【課題】短チャネル効果を抑制するとともに、オン電流を向上させることの可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板１００に形成されたＳＴＩ領域１０３と、ＳＴＩ領域１０３に囲まれた活性領域と、活性領域を横切るように一方向に形成されたゲート電極１２とを備え、半導体基板１００は、活性領域とゲート電極１２とが重なる領域において、活性領域の半導体基板１００に活性領域の長軸方向と平行に形成された二つのゲートトレンチ１０８及び二つのゲートトレンチ１０８の間に位置し半導体基板１００の一部であるフィン状部１００ｆを有し、ゲート電極１２は二つのゲートトレンチ１０８内に埋め込まれ且つフィン状部１００ｆ上にも形成され、フィン状部１００ｆがチャネル領域となっているフィントランジスタを備える。これにより、チャネル領域の幅がゲート長よりも短いフィントランジスタが得られる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、フェルミレベルピニング、ゲート電極空乏化、拡散現象等の各問題を解決することができ、より簡略化した製造プロセスにより、閾値電圧が異なるＭＯＳ構造のそれぞれのゲート電極に適した材料を採用して閾値電圧を適切に調整（制御）することができる、ＭＯＳ構造を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明に係わるＭＯＳ構造を有する半導体装置では、ＰＭＯＳトランジスタＱＰは、ゲート絶縁膜５、第１金属層６４、第２金属層６５、多結晶ポリシリコン層６３が当該順に形成された構成を有する。またＮＭＯＳトランジスタＱＮは、ゲート絶縁膜５、多結晶ポリシリコン６３が当該順に形成された構成を有する。 （もっと読む）

【課題】互いに隣接するシリコンエピタキシャル層同士のショートを防止する。
【解決手段】活性領域１３の露出面をドライエッチング又はウェットエッチングで掘り下げることにより、活性領域１３の露出面には凹部１３ａが形成される。これにより、素子分離領域１２を構成するフィールド酸化膜１２の側面部分１２ａが露出し、凹部１３ａの周囲がフィールド酸化膜の側面部分１２ａで囲まれた状態となる。その後、凹部１３ａが形成された活性領域１３の露出面にシリコンエピタキシャル層１９を形成する。ここで、活性領域の露出面は掘り下げられており、活性領域１３の幅方向の両端はフィールド酸化膜による壁で囲われていることから、シリコンエピタキシャル層１９の横方向への成長を抑制することができ、互いに隣接するシリコンエピタキシャル層１９、１９間のショートを防止することができる。 （もっと読む）

【課題】ＣＶＤ法でＴａＳｉＮ系又はＴｉＳｉＮ系膜によるゲート電極を形成することで、成膜時の組成を制御することトランジスタの閾値電圧を制御する半導体装置の製造方法及び半導体装置を提供する。
【解決手段】Ｓｉ原料として水素化シリコン、Ｔａ原料としてＴａのアミド化合物、イミド化合物又はハロゲン化物から選択される１つと又はＴｉ原料として四塩化チタンを、Ｎ原料としてはＮＨ_３とをそれぞれ供給して、Ｓｉ堆積膜層が０．２〜２．０ｎｍ、ＴａＮ又はＴｉＮ堆積膜層が０．５〜３．０ｎｍを交互に積層させ、ＴａＳｉ_ｘＮ_ｙ又はＴｉＳｉ_ｘＮ_ｙ膜層（ここで、ｘが０．１〜３．０、ｙが０．５〜５．０の範囲にする。）を１〜２０ｎｍの層厚にする半導体装置の製造方法とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ゲート絶縁膜の膜厚が増加することを抑制することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板１０上に絶縁膜２０を形成するステップと、絶縁膜上に第１の金属膜３０を形成するステップと、第１の金属膜の上方に、酸素分子１モルあたりの金属酸化物を生成する際の生成エネルギーが負であって、かつ生成エネルギーの絶対値が第１の金属膜より大きい第２の金属膜５０を形成するステップと、第１及び第２の金属膜にパターニングを行うステップと、所定の熱処理を行うステップとを備える。 （もっと読む）

【課題】 半導体素子の微細化にともない半導体基板の斜面を使用したＭＯＳトランジスタにおいては、斜面の上端に近い箇所と下端に近い箇所とでゲート電極膜の膜厚が異なることになり、ドライエッチングによるパターニングが困難になるという問題点がある。
【解決手段】 斜面上にゲート電極を有するＭＯＳトランジスタは、最初に斜面の下端に近い箇所の下層ゲート電極膜のパターニングを行う。さらにそのゲート電極間のスペースを基板の主表面まで埋設させ主表面と高さを同一とした後、上層のゲート電極膜を成膜しゲート電極膜のパターニングを行う。このためにコンタクトホール開口時のアスペクト比が小さくなり、微細パターンのパターニングが可能となる。 （もっと読む）

【課題】ＣＥＴ特性及び絶縁特性を向上させた半導体素子を提供する。
【解決手段】基板１１０と、基板１１０上に積層され、高誘電体物質から形成されるゲート酸化膜１２０と、ゲート酸化膜１２０上に積層され、ゲート酸化膜１２０と同種金属の窒化物から形成される第１金属層１３１と、第１金属層１３１上に積層される第２金属層１３２と、第２金属層１３２上に積層される第３金属層１３３と、第３金属層１３３上に積層され、第１金属層１３１〜第３金属層１３３と共にゲート電極を形成する物質層１４０と、を含んでいる。これにより、半導体素子のゲート酸化膜と金属層間の化学的な反応により発生するＣＥＴ特性の低下および電流の漏れなどを防止することで半導体素子の絶縁特性を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】二重仕事関数金属ゲートスタックを備えるＣＭＯＳ半導体装置を提供する。
【解決手段】ＣＭＯＳ半導体装置は、ＰＭＯＳ及びＮＭＯＳ装置の仕事関数を独立的に調節できる工程技術を利用して形成された二重仕事関数金属ゲート構造物を備えて、ゲート絶縁膜の信頼性に悪い影響を与えることをかなり低減または除去できる。 （もっと読む）

【課題】膜質が向上したゲート絶縁層を有するＭＩＳトランジスタを含む、半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明にかかる半導体装置は、半導体層１０と、半導体層の上方に設けられたゲート絶縁層２０と、ゲート絶縁層の上方に設けられたゲート電極２２と、半導体層に設けられたソース領域およびドレイン領域２６と、を含み、ゲート絶縁層は、シリコンと、窒素と、重水素とを含有する第１の層２０ａを含む。 （もっと読む）

【課題】高誘電率絶縁体からなる絶縁材料層上に形成した遷移金属元素を含む電極材料層に対し高選択比でエッチングを施すことのできるエッチング技術を提供する。
【解決手段】遷移金属元素を含む電極材料層１０７および高誘電率絶縁体１０８からなる絶縁材料層の積層体を備えた試料を真空処理容器内に設置した下部電極上に配置し、前記真空処理容器内に処理ガスを導入し、前記真空処理容器内に高周波電力を供給して前記導入した処理ガスをプラズマ化して前記試料表面にエッチング処理を施すプラズマエッチング処理方法において、前記電極材料層をエッチングするとき、処理ガスとしてＨＣｌガスを供給する。 （もっと読む）

【課題】シリコン系材料、例えばシリコン基板、多結晶シリコンパターン等をドライエッチングする際の前処理のエッチングに、フッ化水素とアンモニアとからなるエッチングガスを用いることで、自然酸化膜を選択的に除去することを可能とする。
【解決手段】酸化シリコン（素子分離領域１２、サイドウォール１８、１９等）と表面に自然酸化膜２１、２２が形成されたシリコン系材料（シリコン基板１１）とが露出された状態で自然酸化膜２１、２２を除去する工程と、自然酸化膜２１、２２が除去されたシリコン系材料（シリコン基板１１）をエッチング加工する工程とを備えた半導体装置の製造方法であって、自然酸化膜２１、２２を除去する工程は、エッチングガスにフッ化水素とアンモニアとを用いたドライエッチングにより行うことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】トランジスタ特性のばらつきが抑えられた半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】Ｐ型ＭＯＳＦＥＴとＮ型ＭＯＳＦＥＴを有する半導体装置の製造方法であって、半導体基板上にゲート絶縁膜、ノンドープポリシリコン膜、金属シリサイド膜、金属ナイトライド膜、金属膜を形成する工程と、金属シリサイド膜の、Ｐ型ＭＯＳＦＥＴのゲート電極を構成する部分とＮ型ＭＯＳＦＥＴのゲート電極を構成する部分とが互いに分離するように、金属膜、金属ナイトライド膜および金属シリサイド膜を少なくとも加工してゲート形状にパターニングする工程と、Ｐ型およびＮ型のＭＯＳＦＥＴ形成領域内のノンドープポリシリコン膜にそれぞれＰ型およびＮ型不純物を導入する工程と、不純物を拡散させるための熱処理を行う工程と、不純物導入後のポリシリコン膜をゲート形状にパターニングする工程を有する半導体装置の製造方法。 （もっと読む）

【課題】ドレイン領域の抵抗の低減を図りつつ、前記ホットキャリアの発生を抑制するこ
とのできる、半導体装置およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】半導体シリコン基板の表面領域にソース領域およびドレイン領域を備えた電
界効果型トランジスタを含む半導体装置であって、
前記ドレイン領域は、第一導電型の不純物拡散層と第二導電型の不純物拡散層とを少な
くとも含む多重不純物拡散層を有し、
前記ドレイン領域側に設けられたゲート電極下部のバーズビークは、前記ソース領域側
に設けられたゲート電極下部のバーズビークに比較して大きいことを特徴とする半導体装
置。 （もっと読む）

【課題】金属ゲート電極のゲート絶縁膜界面での酸化を抑制する。
【解決手段】金属ゲート電極８を構成するＴｉＮの金属電極膜５に、その形成時にＨｆまたはＺｒを０．０５原子％〜５原子％程度添加しておく。これにより、ＨｆＡｌ_xＯ_y膜で形成されているゲート絶縁膜４との界面においても、金属電極膜５の耐酸化性が向上し、成膜時やアニール時の高い温度環境下でも、金属電極膜５の酸化が抑制されるようになる。そのため、高性能で高信頼性の半導体装置を歩留まり良く形成することが可能になる。 （もっと読む）

【課題】高誘電率ゲート絶縁膜とシリサイドゲート電極の組み合わせ技術におけるしきい値制御の問題を解決し、高性能で信頼性に優れた半導体装置を提供する。
【解決手段】シリコン基板上に、ゲート絶縁膜とこのゲート絶縁膜上に設けられたゲート電極とを有する電界効果トランジスタを備えた半導体装置において、高誘電率絶縁膜（例えばＨｆＳｉＯＮ膜）を含むゲート絶縁膜を用い、高誘電率絶縁膜に接するように下層側に設けられた、第１の金属Ｍ１（例えばＮｉ）、Ｍ１と異なる仕事関数をもつ第２の金属Ｍ２（例えばＷ）およびシリコン（Ｓｉ）を含むシリサイドからなる第１の層領域と、第１の層領域に接する上層側に設けられたＭ１（例えばＮｉ）およびＳｉを含むシリサイドからなる第２の層領域とを有するゲート電極を用いる。 （もっと読む）

【課題】 電極サイズが大きい場合でも、アルミニウムを含むメタル配線に変質、変形等の悪影響を与えることなく、界面準位を十分に低減できるようにした半導体導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 ゲート電極１５両側のシリコン層５にＳ／Ｄ１９とを形成する工程と、Ｓ／Ｄ１９とが形成されたシリコン層５上に層間絶縁膜２１を形成する工程と、層間絶縁膜２１を選択的にエッチングしてコンタクトホールｈ１〜ｈ３を形成する工程と、コンタクトホールｈ１〜ｈ３の底面にＴｉＮ／Ｔｉ膜２３を形成する工程と、ＴｉＮ／Ｔｉ膜２３が形成されたＳＯＩ基板１０に水素シンターを施す工程と、水素シンターの後でＴｉＮ／Ｔｉ膜２３上にアルミニウムを含むメタル配線３１を形成する工程と、を含む。長チャネルトランジスタについては、メタル配線３１に悪影響を与えることなく、シリコン層５とゲート絶縁膜１３との間の界面準位を低減できる。 （もっと読む）

【課題】高温で安定であり、抵抗等の特性が改善され、信頼性が高い多層ゲート電極及びこれを備える半導体素子、ならびに多層ゲート電極の製造方法及び半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】多層ゲート電極は、ゲート絶縁膜上に形成され導電型不純物がドープされた多結晶半導体膜と、前記多結晶半導体膜上に形成されタングステン（Ｗ１−ｘ）及び非タングステン金属（Ｍｘ、ｘ＝０．０１〜０．５５）を含むオーミックコンタクト膜と、前記オーミックコンタクト膜の上に形成された金属バリヤ膜と、前記金属バリヤ膜の上に形成された高融点金属膜と、を備える。 （もっと読む）

【課題】ゲートパターン間に埋め込まれる層間絶縁膜の埋め込み性及びランディングプラグ形成物質の埋め込み性を向上させることができる半導体素子のゲートパターン及びその形成方法を提供すること。
【解決手段】半導体素子のゲートパターンは、基板１１０に形成されたトレンチ１１２の内面及び基板１１０の表面に形成されたゲート絶縁膜１１４と、トレンチ１１２が形成されていない領域におけるゲート絶縁膜１１４の上面より突出しないように、トレンチ１１２に埋め込まれた第１ゲート電極層１１６Ａと、一部分が第１ゲート電極層１１６Ａと接触するように、第１ゲート電極層１１６Ａ上に形成された第２ゲート電極層１２０Ａとを備えている。 （もっと読む）

【課題】 ゲート電極間の短絡の防止、及びキャパシタ下部電極に起因する容量絶縁膜のリーク電流増大防止が可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体基板１００上にアモルファスシリコン膜１０２を形成し、アモルファスシリコン膜１０２の表面に、アモルファスシリコン膜１０２の表面のマイグレーションを防止するストッパ膜１０を形成し、その後、アモルファスシリコン膜１０２の表面からストッパ膜１０を除去する。ストッパ膜１０により、アモルファスシリコン膜１２０形成後に、低圧の反応室内で長時間保持されても、アモルファスシリコン膜の表面マイグレーションを防止し、表面上の微小なシリコン核が２次成長することを抑制する。 （もっと読む）

【課題】デュアルゲート構造及びその製造方法、デュアルゲート構造を備える半導体素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体素子は、基板上に形成された少なくとも２つのスタックゲート構造を備える。２つのスタックゲート構造は、各々半導体層及び半導体層上に形成された金属層を備える。基板上に形成された２つのスタックゲート構造は、相異なる中間層、すなわち、２つのスタックゲートのうち１つは、オーミック層を備え、２つのスタックゲートのうち他の１つは、オーミック層を備えないことにその特徴がある。 （もっと読む）