説明

Fターム[5F045EE14]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | ガス供給・圧力制御 (3,846) | ガス供給方法 (2,764) | 膜成分以外のガス(エッチングガス・水素等)の供給 (670) | 不活性ガスの供給機構・供給方法 (420)

Fターム[5F045EE14]に分類される特許

41 - 60 / 420


【課題】床面側に設けた凹部内に基板保持具の下端部を収容できるようにし、実質的な高さを抑制することが可能なローディングユニットを提供する。
【解決手段】基板Wに熱処理を施す処理ユニットの下方に設けられて、基板が保持された基板保持具58を処理ユニットに対してロード及びアンロードさせると共に基板保持具に対して基板の移載を行うローディングユニットにおいて、処理ユニットに連設されて全体を囲むようになされたローディング用筐体72と、基板保持具の下部を保持する保持アーム82を有すると共に基板保持具58を処理ユニット内に対して昇降させる昇降エレベータ機構68と、基板保持具に対して基板の移載を行う基板移載機構74と、基板保持具の下方に対応するローディング用筐体の底部に設けられて、基板保持具の下端部を収容できるようにするために下方へ突出させて形成された基板保持具収容凹部90とを備える。 (もっと読む)


【課題】形成されるシリコン酸化膜の誘電率、又は成膜レートを、成膜条件を変更することにより制御することができる基板処理装置や半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板を処理する処理室と、非シロキサン材料ガスを処理室内へ供給する材料ガス供給部と、酸素含有ガスを処理室内へ供給する酸素含有ガス供給部と、処理室内へ供給されたガスを励起する励起部と、制御部とを備え、材料ガス供給部及び酸素含有ガス供給部から処理室内へ、それぞれ非シロキサン材料ガスと酸素含有ガスを供給する際に、非シロキサン材料ガスと酸素含有ガスの合計流量に対する酸素含有ガスの流量比を、非シロキサン材料ガス分子中のシリコン原子と酸素含有ガス分子中の酸素原子の合計数に対する酸素含有ガス分子中の酸素原子の比が、0.3以上で0.8以下とするとともに、処理室内へ供給されたガスを励起するよう基板処理装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】
ライン数を抑え簡素な装置構成により界面急峻性の優れた薄膜の形成が可能な気相成長装置を提供する。
【解決手段】
気相成長装置は、反応炉に接続された材料ガス供給ラインと、べントラインと、材料ガス供給ラインに第1バルブを介して接続され且つべントラインに第2バルブを介して接続された配管を有する少なくとも1以上の材料ガス供給源と、材料ガス供給ラインに第3バルブを介して接続され且つべントラインに第4バルブを介して接続された第1流量調整ラインと、材料ガス供給ラインに第5バルブを介して接続され且つべントラインに第6バルブを介して接続された第2流量調整ラインと、第3バルブと第6バルブが開いた状態となる場合は、第4バルブと第5バルブが閉じた状態とし、第3バルブと第6バルブが閉じた状態となる場合は、第4バルブと第5バルブが開いた状態とする制御部と、を有する。 (もっと読む)


【課題】気相成長時に原料ガス流量は大きく変化した場合においても、基板上において、膜質劣化のない膜体を高い再現性の下に作製することが可能な気相成長装置及び気相成長方法を提供する。
【解決手段】実施形態の気相成長装置は、ガス導入部、及びこのガス導入部と連続するようにして設けられたガス反応部を含む反応管と、前記反応管の、前記ガス反応部の内部に表面が露出し、前記表面に基板を載置及び固定するためのサセプタとを具える。また、前記反応管の前記ガス導入部において、前記反応管の高さ方向において順次に配置されてなる複数のガス導入菅と、前記反応管の外部において、前記複数のガス導入管それぞれに供給すべきガスを切り替えるための切替装置とを具える。 (もっと読む)


【課題】インジェクター本体の長さ方向に均一な濃度のガスを供給することの可能な成膜装置を提供する。
【解決手段】真空容器内の基板に2種類の反応ガスを順番に供給して薄膜を形成する成膜装置は、基板を載置するために設けられ、回転テーブルの回転方向に互いに離れて配置された基板載置領域と、分離ガス供給手段を備えた分離領域とを備える。真空容器に反応ガスを供給するガスインジェクターは、ガス流路を構成するインジェクター本体の壁部に、その長さ方向に沿って配列された複数のガス流出孔と、前記インジェクター本体の外面との間にスリット状のガス吐出口を形成するように設けられ、ガス流出孔から流出したガスをガス吐出口に案内する案内部材と、を備える。このガスインジェクターは前記回転テーブルの移動路と交差する方向に伸び、且つ前記ガス吐出口を当該回転テーブルに対向させて配置されている(もっと読む)


【課題】ウェットエッチングによるクリーニングの頻度を低減させることができる原子層堆積装置を提供する。
【解決手段】基板上に薄膜を形成する原子層堆積装置であって、内部が真空に維持される成膜容器と、成膜容器の内部に配置される加熱部と、成膜容器の開口に取り付け可能な筒状のインジェクタと、インジェクタを介して成膜容器の内部に薄膜の原料である原料ガスを供給する原料ガス供給部と、インジェクタを介して成膜容器の内部に原料ガスと反応して薄膜を形成する反応ガスを供給する反応ガス供給部と、不活性ガスを供給する不活性ガス供給部と、を備え、インジェクタは、原料ガスが流れる原料ガス供給口と、反応ガスが流れる反応ガス供給口と、不活性ガスが流れる不活性ガス供給口と、を備え、不活性ガス供給口は、インジェクタと成膜容器との隙間に不活性ガスが流れるように、インジェクタの外表面に設けられていることを特徴とする原子層堆積装置。 (もっと読む)


【課題】所望の膜厚分布を有する薄膜を堆積可能な成膜方法を提供する。
【解決手段】少なくとも第1の原料ガスおよび第2の原料ガスを基板に対して交互に供給することにより、第1の原料ガスと第2の原料ガスとの反応により生じる反応生成物質の薄膜を基板に堆積する成膜方法が開示される。この方法は、基板が収容される処理容器内にガスを供給することなく処理容器内を真空排気するステップと、処理容器内に不活性ガスを所定の圧力まで供給するステップと、処理容器内の真空排気を停止した状態で、不活性ガスが所定の圧力に満たされた処理容器内に第1の原料ガスを供給するステップと、第1の原料ガスの供給を停止するとともに処理容器内を真空排気するステップと、処理容器内に第2の原料ガスを供給するステップと、第2の原料ガスの供給を停止するとともに処理容器内を真空排気するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】基材の表面近傍をごく短時間だけ均一に高温熱処理するに際して、あるいは、反応ガスによるプラズマまたはプラズマと反応ガス流を同時に基材へ照射して基材を低温プラズマ処理するに際して、基材の所望の被処理領域全体を短時間で処理することができるプラズマ処理装置及び方法を提供することを目的とする。
【解決手段】プラズマトーチユニットTにおいて、全体としてコイルをなす銅棒3が、石英ブロック4に設けられた銅棒挿入穴12内に配置され、石英ブロック4は、銅棒挿入穴12及び冷却水配管15内を流れる水によって冷却される。トーチユニットTの最下部にプラズマ噴出口8が設けられる。長尺チャンバ内部の空間7にガスを供給しつつ、銅棒3に高周波電力を供給して、長尺チャンバ内部の空間7にプラズマを発生させ、基材2に照射する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、半導体処理装置および方法の分野に関し、特に、エピタキシャル堆積用の基板としてウェハーなどに使用される、光学および電子部品の製作に適切な、第III−V族化合物半導体材料の持続的大量生産のための方法および装置を提供する。
【解決手段】これらの方法および装置は、第III族−N(窒素)化合物半導体ウェハーを製造するために、特にGaNウェハーを製造するために最適化される。特に前駆体は、半導体材料の大量生産が促進されるよう、少なくとも48時間にわたり、第III族元素が少なくとも50g/時の質量流で提供される。気状第III族前駆体の質量流は、所望の量が送達されるように制御することが有利である。 (もっと読む)


【課題】基板保持具に棚状に積載された複数枚の基板に対して、互いに反応する複数種類の処理ガスを順番に供給して成膜処理を行うにあたり、処理ガスを切り替える時の雰囲気を容易に置換すること。
【解決手段】Zr系ガスやOガスなどの処理ガスを反応管12内に供給するためのガス吐出口52の各々形成された第1のガスインジェクター51a、51bとは別に、反応管12の長さ方向に沿うようにスリット50の形成された第3のガスインジェクター51cを設けて、処理ガスを切り替える時には、このスリット50から反応管12内にパージガスを供給して当該反応管12内の雰囲気を置換する。 (もっと読む)


【課題】半導体製造装置のチャンバの側壁への被膜などの付着物を従来に比して短時間で除去することができる半導体製造装置を提供する。
【解決手段】シャワープレート13は、基板の載置位置を含み、基板面と略平行な平板状の主面部131と、筒状を有し、一端が主面部131の外周部に接続され、他端がチャンバ11に接続される側面部132と、を有する。主面部131には、基板保持部12側にガスを吹き出す複数のガス供給孔131aが設けられる。側面部132には、チャンバ11の側壁に向かってガスを吹き出す複数のガス供給孔132aが設けられる。また、シャワープレート13は、ガス供給孔131aを介して基板保持部12側にガスを流す主ガス供給空間135と、ガス供給孔132aを介してチャンバ11の側壁側にガスを流す副ガス供給空間136と、を仕切る仕切り壁134を備える。 (もっと読む)


【課題】液体原料の利用効率を向上させ、原料ガスを安定してパルス的に供給することができる原子層堆積装置を提供する。
【解決手段】基板S上に薄膜を形成する原子層堆積装置10であって、原料ガスと反応ガスとが供給される成膜容器20と、原料ガス供給管を介して原料ガスを供給する原料ガス供給部60と、反応ガスを供給する反応ガス供給部90と、原料ガスと反応ガスとが交互に供給されるように、原料ガス供給部と反応ガス供給部とを制御する制御部52と、を備え、原料ガス供給部は、薄膜の原料である液体原料を貯蔵する液体原料貯蔵部62と、原料ガスを生成するために、液体原料を加振する超音波振動部66と、液体原料貯蔵部に接続され、かつ、原料ガス供給管を通して成膜容器と接続される原料ガス供給バルブと、原料ガス供給バルブから成膜容器までの原料ガス供給管の温度を調節する温度調節部86と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 気化室の所定温度下での気化効率を効果的に向上させることができ、その上、後工程に送られるガス中の原料ガスの分圧を高くできる液体原料の気化方法を提供する。
【解決手段】 気化室22に通じる原料供給路32、42を介して液体原料を供給する際、原料供給路内で液体原料に所定流量でセカンドキャリアガスを予め混合して気液混合状態とし、気化室を臨む原料供給路の導入口周辺からキャリアガスを噴射することで、液体原料を気化室内に噴霧し、この噴霧された液体原料を、所定温度に加熱された気化室内での熱交換により気化し、この気化された原料ガスを当該気化室に開設した排出口24から排出する。この状態で前記導入口から気化室に噴射する。 (もっと読む)


【課題】メンテナンス作業の手間を低減させ、プラズマCVD装置の稼動率を向上させながらも、被処理体の膜厚のばらつきを抑制できるノズルを提供する。
【解決手段】被処理体1の表面に成膜処理を施すプラズマCVD装置に取り付けられ、被処理体1が配置された放電空間に放電ガスおよび成膜ガスを供給し、放電ガスを供給する放電ガス流路14と成膜ガスを供給する成膜ガス流路16とを各別に設け、放電ガス流路14の下流側の端部に、放電ガスを吐出する放電ガス吐出口15を設けるとともに、成膜ガス流路16の下流側の端部に、放電ガス吐出口15から吐出される放電ガスを挟み込み又は包囲する領域に成膜ガスを吐出する成膜ガス吐出口17を設けてある。 (もっと読む)


【課題】基板を加熱して処理する際における基板の面内温度均一性を向上させる。
【解決手段】基板を処理する処理室と、処理室内で基板を支持する基板支持部と、基板支持部の基板支持面に対向するように設けられ、所定の間隔を空けてそれぞれ隣接される加熱源を複数有する加熱部と、加熱部と基板支持部との間に設けられるフィルタと、を備え、複数の加熱源からなる加熱源群の外縁を構成する第一の加熱源群に対向する領域におけるフィルタの透過率を第一の透過率とし、複数の加熱源のうち第一の加熱源とは異なる第二の加熱源群と対向する領域におけるフィルタの透過率を第二の透過率としたとき、第一の透過率が第二の透過率よりも高く構成されている。 (もっと読む)


【課題】中性粒子ビームと平行に原料ガスをウェハに導入でき、ウェハ上に形成される膜の面内均一性を向上することが可能な中性粒子照射型CVD装置を提供する。
【解決手段】コイル18によって希ガスを励起してプラズマを発生させるプラズマ発生部12から中性粒子を取り出して反応室10内のウェハ14に向けて導入できる複数の開口22aを有するカソード電極22と、ウェハ14の直上から前記中性粒子と平行に原料ガスをウェハに供給するガス供給部31と、を具備するCVD装置とする。 (もっと読む)


【課題】バッチ式の縦型炉を用いてプラズマアシストALD法により窒化膜を形成する際、炉底部付近でのローディング効果を抑制する。
【解決手段】反応容器102内に複数段にウエハを載置可能なボート101と、前記反応容器の側面に沿ってRF電極106で挟まれたプラズマ空間105と、該プラズマ空間から前記反応容器内の前記各段のウエハに略均等にガスを供給可能な供給口F1,F2と、を備えたバッチ式の縦型炉100を用いて、窒化すべきガスの導入、吸着、パージ、プラズマ励起された窒化ガスの導入による前記窒化すべき吸着ガスの窒化およびパージ、を1サイクルとして所定の膜厚までサイクルを繰り返すプラズマアシストALD法において、前記窒化すべきガス導入時のキャリアガス量よりも前記窒化ガス導入時のキャリアガス流量を少なくし、特に窒化ガスとしてのNH3とキャリアガスとしてのN2の流量比をNH3の50に対してN2を3以下とする。 (もっと読む)


【課題】誘電特性及び漏れ電流特性を向上させることのできる半導体素子の誘電体膜の形成方法及びキャパシタの形成方法を提供する。
【解決手段】誘電体膜は、原子層堆積法により、ウェーハ上に酸化ジルコニウム(ZrO)及び酸化アルミニウム(Al)で構成された誘電体膜を形成する方法であって、チャンバー内に、1つのZrと1つのAl原子とが1つの分子を構成しているソースガスを注入し、ウェーハ上に、ZrOとAlとからなる[ZrO]x[Al]y(ここで、x及びyは正数である)膜を形成するステップを繰り返すことにより、ZrOとAlとで構成された厚さ30Å〜500Åの誘電体膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】成膜種を効率よく生成することができ、高品質の薄膜を成膜することができるプラズマ処理方法及び処理装置を提供する。
【解決手段】被処理体3を収納して被処理体3上に薄膜を成膜する反応チャンバー1と、反応チャンバー1内に配置され、被処理体3を保持するステージ4と、反応チャンバー1内に第1のガスを供給する第1のガス供給部10と、反応チャンバー1内に第1のガスとは異なる第2のガスを供給する第2のガス供給部14と、反応チャンバー1内に高周波放電を発生させる高周波プラズマ源7とを備えるプラズマ処理装置を用い、反応チャンバー1内において、高周波放電によってプラズマ化された第1のガスと、プラズマ化が抑制された第2のガスとを接触させて分解反応を起こさせ、該分解反応に基づいて、ステージ4に保持された被処理体3上に薄膜を成膜する。 (もっと読む)


【課題】調整バルブが全開又は全閉である場合の材料ガスの濃度値や流量値が、設定値と略一致する場合であっても、濃度や流量の制御状態が異常であるかを診断できる材料ガス制御システムを提供する。
【解決手段】収容室10と、キャリアガスを導入する導入管20と、材料ガス及びキャリアガスからなる混合ガスを導出する導出管30と、第1調整バルブ45と、材料ガスの濃度又は流量を測定する測定計と、測定計で測定した測定濃度値又は測定流量値が、予め定められた設定値となるように、第1調整バルブ45に開度制御信号を出力する第1バルブ制御部46と、収容室10内の圧力を測定する圧力計44と、開度制御信号の値の時間変化量及び圧力計44で測定した測定圧力値の時間変化量が、所定条件を満たす場合に、前記材料ガスの濃度又は流量の制御状態が異常であると診断する診断部47とを具備するようにした。 (もっと読む)


41 - 60 / 420