説明

Fターム[4K030EA06]の内容

CVD (106,390) | 原料ガスの処理 (4,687) | 反応室へのガス導入 (2,961) | 吹出ノズル (1,806) | 配置 (742)

Fターム[4K030EA06]に分類される特許

101 - 120 / 742


【課題】プラズマを利用して基板を処理する際に基板等へのダメージを小さくし、しかも基板処理温度を低くする。
【解決手段】基板200を処理する処理室201と、ガス供給口425、435を有する複数のバッファ室423、433と、第1の処理ガスを複数のバッファ室に供給する第1の処理ガス供給系320、330と、高周波電源270と、電源により高周波電力が印加されると、バッファ室の内部で第1の処理ガスを活性化させるプラズマ発生用電極471、472、481、482と、第2の処理ガスを処理室に供給する第2の処理ガス供給系310と、処理室を排気する排気系231と、基板を、活性化された第1の処理ガスおよび、第2の処理ガスに曝し、基板を200℃以下に加熱しつつ基板上に膜を形成するよう第1の処理ガス供給系、電源、第2の処理ガス供給系および排気系を制御する制御手段280と、を備える。 (もっと読む)


【課題】クリーニングガスに含まれた元素を有効に排除することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】処理室内に基板を搬入する工程と、処理室内に複数の反応ガスを交互に供給して基板に膜を形成する工程と、処理室から基板を搬出する工程と、処理室内にクリーニングガスを供給し、処理室内をクリーニングする工程と、複数の反応ガスの全てを処理室内に供給し、処理室内に供給したクリーニングガスに含まれた元素を除去する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】耐蝕性の高い材料で作製され、真空容器内に配置されるインナーが真空容器内でずれたり破損したりするのを低減することが可能な原子層(分子層)成膜装置を提供する。
【解決手段】容器内に配置され基板が載置される回転テーブルと、回転テーブルに対して第1の反応ガスを供給する第1の反応ガス供給部と、回転テーブルに対して第2の反応ガスを供給する第2の反応ガス供給部とを含む成膜空間を画成する、容器を構成する材料よりも耐食性に優れる材料で作製される区画部材が容器内に設けられる成膜装置が開示される。この成膜装置は、成膜空間の圧力を測定する圧力測定部と、成膜空間の外側の空間の圧力を測定する圧力測定部と、を備え、これらの測定を通して、成膜空間の外側の空間の圧力が成膜空間の圧力よりも僅かに高い圧力に維持される。 (もっと読む)


【課題】一括して処理することの出来る基板の枚数を減らすことなく、隣接する基板間へのガスの供給を促進させる。
【解決手段】基板を処理室内に搬入する工程と、処理ガス噴出口と排気孔とを結ぶ第1の直線が基板の中心付近を通るように構成された処理ガス噴出口から処理室内に処理ガスを供給するとともに、一対の不活性ガス噴出口と排気孔とを結ぶ第2の直線及び第3の直線が第1の直線をそれぞれ両側から挟むように構成された一対の不活性ガス供給ノズルから処理室内に不活性ガスを供給して基板を処理する工程と、処理後の基板を処理室内から搬出する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】原子層堆積(ALD)式薄膜堆積装置において反応物質パルスに続くパージ期間に反応物質残りの少ない堆積装置を提供する。
【解決手段】堆積チャンバ内に画定された空間内に載置されたウエハ上に薄膜を堆積させるように構成され、前記空間と連通するガス流入口と、さらに、密閉面605を含む密閉部604とを備え、前記堆積チャンバと、前記ウエハを前記空間内において支持するように形成されたサセプタ602であって、サセプタ602が密閉面605に対して密閉を行う第1の位置と、サセプタ602が密閉面605に対して密閉を行わなくなる下方の第2の位置との間を、前記堆積チャンバに対して鉛直方向に移動するように形成されたサセプタ602と、を備える。前記第1の位置において、密閉面605とサセプタ602との間の界面と、サセプタ602上に配置された前記ウエハの上面との間の垂直方向の距離が、約2ミリメートル未満である。 (もっと読む)


【課題】分離領域による処理領域同士の雰囲気の分離機能を確保しながら、当該分離領域に供給される分離ガスの消費量を抑えること。
【解決手段】真空容器1内において分離領域Dを介して処理領域P1、P2をウエハWが順番に通過するように回転テーブル2を回転させるにあたり、回転テーブル2の中央側よりも周縁側の分離ガスの供給量が多くなるように、当該中央側では周縁側よりも分離ガスノズル41、42のガス吐出孔33の配列間隔uを広く設定すると共に、分離領域Dから処理領域P1、P2側に吐出される分離ガスの流速について、各領域A1、A2における回転テーブル2の最大周速度よりも夫々僅かに速くなるように設定する。 (もっと読む)


【課題】種々の基板5の表面に分布が均一の成膜等の真空処理を行うことができる技術を提供する。
【解決手段】基板5が配置される真空槽2と、真空槽2の外部に設けられ処理ガスを供給する処理ガス供給源7と、配管を用いて構成され、処理ガス供給源7から供給された処理ガスを基板5に向って放出する蒸気放出器10とを備える。蒸気放出器10は、有機材料の蒸気の導入側から放出側に向って4n-1(nは自然数)の等比級数で段階的に分岐する第1〜第3の分岐配管ユニット11〜13を有する分岐配管群110〜130を備え、最終段の第3の分岐配管群130における分岐配管ユニット13のガス放出側端部に、処理ガスを放出する蒸気放出口14a〜14dがそれぞれ設けられ、これら複数のガス放出口14a〜14dから基板5に向って有機材料の蒸気を放出するように構成されている。 (もっと読む)


【課題】反応ガス下で基板を回転させる横型MOCVD炉を用いて結晶性が高く、かつ、面内のAl組成分布が均一な化合物半導体ウェハを得る。
【解決手段】公転速度を高めることにより、膜厚方向における組成(x値)の均一性を高めることができることは明らかであるが、これにより、成長層(AlGaN)の結晶性は充分とはならない。これに対して、本実施の形態のエピタキシャル成長方法では、膜厚方向における組成の均一性が最適とならない条件で公転を行い、成長層の結晶性を向上させる。実状態の速度比(成長温度(基板温度)における反応ガス流束と基板の交播速度との比)が172.0より大きく859.8以下となる場合、かつ1回転当たりの成長原子層数が10層以上である場合に特に良好な結果(高い結晶性、高いキャリア濃度)が得られる。 (もっと読む)


【課題】基板面に成長する結晶における面内の組成及び膜厚の均一性を向上し得る気相成長装置を提供すること。
【解決手段】環状の室構成面部55と、その室構成面部55に対向する環状の対向面47とで画定されると共に、環状の室構成面部55の径方向の外方側と径方向の内方側とに開口を有する反応室2を形成する。上記対向面47に基板1を保持する基板ホルダ21を形成する。室構成面部55において基板ホルダ21に対向する基板対向部66を、石英の熱伝導率より大きい熱伝導率を有する材質で構成する。 (もっと読む)


【課題】半導体材料を堆積させる新規な方法及び堆積システムを提供する。
【解決手段】III−V族半導体材料を基板に堆積させる方法は、複数のガスコラムに対する基板の空間的位置づけを変更することによってIII族元素のガス状前駆体及びV族元素のガス状前駆体を基板に連続的に導入するステップを含む。例えば、基板は、各々が異なる前駆体を配置する複数の実質的に位置合わせされたガスコラムに対して移動することができる。前駆体を生成するための熱運動化ガス噴射器は、入口と、熱運動化管路と、液体試薬を保持するように構成された液体容器と、出口とを含むことができる。1つ又は複数のIII−V族半導体材料を基板の表面に形成するための堆積システムは、前駆体を複数のガスコラムを介して基板に誘導するように構成された1つ又は複数のそのような熱運動化ガス噴射器を含むことができる。 (もっと読む)


【課題】反応ガス同士をより確実に分離することが可能な原子層(分子層)成膜装置を提供する。
【解決手段】反応容器10内に回転可能に設けられ、基板が載置される回転テーブル2;第1の反応ガスが供給される第1の領域481と第2の反応ガスが供給される第2の領域482とを分離するために、該第1および第2の領域の天井面よりも低い天井面と、分離ガスを供給する分離ガス供給部41,42とを有する分離領域;該分離領域において、回転テーブル2と反応容器10の内側面との間に配置される上ブロック部材46A,46B;を有する成膜装置とする。上ブロック部材46A,46Bは、前記分離領域における回転テーブル2の回転方向上流側に、前記分離ガスが流通可能な空間Sが形成されるように配置される。 (もっと読む)


【課題】
2フローリアクタにおいて排気間に再び材料ガス流への中間反応ガスの巻き込みを防止し半導体素子の製造歩留まりを高める気相成長装置を提供することを目的とする。
【解決手段】
気相成長装置は、基板を担持して、これを加熱および回転するサセプタと、基板へ向かう材料ガス噴出口を有し、材料ガス噴出口から基板上に沿って材料ガスの層流を供給する材料ガスノズルと、基板へ向かう押さえガス噴出口を有し、押さえガス噴出口から押さえガスを、基板の法線方向から所定角度範囲で且つ基板の面積より広い面積で、押さえガス流として基板上に供給する押さえガス噴出器と、を備え、材料ガス噴出口および押さえガス噴出口から離れた材料ガスノズルの上方に離間して配置され且つ、押さえガス噴出口および材料ガス噴出口の間隙へ向かう遮断ガスを噴出する遮断ガス噴出口を有する遮断ガスノズルを有する。 (もっと読む)


【課題】ウエハボートに棚状に積載された複数の基板の各々に対して側方側から処理ガスを供給して反応管内において熱処理を行うにあたり、処理ガスの有効利用を図ると共に、装置のコストを低減すること。
【解決手段】保持板31の各々の上面側に基板載置領域33を周方向に複数箇所に形成して、これら保持板31を周縁側から周方向に亘って複数箇所において支柱32によって支持すると共に、保持板31上に支持されるウエハWの上面と当該ウエハWの上方側に対向する保持板31の下面との間の間隔寸法kよりも保持板31の外縁と内管12bの内壁との間の離間寸法tの方が小さくなるように、保持板31の外縁よりも内側寄りの位置に各々の支柱32を配置する。そして、ウエハWの各々の側方側のガス吐出口52から、各々のウエハWに対して処理ガスを供給する。 (もっと読む)


【課題】
2フローリアクタにおいて排気間に再び材料ガス流への中間反応ガスの巻き込みを防止し半導体素子の製造歩留まりを高める気相成長装置を提供することを目的とする。
【解決手段】
気相成長装置は、基板を担持して、これを加熱および回転するサセプタと、基板へ向かう材料ガス噴出口を有し、材料ガス噴出口から基板上に沿って材料ガスの層流を供給する材料ガスノズルと、基板へ向かう押さえガス噴出口を有し、押さえガス噴出口から押さえガスを、基板の法線方向から所定角度範囲で且つ基板の面積より広い面積で、押さえガス流として基板上に供給する押さえガス噴出器と、を備え、材料ガスノズルに接触し且つ押さえガス噴出口の外縁部へ向かう遮断ガスの層流を噴出する遮断ガス噴出口を有する遮断ガスノズルを有する。 (もっと読む)


【課題】L型ガスノズルを設置する際にガスノズルが破損するリスクを低減し、ガスノズルの設置が容易な基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置を、複数の基板をY方向に積層して処理する反応容器と、反応容器の側壁をY方向と垂直なX方向に貫通して設けられるガス導入ポートと、X方向に延在するX部とY方向に延在するY部とを有し反応容器内からガス導入ポート内にX部がX方向に挿入されX部とY部を貫通する第1ガス流路が設けられる第1ガス流路部と、反応容器内で第1ガス流路部のY部に接続されY方向に貫通する第2ガス流路が設けられる第2ガス流路部と、反応容器の内壁からX方向に突出して設けられY方向の第3ガス流路を有し第2ガス流路部に接続される第3ガス流路部と、第3ガス流路部に支持されY方向の第4ガス流路が設けられるとともにガスを基板に対して供給するガス供給口が設けられた第4ガス流路部とから構成する。 (もっと読む)


【課題】欠陥が低く、高次シラン混入の少ない高品質なアモルファスシリコン薄膜を大面積で得るために、広い面積に渡り陰極凹部(ホロー)にプラズマを発生させることができるプラズマCVD装置を提供する。
【解決手段】真空容器2内に、被成膜基板13を置くための接地電極11と、該接地電極と2〜500mmの間隔を空けて配置され高周波電源15に接続された陰極3と、該陰極と前記接地電極との間に配置された電位シールド板8とを備え、前記陰極は、前記接地電極に対向する側に対向面5と複数の凹部4とを有する。前記電位シールド板は、前記陰極の各凹部と相対する各位置に、該各凹部の電位シールド板と平行な平面への投影面積の50〜250%の投影面積を有する貫通孔9が形成されている。前記陰極と前記電位シールド板とは、最近接部の間隔が0.1〜20mmとなるよう配置されている。 (もっと読む)


【課題】付帯設備や専有面積の過剰な増大を防止しつつスループットを増加し得る成膜装置を提供する。
【解決手段】開示の成膜装置は、直径300mmの基板が夫々載置される10個以上の載置領域を含む回転テーブルと、容器内の第1領域に配置され、回転テーブルへ第1反応ガスを供給する第1反応ガス供給部と、第1領域から回転テーブルの回転方向に離れた第2領域に配置され、回転テーブルへ第2反応ガスを供給する第2反応ガス供給部と、第1及び第2領域に対応する第1及び第2の排気口と、第1及び第2領域の間に配置され、第1及び第2反応ガスを分離する分離ガスを吐出する分離ガス供給部と、分離ガス供給部から供給される分離ガスが流れる空間を回転テーブルとの間に画成する天井面であって、その空間の圧力が第1及び第の領域における圧力よりも高く維持され得る高さを有する天井面とを含む分離領域とを備える。 (もっと読む)


【課題】生産効率を向上させ、処理ガスの使用効率を高めることができる基板処理装置を提供することができる。
【解決手段】処理室と、被処理基板を内蔵するための複数のサセプタと、前記処理室内にあって、前記複数のサセプタを並べて一定距離ずつ移動させる移動手段と、この移動手段により移動されるサセプタを加熱する加熱手段と、前記サセプタ内部へ反応性ガスを供給するガス供給手段と、を有する基板処理装置を有する。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体膜の気相成長において、一度に処理する基板の枚数を増大させ、生産性を向上させることができる膜の形成方法および基板処理装置を提供する。
【解決手段】縦型バッチ処理室201内の基板処理領域2062に複数の基板が搬入される工程と、前記処理室内の前記基板処理領域が加熱維持され、前記処理室内の前記基板処理領域外に設けられた第一ガス供給口931から窒素含有ガスが供給され、前記第一ガス供給口931よりも前記基板処理領域側に設けられた第二,第三,第四,第五ガス供給口935,936,937,938から金属含有ガスが供給され、前記複数の基板に窒素及び金属からなる窒化物半導体膜が形成される工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】基板載置領域における基板の位置ずれの発生を抑えることができる真空処理装置を提供する。
【解決手段】真空容器内に設けられ、水平面に沿って回転する回転テーブル2に形成された凹部24の内部に、ウエハWを載置するための載置部材200を着脱自在に設け、該載置部材200に、ウエハWの下面と載置部材200の表面との間の空間と、この空間の外側領域と、の間でガスを通流させるためにウエハWを前記表面から浮かせた状態で保持する突起201を形成する。真空容器の内部にて圧力変動が発生したとしても、ウエハWの下面に処理ガスを速やかに通気させることによって、ウエハWの下面側において局所的にガス圧が高まりウエハWが持ち上がって正常な位置からウエハWが移動してしまう現象の発生を抑える。 (もっと読む)


101 - 120 / 742