【課題】製造した磁気ディスク用基板の全てについて、歩留まりを悪化させることなく高精度で内径測定を行うことができる円板状基板内径測定装置、円板状基板内径測定方法及び円板状基板の製造方法を提供すること。
【解決手段】レーザ変位計（測定装置）１００は、ラインレーザ１１２を円板状基板２００の主表面に照射するラインレーザ光源１１０と、円板状基板２００を支持する基板ホルダ１３０と、ラインレーザ１１２が円板状基板２００の円孔２１０を通過するように基板ホルダ１３０を昇降させる昇降部１４０と、基板ホルダ１３０の昇降中、円板状基板２００を反射又は通過したラインレーザ１１２を受光し、該光量分布を取得するレーザセンサ１２０と、レーザセンサ１２０が取得した光量分布から円孔２１０の内径を測定する内径測定部１５０とを具備し、基板ホルダ１３０は、測定時の基板姿勢が、地面に対し鉛直から所定の角度の範囲に入るように円板状基板２００を支持する。 （もっと読む）

【課題】磁性粒子が高度に分散された磁性層を有する磁気記録媒体を提供すること。
【解決手段】磁性粒子を該磁性粒子の等電点より低いｐＨを有する水系溶媒中で液中粒径が３５ｎｍ以下となる分散状態に分散処理すること、上記分散処理により得られた磁性液に所定の表面改質剤を添加し磁性粒子の表面改質処理を行うことにより上記磁性粒子のゼータ電位を０〜２５ｍＶの範囲に調整すること、ならびに上記調整後の磁性粒子を有機溶媒および結合剤とともに分散処理して磁性塗料を作製し、作製した磁性塗料を用いて磁性層を形成すること、を含む磁気記録媒体の製造方法。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成で素材、板厚、端面の状態等を含めたガラス基板等の状態の検査を行うことが可能なガラス基板検査装置及びガラス基板の製造方法を提供することを目的としている。
【解決手段】画像データを解析する解析手段を有し、前記解析手段は、前記画像データの所定領域内における色に基づき前記ガラス基板の素材を判別する判別手段と、前記ガラス基板の板厚を算出する板厚算出手段と、前記ガラス基板の端面に対する加工が行われているか否かを検出する端面状態検出手段と、を有する。 （もっと読む）

【課題】
本発明は、本高速でパターンドメディア表面やスタンパのパターン形状の整形不良を検査できるパターン形状検査装置または検査方法並びにパターンドメディアディスク製造ラインを提供することである。
【解決手段】
本発明は、パターンが形成された被検査対象を載置して回転させながら半径方向に移動させ、前記被検査対象に対して遠紫外光を含む広帯域の照明光を斜め方向から照射し、該照射光学系で照射された被検査対象から発生する０次反射光を検出し、前記検出された０次反射光を一定の波長幅を有するチャンネル分光データを得、該チャンネル分光データが設定許容範囲内に存在するか判断し、前記判断結果を基に前記被検査対象に形成されたパターン形状を検査することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ガラス基板面内の板厚偏差に優れる磁気記録媒体用ガラス基板の提供を目的とする。また、ガラス基板面内の板厚偏差に優れる磁気記録媒体用ガラス基板を生産性高く研磨するガラス基板の研磨方法、及び該研磨方法を用いた研磨工程を有する磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法の提供を目的とする。
【解決手段】本発明は、磁気記録媒体用ガラス基板の両主平面を研磨する研磨工程において、ガラス基板の自転運動を促進する真円度が１００μｍ以下のガラス基板保持穴を有するキャリアを用いることを特徴とする磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】非接触式のＩＤ計測方式において、高精度な内径測定が可能となる基板の内径測
定装置及び内径測定方法を提供することを目的の一とする。
【解決手段】ガラス基板搬送装置とレーザ変位計とを組み合わせた非接触式のＩＤ計測方
式において、測定時にガラス基板を固定する基板ホルダを保持して、ラインレーザ光源を
昇降させてガラス基板の主表面にラインレーザを照射して測定することにより、測定時に
測定対象であるガラス基板が揺動することにより測定精度が低下することを抑制する。 （もっと読む）

【課題】ＨＤＤにおいて、磁気ディスクに記録されているTrack情報を含むサーボ情報を安定に読み出すことを実現できる磁気記録媒体用ガラス基板を提供する。
【解決手段】ガラス基板は、中心からの径方向の位置と板厚から下記式で求められるパラメータＭが、所定の範囲内にある。
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【課題】 ＨＤＤとしたときに、磁気ディスクに記録されているTrack情報を含むサーボ情報を安定に読み出すことを実現できる磁気記録媒体用ガラス基板を提供する。
【解決手段】本発明のガラス基板１は、内孔のプロファイルにおける凹凸形状の偏りを示すパラメータが、所定の範囲内にある。 （もっと読む）

【課題】 ＨＤＤとしたときに、磁気ディスクに記録されているTrack情報を含むサーボ情報を安定に読み出すことを実現できる磁気記録媒体用ガラス基板を提供する。
【解決手段】本発明のガラス基板１は、外周形状のプロファイルと内周形状のプロファイルにおける凹凸形状の偏りを示すパラメータと、前記外周形状と内周形状の中心位置差とから規定される評価値が、所定の範囲内にある。 （もっと読む）

【課題】本発明は、平行度に優れる磁気記録媒体用ガラス基板の提供と、平行度に優れる磁気記録媒体用ガラス基板を生産性高く研磨するガラス基板の研磨方法、及び磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法の提供を目的とする。
【解決手段】ガラス基板を研磨する前の両面研磨装置の上定盤の研磨面と下定盤の研磨面の形状を、内周端における上定盤の研磨面と下定盤の研磨面との距離をＤｉｎとし、外周端における上定盤の研磨面と下定盤の研磨面との距離をＤｏｕｔとしたとき、ＤｏｕｔからＤｉｎを引いたΔＤ（＝Ｄｏｕｔ−Ｄｉｎ）を−３０μｍ〜＋３０μｍとしてガラス基板を研磨する工程を有する磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法により、平行度が３．２μｍ以下である磁気記録媒体用ガラス基板を提供できる。 （もっと読む）

【課題】光学的な検査により検出した欠陥の位置情報を用いてリード・ライトテストのサンプリング位置を決定することにより、光学的な検査により検出した欠陥の近傍領域だけをリード・ライトテストするようにして、リード・ライトテストを効率よく行えるようにする。
【解決手段】検査対象の磁気ディスクをスピンドルで保持した状態で光学式の検査装置とリード・ライトテスト装置との間を移動させる構成とし、光学式の検査装置で検出した欠陥の位置情報をリード・ライトテスト装置で用いることができるようにして、光学式の検査装置で検出した欠陥の近傍領域だけをリード・ライトテスト装置で検査することを可能にした。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ガラス基板の面取り部にピット欠陥がないガラス基板の提供を目的とする。また、ガラス基板の側面部と面取り部を生産性高く確実に研磨するガラス基板の端面研磨方法、および磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法の提供を目的とする。
【解決手段】磁気記録媒体用ガラス基板の内周端面研磨に用いる研磨ブラシとして、植毛部の幅が、積層されたガラス基板同士の積層幅（ガラス基板とスペーサを合わせた厚み。スペーサを使用しないガラス基板積層体の場合はガラス基板の厚み。）の１．１〜２．２である研磨ブラシを用いる。該研磨ブラシを使用した内周端面研磨により、磁気記録媒体用ガラス基板の面取り部に残留するキズを生産性高く確実に除去でき、面取り部のピット欠陥がない磁気記録媒体用ガラス基板を生産性高く提供できる。 （もっと読む）

【課題】 検査中に平滑性が悪化する恐れのない収納体を提供する。
【解決手段】本発明の収納体は、可視光の透過率が５０％以上であるカバー３３ａ、３３ｂを有しており、カバー３３ａ、３３ｂは、厚さ２ｍｍにおける可視光の透過率が５０％以上、７０％以下であるポリプロピレンで構成されている。 （もっと読む）

【課題】簡易な手法によって、保磁力ＨｃとＯＷ特性が所望の範囲内となるように調整することが可能な垂直磁気記録媒体の製造管理方法を提供する。
【解決手段】垂直磁気記録媒体１００の製造管理方法の代表的な構成は、グラニュラ磁性層１６０または補助記録層１８０の膜厚を変化させることにより、これらの膜厚に対する保磁力Ｈｃとオーバーライト特性の関係を求める工程と、分断層１７０の膜厚を変化させることにより、この分断層１７０の膜厚の増加に対して保磁力Ｈｃとオーバーライト特性がいずれも低下する特定の範囲を求める工程と、当該垂直磁気記録媒体が保磁力Ｈｃとオーバーライト特性について所望の範囲内となるように、分断層１７０の膜厚を特定の範囲内で決定し、かつグラニュラ磁性層１６０または補助記録層１８０の膜厚を決定する工程と、決定されたそれぞれの膜厚でこれらの成膜を行う工程と、を含む。 （もっと読む）

【課題】多品種（板厚、硝種）の生産において、出荷時の混在を避けることができ、その検査におけるコスト、生産ラインの効率低下を最小限に抑えること。
【解決手段】本発明の検査装置は、ガラス基板Ｄが収納され該ガラス基板の一方の端部から他方の端部に掛けて光が透過する構造の収納カセット３０を、前記ガラス基板Ｄの一方の端部側から照明する照明装置３２と、収納カセット３０を挟んで照明装置３２と対向配置され、前記収納カセット３０に収納された前記ガラス基板Ｄを該ガラス基板Ｄの他方の端部側から撮像する撮像装置３１と、撮像装置３１によって得られた撮像画像を画像処理して前記収納カセット３０に収納されたガラス基板Ｄの収納状況を検査する検査装置３３とを具備したことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】
スキャトロメトリを用いることにより、基板上に形成された線幅数１００ｎｍ以下のパターンの断面形状を、例えばディスク全面を数マイクロメータ程度の領域毎に検査・測定することも可能となる。しかし、ディスク全面を数マイクロメータ程度の領域毎に検査・測定したパターンの幅や高さ等を全て表示することは困難であり、また全て表示することが必ずしも有効であるとはいえない。
【解決手段】
本発明では、パターンの幅や高さ、特にデバイスの性能に直接影響を及ぼすパターン断面の磁性体部分の断面積(単位長さあたりの体積)等の分布を独立に、又は組み合わせて表示する。また、結果の特徴を強調して表示する。さらに、リードライトテスト結果との相関を予め評価しておくことにより、パターン断面形状の検査・測定時に最終的な不良箇所の特定を可能とし、不良の発生を事前に防止することができる。 （もっと読む）

【課題】片面で面出しが不可能な片面加工品の磁気ディスク用基板においても従来の触針式測定機や光学式／干渉系測定機を使用した品質の測定を行うことができる磁気ディスク用基板固定用治具及び磁気ディスク用基板の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の磁気ディスク用基板固定用治具は、片方の面のみ加工された磁気ディスク用基板３０を検査する際に用いられる磁気ディスク用基板固定用治具１であって、磁気ディスク用基板３０の加工面３０ａと接する面２ａが加工面３０ａと同程度に研磨加工された支持部材２と、磁気ディスク用基板３０の非加工面３０ｂ側で、磁気ディスク用基板３０の穴部のテーパ状に形成された開口部と接するテーパ面３ａが磁気ディスク用基板３０の穴部と同程度に研磨加工された固定部材３とを具備し、支持部材２の面２ａと固定部材３のテーパ面３ａとで磁気ディスク用基板３０を固定する。 （もっと読む）

【課題】熱アシスト記録における記録時の磁気記録媒体の表面温度を高い精度で測定し、以って記録時に適切に加熱することが可能な熱アシスト磁気記録媒体とその温度上昇特性の測定方法および加熱方法を提供する。
【解決手段】記録時にスポット加熱される磁気記録層３を備える熱アシスト磁気記録媒体１０において、加熱パワーに対応する不可逆な膜質変化を起こす温度検知層４が前記磁気記録層３上に設けられている。 （もっと読む）

【課題】 ＨＤＤとしたときに、磁気ディスクに記録されているTrack情報を含むサーボ情報を安定に読み出すことを実現できる磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明のガラス基板の製造方法は、ドーナツ状のガラス基板の内周端面および/または外周端面を加工する端面加工工程と、前記ガラス基板の内周端面および/または外周端面における厚さ方向の対称性を評価する評価工程と、前記評価工程に基づき、良品・不良品を判断する判断工程とを含み、前記判断工程により良品と判断されたものを磁気記録媒体用ガラス基板とする （もっと読む）

【課題】磁気ディスク用ガラス基板の製造工程において、端面の損傷、欠損（カケ）のための外観検査を強化している。この外観検査は、目視にて実施しているが、ガラス基板を一列に並べて外観検査すると正面から見たとき、ガラス基板が重なり見えにくいため、検査精度と検査効率の低下の原因となっている。
【解決手段】本発明は、複数の円板状ディスクを、互いに平行に、かつ階段状に並べて配置するディスク保持構造を有するディスク検査装置を提供する。 （もっと読む）