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Fターム[5F045EE14]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | ガス供給・圧力制御 (3,846) | ガス供給方法 (2,764) | 膜成分以外のガス(エッチングガス・水素等)の供給 (670) | 不活性ガスの供給機構・供給方法 (420)

Fターム[5F045EE14]に分類される特許

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【課題】
真空処理室の残留ガスと導入ガスを高速に置換することのできる真空処理装置を提供する。
【解決手段】
真空処理室109内に、それぞれ異なるガスを導入する複数の処理ステップにより試料117の処理を行なう真空処理装置において、複数の処理ステップを継続する時、前ステップ終了時のガス流量を定常処理時の設定値より減少させる、または後ステップの開始時のガス流量を設定値より増加させる、または前ステップ終了時のガス流量を設定値より減少させ、且つ後ステップの開始時のガス流量を設定値より増加させる。これにより高速置換が可能となり安定した真空処理が実現できる。 (もっと読む)


【課題】複数の基板を載置した回転テーブルを回転させてプラズマ処理を行うにあたり、基板に対して面内均一性の高い処理を行うこと。
【解決手段】回転テーブル2の周方向に複数のプラズマ発生部80を備えた活性化ガスインジェクター220からウエハW上のシリコン酸化膜に対して処理ガスのプラズマを供給して改質処理を行う。この時、夫々のプラズマ発生部80(補助プラズマ発生部82)の長さ寸法Rを変えることができるように構成し、回転テーブル2の中心部側から外周部側におけるウエハWの改質の度合い(プラズマの量)を調整する。 (もっと読む)


【課題】反応室壁面への反応副生成物の被膜形成を抑え、ウェーハの汚染による歩留りの低下を抑えるとともに、反応室のメンテナンス頻度を低減させることが可能な半導体製造装置および半導体製造方法を提供する。
【解決手段】ウェーハwが導入される反応室11と、反応室11にプロセスガスを供給するための第1のガス供給機構12と、反応室11よりガスを排出するためのガス排出機構13と、反応室11の内壁に設けられ、内管15aと外管15bから構成される二重管構造を有するカバー15と、内管15aと外管15bとの間にパージガスを供給するための第2のガス供給機構16と、カバー15に設けられ、カバー15内よりパージガスを排出するための開口部15dと、ウェーハwを保持するための支持部材17と、ウェーハwを所定の温度に加熱するためのヒータ20a、20bと、ウェーハwを回転させるための回転駆動制御機構19と、を備える装置とする。 (もっと読む)


本発明の諸実施形態は、多層堆積する間中の欠陥を低減する方法を提示する。一実施形態では、この方法は、基板をプラズマの存在下で第1のガス混合物および不活性ガスに曝して、基板上に第1の材料の層を堆積するステップと、第1の材料の所望の厚さが得られたときに、プラズマを引き続き維持しつつ不活性ガスを流しながら、第1のガス混合物を終了させるステップと、基板をプラズマの存在下で、第1のガス混合物と共存できる不活性ガスおよび第2のガス混合物に曝して、第1の材料の層の上に第2の材料の層を同じ処理チャンバ内で堆積するステップとを含み、第1の材料の層と第2の材料の層は互いに異なる。
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【課題】第1の反応ガスと第2の反応ガスとの混合を効果的に抑制することにより、回転テーブルの回転速度の増大を通してスループットの向上を図る。
【解決手段】本成膜装置は、回転テーブルの中心と外周上の異なる2つの点とをカバーするように延び第1及び第2の領域に分ける分離領域であり、第1分離ガスで分離領域を第1及び第2の領域より高圧に維持可能な分離領域;第1分離ガスの回転テーブルの中心から外周への流れを抑制して、分離領域を第1及び第2の領域より高圧に制御する圧力制御部;第1の領域にて回転テーブルへ第1反応ガスを供給する第1反応ガス供給部;第2の領域にて回転テーブルへ第2反応ガスを供給する第2反応ガス供給部;第1反応ガスと分離領域からの第1分離ガスとの両方を合流して第1の領域を通して排気する第1排気口;及び第2反応ガスと分離領域からの第1分離ガスとの両方を合流して第2の領域を通して排気する第2排気口を備える。 (もっと読む)


【課題】 本発明の目的は、クリーニング時間を短縮し、生産性を向上させることのできる半導体装置の製造方法および基板処理装置を提供することにある。
【解決手段】 処理容器内の下部から上部まで立ち上がった第1ノズル部、第2ノズル部を介して、それ単独で膜を堆積させることのできる第1ガス、それ単独で膜を堆積させることのできない第2ガスをそれぞれ処理容器内に供給してその下方に向けて流し、処理容器の下部に設けられた排気口より排気して、基板上に薄膜を形成する処理を繰り返した後、処理容器の天井壁に設けられた第3ノズル部を介してハロゲン系ガスに第2ガスの少なくとも一部を添加したガスを処理容器内に供給すると共に第1ノズル部を介してハロゲン系ガスを処理容器内に供給してその下方に向けて流し、排気口より排気して処理容器内および第1ノズル部内に付着した堆積物を除去するようにした。 (もっと読む)


【課題】薄膜蒸着システム及び薄膜蒸着方法を提供する。
【解決手段】薄膜蒸着システムは、原料物質を提供する原料物質供給部210と、前記原料物質供給部に連結されて、前記原料物質供給部から原料物質を受け取って気化させる気化器231が設けられた原料ガス供給部230と、前記原料ガス供給部に連結されて、気化された原料物質を受け取って被処理物上に薄膜を蒸着する薄膜蒸着装置100と、一端が前記気化器に連結されて、前記気化器の内部を排気する気化器排気ユニット300と、前記気化器排気ユニットに連結されるように設けられて、前記気化器排気ユニットの圧力を調節することによって、前記気化器の内部に供給された原料物質の流速を制御する圧力調節部350と、を含む。 (もっと読む)


【課題】反応容器内において結晶成長面以外の場所に形成されてしまう不要なSiC多結晶の成長をエッチングガスによらずに抑制することにより、原料ガスの出口の詰まりを防止する方法を提供する。
【解決手段】反応容器9の中空部9cの外周に、反応容器9の中心軸に沿って延びる第1導入通路9dを設け、反応容器9の側部9eに、第1導入通路9dと反応容器9の中空部9cとを接続する第1出口通路9iを設ける。そして、第1導入通路9dを介して第1出口通路9iから反応容器9の中空部9cに不活性ガス15を流すことにより、反応容器9の内壁9mと台座10との間を通過する原料ガス3を希釈する。 (もっと読む)


【課題】基板を載置するための基板載置部材を回転テーブルに着脱自在に設けることにより、前記回転テーブルにおける基板載置面の表面粗さが適切な範囲から外れた場合に容易に対応できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】真空容器内に設けられ、水平面に沿って回転する回転テーブル2に形成された凹部24の内部に、基板をなすウエハWを載置するための基板載置部材200を着脱自在に設ける。この基板載置部材200には、回転テーブル2の回転時に遠心力によるウエハWの移動を規制する位置規制部201a,201b,201cが設けられている。基板載置部材200は着脱自在に設けられているので、回転テーブル2の回転時にウエハWの移動がある場合や、クリーニングによって基板載置部材200の表面が荒れ、表面粗さが適切な範囲から外れた場合には、基板載置部材200を交換する。 (もっと読む)


【課題】成膜に用いる原料ガス同士の気相反応を抑制し、均一な成膜速度で均一な膜厚のエピタキシャル膜を形成するためのエピタキシャル基板の製造方法を提供する。
【解決手段】InAlGaNエピタキシャル膜を形成する工程(S20)において、基板15に近いほうから順に配置された、窒素ガスとV族元素ガスとが混合された第1の混合ガスを流す第1ガスライン10と、窒素ガスとIII族元素ガスとが混合された第2の混合ガスを流す第2ガスライン20と、サブフロー窒素ガスを流す第3ガスライン30から、基板の主表面に対向する領域へガスを流す。InAlGaNエピタキシャル膜を形成する工程(S20)における、基板15が配置される反応室内50の圧力は15kPa以上25kPa以下であり、第2の混合ガス中に含まれる窒素ガスの流速が3.25m/s以上3.35m/s以下である。 (もっと読む)


【課題】微結晶半導体層を量産性良く作製する技術を提供する。
【解決手段】プラズマCVD装置の反応室内に、互いに向かい合って概略平行に配置された上部電極と下部電極が備えられ、上部電極は中空部が形成され、かつ、下部電極と向かい合う面に複数の孔を有するシャワー板を有し、下部電極上には基板が配置され、堆積性気体と水素を含むガスを上部電極の中空部を通ってシャワー板から反応室内に供給し、希ガスを上部電極と異なる部位から反応室内に供給し、上部電極に高周波電力を供給してプラズマを発生させ、基板上に微結晶半導体層を形成する。 (もっと読む)


【課題】回転テーブルに基板を載置し、この基板を回転させて複数の反応ガスを順番に供給して反応生成物の層を多数積層するにあたり、基板上にて複数の反応ガスが混合されることを防止して良好な処理を行うことができる技術を提供すること。
【解決手段】回転テーブルの回転方向に互いに離れた第1、第2の処理領域に夫々第1の反応ガス及び第2の反応ガスを供給する第1の反応ガス供給手段と第2の反応ガス供給手段とを設ける。前記回転方向において第1、第2の処理領域の間に分離ガス供給手段を設け、この分離ガス供給手段の前記回転方向両側にて低い天井面を設ける。さらに前記回転テーブルの回転中心部と真空容器とにより区画した中心部領域から回転テーブルの周縁に向けて分離ガスを吐出する。また第1の処理領域及び第2の処理領域に夫々対応する真空容器の側壁部位に一方及び他方の真空排気口を形成する。 (もっと読む)


【課題】基板を載置する回転テーブルの周方向に沿って設けられる第1の反応ガスが供給される第1の処理領域と、第2の反応ガスが供給される第2の処理領域とをこれら処理領域の雰囲気を分離するための分離領域とを備えた、薄膜を積層する成膜装置において、成膜速度の低下を抑えること。
【解決手段】反応ガスを吐出する吐出孔が、その長さ方向に沿って形成されたガスノズルと、そのガスノズルの上方側に分離ガスを通流させるための通流空間と、前記ガスノズルから前記上流側及び下流側の少なくとも一方に向かって張り出した整流部材と、を備えるように成膜装置を構成し、前記分離ガスを前記通流空間にガイドすることで処理領域の反応ガスの濃度低下を防ぐ。 (もっと読む)


【課題】複数の排気路の排気流量を各々調整することにより、真空容器内における処理ガスの気流を制御して基板へのガス流れを一定に保つこと。
【解決手段】第1のバルブ65aが介設された第1の排気路63aと、第2のバルブ65bが介設された第2の排気路63bと、から真空容器1内の雰囲気を夫々真空排気できるようにして、真空容器1内の圧力が処理圧力Pとなるように第1のバルブ65aの開度を調整すると共に、第1の排気路63aの排気流量と第2の排気路63bの排気流量とをレシピに応じた設定値にするために、バタフライバルブ67の開度Vをテーブル86に記載された値に設定し、次いで差圧計68の測定値がテーブル86に記載された差圧ΔPとなるように第2のバルブ65bの開度を調整する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の製造工程におけるウェハーの載置ズレを検出、調整し、ウェハーの載置精度を向上させることが可能な半導体装置の製造方法および製造装置を提供する。
【解決手段】ウェハーWを処理するチャンバと、チャンバ内に設けられ、ウェハーWの裏面にガスを供給する複数の穴20を有するウェハーステージ14と、複数の穴20におけるガスの漏れ量をそれぞれ独立に検出するガス検出機構と、検出された穴の位置及びガスの漏れ量に基づき、ウェハーWのウェハーステージ14の所定の位置からのズレの方向及び量を求めるウェハー位置検出機構30と、ウェハーステージの所定の位置からのズレの方向及び量に基づき、ウェハーの位置を調整するウェハー位置調整機構32と、を備える。 (もっと読む)


【課題】被処理物をステージ兼接地電極の固体誘電体層として代用するプラズマ処理装置において、空気の処理空間への微量混入を防止する。
【解決手段】第1ステージ部21の第1金属表面21aを被処理物9にて覆う。第2ステージ部22の固体誘電体層25の内側誘電部26を被処理物9の外周部9eにて覆う。処理ヘッド10をステージ20に対し相対移動させながら、吹き出しノズル15から処理ガスを吹き出し、電極11とステージ20との間に電界を印加する。ステージ20には、内側誘電部26の表面から延びてステージ20の処理ヘッド10と対向する側以外の面へ抜ける通気孔29を設ける。好ましくは、第1ステージ部21と第2ステージ部22との対向面どうし間に間隙を形成し、これを通気孔29とする。 (もっと読む)


固体前駆体送出組立体(200)は、概して、上部および下部を有する容器(202)と、入口チャンバ(238)、出口チャンバ(244)、ならびに第1の前駆体チャンバおよび第2の前駆体チャンバ(240、242)を含む容器内に画定される複数のチャンバを備える。第1の前駆体チャンバおよび第2の前駆体チャンバは、容器内に前駆体物質を保持するように構成される。焼結フリット(248、250、252)は、容器の内部部分に固定結合および封止され、容器内の複数のチャンバの少なくとも一部を画定する。焼結フリットのうちの少なくとも1つは、第1の前駆体チャンバ内で前駆体物質を上に保持するように構成され、焼結フリットのうちの少なくとも1つは、第2の前駆体チャンバ内で前駆体物質を上に保持するように構成される。入口(206)は、搬送ガスを容器に送出するために容器に結合され、出口(208)は、気化した前駆体物質および搬送ガスを容器から取り出すのに用いるために容器に結合される。 (もっと読む)


薄膜材料堆積のための流体搬送システムは流体分配マニホールド及び基板輸送機構を有する。流体分配マニホールドは複数の長いスロットを有する出力面を有する。流体分配マニホールドの出力面は、長いスロットが基板の第1の表面と対向し、基板の第1の表面に近接して位置付けられるように、基板の第1の表面に対向して位置付けられる。基板輸送機構は、ある方向に基板が移動するようにし、流体分配マニホールドの出力面に近接した領域において基板の第2の表面と接するフレキシブルな機構を有する。
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【課題】 結晶シリコンの少なくとも一つの極薄層を含む多層膜を製作する、単純で負担がより少ない方法を提案すること。
【解決手段】 本発明は結晶シリコンの少なくとも一つの極薄層を有する多層膜を製作する方法に関し、前記膜は、結晶構造を有し、予め洗浄された表面を含む基板から製作される。本発明によれば、前記方法は前記洗浄された表面をSiF、水素、及びアルゴンのガス混合物内で生成されたRFプラズマに当て、それにより前記基板に接触して微小空洞を含有する界面副層を備える結晶シリコンの極薄層を形成するステップa)と、結晶シリコンの前記極薄層上に少なくとも1層の材料を堆積させ、それにより少なくとも一つの機械的に強い層を含む多層膜を形成するステップb)と、前記多層膜で覆われた前記基板を400℃より高い温度でアニールし、それにより前記多層膜を前記基板から分離させるステップc)とを含む。 (もっと読む)


【課題】凸状または凹状の温度プロファイルを基板ホルダの表面に生じさせる。
【解決手段】基板ホルダキャリア(1)は支持面(4‘)を備え、複数のガス供給ライン(7、8)が支持面(4‘)に開く。基板ホルダキャリア(1)の上には基板ホルダ(2)が配置されており、その裏面は支持面(4‘)に面し、支持面(4‘)と基板ホルダ(2)の裏面との間の空間にガス供給ライン(7、8)を通って供給されるガスが、基板ホルダ(2)を支持するガスクッション(19)を形成する。ガスクッション(19)は、ガス供給ライン(7、8)を通ってガスを供給される複数のゾーン(A、C)を備える。ゾーン(A、C)は、それらの間でガスの交換を防ぐ手段によってお互いから分離されている。ゾーン(A、C)はガス排出ライン(13、14)を通ってガスを排出することができる。異なる熱伝導特性を持つガスがそれらのゾーン(A、C)に供給される。 (もっと読む)


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