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Fターム[5C030DF10]の内容

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Fターム[5C030DF10]に分類される特許

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【課題】冷電極を用いてシート状のビームを発生させることのできる、シート状ビーム発生装置を提供する。
【解決手段】平板型電極1と、接地電極7と、平板型電極1と接地電極7との間に電圧を印加する電源3と、平板型電極1と接地電極7が収容される真空容器4と、真空容器4の外部に設けられ平板型電極1から発生する粒子ビームを誘導する磁場を発生させる磁場発生コイル6とを備えた。平板型電極1の表面に粒子ビームを発生させるための粒子ビーム発生部2を形成した。粒子ビーム発生部2は略均一の粗さを有する。 (もっと読む)


【課題】気体電界イオン源を用いて試料表面でスポットサイズ10nm以下のイオンビームを有する汎用性、長器信頼性に優れたイオン顕微鏡を提供する。
【解決手段】気体と相互作用し、試料表面に10nm以下の寸法のスポットサイズ、1×109A/cm2sr以上の輝度、5×108A/cm2srV以上の還元輝度、5×10-21cm2sr以下のエタンデュ、1×10-16cm2srV以下の還元エタンデュ、を有するイオンビームを発生させることが可能な気体電界イオン源を含むシステムを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】同一のイオン源から引き出した複数のイオンビームを用いて、試料の加工と観察を可能にするイオンビーム装置を提供する。
【解決手段】ガスボンベ53、54、ガス配管、ガス量調整バルブ59、60およびストップバルブ57、58とを備えた導入系統を少なくとも2つ備え、各々のガス系統においてガス量調整バルブにより真空容器内のガス圧力条件を設定でき、各々のガス系統のストップバルブの操作により真空容器内に導入するガスを切り替えることが可能であるイオン源を用いて、質量数の異なる少なくとも2種類のガスイオンを生成して、試料の加工時と観察時でガスイオンビーム種の切り替えを可能とする。 (もっと読む)


【課題】気体電界イオン源を用いたイオン顕微鏡に於いて、試料表面でスポットサイズ10nm以下のイオンビームを実現する。
【解決手段】イオン源の導電性電極先端186の材料と形状を最適化して表面に三量体の原子層を形成し、極低温状体で動作させることにより気体ヘリウムとのイオン化効率を向上する。又、電極先端の移動機構208や絞り開口径224の選択によりビーム径と電流量を制御し、試料180上で10nm以下のスポットを実現する。 (もっと読む)


冷却式荷電粒子源及び方法を開示する。いくつかの実施形態では、荷電粒子源を、固体窒素等の固体クライオジェンに熱結合する。熱結合は、荷電粒子源を所望の低温で維持するための良好な熱伝導率を提供するよう設計することができる。 (もっと読む)


荷電粒子源、例えばガスイオン源の先端の頂部を加熱するシステム及び方法であって、先端頂部が発生させた光を検出するよう構成した検出器と、荷電粒子源及び検出器と結合したコントローラとを備え、コントローラを、検出器が検出光に基づき先端頂部の加熱を制御できるようにした、システム及び方法。 (もっと読む)


【課題】FIM像から、コンタミネーション等の外乱に影響されずにエミッタの結晶構造を正確に把握することができるうえ、原子の再配列を行わせたとしても、エミッタの結晶構造が正確に元の状態に戻ったか否かを判断すること。
【解決手段】エミッタ10と、ガスG2を供給するガス源11と、エミッタを冷却させる冷却部12と、エミッタの先端を加熱する加熱部13と、引出電圧を印加してエミッタの先端でガスをガスイオンにして引き出させる引出電源部15と、ガスイオンを集束イオンビーム(FIB)にした後に試料Sに照射させるビーム光学系16と、エミッタ先端のFIM像を取得する画像取得機構17と、表示部及び記憶部7bを有する制御部7と、を備え、記憶部には、エミッタ先端の理想的な結晶構造を表示するガイドが予め記憶され、制御部が取得したFIM像にガイドを重ねた状態で表示部に表示可能とされている集束イオンビーム装置を提供する。 (もっと読む)


イオン源およびシステムおよび方法が開示されている。幾つかの実施形態では、イオン源、システムおよび方法は、不都合な振動を比較的わずかにしか示さず、および/または不都合な振動を十分に減衰することができる。これにより、性能を向上させることができる(例えば、確実性、安定性などを増大することができる)。
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【課題】自動チップ形成を備える帯電粒子源を提供する。
【解決手段】帯電粒子デバイスは、エミッタチップ13を含むエミッタユニットと、エミッタチップに安定な引出電界を生成するための定電圧を供給するように構成された電圧供給ユニット222と、安定引出電界に加えてパルス引出電界を生成するためのパルス電圧を供給するように構成されたパルス電圧供給部品224と、エミッタ特性を測定するための測定ユニット142、142’、142”と、測定ユニットから信号を受け取るように構成され、かつパルス電圧供給部品を制御するように構成された制御ユニット130とを含む。 (もっと読む)


【課題】エミッタ表面を有する冷陰極電界エミッタを含む荷電粒子ビーム照射デバイス、特に電子ビーム照射デバイスを動作する方法を提供する。
【解決手段】本方法は、(a)所与の引き出し電界下で高い初期照射電流と低い安定平均照射電流とを示す冷陰極電界エミッタを真空中に配置する段階と、(b)エミッタ表面から電子を照射するために冷陰極電界エミッタに引き出し電界を印加して、冷陰極電界エミッタの照射電流が安定平均照射電流よりも高くなるようにする段階と、(c)少なくとも1つの加熱パルスを印加してエミッタ表面を温度にまで加熱することにより清浄化処理を行い、清浄化処理は、冷陰極電界エミッタの照射電流が低い安定平均照射値にまで低下する前に行われるようにする段階と、(d)清浄化処理(c)を繰返して、冷陰極電界エミッタの照射電流が安定平均照射値を連続的に上回るように維持する段階とを含む。 (もっと読む)


【解決手段】 本発明は、液体金属イオン源、二次質量分析計、および対応する分析方法、ならびにこれらの利用に関する。特に、ジェントルSIMS(G−SIMS)法に基づく質量分析方法に関する。
上記の目的を実現するべく、原子量が190U以上の第1の金属と、原子量が90U以下の第2の金属とを有する液体金属イオン源を利用する。
本発明によれば、G−SIMS法に基づき、一次イオンビームから2つの種類のイオンのうち一方を交互にフィルタリングで取り出し、質量高純度一次イオンビームとしてターゲットに当てる。 (もっと読む)


【課題】 荷電粒子ビームカラムを有する荷電粒子ビーム装置のガス電界イオン源であって、高分解能を可能とするものを提供すること。
【解決手段】 本発明によるガス電界イオン源は、エミッタユニット(155)と、冷却ユニット(146)と、冷却ユニットからエミッタユニットへの熱伝導のための熱伝導ユニットとを含み、熱伝導ユニットが冷却ユニットからエミッタユニットへの振動伝達の低減を可能とするように構成されている。 (もっと読む)


【課題】 カソード近傍に発生する異常放電を防止してパーティクルやスプラッシュの発生を抑制するためのイオンビーム源及びこれを備えた成膜装置を提供する。
【解決手段】 金属製の筐体に、カソードと、磁気ギャップと、前記筐体内に磁場を生じさせる磁場発生手段と、前記筐体内に反応性ガスを導入するための反応性ガス導入手段と、前記磁気ギャップの近傍に配置されるアノードとを備えるイオンビーム源であって、前記カソードを接地電位から電気的に絶縁したことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 本発明はイオンビーム源装置において、引き出されたイオンによって空間電荷が形成され、引き出し電流密度が大きくなると、それに比例した大きな電場が発生し、その結果イオンビームが自己発散するような問題点を除去することを課題とする。
【解決手段】 メッシュ構造、あるいは1個ないし多数の孔を持った電極を用いて、プラズマ源からイオンを引き出すイオンビーム源装置において、プラズマ源とは反対のビーム引き出し方向から、光、あるいはX線を照射することにより、照射された電極背面から光電子を放出させて、電極孔から引き出されたイオンの空間電荷を中和して、イオンビームの発散を抑制することを特徴とするイオンビーム源装置である。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、化学的に安定な金属クラスター錯体等の多核金属分子(金属クラスター錯体等)を使うことによって、サイズの揃ったクラスターのビームを安定に得るとともに、装置の小型化を実現することを目的とする。
【解決手段】 本発明の分子ビーム装置は、金属クラスター錯体を用いてイオンビームを生成する分子ビーム装置において、気化させた金属クラスター錯体をイオン化することを特徴とする。
また、本発明の分子ビーム装置は、気化させた金属クラスター錯体を電子衝撃によりイオン化することを特徴とする。 (もっと読む)


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