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Fターム[5F045AC12]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 導入ガス (14,721) | NH3 (2,100)

Fターム[5F045AC12]に分類される特許

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【課題】シリコン基板上に形成したクラックが少ない高品位の窒化物半導体素子、窒化物半導体ウェーハ及び窒化物半導体層の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、積層下地層と、機能層と、を備えた窒化物半導体素子が提供される。積層下地層は、シリコン基板の上に形成されたAlNバッファ層の上に形成され、交互に積層された複数のAlN下地層と複数のGaN下地層とを含む。機能層は、積層下地層の上に設けられ、窒化物半導体を含み低Si濃度の機能部低濃度層と、機能部低濃度層の上に設けられ、高Si濃度の機能部高濃度層と、を含む。複数のGaN下地層のうちでシリコン基板に最も近い基板側GaN下地層は、低Si濃度の第1、第2低濃度下地部と、高Si濃度で、第1、第2低濃度下地部の厚さの合計よりも薄い局所高濃度下地部と、を有する。 (もっと読む)


【課題】アウトヒータのヒータエレメントの円周方向への変形に、ヒータ電極部が追従し、ヒータエレメントやヒータ電極部の破損、周辺部材への接触を防ぐことが可能な半導体製造装置及び半導体製造方法を提供する。
【解決手段】ウェーハ支持部材15を所定の温度に加熱するための、一か所に間隙を有する環状のヒータエレメント19aと、このヒータエレメント19aの各端部に設けられる第1のヒータ電極部と第2のヒータ電極部とを有するヒータ18、19と、第1のヒータ電極部と第2のヒータ電極部とそれぞれ接続される第1の電極部品と第2の電極部品と、第1の電極部品が固定される第1の溝と、第2の電極部品が配置され、ヒータエレメント19aの円周方向において、第1の電極部品と第1の溝との第1の遊びより、第2の電極部品との第2の遊びが大きくなるように設けられる第2の溝とを有するベース28と、を備える。 (もっと読む)


【課題】厚膜化が可能で、反りが小さく、かつリーク電流が小さい半導体素子を提供する。
【解決手段】基板と、基板の上方に形成された第1のバッファ領域と、第1のバッファ領域上に形成された第2のバッファ領域と、第2のバッファ領域上に形成された活性層と、活性層上に形成された少なくとも2つの電極とを備え、第1のバッファ領域は、第1半導体層と、第2半導体層とが順に積層した複合層を少なくとも一層有し、第2のバッファ領域は、第3半導体層と、第4半導体層と、第5半導体層とが順に積層した複合層を少なくとも一層有し、第4半導体層の格子定数は、第3半導体層と第5半導体層の間の格子定数を有する半導体素子。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板上に形成したクラックが少ない高品位の窒化物半導体素子、窒化物半導体ウェーハ及び窒化物半導体層の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、シリコン基板の上に形成されたAlNバッファ層の上に形成された機能層を備える窒化物半導体素子が提供される。機能層は、交互に積層された、複数の機能部低濃度層と、複数の機能部高濃度層と、を含む。機能部低濃度層は、窒化物半導体を含み、Si濃度が5×1018cm−3未満である。機能部高濃度層は、Si濃度が5×1018cm−3以上である。複数の機能部高濃度層のそれぞれの厚さは、機能部低濃度層のそれぞれの厚さよりも薄い。複数の機能部高濃度層のそれぞれの厚さは、0.1ナノメートル以上50ナノメートル以下である。複数の機能部低濃度層のそれぞれの厚さは、500ナノメートル以下である。 (もっと読む)


【課題】被処理体以外の部位への成膜を抑制した大気圧プラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】プラズマ処理装置は、誘電体内にアンテナとアースが形成された面放電型の誘電体バリア放電方式のプラズマ源において、被処理体を前記プラズマ源に略接触させ、被処理体に対してプラズマ源を設置した面とは反対の面にプラズマを生成するようにした。 (もっと読む)


【課題】高効率の半導体発光素子、窒化物半導体層成長用基板及び窒化物半導体ウェーハを提供する。
【解決手段】実施形態によれば、第1導電形の層を含む第1半導体層と、第2導電形の層を含む第2半導体層と、第1半導体層と第2半導体層との間に設けられた発光層と、を備えた半導体発光素子が提供される。第1半導体層は、発光層とは反対の側の第1主面に設けられた複数の構造体を有する。複数の構造体のそれぞれは凹部、または、凸部である。複数の構造体のうちのいずれかである第1の構造体の形状の重心と、複数の構造体のうちで第1の構造体に最も近い第2の構造体の形状の重心と、は、第2軸上に並ぶ。凹部の深さをhbとし、凹部の底部の第2軸に沿った幅をrbとし、凸部の第2軸に沿った幅をRbとしたとき、rb/(2・hb)≦0.7、及び、rb/Rb<1を満たす。 (もっと読む)


【課題】半導体層の劣化及び破壊を抑制した半導体発光素子、窒化物半導体ウェーハ及び窒化物半導体層の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、第1半導体層と、発光部と、第2半導体層と、In含有中間層と、を備えた半導体発光素子が提供される。第1半導体層は、シリコン基板の上に下地層を介して形成され、窒化物半導体を含み第1導電形である。発光部は、第1半導体層の上に設けられ、複数の障壁層と、複数の障壁層どうしの間に設けられGa1−z1Inz1Nを含む井戸層と、を含む。第2半導体層は、発光部の上に設けられ、窒化物半導体を含み第2導電形である。In含有中間層は、第1半導体層と発光部との間、及び、第2半導体層と発光部との間の少なくともいずれかに設けられ、上記z1とは異なる組成比でInを含む窒化物半導体を含み、10nm以上1000nm以下の厚さを有する。 (もっと読む)


【課題】温度むらを生じることなく材料ガスの冷却を行うことができる冷却機構を備えた材料ガス供給用ノズル、該ノズルを備えた気相成長装置および該気相成長装置を用いた半導体膜の製造方法を提供する。
【解決手段】
材料ガス流通層は、材料ガスの吹き出し口と、吹き出し口に連通するガス流通通路とを有する。冷却媒体循環層は、ガス流通通路を覆う冷却媒体の循環通路を有する。材料ガス流通層は、吹き出し口側の端部において材料ガス流の上流側に凹んだ第1の凹部を有し、吹き出し口は、第1の凹部の端面に沿って設けられている。冷却媒体循環層は、第1の凹部と外縁が重なる第2の凹部と、第2の凹部を挟む両側の第2の凹部の周辺部にガス流通通路よりも外側に張り出した拡張部と、を有する。冷却媒体の循環通路は、第2の凹部の材料ガス流の上流側端部よりも下流側であって拡張部内に冷却媒体の循環の折り返し点を有する。 (もっと読む)


【課題】高電圧を印加しても短絡破壊を生じないトランジスタとして動作する半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置1は、基板10(シリコン基板10a)の上に形成されたバッファ層21と、バッファ層21の上に形成されたチャネル層22と、チャネル層22の上に形成され、チャネル層22とヘテロ接合を構成する障壁層23とを備える。バッファ層21およびチャネル層22は、窒化物半導体で形成されている。チャネル層22は、膜厚を1μm以上2μm以下とされ、炭素濃度を5×1016cm-3以下とされている。 (もっと読む)


【課題】
結晶膜のCVD装置において、成長させる基板数を多くしたい。特に有機金属原料から成長させるGaNなどのバンドギャップの大きい化合物半導体の結晶成長CVD装置において、その要求が強い。
【解決手段】
中心に排気シリンダーを備えたサセプタを積層させ、当該サセプタに基板を載せて、加熱したサセプタの間にCVDの原料ガスを通す。ガスの消費効率を向上させるとともに積層させたサセプタに枚数に比例して一度に成長させる基板の枚数が増える。 (もっと読む)


【課題】低転位密度と良好な表面平坦性とを両立した、高効率な半導体発光素子、窒化物半導体層、及び、窒化物半導体層の形成方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、下地層と、第1半導体層と、発光層と、第2半導体層と、を備えた半導体発光素子が提供される。発光層は下地層と第1半導体層との間に設けられる。第2半導体層は下地層と発光層との間に設けられる。下地層は、第2半導体層の側の第1主面と、第1主面とは反対側の第2主面と、を有する。下地層は、第2主面に設けられ、凹部と側部と凸部とを有する凹凸を有する。凸部に繋がる転位の少なくともいずれかは、側部に繋がる。凸部に繋がる転位のうちで第1主面に到達する転位の割合は、凹部に繋がる転位のうちで第1主面に到達する転位の割合よりも低い。第1主面のうちで凹部と重なる領域に繋がる転位は、凹部に繋がる転位よりも少ない。 (もっと読む)


【課題】パーティクルの発生及び拡散を抑制して反応室を開放する反応室開放方法、及び気相成長装置を提供する。
【解決手段】反応室101へガスを導入して昇圧し、反応室101と作業室102の圧力差が所定値以下になるときに排出弁112bと均圧弁107bを開き、反応室101からガスを排気しながら均圧路107aを介して反応室101と作業室102を連通し、反応室101と作業室102の圧力を等しくしてから反応室101を開放する。 (もっと読む)


【課題】クラックが入り難い高抵抗な窒化物半導体基板を提供する。
【解決手段】下地基板の表面に、第1の層Bと第2の層Fからなる窒化物半導体層1を形成し、その窒化物半導体層1を下地基板から分離して得られる直径40mm以上、厚さ200μm以上の自立した窒化物半導体基板10であって、第2の層Fは、その表面の面内の平均転位密度が1×103cm-2以上、1×108cm-2未満であると共に、電気抵抗率が0.02Ωcmより大きくなるように形成されており、第1の層Bは、第2の層Fよりも電気抵抗率が低くなるように形成されているものである。 (もっと読む)


【課題】格子欠陥が発生することを防止した光取り出し効率の高い発光ダイオードを提供する。
【解決手段】発光ダイオードは、第一半導体層120と、第二半導体層140と、活性層130と、第一電極150及び第二電極160と、を含む。第一半導体層、活性層及び第二半導体層が、第一電極から離れる方向に沿って、基板に順に積層して設置され、第一半導体層が、第一電極に接続され、第二電極が、第二半導体層に電気的に接続され、第一半導体層の第一電極と隣接する表面が、複数の溝を含むパターン化表面122であり、第一半導体層のパターン化表面が、第一電極に接続される。 (もっと読む)


【課題】上下方向で基板両面が基板よりも大きい輪郭の処理手段で覆われる場合でも基板とマスクの相対位置を撮像し、基板とマスクを精度よく位置決めでき、CVD装置に適用したときでも、膜厚や膜質の面内均一性よく成膜できる真空処理装置を提供する。
【解決手段】処理室1a内で基板Sに対向配置されるマスクMと、基板に対してマスクを相対移動させる移動手段63と、基板上側に配置されて基板の片面に対してマスク越しに所定の処理を施すガス導入部3及び高周波電源5と、基板の他面を覆うように基板下側に配置される本体21を有して基板の他面側から所定の処理を施す加熱プレート2とを備える。本体21下側に撮像手段7を設け、本体21に上下方向の透孔24aを形成すると共に透孔内に透光性部材24bを埋め込んで撮像用光路24を構成し、撮像用光路を通して撮像手段により基板とマスクの相対位置を撮像し、この撮像データを基に移動手段を制御する。 (もっと読む)


【課題】電子のトラッピング現象を緩和すると共に、ヘキサゴナル欠陥の発生を抑制可能な窒化物半導体エピタキシャルウェハの製造方法を提供する。
【解決手段】基板1上に核生成層2を形成し、その核生成層2上に第一の窒化物半導体層3を形成し、その第一の窒化物半導体層3上に、前記第一の窒化物半導体層3よりも電子親和力の小さい第二の窒化物半導体層4を形成する窒化物半導体エピタキシャルウェハ10の製造方法において、前記第一の窒化物半導体層3を形成する際の成長温度が、前記第二の窒化物半導体層4を形成する際の成長温度よりも低くするものである。 (もっと読む)


【課題】格子欠陥が発生することを防止した発光ダイオードを提供する。
【解決手段】発光ダイオード10は、基板100と、第一半導体層120と、第二半導体層140と、活性層130と、第一電極150と、第二電極160と、を含む。第一半導体層、活性層、及び第二半導体層は、基板から離れる方向に沿って、基板に順次的に積層され、第一電極は、第一半導体層に電気的に接続され、第二電極は、第二半導体層に電気的に接続され、第一半導体層の基板と隣接する表面は、複数の空隙を含むパターン化されたカーボンナノチューブ層102である。第一半導体層のパターン化された表面が基板に接続することによって複数のキャビティが形成される。 (もっと読む)


【課題】加工性に優れていて品質が高いIII族窒化物結晶を提供すること。
【解決手段】III族窒化物単結晶を1000℃以上で熱処理することによりIII族元素を含む化合物からなる被膜を形成し、その被膜を除去することによりIII族窒化物結晶を製造する。 (もっと読む)


【課題】製造工程の煩雑化を伴うことなく製造中におけるウエハの割れを防止すること。
【解決手段】窒化物半導体素子形成用ウエハは、基板の上に、下地層、第1導電型窒化物半導体層、活性層、および第2導電型窒化物半導体層が順に積層されて構成されている。基板は、窒化物半導体素子材料とは異なる材料からなる。また、下地層および/または第1導電型窒化物半導体層の膜厚は、基板の中央側と基板の周縁側とで異なっており、基板の周縁側からその基板の中央側へ向かうにつれて大きくても良いし、基板の周縁側からその基板の中央側へ向かうにつれて小さくても良い。窒化物半導体素子は、窒化物半導体素子形成用ウエハを用いて作製されたものである。 (もっと読む)


【課題】 基板を保持する基板ホルダー、該基板ホルダーを回転自在に保持するサセプタ、該サセプタの対面、該基板を加熱するためのヒータ、該サセプタと該サセプタの対面の間隙からなる反応炉、原料ガスを供給する原料ガス導入部、反応ガス排出部、及び基板ホルダー回転駆動器を有するIII族窒化物半導体の気相成長装置であって、サセプタの脱着が容易でメンテナンス性に優れ、基板ホルダー回転駆動器及び基板ホルダー回転駆動軸に対するヒータからの熱伝導を抑制できる構造を有するIII族窒化物半導体の気相成長装置を提供することである。
【解決手段】 基板を保持する複数の基板ホルダーが、基板ホルダー回転駆動器から、基板ホルダー回転駆動軸、該基板ホルダー回転駆動軸に設けられた複数本のツメ、及び反応炉の中心部に設けられ該ツメと脱着可能に噛み合わされた基板ホルダー回転板を介して伝達される回転駆動力により回転する構成とする。 (もっと読む)


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