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Fターム[5F045EE14]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | ガス供給・圧力制御 (3,846) | ガス供給方法 (2,764) | 膜成分以外のガス(エッチングガス・水素等)の供給 (670) | 不活性ガスの供給機構・供給方法 (420)

Fターム[5F045EE14]に分類される特許

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【課題】基板が積層されていない領域への処理ガスの流入を抑制し、基板が積層されている領域への処理ガスの供給を促進させる基板処理装置を提供する。
【解決手段】水平姿勢で多段に積層された基板10を収納して処理する処理室4と、処理室の内壁に沿うように基板の積層方向に延在されて処理室内に処理ガスを供給する1本以上の処理ガス供給ノズル22a,bと、処理室の内壁に沿うように基板の積層方向に延在されるとともに基板の周方向に沿って処理ガス供給ノズルを両方から挟むように設けられ処理室内に不活性ガスを供給する一対の不活性ガス供給ノズル22c,dと、処理室内を排気する排気ライン7aと、を有し、一対の不活性ガス供給ノズルは、基板が積層されている領域に対向する位置及び前記基板が積層されていない領域に対向する位置に各1箇所以上の不活性ガス噴出口24c,31c,31d,32c,32dをそれぞれ有する。 (もっと読む)


【課題】基板を載置するサセプタを収納した成膜室1内に反応ガスを供給して、被成膜基板の表面に膜を形成する成膜装置であって、上端にサセプタ用の支持部材が連結され、成膜室の底壁部1aに開設した貫通孔1cを通して下方にのびる回転軸6と、成膜室の下方に配置された回転軸用の回転機構部7とを備えるものにおいて、回転機構部への反応ガスの侵入を確実に阻止できるようにする。
【解決手段】回転機構部7は、成膜室1の底壁部1aの下面との間に筒状の押え部材8を介設した状態で配置した軸受9と、軸受9の下方に配置した駆動源10とを有する。押え部材8に、環状の分布室13と、分布室13に周囲1個所からパージガスを導入する導入口14とが形成されると共に、押え部材8と回転軸6との間の隙間に分布室13からのパージガスを噴出するノズル孔15が周方向の間隔を存して複数形成される。 (もっと読む)


【課題】薄膜化をするための加工をする際に発生するクラックを抑制し、かつ厚みの大きい窒化ガリウム結晶を成長させることのできる、窒化ガリウム結晶の成長方法、窒化ガリウム結晶基板、エピウエハ、エピウエハの製造方法を提供する。
【解決手段】キャリアガスと、窒化ガリウムの原料と、ドーパントとしてのシリコンを含むガスとを用いて、ハイドライド気相成長(HVPE)法により下地基板上に窒化ガリウム結晶を成長させる窒化ガリウム結晶の成長方法において、前記窒化ガリウム結晶の成長時における前記キャリアガスを分子膜または吸着剤に透過させることにより精製し、窒化ガリウム結晶の成長時におけるキャリアガスの露点が−60℃以下であることを特徴としている。 (もっと読む)


本発明の実施形態は、一般的に、化学蒸着(CVD)プロセスのための装置及び方法に関する。一実施形態では、CVD反応装置は、蓋サポート上に互いに連続して直線的に配置された、反応装置本体の上に配置され、第1のシャワーヘッドアセンブリを含む反応装置の蓋アセンブリと、アイソレータアセンブリと、第2のシャワーヘッドアセンブリと、排気アセンブリと、を有している。CVD反応装置は、更に、反応装置本体の両端部に配置した第1及び第2のフェースプレートを含み、第1のシャワーヘッドアセンブリが第1のフェースプレートとアイソレータアセンブリとの間に配置され、排気アセンブリが第2のシャワーヘッドアセンブリと第2のフェースプレートとの間に配置されている。反応装置本体は、ウエハキャリアトラック上のウエハキャリアと、ウエハキャリアトラックの下に配置され、ウエハキャリアに配置されたウエハを加熱するために利用することができる、複数のランプを含むランプアセンブリと、を有している。
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本発明の実施例は、一般的に、化学蒸着プロセスの装置に関する。一の実施例では、蒸着用反応装置蓋アセンブリが提供されており、これは、第1のシャワーヘッドアセンブリとアイソレータアセンブリとが蓋サポートの上に隣り合って配置されており、第2のシャワーヘッドアセンブリと排気アセンブリとが、蓋サポートの上に隣り合って配置されており、アイソレータアセンブリが、第1及び第2のシャワーヘッドアセンブリの間に配置されており、第2のシャワーヘッドアセンブリがアイソレータアセンブリと排気アセンブリとの間に配置されている。 (もっと読む)


【課題】均一性をより向上することが可能な成膜装置、成膜方法、プログラム、およびコンピュータ可読記憶媒体を提供する。
【解決手段】開示する成膜装置において、サセプタ2には、底部に貫通孔2aを有する凹部202と、載置領域24を有し凹部202に離脱可能に収容されるサセプタトレイ201とが設けられている。また、貫通孔2aを通して上下動可能な昇降ロッド204と、昇降ロッド204を駆動して、サセプタトレイ201を押し上げ、回転する昇降回転部が設けられている。 (もっと読む)


【課題】膜の成膜中に膜厚をリアルタイムにモニターすることが可能な成膜装置、成膜方法、プログラム、およびコンピュータ可読記憶媒体を提供する。
【解決手段】開示する成膜装置200は、真空容器1の天板11に透過窓201を有しており、この透過窓201を通してサセプタ2上のウエハWに光を照射することにより、上に成膜される膜の膜厚が測定される。具体的には、膜厚測定システム101は、透過窓201の上面に配置される3つの光学ユニット102aから102cと、光学ユニット102aから102cのそれぞれに光学的に接続される光ファイバ線104aから104cと、これらの光ファイバ線104aから104cが光学的に接続される測定ユニット106と、測定ユニット106を制御するため測定ユニット106と電気的に接続される制御ユニット108とを有している。 (もっと読む)


【課題】
低温での成膜が可能であり、表面平坦性、凹部埋めこみ性、ステップカバレッジに優れ、成膜速度にも優れるシリコン酸化膜の形成方法を提供する。
【解決手段】
減圧可能な処理室に載置された基板の表面にシリコン酸化膜を形成する方法であって、処理室に、シランガスと酸素原子を含むガスを交互に繰り返し供給し、基板の表面にシリコン酸化膜を形成することを特徴とするシリコン酸化膜の形成方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】 量産に適した、コンタミの少ない、組成制御された、ち密で、欠陥、粒界の極めて少ない、深さ方向に構造制御された、良好な絶縁特性を持つ絶縁膜の提供。
【解決手段】 O、N及びFから選ばれた少なくとも1種を含む気体状分子を該基板表面に供給し、吸着させた後排気する第1の工程の後に、Al、Si、Ta、又はTiを含む気体状分子を基板表面に供給し、吸着させた後排気する第2の工程を行い、その後にArを導入した後排気する第3の工程を行い、前記第1〜第3の工程を1つのサイクルとして、このサイクルを複数回行うことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】処理領域が不連続に設定されたワークに対してプラズマ処理を施す際に、プラズマの発生を安定的に維持して、活性種の生成を速やかに行うことができるプラズマ処理装置を提供すること。
【解決手段】プラズマ処理装置1は、1対の電極2、3と、電源回路7と、ガス供給手段8と、プラズマ噴出口5と、制御手段170とを備え、制御手段170により、ガス供給手段8を、プラズマ生成空間30にキャリアガスを供給した状態で、処理ガスの供給を停止することにより、プラズマを生成し、このプラズマを維持する非処理モードと、プラズマ生成空間30にキャリアガスと処理ガスとの混合ガスを供給することにより、処理ガスを活性化して活性種を生成し、この活性種をプラズマ噴射口5から噴出してワーク10の被処理面101をプラズマ処理する処理モードとに切り替え可能なように構成されている。 (もっと読む)


【課題】 ノズル等のガス出力手段の内壁全体をクリーニングガスによってクリーニングすることができるようにする。
【解決手段】 複数のノズルの内部をクリーニングする場合に、複数のノズルの少なくとも一つにクリーニングガスを供給するとともにクリーニングの終了していないノズルに不活性ガスを供給し、クリーニングの終了したノズルに不活性ガスを供給し、その状態で、他のノズルへクリーニングガスを供給するとともにクリーニングの終了していないノズルに不活性ガスを供給する。 (もっと読む)


【課題】同時に複数の基板をローディング/アンローディングすることができる原子層蒸着装置を提供する。
【解決手段】複数の基板をプロセスモジュールに移動するときに、複数の基板をローディング/アンローディング可能な原子層蒸着装置は、基板をローディングおよびアンローディングするローディング/アンローディングモジュール10と、複数の基板を同時に収容して蒸着工程が実行される複数のプロセスチャンバ31を備え、プロセスチャンバの内部の排気ガスを吸入して、プロセスチャンバの上部に排出させるように排気部が備えられたガス噴射ユニットが備えられるプロセスモジュール30と、ローディング/アンローディングユニットとプロセスモジュールとの間に備えられ、基板を移送するが複数の基板を同時にパージして移送するトランスファーロボットを備えるトランスファーモジュール20とを含む。 (もっと読む)


【課題】基板の撮像に基づく基板位置検出において検出誤差を低減することが可能な基板位置検出装置および基板位置検出方法、並びに基板位置検出装置を含む成膜装置を提供する。
【解決手段】位置検出対象である基板Wを撮像する撮像部104と、撮像部104と基板Wとの間に配置され、基板Wに対する撮像部104の視野を確保する第1の開口部106aを有する光散乱性のパネル部材106と、パネル部材106に光を照射する第1の照明部108と、撮像部104により撮像された基板Wの画像から基板Wの位置を求める処理部104aとを備える基板位置検出装置100が提供される。 (もっと読む)


【課題】チャンバの内面がクリーニングガスに過剰に晒されることなく、サセプタ上の堆積物を除去することが可能な成膜装置及びそのクリーニング方法を提供する。
【解決手段】成膜装置は、容器12内に回転可能に設けられ基板Wが載置される基板載置部24を一の面に有するサセプタ2;上記の一の面に対し原料ガスを供給するガス供給系31、32;サセプタ2上方に配置されサセプタ2の上面に向かって開口し逆凹状の空間を画する第1の凹状部材60bと、第1の凹状部材60b上方に第1の凹状部材60bに向かって開口し第1の凹状部材60bとの間にガス流路を画する第2の凹状部材60cと、逆凹状の空間にクリーニングガスを供給するガス供給部60d、60eと、ガス流路に連通し容器の外部へ延在する排気管60aとを含むクリーニング用構造体60;及び容器12に形成され原料ガスを排気する排気口61、62;を備える。 (もっと読む)


【課題】人手を介さずにバルブ制御装置にバルブ開閉パターンを書き込むことができ、バルブの高速な切り替え動作をロギングできる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置は、複数のバルブの開閉動作を制御するバルブ制御装置300と、前記複数のバルブの開閉状態の設定を行うバルブ切り替えパターンを作成するパターン作成装置302と、を有する。前記パターン作成装置は、作成したバルブ切り替えパターンを前記バルブ制御装置の内部エリアに書き込むと共に、前記パターン作成装置の記憶媒体に保管する。前記バルブ制御装置は、内部エリアに書き込まれたバルブ切り替えパターン306に基づいて複数のバルブの切り替えを行い、その時の前記複数のバルブの開閉状態を前記バルブ制御装置の内部エリアに書き込むと共に、前記パターン作成装置の記憶媒体に保管する。 (もっと読む)


【課題】適正に脱ガス処理を行うことができる真空処理装置の脱ガス装置、真空処理装置の脱ガス方法および真空処理装置を提供することである。
【解決手段】ワークWを処理する真空チャンバ2が真空配管32を介して真空吸引装置31に接続された真空処理装置1に組み込まれ、真空吸引装置31と協働して、真空処理装置1の装置内部に吸着した吸着ガスを除去する真空処理装置1の脱ガス装置であって、吸着ガスを除去するためのキャリアガスのキャリアガス源16に連通し、キャリアガスを加熱して真空チャンバ2に供給する加熱ガス供給装置12と、真空吸引装置31の上流側近傍の真空配管32に介設され、真空吸引装置31に吸引されるキャリアガスを冷却するガス冷却装置33と、を備えたものである。 (もっと読む)


【課題】反応副生成物の反応室壁面への付着を抑制する基板処理装置を提供する。
【解決手段】反応室12のゲート弁44側の反応室壁14面付近から不活性ガス56を流せるように、反応室12内部に不活性ガス第1導入ノズル58が設けてある。この不活性ガス第1導入ノズル58と対向する側の反応室12の壁面には排気口60が設けてあり、プロセス実行中は不活性ガス56をサセプタ18の側面方向から供給し、層流状態にして、反応副生成物が反応室12内の部材の各部に付着するのを防ぎながら排気口60側へ流すことができる。 (もっと読む)


【課題】反応ガスノズルの水平軸に対する傾きを調整することができる技術を提供すること。
【解決手段】真空容器内に設けられた基板載置部に対向して水平に伸びるように設けられた反応ガスノズル31の一端側を前記真空容器の壁部の挿入孔に挿入し、前記反応ガスノズル31の一端側と真空容器の壁部との間にOリングr1、r2を設けて、このOリングr1、r2により、前記反応ガスノズル31の一端側を真空容器内部の気密性を維持した状態で固定する。そして反応ノズル31における前記挿入孔よりも真空容器の内部空間側の部位を下方側から支持する傾き調整機構25を設け、前記支持位置の高さを調整することにより、前記反応ガスノズル31の水平軸に対する傾きを調整する。 (もっと読む)


【課題】基板表面に向けて電子ビームを照射して所定の基板処理を行う際に発生する物質による基板の汚染を防止して清浄な基板処理を低コストで実行可能な基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】電子ビーム照射を行っている間、電子ビーム照射領域IRにはアルゴンガスが供給される一方、電子ビーム照射領域IRの周囲は排気している。このため、基板Wへの電子ビーム照射によって発生する汚染物質がアルゴンガスと一緒に排気ガスとして処理空間41aの外側空間に排気され、基板表面への汚染物質の再付着や処理空間41a全体への汚染物質の拡散が防止される。また、排気ガスから汚染物質を除去することで処理ガス(一度使用されたアルゴンガス)が生成され、処理空間41aに供給される。このように処理空間41aが処理ガスによりパージされる。 (もっと読む)


【課題】昇降ピンを用いてサセプタに基板を載置することにより生じ得る問題を回避できる半導体製造装置、成膜装置、これらに用いられるサセプタ、プログラム、およびコンピュータ可読記憶媒体を提供する。
【解決手段】開示する半導体製造装置は、基板Wに対して所定の処理を行う容器12;基板Wの裏面周縁部を支持する爪部10aを含み、容器内に進退可能な基板搬送アーム10;および、基板が載置される載置領域24と、爪部10aが載置領域の上面よりも低い位置まで移動できるように設けられた段差部24aとを含むサセプタ2;を備える。 (もっと読む)


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