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ダイボンディング (10,903) | ボンディング装置 (2,221) | 認識、検知用部材 (513) | ダイを対象とするもの (277)

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【課題】吸着ツールに対する半導体チップの位置ずれを補正して被搭載体に搭載可能となり、被搭載体に対する半導体チップの位置精度の向上が図れる半導体装置の製造方法、および、製造装置を提供する。
【解決手段】半導体チップ2を吸着ツール12で吸着する工程と、吸着ツールに吸着された半導体チップの裏面から赤外線カメラ13で赤外線画像を撮影することにより半導体チップの表面にあるアライメントマークの位置を検出する工程と、赤外線カメラによって検出されたアライメントマークの位置に基づいて吸着ツールに対する半導体チップの位置ズレを補正して半導体チップを被搭載体3に搭載する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】吸着孔を小径化せずにワークの基準マークを検出することが可能なワーク搬送装置、並びにワーク処理装置及びワーク処理方法を提供する。
【解決手段】ノズルユニット50の吸着孔52は、ワーク100上面(被吸着面)の第1の基準マーク101を撮像装置70により撮像可能で、且つワーク100の上面の外形内側に収まる寸法及び形状を有する。透明体53は、吸着筒体51の他端(上端)を塞ぐ端面部である。透明体53は、吸着筒体51内部の負圧維持と撮像装置70の光透過を両立させる。撮像装置70は、ワーク100の第1の基準マーク101を最低2箇所撮像する。ここで、撮像は、吸着孔52に保持されたワーク100の被吸着面を、透明体53及び吸着孔52を通して撮像する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、チップ実装装置及びチップ実装方法に関する。
【解決手段】本発明によると、複数の基板ユニットがアレイされたワーキングパネル(Working Panel)が積載され、前記複数の基板ユニットのうち一部基板ユニットにチップ全体を実装する第1のフィーダステーション(Feeder Station)を有する第1のチップマウンタと、前記第1のフィーダステーションによる前記一部基板ユニットへのチップ実装工程が終了したワーキングパネルを回転させる回転ユニットと、前記ワーキングパネルが積載され、前記複数の基板ユニットのうち残り基板ユニットにチップ全体を実装する第2のフィーダステーションを有する第2のチップマウンタと、を含むチップ実装装置及びチップ実装方法が提供される。本発明によると、ワーキングパネルにアレイされた複数の基板ユニットの不良認識及びチップ実装のための工程時間を短縮し、製品の生産性を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】作業効率の向上を実現することができるチップピックアップ方法およびチップ実装方法ならびにチップ実装装置を提供することを目的とする。
【解決手段】一のチップを一のエリアからピックアップした後に、次にピックアップすべきチップを特性情報に基づいて決定するピックアップチップ決定工程において、次にピックアップされるチップとしての適格性を有する適格チップをマップデータを参照してサーチして、同一のエリア内に存在する適格チップを優先的に次にピックアップすべきチップとして決定し、当該エリア内に適格チップが存在しない場合には、当該エリアとの近接度合いが最も高いエリア内に存在する適格チップを、次にピックアップすべきチップとして決定することにより、ピックアップヘッドの相対移動によるピックアップ動作において、ウェハの端から端までの相対移動を反復実行する無駄な動作時間を削減して、作業効率を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】基板に半導体チップを実装ヘッドに設けられた加圧体によって実装する際、基板を支持する実装ステージに対して加圧体を平行に傾動させることができるようにする。
【解決手段】上下方向に駆動される実装ヘッド11と、実装ヘッドの下面側に弾性支持手段13によって弾性的に変位可能に設けられ吸着部25bに半導体チップを吸着保持する加圧体14と、実装ヘッドを下降方向に駆動して加圧体の吸着部に吸着保持された半導体チップを基板に実装させ加圧用駆動源を具備し、
弾性支持手段は、平行に対向する2組の側面を有し、実装ヘッドと加圧体の間に配置される可動ブロック体16と、可動ブロック体の一方の組の一対の側面に一端が取付けられた一対の連結ばね体17の他端を実装ヘッドに連結した第1の連結体21と、可動ブロック体の他方の組の一対の側面に一端が取付けられた一対の連結ばね体の他端を加圧体に連結した第2の連結体22とによって構成されている。 (もっと読む)


【課題】作業者による補正作業性を向上することができ、また、作業ステーションでの被実装部材の載置面の高さが僅かに変化したとき、または、部品実装面の高さも僅かに変化したときにも、部品を被実装部材に極力確実に実装できる部品実装装置を提供する。
【解決手段】補正方法設定画面で設定された回数部品の実装が行われると部品15を保持していないノズル5あるいはノズル55が作業ステージ3あるいはプリント基板12に下降し、ノズル5あるいはノズル55が作業ステージ3あるいはプリント基板12に接触したことがタッチセンサ27で検出され、ノズル下降量の補正が行われる。 (もっと読む)


【課題】
本発明は、紫外光源(ランプ)による発熱又は寿命の問題を低減した信頼性の高いダイボンダ又は前記ダイボンダを用い信頼性の高い半導体製造方法を提供することである。
【解決手段】
本発明は、ダイを真空吸着する吸着手段を有し、ウェハから剥離された前記ダイを基板にボンディングするボンディングヘッドと、前記吸着手段の位置と前記真空吸着を制御する真空吸着制御手段と、紫外光を照射すると気体が発生する気体発生剤を含有し、前記ダイを前記ウェハに粘着保持するダイシング用粘着テープに前記紫外光を照射する紫外光照射手段と、前記吸着手段に前記ダイが吸着されたことを検出する吸着検出手段と、前記吸着検出手段の検出結果に基づいて、前記紫外光の照射のON/OFFを制御する照射制御手段と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】
本発明は、ダイのサイズが紫外光照射手段の最大照射面積よりも大きくても、確実にダイをウェハから剥離できる信頼性の高いダイボンダ又は前記ダイボンダを用い信頼性の高い半導体製造方法を提供することである。
【解決手段】
本発明は、ボンディングヘッドがその先端に設けられた吸着手段でダイを真空吸着し、ウェハから剥離する剥離ステップと、剥離された前記ダイを基板にボンディングする装着ステップと、紫外光を照射すると気体が発生する気体発生剤を含有し、前記ダイを粘着保持するダイシング用粘着テープの所定の照射領域に照射部から前記紫外光を照射する照射ステップと、前記ダイシング用粘着テープと前記照射部を相対的に移動させる移動ステップと、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】基板上に配置された電子部品に対する加圧機構の位置精度を向上することができる電子部品の実装方法および装置の提供。
【解決手段】半導体チップ11を本圧着する前に、半導体チップ11を撮像カメラ22fで撮像し、その後、撮像カメラの認識結果に応じて第2の圧着部22の動作を行うようにした。これにより、多数個取り基板10f上に配置された半導体チップ11に対して正しい対向位置に第2のヘッド22aの加圧面Pを平行移動させた後、半導体チップ11の多数個取り基板10fに対する加圧動作を行うことができ、よって、半導体チップ11に対する加圧面Pの位置精度を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】
本発明は、ダイを正確にボンディングできる信頼性の高いダイボンダ及び半導体製造方法を提供することである。
【解決手段】
本発明は、基板または前記基板近傍に設けられた基準マークと前記基板のボンディング位置に設けられた認識パターンとを撮像し、ダイを前記ボンディング位置に近接させ、前記基準マークとボンディング位置に近接した前記ダイとを撮像し、前記2つの撮像によって得られた撮像データに基づいてボンディング位置に近接した前記ダイの位置を補正して前記基板に前記ダイをボンディングする。 (もっと読む)


【課題】ボンディングの際、基板の熱変形によって真空至達エラーが発生することを防止するダイボンディング装置及びボンディング方法を提供する。
【解決手段】供給される半導体ウェハから半導体チップを移動して基板上に搭載するダイボンディング装置は、基板を吸着及び保持して搬送するステージ30と、先端に半導体チップを吸着及び保持するコレット130を含むボンディングヘッド11と、ボンディングヘッドを保持して水平方向に移動する水平移動機構と、コレット130を上下方向に移動する垂直移動機構と、更に、半導体チップを前記基板上にボンディングする際、ステージ上に吸着及び保持される基板の表面にホットエアを吹き付けるホットエア吹付装置20(又は、ホットエア吹付ノズル)を設けた。 (もっと読む)


【課題】非接触方式による測定誤差や誤検出を低減し、さらに、電子部品ハンドリング時に連続して静電気量のモニタができ、異常値をリアルタイムに判定し異常がある場合に即時に対処することができるダイボンダおよび半導体製造方法を提供する。
【解決手段】ダイをピックアップするコレットを有するピックアップ部と、前記コレットで搬送された前記ダイをフレームにボンディングするダイボンディング部と、ダイに帯電する静電気をダイに接触して測定する静電気測定用センサと、静電気測定用センサがダイに所定の圧力で押圧されるように静電気測定用センサの一部に取り付けられた押圧付与部材とを有し、ピックアップ作業の間、静電気測定用センサを用いてダイの静電気量を測定することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 より確実なピックアップが可能な半導体装置の製造装置、半導体装置のピックアップ方法、半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 一方の面に複数のチップ2が貼着され、複数のチップ2を囲むようにウェハリング4が形成されているウェハシート3を他方の面側から複数のチップ2を囲むように支持するウェハ支持部材5と、ウェハリング4を保持しながらウェハ支持部材5との間で相対的に昇降可能に設けられたシート張設機構6と、シート張設機構6により張設されたウェハシート3上のチップ2をピックアップするピックアップ機構7とを含んで備える半導体装置の製造装置1であって、シート張設機構6は、ウェハリング4を保持する保持部材12と、保持部材12を支持する保持部材支持具13とを有し、シート張設機構6とウェハ支持部材5との相対的な昇降動作は、トルク制御可能な駆動材構を制御することにより行われていることを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】省スペース性、チップ搭載性に優れたウェハ供給装置、および当該ウェハ供給装置を備えたチップボンディング装置を提供することを課題とする。
【解決手段】ウェハ供給装置5は、ウェハ搬送パレット50を備えている。ウェハ搬送パレット50には、ウェハシート61が搭載されている。ウェハシート61には、分割された複数のチップ620からなるウェハ62が貼り付けられている。ウェハ搬送パレット50における、ウェハシート61の搭載位置以外の部分には、廃棄されるチップ620を置く廃棄部品置場500が区画されている。 (もっと読む)


【課題】電子部品片と相手側部材の超音波溶着を、簡単な構造で、且つ高速に行えるチップボンダを提供する。
【解決手段】中心軸を回転軸とするターレット10と、ターレット駆動モータ20と、ターレット10の周方向に複数設けられ、吸着ノズル33が設けられる超音波ホーン32と、超音波ホーン32を支持するホーン支持部材34と、ホーン支持部材34を上下方向に摺動可能に支持するケース31を備え、吸着ノズル33により電子部品片300を吸着するとともに、超音波ホーン32の超音波振動により電子部品片300と相手側部材を溶着する部品保持ユニット30と、部品保持ユニット30をターレット10に対して相対的に移動するように案内する部品保持ユニット案内装置50と、部品保持ユニット案内装置50に案内される部品保持ユニット30を押圧することによって、部品保持ユニット30を下方向に移動させる部品保持ユニット駆動装置80を備える。 (もっと読む)


【課題】半導体チップを基板に対して要求される条件に応じて実装することができる実装装置を提供することにある。
【解決手段】搬送レール1によって搬送されて実装位置に位置決めされる基板の搬送方向と交差する方向に対向して配置された半導体チップの供給部4と、供給部と搬送レールの間に配置された中間ステージ14と、基板の搬送方向と交差する方向に駆動可能に設けられた第1の実装ツール31e及び第2の実装ツール32eと、第1、第2の実装ツールの駆動を制御し、半導体チップを基板に精密実装するときには第1の実装ツールによって供給部から半導体チップを取り出させて中間ステージに載置させた後、第2の実装ツールによって中間ステージの半導体チップを取り出させて基板に実装させ、半導体チップを基板に高速実装するときには第1の実装ツールによって供給部から半導体チップを取り出させて基板に実装させる制御装置を具備する。 (もっと読む)


本発明の一態様によると、チップ製造工程においてチップダイ2を取り上げて載置するように構成されたチップダイ2マニピュレータ装置であって、結像システム11が、第2の軸外位置Bに配置されて中心位置5に対して中心が合わせられた円弧状の凸球面鏡13と、光路を第3の軸外位置Cに折り返すために凸球面鏡13と中心位置5との間の光路に配置された折り返し鏡14と、第3の軸外位置Cに配置されて中心位置5および部品2の少なくとも一方を画像検出システム9上に結像するための曲率を有する円弧状の凹球面鏡15とを備える、チップダイ2マニピュレータ装置が提供される。結像システム11は、中心位置5の傾斜した画像検出を補正する。 (もっと読む)


【課題】この発明は通常使用されるサイズよりも大きなサイズの半導体ウエハを使用することができる半導体チップの供給装置を提供することにある。
【解決手段】分割された1つの分割ウエハを保持したウエハリング8が供給されて水平方向に駆動位置決めされる供給テーブル4と、供給テーブルを水平方向に駆動しながら供給テーブルに供給保持された分割ウエハを上方から撮像する撮像カメラ41と、撮像カメラによって撮像された分割ウエハの撮像信号を処理する画像二値化処理部43と、画像二値化処理部で処理された撮像信号に基づいて供給テーブルに供給保持された分割ウエハが半導体ウエハのどの位置の部分のものであるかを判定する判定部57と、判定部の判定に基づいて供給テーブルの水平方向の駆動を制御し供給テーブルに保持された分割ウエハの複数の半導体チップを順次ピックアップ位置に位置決めする駆動制御部46を具備する。 (もっと読む)


【課題】この発明は半導体チップを基板に精度よく実装することができる実装装置を提供することにある。
【解決手段】半導体チップを供給するウエハテーブル2と、ウエハテーブルに設けられた半導体チップをピックアップする実装ツール12と、実装ツールによってピックアップされた半導体チップを基板に実装する前に下方から撮像するチップカメラ21と、基板の半導体チップが実装される部位を撮像する基板カメラ23と、チップカメラの撮像に基づいて半導体チップに設けられた第1の位置合わせマークの位置を算出するとともに、基板カメラの撮像に基づいて基板に設けられた第2の位置合わせマークの位置を算出する演算処理部16と、この演算処理部で算出された第1の位置合わせマークと第2の位置合わせマークの位置に基づいて実装ツールを基板に対して位置決めして半導体チップを実装させる駆動制御部17を具備する。 (もっと読む)


【課題】複数の半導体チップを実装精度の低下を招くことなく積層して実装することができる実装装置を提供する。
【解決手段】基板3に複数の半導体チップTを積層して実装する実装装置であって、2つ目以降の半導体チップを実装ツール5によってすでに実装ステージ1に供給された半導体チップに積層して実装するため、上下撮像カメラ14によって実装ツールに保持された2つ目以降の半導体チップと実装ステージにすでに供給された半導体チップを撮像する際、制御装置は、実装ツールと上下撮像カメラの高さを変えずに、実装ステージの高さを前の回に上記実装ステージに供給された半導体チップの厚さ分だけ下方に駆動して位置決めする。 (もっと読む)


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