定の温度で焼結してZnO多孔質焼結体を得る工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】プラズマCVD成膜を良好に行うために適切な位置で静電気除去を行うことができるプラズマCVD成膜装置を提供する。
【解決手段】長尺の基材100を連続的に搬送しながら、該基材100上に連続的に成膜するプラズマCVD成膜装置1において、基材100を巻き掛けて搬送する第1成膜ロール61と、第1成膜ロール61と対向して配置された第2成膜ロール62と、第1成膜ロール61に巻き掛けた基材100の第2成膜ロール62に面する面を基材の成膜面100aとして、成膜面100aに帯電する静電気を除去する静電気除去装置と、を備え、第1成膜ロール61と第2成膜ロール62との間隙は、成膜面100a上にプラズマCVD成膜を行う成膜空間であり、静電気除去装置は、成膜空間に対し、基材100の搬送方向の上流側に設けられた第1静電気除去装置81を含む。 (もっと読む)


【課題】酸化亜鉛を主成分とする透明導電性酸化物は湿熱耐久性に劣り、湿熱耐久性を向上しようとすると抵抗率が高くなる、すなわち導電性が悪くなるという課題があった。
【解決手段】基板上に形成された透明電極であって、この透明電極が酸化亜鉛を主成分とする透明導電性酸化物を有し、かつ当該透明導電性酸化物は、さらに酸化ケイ素および13族元素の酸化物を透明導電性酸化物に対してそれぞれ1〜4重量%含有することを特徴とする透明電極。
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【課題】安定した、高い発光効率の赤色発光が得られるEuドープZnO膜形成方法を提供する。
【解決手段】まず、第1工程で、H2Oガスを導入するスパッタ法で、基板101の上に、EuがドープされたZnOからなる薄膜102を形成する。次に、第2工程で、薄膜を加熱する。H2Oガスを用いているので、形成される膜にはH原子も導入されるようになる。この結果、主に620nm付近で発光するEuを添加したZnOを形成できるようになり、Euを添加したZnOで、高い発光効率で安定した赤色発光が得られるようになる。 (もっと読む)


【課題】薄い膜厚(200nm以下)で抵抗率が低いZnO系薄膜を、安定したDCスパッタで得られるZnO系ターゲットを提供すること、およびそれを用いて形成される抵抗の低いZnO系透明導電膜を提供すること。
【解決手段】Znを含む酸化物相と、AlおよびTiを含む金属間化合物相と、を備え、前記酸化物相中に前記金属間化合物相が分散していることを特徴とするZnO系スパッタリングターゲットにより、前記課題を解決したものである。 (もっと読む)


【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、かつ、書き込み回数にも制限が無い、新たな駆動方法を提供する。また、新たな駆動方法により、メモリ素子への書き込み電位のばらつきを低減し、信頼性を向上させる。
【解決手段】半導体装置の駆動方法において、書き込み電位を段階的に上昇させて、同時に読み出し電流を確認し、読み出し電流の結果を書き込み電位に利用して書き込みを行う。つまり、正しい電位で書き込みが行われたか確認しながら書き込みを行うことで、信頼性の高い書き込みを行うことが可能である。 (もっと読む)


【課題】透明性及びガスバリア性に優れた薄膜の形成に好適な蒸着材及び該薄膜を備える薄膜シート並びに積層シートを提供する。
【解決手段】第1酸化物粉末と第2酸化物粉末とを混合して作られた蒸着材において、第1酸化物粉末がY23粉末であって、第1酸化物粉末の第1酸化物純度が98%以上であり、第2酸化物粉末はZnO、MgO及びCaOからなる群より選ばれた1種の粉末又は2種以上の混合粉末であって、第2酸化物粉末の第2酸化物純度が98%以上であり、蒸着材が第1酸化物粒子と第2酸化物粒子を含有するペレットからなり、蒸着材中の第1酸化物と第2酸化物との比率が5〜85:95〜15であり、かつ、ペレットの塩基度が0.1以上であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】表示装置用酸化物半導体膜の成膜に好適に用いられる酸化物焼結体およびスパッタリングターゲットであって、高い導電性と相対密度を兼ね備えた酸化物焼結体およびスパッタリングターゲットを提供する。
【解決手段】本発明の酸化物焼結体は、酸化亜鉛と;酸化スズと;Al、Hf、Ta、Ti、Nb、Mg、Gaおよび希土類元素よりなる群から選択される少なくとも一種の金属(M金属)の酸化物の各粉末と、を混合および焼結して得られる酸化物焼結体であって、酸化物焼結体をX線回折したとき、Zn2SnO4化合物は検出されるが、スピネル型化合物であるZnMXy相およびMXy相(x、yは任意の整数である)は検出されないものである。 (もっと読む)


【課題】汎用性の高いフレキシブル基材上にシート抵抗値が十分に小さく、湿熱条件後及び屈曲後においてもシート抵抗値の上昇が抑制できる透明導電層を具備する透明導電性フィルム及びその製造方法並びに透明導電性フィルムを用いた太陽電池及びエレクトロルミネッセンス素子を提供する。
【解決手段】フレキシブル基材11の少なくとも片面に、(A)ポリオルガノシロキサン系化合物を含有するコート材料からなるアンダーコート層12と、(B)透明導電層13とが順次形成された透明導電性フィルム10とする。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタのスイッチング特性に優れており、特に保護膜形成後も良好な特性を安定して得ることが可能な薄膜トランジスタ半導体層用酸化物を提供する。
【解決手段】本発明に係る薄膜トランジスタの半導体層用酸化物は、薄膜トランジスタの半導体層に用いられる酸化物であって、前記酸化物は、Zn、SnおよびSiを含んでいる。 (もっと読む)


【課題】 低抵抗で高透過性の透明導電膜積層体及びその製造方法、並びに薄膜太陽電池及びその製造方法を提供する。
【解決手段】 透明導電膜(I)上に、透明導電膜(II)が積層された透明導電膜積層体において、透明導電膜(I)は、アルミニウム及びガリウムから選ばれる1種以上の添加元素を含み、添加元素の含有量が、−2.18×[Al]+1.74≦[Ga]≦−1.92×[Al]+6.10で示される範囲内である。透明導電膜(II)は、アルミニウム及びガリウムから選ばれる1種以上の添加元素を含み、添加元素の含有量が、−[Al]+0.30≦[Ga]≦−2.68×[Al]+1.74で示される範囲内である。但し、[Al]は、Al/(Zn+Al)の原子数比(%)で表したアルミニウム含有量であり、一方、[Ga]は、Ga/(Zn+Ga)の原子数比(%)で表したガリウム含有量である。 (もっと読む)


【課題】透明性及びガスバリア性に優れた薄膜の形成に好適な蒸着材及び該薄膜を備える薄膜シート並びに積層シートを提供する。
【解決手段】第1酸化物粉末と第2酸化物粉末とを混合して作られた蒸着材において、
第1酸化物粉末がMgO粉末であって、第1酸化物粉末の第1酸化物純度が98%以上であり、第2酸化物粉末がZnO粉末であって、第2酸化物粉末の第2酸化物純度が98%以上であり、蒸着材が第1酸化物粒子と第2酸化物粒子を含有するペレットからなり、蒸着材中の第1酸化物と第2酸化物との比率が5〜85:95〜15であり、かつ、ペレットの塩基度が0.1以上であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】スパッタリング成膜時のアーキングやノジュールの発生を低減すると共に高出力成膜においても高い生産性を有する高密度で、なお且つ厚肉化を可能とする酸化亜鉛系円筒ターゲット及びその製造方法を提供する。
【解決手段】高温のプラズマジェット4中に酸化亜鉛粉末の昇華を抑えられる範囲内で酸化亜鉛系粉末をできるだけ長く滞在させて、その粉末の溶融度向上を図り、溶融粉末の溶着堆積後、すみやかに溶射ターゲットの表面温度を所定温度以下になるように冷却できる基板冷却配管構造を装着した溶射ガン7で酸化亜鉛系粉末を溶射する。 (もっと読む)


【課題】異常放電を抑制し安定にスパッタリングを行うことのできるターゲット、金属又は合金用のエッチング液であるリン酸系エッチング液でもエッチング可能な透明導電膜が得られるターゲットを提供する。
【解決手段】インジウム、錫、亜鉛、酸素を含有し、六方晶層状化合物、スピネル構造化合物及びビックスバイト構造化合物を含むことを特徴とするスパッタリングターゲット。 (もっと読む)


【課題】本発明は、導電性フィルム上に導電性酸化物とカーボン薄膜層をこの順に形成することにより、導電性およびバリア性の両立が可能となり、さらには長期使用による性能の劣化を抑制するなどといった長期耐久性に優れた、導電性バリアフィルムを作製することが可能となる。
【解決手段】導電性フィルム上の少なくとも1面に、導電性酸化物層とカーボン薄膜層がこの順に形成されていることを特徴とする、導電性バリアフィルムを用いる。 (もっと読む)


【課題】加工後に熱処理等を行わなくとも形状精度のよいスパッタリングターゲットが得られ、DCスパッタリング法でも連続的に安定放電が可能で、適切な絶縁性を有する透明性膜が得られる酸化亜鉛焼結体を提供する。
【解決手段】亜鉛以外の金属含有量が0.1重量%未満、BET比表面積が2〜20m/g、粉末かさ密度0.5〜1.8g/cmの酸化亜鉛粉末を成形し、焼成する際に、焼結温度が900〜1250℃、酸素が10体積%以下の不活性雰囲気下でガス流量パラメータが8000以上で焼成することにより、亜鉛以外の金属含有量が0.1重量%未満、25℃での体積抵抗が1.0×10Ωcm以下の酸化亜鉛焼結体を製造し、それをスパッタリングターゲットとして用いて、DCスパッタリング法により透明性膜を製造する。 (もっと読む)


【課題】マグネトロンスパッタリング装置において、スパッタリングターゲットのパーティクルの発生を抑える。
【解決手段】ZnOからなり、マグネトロンスパッタに用いられるZnO系の酸化物ターゲットであって、表面10aが、表面粗さがRa4.0μm以下であってスパッタされるエロージョン領域20と、スパッタされない非エロージョン領域21とに設定され、この非エロージョン領域21が、エロージョン領域20から離間するとともにその表面粗さがRa5.0μm〜8.0μmである第1非エロージョン領域21aと、第1非エロージョン領域21aとエロージョン領域20との間の領域であってその表面粗さがRa4.0μm以下であり、エロージョン領域20の周囲に5〜15mmの幅で設けられている第2非エロージョン領域21bとに設定されている。 (もっと読む)


【課題】マグネトロンスパッタリング装置において、スパッタリングターゲットのパーティクルの発生を抑える。
【解決手段】ZnOにAl23を0.1〜3.0wt%またはGa23を0.5〜6.0wt%添加してなり、マグネトロンスパッタに用いられるAZO系またはGZO系の酸化物ターゲットであって、表面10aが、表面粗さがRa1.0μm以下であってスパッタされるエロージョン領域20と、スパッタされない非エロージョン領域21とに設定され、この非エロージョン領域21が、エロージョン領域20から離間するとともにその表面粗さがRa3.0μm〜6.0μmである第1非エロージョン領域21aと、第1非エロージョン領域21aとエロージョン領域20との間の領域であってその表面粗さがRa1.0μm以下であり、エロージョン領域20の周囲に5〜15mmの幅で設けられている第2非エロージョン領域21bとに設定されている。 (もっと読む)


【課題】表面に写る反射像が不鮮明に見える現象が抑制され、良好な外観を有する合わせガラスを得ることができる赤外線反射フィルムの製造方法を提供する。
【解決手段】透明樹脂フィルム2上に赤外線反射膜3を構成する複数の構成膜のうち最初に成膜される1つの構成膜3(1)を0.50Pa以上の圧力下で真空成膜する工程と、前記最初の構成膜が成膜された透明樹脂フィルムを1.0×10−3Pa以下の高真空下で30秒以上保持する工程と、前記高真空下での保持が行われた透明樹脂フィルム2に前記複数の構成膜の残りの構成膜3(2)〜3(N)を真空成膜して赤外線反射フィルム1とする工程とを有する赤外線反射フィルムの製造方法。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いた半導体装置に安定した電気的特性を付与し、高信頼性化することを目的の一とする。
【解決手段】トランジスタのチャネル形成領域となる酸化物半導体膜を、200℃を超える温度のスパッタリング法で形成することにより、昇温脱離分析において、前記酸化物半導体膜から脱離する水分子の数を0.5個/nm以下とすることができる。酸化物半導体を用いたトランジスタにとって電気的特性の変動要因となる水素、水、水酸基または水素化物などの水素原子を含む物質が、酸化物半導体膜へ混入するのを防止することにより、酸化物半導体膜を高純度化および電気的にi型(真性)化することができる。 (もっと読む)


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