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Fターム[5F058AF04]の内容

絶縁膜の形成 (41,121) | 有機絶縁膜の形成法 (1,440) | 塗布(回転、浸漬等) (934)

Fターム[5F058AF04]に分類される特許

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誘電体材料を堆積する方法(100)は、基板に、少なくとも1つの層をその基板の上に設けること(101)を含む。この方法は、上部層の上部表面を物質で予め濡らすこと(102)と、溶液をスピンコーティングすること(103)と、誘電体材料を形成すること(104)とをさらに含む。誘電体材料は、例示的に、比較的多孔性であり、比較的低い誘電率を有したSiOである。予め濡らすことによって、消費される溶液が減少し、処理コストが低減されることになる。さらに、誘電体層(209)は、厚さの均一性が向上する。
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本発明は、有機半導体、特に誘電層を有する有機電界効果トランジスタ(OFET)を備えた集積回路に関する。この集積回路は、a)少なくとも1つの架橋可能なベースポリマーを100部と、b)求電子性の架橋剤としての少なくとも1つのジベンジルアルコール化合物またはトリベンジルアルコール化合物を10〜20部と、c)少なくとも1つの光酸発生剤を0.2〜10部と、d)a)〜c)が溶解されている少なくとも1つの溶媒とからなるポリマー組成物により製造可能である。本発明は、さらに、集積回路の製造方法、特にOFET用の、誘電層を有する集積回路を低温で作ることができる方法にも関する。
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本発明は、誘電層を有する有機半導体、特に有機電界効果トランジスタ(OFET)、を備えた集積回路に関する。この集積回路は、a)少なくとも1つの架橋可能なベースポリマーを100部と、b)少なくとも1つの求電子性の架橋剤を10〜20部と、c)100〜150℃の温度で活性陽子を生成する少なくとも1つの熱性酸触媒を1〜10部と、d)a)〜c)が溶解されている少なくとも1つの溶媒とからなるポリマー組成物により製造可能である。本発明は、さらに、集積回路の製造方法、特にOFET用の、誘電層を有する集積回路を低温で作ることができる方法にも関する。
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半導体材料をリワークする方法であって、(i)シリコーン組成物を基板表面に塗布して膜を形成する段階と、(ii)前記膜の一部を放射線で照射し、前記表面の一部である非照射部と前記表面の残りの部分である照射部とを有する、部分的に照射された膜を作成する段階と、(iii)前記照射部が実質的に現像液に対して非可溶であり、前記非照射部が前記現像液に対して可溶であるような時間、前記部分的に照射された膜を加熱する段階と、(iV)前記加熱後の膜の非照射部を前記現像液で除去し、パターン形成された膜を作成する段階と(V)硬化シリコーン層を形成するのに十分な時間前記パターン形成された膜を加熱する段階と、(Vi)有機溶媒及び塩基を含む無水エッチング液に浸漬して硬化シリコーン層の全部または一部を除去する段階と、を含む方法。 (もっと読む)


【課題】ロール・トゥ・ロールプロセスでの使用に適応した高温安定性の平坦化フレキシブル誘電基板及びそれに用いる誘電被膜を提供すること。
【解決手段】式:[RxSiO(4-x)/2n(ここで、x=1〜4、Rはメチル、フェニル、ヒドリド、ヒドロキシ、アルコキシ又はこれらの組み合わせ(ただし、1<x<4)で表されるシリコーン組成物を含む、導電性基板上に用いられる誘電被膜である。Rはまた、アルキル又はアリール基、アリールエーテル、アルキルエーテル、アリルアミド、アリールアミド、アルキルアミノ及びアリールアミノラジカルから独立して選ばれた他の1価ラジカルからなる。誘電被膜は網目構造を有する。光起電基板がまた開示され、その表面上に誘電被膜が設けられた導電性材料を含む。 (もっと読む)


集積回路デバイス製造のための半導体基板のような基板上への、超臨界流体を利用した物質の蒸着。蒸着は、基板表面に蒸着される物質の前駆体を含む、超臨界流体をベースとする組成物を使用して行われる。そのようなアプローチにより、気相蒸着工程に必要な揮発性および搬送性がないために、蒸着への適用には全く不適切であった前駆体の使用が可能になる。 (もっと読む)


本発明は半導体または電気回路での低いk誘電性フィルムの製造方法に関し、前記方法は、一般式[(RSiO1.5(RSiO)](式中、a、bは0〜1であり、c、dは1であり、m+nは3以上であり、a+bは1であり、n、mは1以上であり、Rは水素原子またはアルキル、シクロアルキル、アルケニル、シクロアルケニル、アルキニル、シクロアルキニル、アリールまたはヘテロアリール基であり、それぞれ置換されているかまたは置換されてなく、Xはオキシ、ヒドロキシル、アルコキシ、カルボキシル、シリル、シリルオキシ、ハロゲン、エポキシ。エステル、フルオロアルキル、イソシアネート、アクリレート、メタクリレート、ニトリル、アミノまたはホスフィン基であり、またはタイプXの少なくとも1つの前記基を有するタイプRの置換基であり、Yはヒドロキシル、アルコキシまたはタイプO−SiZの置換基であり、Z、ZおよびZはフルオロアルキル、アルコキシ、シリルオキシ、エポキシ、エステル、アクリレート、メタクリレートまたはニトリル基であり、またはタイプRの置換基であり、同じかまたは異なり、タイプRの置換基が同じかまたは異なるだけでなく、タイプXおよびYの置換基もそれぞれ同じかまたは異なり、タイプYの置換基として少なくとも1個のヒドロキシル基を有する)の不完全に縮合した多面体のオリゴマーシルセスキオキサンをフィルムの製造のために使用することを特徴とし、更にこの方法により製造される低いk誘電性フィルムに関する。 (もっと読む)


電子デバイスに使用する有機高分子であって、この高分子は、式(a)および(b)の反復単位を含む。式中、高分子内の少なくとも1個の反復単位がR4を含むことを条件として、各R1が、独立してH、アリール基、Cl、Br、I、または架橋可能な基を含む有機基であり、各R2が、独立してH、アリール基、またはR4であり、各R3が、独立してHまたはメチルであり、各R5が、独立してアルキル基、ハロゲン、またはR4であり、各R4が、独立して、少なくとも1個のCN基を含み、CN基あたり約30〜約200の分子量を有する有機基であり、n=0〜3である。これらの高分子は、有機薄膜トランジスタなどの電子デバイスに有用である。

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【課題】配線の信号伝播性能向上を絶縁被膜の誘電率分布の均一化によって実現することを課題とする。
【解決手段】アルコキシシランを加水分解して得られたシリカからなる、平均粒径が1000Å以下であって、粒径の3σが平均粒径の20%以下である第一の微粒子と、平均粒径が1第一の微粒子の1/3以下で、粒径の3σが第二の微粒子の平均粒径の20%以下である第二の微粒子とを含有し、半導体デバイスに用いるに好ましい被膜形成用塗布液。 (もっと読む)


【課題】SOG膜のSi原子と有機基(例えばCH3基)やH基の結合がアッシング時に切れるのを抑制して誘電率を低く抑える。
【解決手段】低誘電率の有機又は無機SOG膜にパターン化レジスト膜をマスクとしてエッチングを行って配線溝を形成し、この後、枚葉式ダウンストリーム型のプラズマアッシング装置を用いて、酸素ガスプラズマによるアッシング処理を例えば1.2Torrの圧力雰囲気下で施してレジスト膜を除去し、この後配線溝にバリヤメタル形成後、Cuを電界メッキ法にて埋設して配線を形成する。 (もっと読む)


【課題】優れた耐熱性を維持し、低誘電率化を可能とする絶縁膜用樹脂組成物、コーティングワニス、絶縁膜、およびこれを用いた半導体装置を提供することにある。
【解決手段】主鎖構造内に熱分解性の繰返し単位を有する特定構造のポリアミドを必須成分とする絶縁膜用樹脂組成物。また、前記絶縁膜用樹脂組成物と、該絶縁膜用樹脂組成物を溶解もしくは分散させることが可能な有機溶媒からなるコーティングワニス、及びこれらを用いて、加熱処理して縮合反応及び架橋反応せしめて得られるポリベンゾオキサゾールを主構造とする樹脂の層からなり、且つ、微細孔を有してなる絶縁膜、並びに前記絶縁膜を用いた半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】 半導体素子の保護膜を鉛系ガラスで形成すると焼成温度が高くなった。
【解決手段】 n形半導体領域7とn形半導体領域8とp形半導体領域9とから成る半導体基体1の傾斜側面10に、カルボキシル基を有する有機高分子物質の水溶液にアンモニア水を混合したものを塗布し、ベ−キング処理して負電荷を有する保護膜6を形成する。 (もっと読む)


【課題】 銅を配線材として用いても、微細な配線構造の形成が可能で、製造の工程数が少なく、低コスト化が可能な配線構造を提供する。
【解決手段】 半導体素子が形成された基板上に絶縁膜103が多層形成され、絶縁膜103に形成された配線溝およびビアホールに金属配線剤が充填されて、配線および接続プラグが形成された配線構造において、絶縁膜103のうち少なくとも一層が対電子線感光性を有する材料から形成されており、絶縁膜103の層間にはバリア絶縁膜104を有し、前記金属配線剤は銅を含むものである。 (もっと読む)


【課題】 銅を配線材として用いても、微細な配線構造の形成が可能で、製造の工程数が少なく、低コスト化が可能な配線構造の製造方法を提供する。
【解決手段】 配線構造の製造方法が、半導体素子201の上にWプラグ203(下層配線)が形成された基板上に、対電子線感光性を有する材料を含む第二層間絶縁膜204(絶縁膜)を形成する工程と、第二層間絶縁膜204に電子線を照射して、第二層間絶縁膜204を露光する工程と、第二層間絶縁膜204を現像して未露光部を除去し、配線溝および/またはビアホールおよび/またはコンタクトホールを形成する工程とを有する。 (もっと読む)


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