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Fターム[5C024BX01]の内容

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Fターム[5C024BX01]に分類される特許

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【課題】 配線層を増やすことなく全画素同時の電子シャッターを実現する。
【解決手段】 フォトダイオードとフォトダイオードの信号電荷をメモリ部に転送する第1転送手段と、メモリ部に転送された信号電荷をフローティングディフュージョン部に転送する第2転送手段と、フローティングディフュージョン部をリセットするリセット手段と増幅MOSトランジスタと定電流源からなるソースフォロア回路を有する撮像素子であって、第1転送手段の開閉を行う信号と、リセット手段の開閉を行う転送兼リセット信号と第2転送手段を開閉する第2転送信号を同時刻に印加し、一定時間後に転送兼リセット信号を印加し、フローティングディフュージョンのリセットレベルを読み出す動作を行い、第2転送信号を印加し、フローティングディフュージョンに転送された電荷を信号レベルとして読み出す動作を行い、信号レベルと前記リセットレベルの差分をとる。 (もっと読む)


【課題】 欠陥画素をより精度良く検出するためには撮像素子の温度上昇や信号電荷の蓄積時間を必要とするため、工場出荷前の調整時間に時間が掛かり、生産効率性の点などにおいて問題があった。
【解決手段】 欠陥画素検出時に、撮像素子内の読み出しゲート部に存在する読み出し電極に印加する電位を読み出しゲート部における半導体基板の界面が空乏状態となるような電位を与えるように撮像素子の駆動方法を変更することにより、温度依存及び露光時間依存しているキズの発生頻度を上げ、欠陥画素検出時間の短縮及び検出精度を高めることができる。 (もっと読む)


【課題】 OB画素を用いたクランプの誤動作を改善する。
【解決手段】 第2垂直走査回路VSR2を2回動作させ、続いて第1垂直走査回路VSR1を動作させることで、電圧変動の影響を受けているVOB2およびVOB2aと、電圧変動の影響を受けていないVOB1を出力させることができるので、VOB2およびVOB2aをクランプすることによりクランプ電圧が電圧変動に素早く追随するとともに、VOB1による通常のVOBクランプ動作が可能になる。 (もっと読む)


【課題】撮像用画素及び焦点検出用画素を有し、S/Nの良い信号を得ることができる固体撮像装置を提供することを課題とする。
【解決手段】固体撮像装置は、光電変換により信号を生成する複数の画素と、前記複数の画素の信号を増幅する増幅部(300)とを有し、前記複数の画素は、撮像用画素及び焦点検出用画素を有し、前記増幅部は、前記撮像用画素の信号を第1の増幅率で増幅し、前記焦点検出用画素の信号を前記第1の増幅率とは異なる第2の増幅率で増幅することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】複数の視差を生じさせる画像を取得するには、その数に応じた複雑な撮影光学系を用意しなければならなかった。
【解決手段】二次元的に配された複数の光電変換素子に対して、複数の視差に対応した複数種類の開口マスクを一対一に対応させて設けた撮像素子により撮像された複数の第1視差画像を取得する第1視差画像取得段階と、複数の光電変換素子全体に対して設けられた絞りにより、第1視差画像取得段よりも入射光の光軸に対する周縁の光束を遮光して、撮像素子により撮像された複数の第2視差画像を取得する第2視差画像取得段階と、複数の視差のそれぞれについて、第1視差画像と第2視差画像と、の差分に基づいて、複数種類の開口マスクに対応した複数の視差とは異なる新たな視差に対応した第3視差画像を生成する視差画像生成段階とを備える画像処理方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】カウントクロックの周波数によらず、AD変換により得られるデジタルデータの分解能を向上させることができるAD変換回路および撮像装置を提供する。
【解決手段】ラッチ部108は、比較部109による比較処理の間、クロック生成部18からのクロック信号を通過させ、比較処理の終了に係るタイミングでクロック信号をラッチする。列カウント部103は、クロック生成部18からのクロック信号をカウントすることに加えて、ラッチ部108にラッチされたクロック信号の論理状態に基づいて生成された計数信号をカウントする。 (もっと読む)


【課題】撮像素子における欠陥画素を確実に検出するとともに、補正処理された撮像素子を効率的に検査することが可能な撮像素子検査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】撮像素子検査装置20は、画素データを取得する画素データ取得部21と、信頼区間の区間幅Wcを演算する区間幅演算部22と、基準画素値Svから区間幅Wcを差し引いた閾値Thを用いて欠陥画素を検出する欠陥画素検出部23と、点滅画素が出力する下側画素値の変化特性を算出する変化特性算出部24とを備える。画素データ取得部21は、補正処理される撮像素子12を用いて、変化特性において基準画素値Svに対応する露光時間Ts以上となる露光時間Tiに設定された撮像条件で撮像して画素データを取得する。撮像素子検査装置20は、閾値Thと補正処理された画素データの各画素値とを比較して、当該補正処理の適否を判定する。 (もっと読む)


【課題】より適切な太陽黒点の補正を実現可能とする。
【解決手段】リセット期間とP相期間の間で、フローティングディフュージョンFDに接続されているリセットトランジスタTR2に印加するリセット信号のレベルを、リセットオン電圧とリセットオフ電圧の中間的なFDクリップ電圧とすることにより、フローティングディフュージョンFDに流入するブルーミングに起因する相関2重サンプリングの失敗を回避し、ADC回路が画素信号に対応した適切なデジタル信号を出力する。 (もっと読む)


【課題】必要以上に欠陥画素の補正を行うことなく、また補正されなかった欠陥画素を目立たないようにした撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムを提供する。
【解決手段】撮像装置1は、欠陥画素の位置及びレベルから、設定情報により当該欠陥画素がある領域に設定された閾値と、前記欠陥画素のレベルとを比較することにより、当該欠陥画素を補正するか否かを決定する。そして、補正することが決定された欠陥画素を補正する。 (もっと読む)


【課題】カウント値の伝搬遅延が異なることに起因する列毎の固定のノイズ成分を低減することができる固体撮像装置を提供することを課題とする。
【解決手段】行列状に配列され、光電変換により信号を生成する複数の画素と、行列状に配列された複数の画素の各列に設けられ、複数の画素の信号を列毎に読み出す複数の読み出し回路と、複数の読み出し回路から出力される信号と時間的にレベルが変化する参照信号とを比較する複数の比較部と、参照信号のレベルが変化を開始してからの時間をカウントするカウンタと、カウンタのカウント値をバッファリングする第1のバッファ(9n)と、カウンタのカウント値をバッファリングする第2のバッファ(9s)と、複数の比較部に接続され、複数の読み出し回路から出力される信号と参照信号との大小関係が逆転したときのカウンタのカウント値を記憶する複数の記憶手段(6)とを有する。 (もっと読む)


【課題】必要以上に欠陥画素の補正を行うことなく、また補正誤差を抑制した撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムを提供する。
【解決手段】撮像装置1は、取得された欠陥画素の位置から定まる補正対象となる欠陥画素の周辺画素及び当該欠陥画素の各々に対して、補正係数情報を用いて補正に用いられるオフセット補正値を算出し、算出されたオフセット補正値及び補正対象の画素の画素値のいずれもが、画素が飽和値に達しているか否かを判別するための予め定められた値未満のときは、オフセット補正値を用いて画素値を補正し、算出されたオフセット補正値が予め定められた値未満か、補正対象の画素の画素値が予め定められた値以上のときは、当該補正対象の画素の周辺画素の画素値を用いて、当該補正対象の画素の画素値を補間補正する。 (もっと読む)


【課題】有機撮像素子において残像を低減する。
【解決手段】有機撮像素子1は、基板10上に複数の画素部100を有し、基板10の光入射側の表面に、層間絶縁層20を介して形成された複数の画素電極40と、複数の画素電極40上に連続膜状に配された光機能層50と、光機能層50の上に配された、複数の画素部100に共有される対向電極60と、層間絶縁膜20内に形成された少なくとも1層の金属配線層32と、画素電極間の間隙Gに充填された充填部211と、光機能層50内に突出して形成されてなる突出部212とからなる電界調整用絶縁層21を備えてなり、光機能層50は、有機材料を含む光電変換層52を含む。突出部212は、充填部211に接している2つの画素電極40の各端部40tと、該2つの端部間の中央部上方の1つの頂点Aとをそれぞれ結ぶ下に凸の曲線で囲まれてなる。 (もっと読む)


【課題】それぞれの処理に適した露光条件を実現する。
【解決手段】撮像装置において、撮像素子13と、撮像装置において実行する処理内容に応じて、撮像素子13から複数の同色画素信号を加算して画像信号を読み出す8画素加算モードと、8画素加算モードにおける同色画素信号より少ない加算数で撮像素子13から複数の同色画素信号を加算して画像信号を読み出す4画素加算モードとを切り替えるモード切替部102と、8画素加算モードまたは4画素加算モードに従って、撮像素子13から画像信号を読み出す読み出し部103と、を備える。 (もっと読む)


【課題】フレームレートとフリッカ光源の周波数が同期する場合でも、ライブビューの表示画質を低下させることなく、フリッカの検出を高精度に行う。
【解決手段】ライブビュー表示中に、周期的に行われるフリッカ検出において、同じ積分時間の撮像出力の変動量と異なる積分時間の撮像出力の変動量を求め、同じ積分時間の撮像出力の変動量に基づいて異なる積分時間の撮像出力の変動量を判定してフリッカの検出を行う。 (もっと読む)


【課題】オーバーサンプリング数を増やすことなく、低照度における低ノイズ化を図れる高画質化を実現することが可能な固体撮像素子およびカメラシステムを提供する。
【解決手段】光信号を電気信号に変換するフォトダイオードを含む画素が配列された画素アレイ部と、画素からのアナログ画像信号を信号線に読み出し、読み出したアナログ画素信号をカラム単位で処理する読み出し部と、を有し、読み出し部は、アナログ画素信号をデジタル信号に変換する機能を有するΔΣ変調器と、ΔΣ変調器の入力側に配置され、信号線に読み出されたアナログ画素信号を設定されるゲインをもって増幅して上記ΔΣ変調器に入力する増幅器と、を含む。 (もっと読む)


【課題】 各画素が複数の光電変換部を有し、各画素からの信号を複数の読み出し系を介して読み出す撮像素子において、画素単位の加算読み出し及び光電変換部毎の独立読み出しを適切に行うこと。
【解決手段】 複数の光電変換部(201)と、複数の変換手段(202)とをそれぞれ含む単位画素が、行列状に配列された画素領域(20)と、各列に配列された複数の単位画素それぞれに含まれる複数の変換手段の1つに共通に接続される信号線(VL、VR)を複数含み、複数の変換手段から出力された電圧信号を、複数の信号線を介してそれぞれ独立に第1の方向に転送する第1の読み出し手段と、当該電圧信号を、第2の方向に転送する複数の第2の読み出し手段とを有し、複数の信号線を、各列毎に、複数の第2の読み出し手段のいずれか1つに接続したことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】撮像素子に入射する光の偏光状態及び入射角に依存して撮像素子から出力される信号の強度の変化が生じ、また、肉眼によって検知される明るさよりも撮像装置によって検知される明るさが低いといった問題を解決し得る撮像装置を提供する。
【解決手段】撮像装置10は、複数の撮像素子41,42,43が2次元マトリクス状に配列されて成る撮像部30を有し、撮像部30は、周辺領域32、及び、周辺領域32に囲まれた中央領域31に区画され、周辺領域32における撮像素子42,43には偏光手段が備えられており、中央領域31における撮像素子41には偏光手段が備えられていない。 (もっと読む)


【課題】駆動信号数を増加させずに、水平間引きと垂直間引きの両方を容易に実現することができるようにする。
【解決手段】撮像部には、光電変換素子が行列状に配列される。垂直電荷転送部は、撮像部に蓄積された電荷を垂直方向に転送する。水平電荷転送部は、垂直電荷転送部により転送された電荷を水平方向に転送する。HOD部は、垂直電荷転送部から水平電荷転送部への電荷の転送を制御するVOG電極と同一の電圧が印加されるVOG電極を介して、水平電荷転送部の不要な電荷を掃き捨てる。本技術は、例えば、イメージセンサに適用することができる。 (もっと読む)


【課題】低周波ノイズ除去に伴う消費電力の増加を最小限に抑えることができる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】画素部100は、入射した光の大きさに応じた画素信号を出力する画素101と、補正用基準電圧に応じた補正用画素信号を出力する補正用画素102とを有する。AD変換回路105は、複数の遅延素子が接続された遅延回路を有し、画素信号または補正用画素信号のレベルに対応する数の遅延素子をパルス信号が通過すると、パルス信号が通過した遅延素子の数に応じたデジタル信号を出力する。制御部111は、1フレーム内でm(mは2以上の自然数)行の画素信号のAD変換に対応して1行の補正用画素信号のAD変換を行うように垂直走査部103およびAD変換部105を制御する。ノイズ除去部109は、補正用画素信号のAD変換結果を用いて画素信号のAD変換結果からノイズを除去する。 (もっと読む)


【課題】画素からの微小信号、あるいは1光子信号を低ノイズ、高精度で、高速に検出することができ、これにより活用してフレームレートを上げることで、様々な高性能撮影が可能な撮像素子およびカメラシステムを提供する。
【解決手段】各センス回路は、画素からの出力信号と参照信号を比較する比較器を含み、信号検出を行う際に、比較器の片側あるいは両側の入力部に、選択画素から出力される第1の画素信号を相殺する電荷を保持し、比較器の片側の入力部に、比較器ごとに、比較器のオフセットを相殺するように、独立したオフセットバイアスを印加し、ステップ状に変化する参照信号と選択画素から出力される第2の画素信号とを比較して、画素に入射した光の強度をデジタル判定する。 (もっと読む)


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