説明

Fターム[4M112DA09]の内容

圧力センサ (26,807) | 製造工程 (5,073) | 素子本体の製造工程 (5,065) | スパッタリング (331)

Fターム[4M112DA09]に分類される特許

141 - 160 / 331


【課題】小さい電圧で自己診断を行う加速度検出装置を提供する。
【解決手段】加速度検出装置1は、可撓部を有する基板5と、基板5に接続され、金属からなる導電部を有する重り部7と、を有し、可撓部の撓みに応じて加速度を検出する加速度検出素子3と、重り部7と所定の間隔を隔てて設けられた固定電極20と、を備え、
貫通導体6を介して重り部7に電圧を印加することにより、重り部7と固定電極20との間に静電引力が働くようにして自己診断をおこなう。 (もっと読む)


【課題】SOI基板を用いずに製造することができ、かつ、分離層を必要としない、MEMSセンサを提供する。
【解決手段】シリコン基板2に凹部4が形成されており、その凹部4内に固定電極5および可動電極6が配置されている。固定電極5および可動電極6は、シリコン基板2の材料であるシリコン材料ではなく、タングステンからなり、シリコン基板2のパターニングにより形成されるものではない。そのため、シリコン基板2が高導電性を有している必要がない。したがって、高導電性のシリコン層を備えるSOI基板を用いなくても、低導電性のシリコン基板2を用いて、加速度センサ1を製造することができる。シリコン基板2が高導電性を有していないので、固定電極5および可動電極6が形成される領域をその周囲から絶縁分離する必要がない。そのため、その絶縁分離のための分離層を必要としない。 (もっと読む)


【課題】簡易な手順で、可動電極と固定電極との固着を抑制した上で、陽極接合を実現する。
【解決手段】第1架橋部材が第1接触端子144によって第1帯状部14Aを接地し、第2架橋部材が第2接触端子143によって第2帯状部15Aに加工電圧を供給し、第3架橋部材が第3接触端子141によって第3帯状部54を接地し、第3帯状部54を通じて、他方の外側基板の第1帯状部14Bを接地する。また、第4架橋部材が第4接触端子によって第4帯状部に加工電圧を供給し、第4帯状部を通じて、他方の外側基板の第2帯状部15Bに加工電圧が供給される。中央基板6は、接地端子によって接地され、中央基板6と、外側基板8A,8Bの裏面側の一対の絶縁性基板7A,7Bの間には、加工電圧が加わり、陽極接合が実行される。このとき、第1帯状部14A,14Bおよび第1帯状部14A,14Bに接続される部分(固定電極2A,2B)は、接地されている。 (もっと読む)


【課題】質量部の変位感度比率を均一化することにより、Z軸方向の加速度が加わってもXY軸方向の加速度検出精度が悪くなってしまうことのない多軸加速度センサを提供することを目的とする。
【解決手段】XYZ座標系におけるXY平面に沿って配置され加速度に応じて変位する質量部12を複数の梁部14を介して周囲の支持部13に支持する可動基板11と、この可動基板11における支持部13と接合され、かつ可動基板11における質量部12と所定間隔を有する固定電極16を上面に設けた固定基板15とを備え、前記複数の梁部14を、支持部13からX軸あるいはY軸と平行方向に延びた第1の梁部17と、質量部12に連結され、かつXY軸と45°方向に斜めに延びた第2の梁部18とにより構成し、前記第2の梁部18の長手方向と垂直な断面2次モーメントを第1の梁部17の長手方向と垂直な断面2次モーメントより小さくしたものである。 (もっと読む)


【課題】構造体に損傷を与えることなく犠牲層を除去することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】支持基板11の上に犠牲層12が形成され、この犠牲層12の上に形成された半導体層13が形成されたSOI基板10において、半導体層13を貫通した開口部15により構成された可動部20および固定部30と開口部15とを含んだ犠牲層領域17に位置する犠牲層12に焦点を合わせてレーザ光を照射する。これにより、犠牲層領域17に位置する犠牲層12を多孔質化する。そして、犠牲層12を多孔質化した後、開口部15からエッチング媒体を導入し、多孔質化した犠牲層12をエッチングして除去する。これにより、支持基板11に対して可動部20の梁部24等を浮遊させる。 (もっと読む)


【課題】モット絶縁体であるペロブスカイト型酸化物の絶縁体相−金属相間の相転移を容易に誘起することができるペロブスカイト型酸化物の相転移誘起方法を提供する。
【解決手段】本発明のペロブスカイト型酸化物の相転移を誘起するための相転移誘起方法は、絶縁体相にあるペロブスカイト型酸化物に、これまでの数kV/cmよりも2桁低い40V/cm〜80V/cm程度の電場を印加することで、絶縁体相にあるペロブスカイト型酸化物を金属相に相転移させると共に、電場の印加により金属相に相転移したペロブスカイト型酸化物を冷却させることで、常磁性金属相にあるペロブスカイト型酸化物を強磁性金属相に相転移させる。 (もっと読む)


【課題】 構造が単純で小型かつ温度安定性に優れた半導体センサ装置を、より具体的に
は加速度センサ装置を低コストで提供する。
【解決手段】 配線基板上に回路チップとMEMS組立体を積み重ね、これらを接続する
金属ワイヤと共に低弾性率のシリコン系樹脂で封止し、好ましくは配線基板をガラスエポ
キシ樹脂基板もしくはアルミナ基板、LTCC基板とすることで、構造が単純で小型かつ
温度安定性に優れた加速度センサ装置を、中空型セラミックパッケージを用いた構造と比
較して低コストで提供することができる。 (もっと読む)


【課題】加速度等の検出に用いる半導体センサにおいて、これをベース材の表面に固定しても、半導体センサに備える錘部とベース材の表面との間隔を高精度に設定できるようにする。
【解決手段】環状の枠体部Sと、その内側に間隔をあけて配される錘部Mと、可撓性を有して枠体部Sと錘部Mとを一体に連結する可撓部Fと、可撓部Fの変形又は変位を検出する検出手段121と、一部が枠体部S内に埋設されると共に平面視環状に形成された枠体部Sの一端面113から突出するスペーサ突起部13とを備え、スペーサ突起部13が枠体部Sと異なる材料からなり、スペーサ突起部13の先端をベース材の表面に当接させた状態でベース材に固定する半導体センサ1を提供する。 (もっと読む)


【課題】センシング部を複数の基板で封止した半導体装置において、基板の平面方向に配線を設けたとしても、配線のレイアウトを簡略化することができる構造、およびその製造方法を提供する。
【解決手段】センサ部100とキャップ部300との積層方向において配線部120、122が形成された階層とは異なる階層であるキャップ部300の他面302にクロス配線322を配置している。また、第1貫通電極306によってクロス配線322と配線部120とを接続し、第2貫通電極307によってクロス配線322と配線部122とを接続している。このため、キャップ部300の他面302にはクロス配線322を迂回させる構造がないので、クロス配線322のレイアウトを簡略化することができる。 (もっと読む)


【課題】耐衝撃性能が高く薄いMEMSセンサを提供する。
【解決手段】枠形の支持部と、前記支持部に結合している梁形の可撓部と、前記可撓部に結合し前記支持部に対して運動することによって前記可撓部を変形させる錘部と、前記錘部の運動範囲を制限するストッパ部とを備えるMEMSセンサの製造方法であって、単結晶シリコンからなるベース層の表面に導電型が前記ベース層と異なるエピタキシャル結晶層からなる犠牲層を形成し、前記犠牲層をエッチングすることによって前記犠牲層から前記ベース層を一部露出させ、前記犠牲層と前記ベース層の表面に導電型が前記ベース層と一致するエピタキシャル結晶層からなる非平坦層を形成し、前記ストッパ部と前記錘部との間に空隙を形成し、前記空隙を形成することによって、前記錘部の運動範囲を制限する前記ストッパ部としての機能を前記非平坦層に顕在化する、ことを含むMEMSセンサの製造方法。 (もっと読む)


【課題】可動部の運動範囲を規制するストッパ基板部と可動部との空隙の幅を精度よく調整することができなかった。
【解決手段】支持部と、前記支持部に支持され前記支持部に対して運動する可動部と、を有する構造体と、前記構造体の前記支持部の底面が接合される平坦な接合面と、前記可動部と対向する領域において底部が前記接合面より後退している凹部と、を有するストッパ基板部と、前記ストッパ基板部の材料に対してエッチング選択性を有する材料からなり、前記凹部を前記接合面よりも後退した位置まで満たすことによって前記可動部の底面と予め決められた所定距離で対向する距離調整部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】製造工程の増大が抑制され、且つ振動子間の静電容量が安定した半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板10の上面に形成された凹部100内に自由端が延在し、半導体基板10に固定端が固定された梁型の振動子21、22を備える半導体装置1の製造方法であって、半導体基板10の上面の一部をエッチングして、振動子21、22の側面を露出させると同時に、振動子22と半導体基板10間の絶縁分離領域30が形成される分離溝を形成するステップと、分離溝の表面を熱酸化して、分離溝を酸化膜で埋め込んだ絶縁分離領域30を形成するステップと、振動子21、22の側面を熱酸化して、側面保護膜を形成するステップと、側面保護膜をマスクにした半導体基板10のエッチングにより振動子21、22の下面を露出させて、半導体基板10に形成された凹部100内に配置された振動子21、22を形成するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】半導体力学量センサについて、センサの構造の簡略化、チップサイズの低減を図る。
【解決手段】半導体力学量センサのうちキャップ部20においてセンサ部10と対向する一面に第1絶縁膜22、第1配線層23、第2絶縁膜24、および第2配線層25によって構成される配線構造を設け、他方、センサ部10にセンサ構造体15〜17を設ける。そして、キャップ部20とセンサ部10とを接合することで、配線構造をセンサ構造体15〜17に接続しつつ、センサ構造体15〜17を封止する構造とする。第2絶縁膜24における開口部24aは、センサ構造体15〜17と第2配線層24とのコンタクト領域14aとは異なる位置にずらされている。 (もっと読む)


【課題】多軸方向に関する検出が可能な小型のセンサ装置の製造コストを低減することができる製造方法を提供する。
【解決手段】連結部110によって互いに連結された第1および第2のセンサ素子101、102が基板100上に形成される。第1および第2のセンサ素子101、102のそれぞれを支持する第1および第2の部分P1、P2に基板100が分割される。この分割の後に、連結部110を曲げながら第1のセンサ素子101に対して第2のセンサ素子102の向きが変えられる。 (もっと読む)


【課題】 湾曲した半導体層と他部材の接触状態を長期間に亘って維持させる。
【解決手段】 半導体構造体10は、第1半導体層11と、第1半導体層11に対向する第2半導体層15と、第1半導体層11と第2半導体層15の間の一部に介在している中間層12を備えている。第2半導体層15は、中間層12の端部より側方に延びている延長部15dを有し、その延長部15dが第1半導体層11側に湾曲している。第2半導体層15の延長部15dの一部と第1半導体層11の接触範囲において、第2半導体層15に貫通孔17が形成されている。 (もっと読む)


【課題】 本発明の目的はセンサ特性の低下を抑え、かつ簡単な構成で加速度センサの耐衝撃性を向上させることにある。。
【解決手段】 本発明に係る加速度センサは、フレーム部と、前記フレーム部の内側に位置する錘部と、前記フレーム部と前記錘部とを接続する可撓部と、前記可撓部及び/又は前記フレーム部に配置された複数の歪検出部と、前記フレーム部上に配置された複数の電極パッドと、前記可撓部及び前記フレーム部上に配置され、前記歪検出部同士の間または前記歪検出部と前記電極パッドとの間を接続する配線部と、を備え、前記歪検出部と前記電極パッドの間を接続する配線部のいずれかは、第1の折返し部と第2の折返し部とを含む複数回の折返し形状を有し、前記第1の折返し部は前記フレーム部上に位置し、前記第2の折返し部は前記可撓部上に位置することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】可動部を面内方向に励振させるのにあたり、不要なメカノイズ成分の発生を有効に抑制できるようにする。
【解決手段】平板状の可動部11と、前記可動部11の端縁から離間して配される支持部12と、前記可動部11に一端が連結され、前記支持部12に他端が連結されて、前記支持部12に対して前記可動部11を面内方向へ変位可能に支持する弾性支持体13と、を備える微小電気機械装置(MEMS)において、前記弾性支持体13を基板の厚さ方向に全て抜いて形成することで、面内垂直方向における中心位置が前記可動部11の重心位置と合致するように構成する。 (もっと読む)


【課題】振動子とシリコン基板間の絶縁分離領域を形成し、且つ製造工程の増大を抑制できる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板10に固定された固定端を有する梁型の振動子21、22を備える半導体装置1の製造方法であって、半導体基板10の上面に、振動子21、22の側面絶縁膜40が形成される側面溝、及び振動子22と半導体基板10間の絶縁分離領域30が形成される分離溝を形成するステップと、側面溝の表面及び分離溝の表面を熱酸化して、側面溝を酸化膜で埋め込んだ側面絶縁膜40と分離溝を酸化膜で埋め込んだ絶縁分離領域30を同時に形成するステップと、側面絶縁膜40と半導体基板10上の上面絶縁膜をマスクにした半導体基板10のエッチング工程によって、半導体基板10の表面に形成された凹部100内に配置された振動子21、22を形成するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】1軸加速度センサの耐衝撃性を向上させると共に、容易に設計及び作製可能にする。
【解決手段】加速度センサ1は、SOI基板101を用いて構成され、下層104に互いに分離されて形成された固定枠2及び錘部3と、上層102に形成された、電極部4、支持部5、接続部6及びヒンジ7と、貫通孔配線8及び電極パッド9等を有する。錘部3と電極部4との間には、エッチングホール4aを介した犠牲層エッチングにより除去された酸化膜層103の厚み分のギャップ10が設けられている。錘部3は、一対のヒンジ7を回動軸として、固定枠2に対し回動可能に保持されている。加速度センサ1は、電極部4と錘部3との間の静電容量に応じて、加速度を検知可能である。電極部4は固定枠2に四方で支持されているため変形しにくく、また、錘部3が接触しうる部位を容易に特定可能なため、耐衝撃性を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】寄生容量を抑制しつつダイヤフラムとプレートの間の空隙層への異物の進入を防止する。
【解決手段】カバー161とプレート162の間に形成されているスリットSを介してカバーとプレートとが絶縁されているためカバーとダイヤフラム123a・123cとの間に寄生容量は発生しない。そしてプレートの対向部とともに一対の対向電極を形成するダイヤフラムの受圧部123aから突出するバンド123cはカバーによって覆われ、カバーとプレートの間の空隙はスリットである。したがってプレートによって覆われないダイヤフラムの領域の大部分はカバーによって覆われることになる。このためダイヤフラムとプレートの間の空隙層への異物の進入を防止することができる。 (もっと読む)


141 - 160 / 331