説明

Fターム[5F064EE22]の内容

ICの設計・製造(配線設計等) (42,086) | 配線 (13,054) | 配線パターン (7,249) | 多層配線 (2,699)

Fターム[5F064EE22]の下位に属するFターム

Fターム[5F064EE22]に分類される特許

201 - 220 / 566


【課題】複数の電源電圧を使用する半導体装置において、安定的な電源電圧の供給、および設計の自由度を確保しつつ、回路面積の増大を抑制する。
【解決手段】第3固定電位線が平行に複数配線されている。第3固定電位線と直交する方向に、第1固定電位線および第2固定電位線を含む高電位側固定電位線群が、所定間隔で複数配線されている。隣接する一対の第3固定電位線と、隣接する一対の高電位側固定電位線群とで囲まれ、第1素子または第2素子が配置される配置領域において、一対の第3固定電位線間に、第1固定電位線または第2固定電位線のいずれかが配線されている。第2素子用の配置領域では、その配置領域を形成する一対の第3固定電位線間に、その配置領域を形成する一対の高電位側固定電位線群にそれぞれ含まれる、一対の第2固定電位線間が結ばれて第2固定電位線が配線されている。 (もっと読む)


【課題】低電源電圧化により消費電力を削減することができる半導体装置の設計方法を提供することを課題とする。
【解決手段】第1の電源電圧の半導体装置の設計データを前記第1の電源電圧より低い第2の電源電圧の半導体装置の設計データに変更する電源電圧変更ステップと、前記第2の電源電圧の半導体装置の設計データを基に前記第2の電源電圧の半導体装置の遅延時間を計算する第1の遅延計算ステップと、前記第2の電源電圧の半導体装置の遅延時間を基に静的タイミング解析処理を行うことによりタイミングエラーを検出する第1の静的タイミング解析ステップと、前記タイミングエラーが検出されたパス上のセルが含まれるセルブロックの電源電圧線に前記第1の電源電圧を供給し、それ以外の前記セルブロックの電源電圧線に前記第2の電源電圧を供給するように設計データを生成する電源電圧供給ステップとを有する半導体装置の設計方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】ブロック配置を含むIC設計作業において、やり直し等を削減でき、設計の工数等を低減でき、設計効率を向上できる技術を提供する。
【解決手段】本ブロック配置方法及びプログラムでは、実配置処理の前の段階で、ブロック配置領域の大きさを見積もり、局所的配線混雑の発生を判定し、その結果に基づいてユーザによるブロックの最適な位置の決定を可能とする。S1でブロック間接続情報を抽出し、S2でブロックの回路ゲート物量情報を抽出する。S3,S4でユーザによりGUIの画面でブロックの位置を決定する。S5で配線の要求混雑度を評価して画面に表示する。S6でユーザにより配置の妥当性を判定し、OKであれば、S7で実現性の高いブロック配置情報が出力される。 (もっと読む)


【課題】多層の金属配線層を有する半導体装置において、より一層のパッド配置面積の低減を図る。
【解決手段】アルミ3と、アルミ3との間に層間絶縁膜を介して設けられたアルミ2と、アルミ2,3間を接続するコンタクトと、アルミ3に対応して設けられた保護膜の開口部1と、を備え、開口部1の内側領域が、外部電極用パッドであり、かつ、ボンディング領域とプローブテスト領域の二つに分けて使用される半導体装置である。前記ボンディング領域では、アルミ3が露出され、該アルミ3によりアルミ2が隠れている。前記プローブテスト領域では、アルミ2が露出されている。 (もっと読む)


【課題】配線形状のばらつきを効果的に抑制することのできる配線構造、半導体装置、及び半導体装置の製造方法を提供すること
【解決手段】本発明にかかる配線構造は、クロック配線11と、クロック配線11と同層において、クロック配線11に沿ってその両側に設けられた一対の第1シールド配線12と、クロック配線11と絶縁層を介した異なる層において、クロック配線11及び一対の第1シールド配線12の対向する領域を覆うように設けられた第2シールド配線13と、一対の電極(上部電極17、下部電極18)が絶縁層を介して対向配置されたMIM容量30と、を備え、MIM容量30の一対の電極のうち少なくとも一方が、第2シールド配線13と同層に設けられているものである。 (もっと読む)


第1のPチャンネルトランジスタ及び第1のNチャンネルトランジスタは、それぞれ第1及び第2のゲート電極によって形成される。第2のゲート電極は、第1のゲート電極に電気的に接続される。第2のPチャンネルトランジスタ及び第2のNチャンネルトランジスタは、それぞれ第3及び第4のゲート電極によって形成される。第4のゲート電極は、第3のゲート電極に電気的に接続される。第1のPチャンネルトランジスタ、第1のNチャンネルトランジスタ、第2のPチャンネルトランジスタ、及び第2のNチャンネルトランジスタの各々は、共通ノードに電気的に接続されたそれぞれの拡散端子を有する。第1、第2、第3、及び第4のゲート電極の各々は、平行に配向されたいくつかのゲート電極トラックのうちのいずれかに沿って、そのゲート電極トラックに隣接するゲート電極トラックに関連付けられたいずれのゲートレベル特徴部レイアウトチャンネル内に形成されたゲートレベル特徴部とも物理的に接触することなく延びるように形成される。 (もっと読む)


【課題】デジタル回路からアナログ回路に向けて出力される信号に電源ノイズが乗ってそのノイズがアナログ回路領域にばらまかれることによって、アナログ回路で処理される信号のS/Nが劣化してしまう不都合を抑止できるようにする。
【解決手段】アナログ回路とデジタル回路との間で信号を供給するために使用する信号ライン13,14と、アナログ回路およびデジタル回路に電源を供給するために使用する電源・グランドライン11,12とが交差しないように、電源・グランドライン11,12と異なる領域に信号ライン13,14を配線する。例えば、半導体チップ10の外周に沿って電源・グランドライン11,12を配線するとともに、電源・グランドライン11,12の内側にアナログ回路およびデジタル回路を配置し、そのアナログ回路とデジタル回路との間に信号ライン13,14を配線する。 (もっと読む)


【課題】耐圧が高い半導体装置を設計する。
【解決手段】設計装置は、機能に応じた内部回路32を備えた半導体装置の設計処理において、内部回路32が接続された電源パッド44a,44b間の寄生容量値を算出し、この寄生容量値とライブラリに格納されている容量しきい値とを比較する。そして、設計装置は、寄生容量値が容量しきい値の範囲内の場合は、その寄生容量値の内部回路32を電源分離する。 (もっと読む)


【課題】アンテナ比の上限値をゲート絶縁膜の膜厚に基づいて変える場合に、アンテナ比の上限値を具体的に設定することができるようにする。
【解決手段】この設計支援装置は、半導体装置の設計を支援する装置であり、ゲート膜情報取得部260、及び上限アンテナ比設定部280を備える。ゲート膜情報取得部260は、設計された半導体装置が有するゲート絶縁膜の膜厚を取得する。上限アンテナ比設定部280は、ゲート電極のアンテナ比の上限を設定するが、ゲート膜情報取得部260が取得した膜厚によってアンテナ比の上限を異ならせる。このため、設計者はアンテナ比の上限値をゲート絶縁膜の膜厚に基づいて変える場合に、アンテナ比の上限値を具体的に設定することができる。 (もっと読む)


【課題】配線の層数を増やすことなく、配線間の寄生容量を削減すること。
【解決手段】最長の配線と最短の配線とが隣り合うように配置する(ステップS11)。配置済みであって隣が空いている2本の配線のうち短い方の隣に残りの配線のうち最長のものを配置する工程(ステップS12)と、配置済みの配線であって隣が空いている2本の配線のうち長い方の隣に残りの配線のうち最短のものを配置する工程(ステップS14)と、を残りの配線が無くなる(ステップS13又はステップS15のNo)まで交互に繰り返す。 (もっと読む)


【課題】最終的にパッドに印加する電圧を定義することなくレイアウト検証を行うことができるレイアウト検証装置を提供する。
【解決手段】本発明の一態様は、レイアウトの図形データに基づいて、導電層の電位を認識する電位認識処理部と、認識された前記導電層の電位に基づいて、前記半導体装置のレイアウトを検証する電位依存設計基準検証部とを備えたレイアウト検証装置である。本発明によれば、レイアウトがパッドまで設計されていない状態においてもデザインルールを検証することができる。 (もっと読む)


【課題】従来のレイアウト方法では、ノイズ低減させながら配線の収容性を向上させることができなかった。
【解決手段】本発明の配線レイアウト装置は、情報格納部20と、実配線トラックを設定する実配線トラック設定部11と、回路素子を配置する素子配置部12と、隣接する実配線トラックの間に仮想配線トラックを設定する仮想配線トラック設定部13と、第1の配線が接続される回路素子の端子を隣接する仮想配線トラック上に移動させる端子配置変更部14と、実配線トラック上の端子間を実配線トラックに沿って第2の配線で接続し、仮想配線トラック上の端子間を仮想配線トラックに沿って第1の配線で接続する配線部16と、第1の配線と第2の配線とが隣接して配置される隣接区間の長さを計算する隣接配線区間長算出部18と、隣接区間の長さが短くなる側の実配線トラック上に片側隣接禁止配線を移動させる配線形状変更部19と、を有する。 (もっと読む)


【課題】異なる配線層間で互いに直交する配線群を接続する際、接続信頼性が高く良好なスペース効率でレイアウト可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置は、予め設定された配列順で第1配線層に形成されそれぞれY方向(第1の方向)に延伸される複数の第1の配線20と、第2配線層に形成される複数の第2の配線21と、配列順が互いに一致する第1の配線20及び第2の配線21の間を電気的に接続する複数のコンタクト23とを備えている。各々の第2の配線21は、Y方向に直交するX方向(第2の方向)に平行な直線状に規定された隣接する2トラックのうち、一方のトラックに沿って延伸される配線部21aと、他方のトラックに沿って延伸される配線部21bと、2つの配線部21a、21bの間を接続する接続部21cとにより構成され、接続部21cに複数のコンタクト23が形成されている。 (もっと読む)


【課題】電源ノイズを近隣回路に影響を与えないレベルに抑圧し、かつ、回路セルの配置の規則性を乱すことがない効率的なセル配置を実現する。
【解決手段】一方向に配線され幹配線(例えば2S)と、等間隔の複数の幹配線箇所から各々が分岐された複数の分岐線(例えば20S)と、分岐線ごとに設けられたローカル電圧線(仮想VSS線30S等)と、当該ローカル電圧線と分岐線間のスイッチと、ローカル電圧線に接続された少なくとも1つの回路セルとを、各々が含む複数のセルラインと、複数のセルライン内で、1以上のセルラインを挟んで互いに離れた複数のセルラインが含む所定数のスイッチ(SW1,SW2等の対)を同時制御可能に接続する複数の制御線CL1〜CL4と、を有する。 (もっと読む)


【課題】チップ面積の増加を伴わずに電源補強を実現することができる集積回路装置のレイアウト方法等を提供すること。
【解決手段】本発明の集積回路装置のレイアウト方法は、機能セルが配置されていない未配置領域を探索するステップ(ステップS12)と、未配置領域に、少なくとも一部が第1、第2のポリシリコン配線パターンによりそれぞれ形成された第1、第2の電源補強線を含む第1、第2の電源補強セルを配置するステップ(ステップS14)と、を含む。ステップS14において、第1、第2のポリシリコン配線パターンを第2、第1の電源供給線とそれぞれ交差させて、第2の方向に沿って、第1、第2の電源補強線を介してそれぞれ2つの第1の電源供給線及び2つの第2の電源供給線を接続する2つの配線パターンの少なくとも一方が形成されるように、少なくとも2つの第1、第2の電源補強セルの少なくとも一方を第2の方向に沿って並べて配置する。 (もっと読む)


【課題】スイッチの配置配線を短時間で容易に行う。
【解決手段】第1電源線(例えば実VDD線)と内部電圧線間に回路セルを有する回路ブロックと、内部電圧線に接続される2本の電圧セル線23A,23Bと、第2電源線(例えば実VSS線)に接続される2本の電源セル線24A,24Bと、スイッチ制御線29に接続される制御セル線25と、トランジスタ(TR1,TR2)と、を有するスイッチセル20Nが、回路ブロック1の周囲の四方全てに配置される。各スイッチセル20Nにおいて、制御セル線25がセル中心を通り一方向に配置され、2本の電圧セル線23A,23Bと、2本の電源セル線24A店Bの各々が、制御セル線25と並行に、かつ、制御セル線25を挟んで制御セル線25から等距離の位置に互いに並行に配置されている。 (もっと読む)


【課題】チップ面積の増加を伴わずに電源補強を実現することができる集積回路装置のレイアウト方法等を提供すること。
【解決手段】本発明の集積回路装置のレイアウト方法は、機能セルが配置されていない未配置領域を探索するステップ(ステップS14)と、未配置領域に、少なくとも一部が第1及び第2のポリシリコン配線パターンによりそれぞれ形成された第1及び第2の電源補強線と、を含む電源補強セルを配置するステップ(ステップS16)と、を含む。ステップS16において、第1及び第2のポリシリコン配線パターンを第2の電源供給線及び第1の電源供給線とそれぞれ交差させて、第2の方向に沿って、第1の電源補強線及び第2の電源補強線を介してそれぞれ2つの第1の電源供給線及び2つの第2の電源供給線を接続する2つの配線パターンの少なくとも一方が形成されるように、少なくとも2つの電源補強セルを第2の方向に沿って並べて配置する。 (もっと読む)


【課題】ビア解像度を向上させ、配線間を接続するビアの集積度を落とすことなく、ビア形状の歪み、ビア−ビア間のショート等を抑制することができる、レチクル、および配線およびビアのレイアウト方法を提供する。
【解決手段】第一の配線103と、第二の配線105とを接続する複数のビアを形成するために用いられるレチクルであって、第一の配線103と第二の配線105は互いに直交し、複数のビアを形成するための複数のビア開口パターン101は矩形状であり、ビア開口パターン101の各辺が配線方向に対して斜めになるように配置され、斜め方向に配置された隣接する二つのビア開口パターン101間の最小間隔d1は、ビア開口パターン101の中心点を固定して回転させることにより各辺を第一の方向および第二の方向に対して平行または直交するようにビア開口パターン101を配置した場合のビア開口パターン101間の最小間隔よりも大きい、レチクル。 (もっと読む)


【課題】微細化が可能な遅延回路部を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】ゲート電極11g〜14gのトランジスタを有する論理回路部1aと、ゲート電極17g、18gが、それぞれ、配置されて形成されたPMOS及びNMOSトランジスタを構成トランジスタとするCMOSインバータを有し、CMOSインバータの構成トランジスタのそれぞれのドレインに、ドレイン同士が接続されたゲート電極19g、20gを有するノーマリオン型のPMOS及びNMOSトランジスタのそれぞれのソースが接続され、ゲート電極17g、18gの電位より低いゲート電位が印加される遅延生成部を有し、論理回路部1aの出力をCMOSインバータに入力して、遅延生成部のドレインから出力する遅延回路部3aと、ダミーゲート29gとを備え、ゲート電極11g〜20g及びダミーゲート29gが、所定の長さ及び幅を有し、間隔Dで正対した配列関係を有する。 (もっと読む)


【課題】ウエル基板の電位制御によるリーク電流削減を行おうとした場合に、上層配線からの接続部が信号配線の多い領域に配置されていると、配線混雑が発生する。
【解決手段】基板電源供給セル100にて電源配線110をコの字状に形成することにより基板電源配線120の一部を露出させ、以て上層配線への接続部140を基板電源供給セル100の境界部に配置することにより、信号配線効率を低下させないでリーク電流を削減する。 (もっと読む)


201 - 220 / 566