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Fターム[5F004EA05]の内容

Fターム[5F004EA05]に分類される特許

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【課題】光の波長以下の微細加工における深さ制御を高い精度で行うことが可能なエッチング方法と、これを利用したナノインプリント用モールドの製造方法と検査方法およびエッチング装置を提供する。
【解決手段】 開口部(3)を有するエッチングマスク(2)を介して基材(1)をエッチングする際に、予めエッチングによるエッチングマスク(2)の減少量(a−b)と基材1のエッチング深さdとの関係式を設定し、エッチングマスク(2)の減少量(a−b)を測定することにより上記関係式から対応するエッチング深さdを算出して、エッチングの制御を行うこととする。 (もっと読む)


【課題】エッチング損傷を減少させるべくドライエッチングを用いて磁気素子を製造する。
【解決手段】磁気素子の製造方法と装置を提供する。素子の磁性及び/又は非磁性層はTaのような非有機材マスクを用いNのような不活性ガスと水素ガスの混合ガスによりエッチングされる。結果として、研究例ではMTJテーパ角はほぼ垂直である。 (もっと読む)


【課題】磁性体層又は反磁性体層をエッチングする際のパーティクルの混入を抑制し、高性能なTMR素子を提供する。
【解決手段】炭化水素類ガス、アルコール類ガス、エーテル類ガス、アルデヒド類ガス、カルボン酸類ガス、エステル類ガス及びジオン類ガスからなる化合物ガス群から選択された少なくとも一種の化合物ガス、及び酸素ガスを有する混合ガス中の全炭素原子数Cnと全酸素原子数OnとがOn/Cn>1の関係を満たし、該混合ガスを用いて形成したプラズマ雰囲気下で、磁性体層又は反磁性体層をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】磁性膜又は反磁性膜をエッチングする際に発生するパーティクルの混入を抑制し、高性能なTMR素子を製造する方法を提供する。
【解決手段】炭化水素類、アルコール類、エーテル類、アルデヒド類、カルボン酸類、エステル類及びジオン類からなるガス化化合物群から選択された少なくとも一種のガス化化合物を0.5×1017分子数/分・m以上、好ましくは2×1017分子数/分・m以上の分子流速の条件下において形成したプラズマ雰囲気下で、磁性膜又は反磁性膜をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】本発明は、表面エネルギーの低い薄膜に、ダメージなくパターニングを行う薄膜のパターニング方法、デバイス及びその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】薄膜20上に、蒸着膜30を積層する工程と、
前記蒸着膜上に、フォトレジスト層40を積層する工程と、
フォトリソグラフィにより、前記フォトレジスト層をパターニングし、パターニングされた前記フォトレジスト層を用いて前記蒸着膜をエッチングしてパターニングする工程と、
パターニングされた前記蒸着膜をパターンマスクとして、前記薄膜をエッチングしてパターニングを行う工程と、を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】サファイア基板上に化合物半導体層を成長させて作製する半導体装置において、光取り出し効率の高い半導体装置を作製できるサファイア基板を提供する。
【解決手段】サファイア基板1の面に複数の凸起2,2,…をランダム配置で形成し、その面上にGaN層10を成長させた。さらにその上に、多重量子井戸層12,p−AlGaN層14,p−GaN層16、ITO層18を形成し、2つの電極21,22も形成して半導体発光素子を作製した。 (もっと読む)


【課題】電極間のリーク電流の発生及び応力集中が効果的に抑制されるとともに、高密度化が可能であり、さらに、圧電体層のプラズマダメージが抑制された圧電素子を提供する。
【解決手段】圧電素子10は、支持体12と、支持体12上に形成されている下部電極16と、下部電極16上に形成されている圧電体層20と、圧電体層20上に下部電極16と対向するように形成されている上部電極24と、を有し、圧電体層20の下部電極16側の面が上部電極24側の面よりも大きくなるように圧電体層20の下部電極16側の周囲に段差部20Aが形成されている。 (もっと読む)


【課題】基材を損傷させずに大面積の基材上に微細凹凸パターンを形成する方法を提供する。
【解決手段】少なくとも一方の主面に凹凸パターン部を有するシート状部材2を、加熱により流動化させる工程と、前記主面に形成され少なくとも部分的に前記凹凸パターン部と噛合するとともに、前記凹凸パターン部の複数の凹部に渡って連続した反転凹凸パターン層4を介して、前記シート状部材を基材5に圧着する工程と、前記圧着後、前記シート状部材を除去して、少なくとも前記反転凹凸パターン層を前記基材上に残置する工程と、前記シート状部材を除去した後、前記反転凹凸パターン層のパターン形状を前記基材の表面に転写する工程とを具備することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】多層レジストや、メタルゲート/High−k等の積層膜のドライエッチング加工において、高精度の加工精度が要求される。
【解決手段】複数層の連続エッチング加工において、エッチング後の寸法測定することなく、加工の形状または寸法を、真空処理室1の内壁または半導体基板4と、真空処理室1内に生成されたプラズマとの間の電荷量に応じて変動するバイアス電位を計測し、また、プラズマ中の波長の異なる各イオン種の発光強度を測定し、これらから予め設定したモデル式にて、各膜種のエッチング処理毎に、エッチング後の各膜種の加工寸法を予測し、次の膜のエッチング後寸法が、所定の寸法値になるよう処理条件を変更し、連続して次の膜種のエッチング処理を行うことで、寸法や形状を補正するドライエッチング方法および装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】Au系微細金属配線を線幅制御性良く形成することを可能とする半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】基板1上の絶縁膜2の上にAuを主材料とする金属配線層3を形成し、金属配線層3上にマスク用W層4を形成し、マスク用W層4上にレジスト層を形成してこのレジスト層をパターニングし、パターニングされたレジスト層5をマスクとしてマスク用W層4を反応性イオンエッチング法によりパターニングし、パターニングされたマスク用W層4をマスクとして金属配線層3を、アルゴンと酸素の混合ガスを用いる反応性イオンエッチング法により選択的に除去した後、マスク用W層4を反応性イオンエッチング法により除去することによってAu系金属配線を形成する金属配線形成工程を備えることを特徴とする半導体装置の製造方法を構成する。 (もっと読む)


【課題】 フィン型FETデバイス及びこれの製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体デバイスは、基板を準備しそして基板上に半導体含有層を形成することにより形成される。次いで、複数個の開口を有するマスクが、半導体含有層上に形成され、ここでマスクの複数個の開口のうち互いに隣接する開口は、最小構造寸法だけ離されている。その後、半導体含有層の第1部分にドーパントを導入するために、角度付けしたイオン注入が行われ、ここでドーパントがほぼ存在しない残りの部分がマスクの下側に存在する。サブリソグラフィック寸法のパターンを形成するために、半導体含有層のうちドーパントを含む第1部分がこの半導体層のうちドーパントをほぼ含まない残りの部分に対して選択的に除去され、そしてサブリソグラフィック寸法のフィン構造を生じるために、パターンが基板に転写される。 (もっと読む)


【課題】高硬度で脆い基板に対する微細加工を実現できる現実に実用化可能な基板のドライエッチング方法を提供する。
【解決手段】洗浄装置2で洗浄済みの支持基板11に真空貼付装置3により粘着剤フィルム21を真空貼付する。マスク層13aを形成済みの水晶基板9を、真空貼合装置4によって粘着剤フィルム21を介して支持基板11に真空貼り合わせする。支持基板11をドライエッチング装置6の基板載置面41aに静電吸着すると共に、支持基板11と基板載置面41aの間に伝熱ガスを供給した状態で、プラズマを発生させた水晶基板9をドライエッチングする。 (もっと読む)


【解決手段】酸素及び/又は窒素を含有し、遷移金属を含有してもよい単層又は多層の第1のケイ素系材料層と、第1のケイ素系材料層に隣接して形成され、遷移金属を含有してもよく、第1のケイ素系材料層より窒素及び酸素の合計の含有率が小さいケイ素系材料層からなる単層又は多層の第2のケイ素系材料層とからなる積層体から、第1のケイ素系材料層のエッチング速度に対する第2のケイ素系材料層のエッチング速度が大きくなるように塩素系ガスと酸素ガスとの比率を設定して、塩素系ドライエッチングにより、第2のケイ素系材料層を選択エッチング除去する。
【効果】エッチングストッパー膜を用いなくとも、同種のケイ素系材料の積層体、例えば、位相シフト膜であるケイ素系材料の遮光膜を、ケイ素系材料の位相シフト膜上に積層したものを用いても、位相シフト膜にダメージを与えることなく、遮光膜に対する高精度なエッチング加工が可能となる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、メタルマスクを用いて、簡易な方法により半導体基板に先細状ビア孔を形成するエッチング方法を提供することを目的とする。
【解決手段】半導体基板上に金属導電層を形成する工程と、該金属導電層上に第1の開口を有する第1メッキ層を形成する工程と、該第1メッキ層の側壁に該第1の開口より幅の狭い第2の開口を有する第2メッキ層を形成する工程と、該第2メッキ層をマスクとして第1のドライエッチングを行い該半導体基板をエッチングする工程と、該第1のドライエッチングの後に該第1メッキ層を残す選択的ウェットエッチングを行い該第2メッキ層をエッチングする工程と、該第2メッキ層をエッチングした後に該第1メッキ層をマスクとして第2のドライエッチングを行い該半導体基板をさらにエッチングする工程とを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】デュアルダマシン法による解像限界以下の溝(トレンチ)及び凹部(孔又はビア)のパターンをCD値を高精度に形成することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】被エッチング層上に、第1のハードマスク膜と、第2のハードマスク膜とを成膜する成膜工程S11と、第1のピッチを有し、第2のハードマスク膜よりなるパターンであって、溝のパターンを形成する際のエッチングマスクとなる溝形成用マスクパターンを形成するための第1の溝形成用マスクパターン形成工程S12〜S14と、第4のピッチで設けられた開口部を有する第2のレジスト膜と、第2のレジスト膜の開口部と連通し、第2のレジスト膜の開口部の寸法より小さい寸法の開口部を有する第1の有機膜とよりなる第2レジストパターンを用いて、第1のハードマスク膜をエッチングする第1の凹部形成用マスクパターン形成工程S15〜S18とを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】高アスペクト比を有する多結晶シリコン膜のエッチング加工において、加工性の向上を図る。
【解決手段】シリコン基板1の上面にゲート絶縁膜4が形成され、その上面に多結晶シリコン膜5、7、電極間絶縁膜6などからなるゲート電極の積層膜からなる加工対象膜が形成されている。この上面に、ハードマスクとして機能するシリコン窒化膜8、酸化アルミニウム膜9が積層される。従来相当のシリコン窒化膜10が単層の構成のハードマスクに比べ、ハードマスクを薄くすることができる。これによって、リソグラフィのパターン幅Aに対して最終加工幅C1はC2に対して小さくすることができ、加工変換差を小さくすることができる。 (もっと読む)


【課題】ウェットエッチング処理工程を含まず、塩素系ガスの専用処理設備を必要としない、安価な装置構成で処理可能な、クロム膜のパターニング方法を提供する。
【解決手段】基材10上にクロム膜11’を形成するクロム膜形成工程と、クロム膜11’の上に、後のパターニング工程における酸素プラズマ条件で除去されないマスク材料膜12’を形成するマスク材料膜形成工程と、マスク材料12’膜をパターニングして所定のマスクパターン12を形成するマスクパターン形成工程と、マスクパターン12が設けられていない部分のクロム膜を、載置されるステージを加熱して酸素プラズマ条件の温度範囲とし且つ塩素原子を含まない酸素プラズマに晒して酸化クロムとして昇華除去するパターニング工程と、を有するように構成して、所定のクロムパターン11を得る。 (もっと読む)


【課題】Alを含む金属配線の形成において、サイドエッチ量を低減した微細な金属配線を形成でき、金属配線上に形成するビアホールが金属膜を突き抜けるのを抑制することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に第一TiN膜3、Alを含む金属膜4、第二TiN膜5を順次積層した金属配線層6を形成する工程と、前記金属配線層6の上にストッパー膜7、シリコン酸化膜8を順次積層したハードマスク層12を形成する工程と、前記ハードマスク層12を選択的にエッチングして前記金属配線層6の上にハードマスク12aを形成する工程と、前記ハードマスク12aをマスクとしてエッチングし金属配線6aを形成する工程と、前記ハードマスク12aおよび前記金属配線6aの上に層間絶縁膜14を形成する工程と、前記ストッパー膜7をエッチングストッパとして前記層間絶縁膜14にビアホール17aを形成する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】主磁極を従来よりも微細にすることができる磁性材料の加工方法を提供する。
【解決手段】基板1の上方に、磁性材料を有する磁性体層31を形成し、磁性体層31の上に、塩化された状態での沸点が磁性材料の塩化物の沸点に比べて高い金属を含むマスク35を形成し、塩素系ガスとの化学反応を含むドライエッチング法によりマスク35から露出している領域の磁性体層31をエッチングする工程により、磁気ヘッドの磁極を形成する工程を含む。 (もっと読む)


【課題】真空中で行われるドライエッチングの微細加工の製造工程に特別な変更を加えることなく微細加工時に使用されるマスク材を二重に重ねて積層することで、製造工程中必然的に含まれる酸化過程により保護層の最表層に酸化層が形成されたとしても、MR比の低下を防止し、磁気抵抗効果素子としての性能を高く保持することができる磁気抵抗効果素子の製造方法を提供する。
【解決手段】少なくとも2層の磁性層を含む磁性多層膜からなる磁気抵抗効果素子のドライエッチング方法であって、Taからなる第1のマスクの下層にRu、Rh、Os、Nb、Ir、及びReのいずれか1つである第2のマスクを二重に積層する方法である。 (もっと読む)


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