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Fターム[5D112GA14]の内容

Fターム[5D112GA14]に分類される特許

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【課題】本発明は、平行度などの形状特性に優れる磁気記録媒体用ガラス基板の提供を目的とする。また、平行度などの形状特性に優れる磁気記録媒体用ガラス基板を高い生産性で研磨するガラス基板の研磨方法、及び該研磨方法を用いた研磨工程を有する磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法の提供を目的とする。
【解決手段】本発明は、磁気記録媒体用ガラス基板の上下主平面を研磨する研磨工程において、ガラス基板を研磨する両面研磨装置の上定盤及び下定盤は、内周端と外周端のある円盤形状を有し、該外周端により形成される外径が0.6m〜2mであり、下定盤は回転速度33〜49rpmで回転駆動し、上定盤は下定盤と反対方向に回転速度10〜21rpmで回転駆動し、ガラス基板を保持するキャリアは下定盤と同方向に速度2〜16rpmで公転し、ガラス基板の両主平面を押圧する上定盤と下定盤の圧力は8.0〜16.0MPaである研磨方法を有することを特徴とする磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】垂直磁気記録方式等に代表される次世代の情報記録媒体基板用途として要求される各種物性を備え、とりわけ、高い破壊靭性と平滑な表面を有する情報記録媒体用基板を低コストで製造する製造方法を提供することにある。
【解決手段】SiO成分、Al成分、R’O成分(ただしR’はLi、Na、Kのいずれか1種以上)を含む板状の結晶化ガラスを準備する工程と、前記結晶化ガラスを研削する研削工程を含み、前記研削工程は前記結晶化ガラスをダイヤモンドパッドで研削する工程のみからなり、前記研削工程は、ダイヤモンド粒子の平均径が0.1〜5μmのダイヤモンドパッドで研削する情報記録媒体用基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】非晶質ガラス基板の研磨において、高い研磨速度で研磨でき、研磨後の基板表面の表面粗さ、ピット、及びキズの欠陥を低減でき、好ましくは、加えて低コストでガラスハードディスク基板を製造できる研磨液組成物の提供。
【解決手段】セリア粒子、シリカ粒子、及び水を含有する非晶質ガラス基板用研磨液組成物であって、前記研磨液組成物中におけるセリア粒子とシリカ粒子の合計含有量が4〜20重量%であり、前記セリア粒子と前記シリカ粒子との重量比(セリア粒子/シリカ粒子)が5/95〜30/70であり、pHが4〜12である、非晶質ガラス基板用研磨液組成物。 (もっと読む)


【課題】垂直磁気記録方式等に代表される次世代の情報記録媒体基板用途として要求される各種物性を備え、とりわけ、高い破壊靭性と平滑な表面を有する情報記録媒体用基板を低コストで製造する製造方法を提供することにある。
【解決手段】SiO成分、Al成分、R’O成分(ただしR’はLi、Na、Kのいずれか1種以上)を含む板状のアモルファスガラスを準備する工程と、前記アモルファスガラスを研削する研削工程を含み、前記研削工程は前記アモルファスガラスをダイヤモンドパッドで研削する工程のみからなり、最終研磨終了後の目標厚さをt1、加工時の前記アモルファスガラスの厚さt2とするとき、t2/t1≦1.2の場合は全てダイヤモンドパッドで研削する情報記録媒体用基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法において、ガラス基板の端面研磨装置間の移動やブラシの交換をすることなく、端面の加工傷を短時間で除去し、かつ端面を高品質に平滑化することが可能な端面研磨工程を提供する。
【解決手段】端面研磨工程では、回転自在の軸心31aと、剛性が相対的に高く、軸心31aからブラシ部の先端までの長さが相対的に短い第1ブラシ部31cと、剛性が相対的に低く、軸心31aからブラシ部の先端までの長さが相対的に長い第2ブラシ部31dとを有するブラシを用いてガラス基板の端面13を研磨する。端面研磨工程は、第1ブラシ部31cと第2ブラシ部31dとをガラス基板の端面13に接触させてブラシを軸心周りに回転させる第1研磨段階と、ガラス基板の端面13とブラシの軸心31aとの間の距離が第1研磨段階よりも長くなった状態で、第2ブラシ部31dのみをガラス基板の端面13に接触させてブラシを軸心周りに回転させる第2研磨段階とをこの順に含む。 (もっと読む)


【課題】磁気ディスク用ガラス基板の主表面の研磨のために従来から研磨剤として使用されてきた酸化セリウムよりも、主表面を平らにする点、主表面のスクラッチの生じにくさの点でより優れた研磨剤を使用した磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供すること。
【解決手段】
研磨液を用いて磁気ディスク用ガラス基板の主表面を研磨するときに、研磨液として、主表面の算術平均粗さを0.5nm以下とし、かつ主表面のマイクロウェービネス(MW-Rq)を0.5nm以下とすべく、アルミニウム系の研磨剤として粒状のベーマイトおよび/またはギブサイトを含むものを使用する。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板の端面の表面状態を高いレベルで平滑に仕上げることができ、かつコストを抑制できる、情報記録媒体用ガラス基板の製造方法を提供する。
【解決手段】円形ディスク形状のガラス基板1の表面に磁気記録層が形成される情報記録媒体用ガラス基板の製造方法は、ガラス基板1を成形する工程と、ガラス基板1の端面に、遊離砥粒を含有した研磨液50を供給するとともに、表面が隙間なく密集した回転ブラシ4を回転させながら接触させて、端面を研磨する工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】研磨工程において、ガラス基板の微小うねりを悪化させることなく高精度に制御でき、かつガラス基板へのダメージ傷の付着が抑制可能なハードディスク用ガラス基板の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】研磨スラリー粒子を含む研磨スラリーを用いてガラス基板表面の研磨を行う研磨工程を含むハードディスク用ガラス基板の製造方法であって、前記研磨工程において、前記研磨スラリー粒子の実効粒子径を経時的に変化させる処理を用いることを特徴とするハードディスク用ガラス基板の製造方法。前記処理は、前記研磨スラリー粒子の表面電位を経時的に変化させる手段により行うことが好適である。また、前記手段は、交流電流を前記研磨スラリー粒子へ印加することが好適である。また、前記手段は、前記研磨スラリーのpHを変化させることが好適である。また、前記手段が、交流電流を前記研磨スラリー粒子へ印加すること、かつ、前記研磨スラリーのpHを変化させることが好適である。 (もっと読む)


【課題】生産性を損なうことなく、研磨後の基板表面のスクラッチやうねりを低減できる研磨液組成物、並びにこれを用いた基板の製造及び研磨方法の提供。
【解決手段】研磨材、水溶性重合体、及び水を含有する研磨液組成物であって、前記水溶性重合体が、スルホン酸基を有し、主鎖及び側鎖のそれぞれに芳香族環を有する研磨液組成物。前記研磨液組成物を被研磨基板の研磨対象面に供給し、前記研磨対象面に研磨パッドを接触させ、前記研磨パッド及び/又は前記被研磨基板を動かして研磨する工程を含む、基板の製造方法及び研磨方法。 (もっと読む)


【課題】磁気ディスク用基板を研磨する用途での使用により適した研磨用組成物を提供する。
【解決手段】研磨用組成物は、コロイダルシリカのような砥粒と、クエン酸やオルトリン酸のような酸と、過酸化水素のような酸化剤と、ベンゾトリアゾールのようなアゾール類及びその誘導体から選ばれる化合物とを含有してなる。研磨用組成物は、磁気ディスク用基板を研磨する用途で好適に使用される。 (もっと読む)


【課題】循環耐久性に優れ、高研磨速度と低表面粗さを両立できる、ガラスハードディスク基板の製造方法の提供。
【解決手段】研磨材、酸、ベンゼン環上に互いに隣接する2個以上の水酸基を有する多価ヒドロキシベンゼン化合物、及び水を含有し、pH1.0〜4.0である研磨液組成物を用いて被研磨ガラス基板を研磨する工程を含む、ガラスハードディスク基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】研磨速度が高く、精密研磨に適した研磨用シリカゾル、研磨用組成物及び研磨用シリカゾルの製造方法を提供する。
【解決手段】シリカゾルは動的光散乱法により測定される平均粒子径が5〜300nmの範囲にある非球状シリカ微粒子を分散媒に分散してなり、固形分濃度が10〜60重量%であって、29Si−NMRスペクトル測定時のケミカルシフト−73〜−120ppmのピーク面積におけるQ4の面積が88%以上、Q3の面積が11%以下である。但し、前記ケミカルシフトは、テトラメチルシランを基準物質とし、Q4は−100〜−120ppmの範囲のピークであり、Q3は−82〜−100ppmの範囲のピークである。 (もっと読む)


【課題】本発明は研磨パッドの全面に研磨用液を安定供給することを課題とする。
【解決手段】研磨用液供給装置100は、研磨用液を貯留する液貯留部110と、液貯留部110に研磨用液を補給する液補給部120と、両面研磨装置200の上定盤201と下定盤202との間に研磨用液を供給する複数の液供給チューブ130とを有する。液貯留部110は、環状に形成された多重溝140と、多重溝140を支持する支持部材160とを有する。多重溝140は、内側溝部材142と、外側溝部材144とが同心円状に配されている。内側溝部材142及び外側溝部材144は、複数の液供給チューブ130を通して上定盤201に保持された上側研磨パッド330に連通される。 (もっと読む)


【課題】ガラスハードディスク基板の製造方法において、低い表面粗さと高い研磨速度を維持でき、基板の生産性を向上できる、ガラスハードディスク基板の製造方法の提供。
【解決手段】研磨液組成物を用いて被研磨ガラス基板を研磨する工程を有するガラスハードディスク基板の製造方法であって、前記研磨液組成物が、コロイダルシリカ、下記一般式(I)で表される硫酸エステル化合物、ヒドロキシ多価カルボン酸、及び水を含有する、ガラスハードディスク基板の製造方法。
R−O−(AO)n−SO3M (I)
[式中、Rは炭素数3〜20の炭化水素基を示し、AOは炭素数2〜3のオキシアルキレン基を示し、nはAOの平均付加モル数であって1〜4であり、Mはアルカリ金属、アルカリ土類金属、有機カチオン及び水素原子からなる群から選択される。] (もっと読む)


【課題】表面の平滑性が高く、表面のうねりが少ない磁気記録媒体用ガラス基板を高い生産性で製造することができる磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法を提供する。
【解決手段】1次、2次及び3次ラップ加工には、それぞれダイヤモンドパッド20A,20B,20Cを用い、ダイヤモンドパッド20Aは、ダイヤモンド砥粒の平均粒径が4μm〜12μm、ダイヤモンド砥粒の含有量が5〜70体積%であり、ダイヤモンドパッド20Bは、ダイヤモンド砥粒の平均粒径が1μm〜5μm、ダイヤモンド砥粒の含有量が5〜80体積%であり、ダイヤモンドパッド20Cは、ダイヤモンド砥粒の平均粒径が0.2μm以上2μm未満、ダイヤモンド砥粒の含有量が5〜80体積%であり、第1、第2及び第3のラップ加工には、研削液として有機アミン水溶液を用い、1次ポリッシュ加工には、研磨剤として酸化セリウムを用いずに酸化ケイ素を用いる。 (もっと読む)


【課題】ポリッシュ工程において酸化セリウムを用いることなく、又はその使用量を低減しつつ、十分な耐衝撃強度が得られると共に、そのような磁気記録媒体用ガラス基板を高い生産性で製造できる磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法を提供する。
【解決手段】中心孔を有する円盤状のガラス基板の内外周端面に対して少なくとも、研削加工を施す工程と、エッチング加工を施す工程と、ポリッシュ加工を施す工程とを、この順で含む。 (もっと読む)


【課題】表面の平滑性が高く、表面のうねりが少ない磁気記録媒体用ガラス基板を高い生産性で製造することができる磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法を提供する。
【解決手段】1次ラップ加工及び2次ラップ加工には、ダイヤモンド砥粒が結合剤で固定されたダイヤモンドパッド20A,20Bを用い、このダイヤモンドパッド20A,20Bのラップ面20aは、平坦な頂部を有するタイル状の凸部21が複数並んで設けられた構造を有し、1次ラップ加工に用いるダイヤモンドパッド20Aは、ダイヤモンド砥粒の平均粒径が4〜12μmであり、凸部21におけるダイヤモンド砥粒の含有量が5〜70体積%であり、2次ラップ加工に用いるダイヤモンドパッド20Bは、ダイヤモンド砥粒の平均粒径が1〜5μmであり、凸部21におけるダイヤモンド砥粒の含有量が5〜80体積%であり、第1及び第2のラップ加工には、研削液として有機アミン水溶液を用いる。 (もっと読む)


【課題】研磨後の被研磨物の表面粗さ及びパーティクルを低減できる研磨液組成物の製造方法。
【解決手段】一次粒子の平均粒子径が1〜100nmのコロイダルシリカを含有する被処理シリカ分散液を、ろ過助剤を含むフィルターでろ過処理する工程を有する研磨液組成物の製造方法であって、前記ろ過助剤は水銀圧入法による平均細孔径が0.1〜3.5μmである、研磨液組成物の製造方法。 (もっと読む)


【課題】表面の平滑性が高く、表面のうねりが少ない磁気記録媒体用ガラス基板を高い生産性で製造することができる磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法を提供する。
【解決手段】1次、2次及び3次ラップ加工には、それぞれダイヤモンドパッド20A,20B,20Cを用い、ダイヤモンドパッド20Aは、ダイヤモンド砥粒の平均粒径が4μm〜12μm、ダイヤモンド砥粒の含有量が5〜70体積%であり、ダイヤモンドパッド20Bは、ダイヤモンド砥粒の平均粒径が1μm〜5μm、ダイヤモンド砥粒の含有量が5〜80体積%であり、ダイヤモンドパッド20Cは、ダイヤモンド砥粒の平均粒径が0.2μm以上2μm未満、ダイヤモンド砥粒の含有量が5〜80体積%であり、1次ポリッシュ加工には、研磨剤として酸化セリウムを用いずに酸化ケイ素を用い、ポリッシュ加工を施す工程の前に、エッチング処理を施す工程を設ける。 (もっと読む)


【課題】耐衝撃性に優れた磁気情報記録媒体用ガラス基板の製造方法を提供する。
【解決手段】粗研磨行程を備える磁気情報記録媒体用ガラス基板の製造方法で、前記粗研磨行程は、ガラス素板の主面を、酸化セリウムを含有する研磨スラリーにて研磨した後に、前記研磨スラリーを研磨装置外に取り出す行程、前記取り出した研磨スラリー中の研磨剤のレーザ回折散乱法で測定された粒度分布の最大値が3.5μm以下であり、その粒度分布での累積50体積%径D50が0.5〜1.5μmとなるように分級する行程、前記分級した研磨剤を含む研磨スラリーにて、他の異なるガラス素板の主面及び端面を研磨する行程を備える製造方法。好ましくは、この分級した研磨剤が、酸化セリウムと、SiO,AlOを含むアルミノシリケートとを含有し、アルミノシリケートの含有量が、酸化セリウムの含有量に対して0.1〜30質量%である。 (もっと読む)


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