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Fターム[5F157AA02]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 被洗浄物の形状、形態 (6,397) | 形状 (323) | 矩形板状 (82)

Fターム[5F157AA02]に分類される特許

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【課題】高ドーズ量の半導体ウェハにおいても装置負担を増大させることなく、レジストなどを効果的に剥離除去することを可能にする。
【解決手段】洗浄に使用した硫酸を含む溶液の返流を受けて該溶液の一部または全部を対象に水分を低減して硫酸濃度を高め、硫酸濃度を高めた該溶液を含めて返流された前記溶液をさらに前記洗浄に循環供給可能にするとともに、返流された硫酸を含む前記溶液の一部を別に分け、分けた該溶液を希釈して硫酸濃度を低くした後、該希釈溶液の電解反応により過硫酸を生成し、該電解反応で得られた過硫酸を含む溶液を前記洗浄に供給可能とすることで、効率的な電解反応と、洗浄効果の高い洗浄液の供給という両面の目的を達成する。 (もっと読む)


【課題】基板に与えるダメージを低減可能な処理液を簡易かつ正確に選定する方法を提供する。
【解決手段】はじめに、処理液の分子密度と、処理液を基板表面に物理的に作用させることによって基板に対する処理を実行した際に前記基板に発生するダメージとの関係を示す分子密度相関グラフを準備する。続いて、分子密度相関グラフに基づいて分子密度閾値を特定する。より具体的には、分子密度相関グラフに近似する自然対数曲線Lを特定し、自然対数曲線Lにおいて、ダメージ値が所定の上限ダメージ値の1/e倍(eは自然対数の底)となる分子密度を算出し、当該算出された分子密度の値M1を、分子密度閾値として取得する。続いて、分子密度が分子密度閾値以下の選定処理液を基板に対する処理を実行可能な処理液として選定する。 (もっと読む)


【課題】溶剤中の純水濃度を極力低くすることにより、純水に起因する乾燥不良を防止することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】制御部97は、基板Wを純水で洗浄する純水洗浄処理の後、溶剤を注入して純水を溶剤で置換する置換処理を行い、処理液の流れを第1の分岐配管49に切り換え、油水分離フィルタ51によって純水を処理液から除去する分離除去処理の後、処理液の流れを第2の分岐配管53に切り換え、吸着フィルタ55により吸着除去処理を行う。したがって、分離除去処理によっても除去しきれない微量の純水だけを吸着フィルタ55によって吸着除去することができ、溶剤中の純水濃度を極力低くすることができる。その結果、溶剤中の純水に起因する乾燥不良を防止できる。 (もっと読む)


【課題】残留パーティクル成分を微細化する熱交換装置を提供することにある。
【解決手段】純水が流通する螺旋状の発熱管21と、発熱管の両端部同士を電気的に短絡させる短絡部材22と、発熱管及び短絡部材を包囲するように配置し、高周波電力に応じて発熱管に対して電磁誘導電力を発生させる加熱コイル23とを有し、短絡部材は、発熱管の電磁誘導電力に応じて短絡電流を発生し、短絡電流に応じて発熱管を温度調整すると共に、発熱管は、短絡電流の温度調整作用に応じて、同管内を流通する純水の温度を目標温度になるように、純水を温度調整する熱交換装置8Aであって、純水が流通する発熱管の流入口21Aをアース部25に接地することで、発熱管を流通する純水に関わる残留パーティクルの帯電電荷を放電し、残留パーティクルを微細化するようにした。 (もっと読む)


【課題】基板とプレートとの隙間の有無を選択的に行って、角形の基板の回転処理においても、四角い形状の影響をなくすようにした基板処理装置を提供すること。
【解決手段】角形の基板Gを水平状態に保持し、鉛直軸回りに回転するスピンチャック10と、スピンチャック10にて保持された基板Gの各辺の外方近傍に位置すると共に、基板Gの表面と略同一平面の表面を有する気流調整用のプレート11と、スピンチャック10にて保持された基板Gの表面に処理液を供給する塗布液供給ノズル12と、スピンチャック10にて保持された基板Gの裏面に洗浄液を供給する洗浄液供給ノズル13と、を具備する基板処理装置において、各プレート11を基板Gの辺に対して選択的に接離移動するプレート移動機構20を設ける。これにより、プレート移動機構20を作動して、基板Gとプレート11との隙間の有無を選択的に行うことができる。 (もっと読む)


【課題】処理液から引き上げられる複数の基板の全面を短時間で効率的に乾燥させることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】ドライエア供給ダクト10A上に設けられた仕切板駆動部13は、複数の通気路110の一部を閉塞するための仕切板12をドライエア供給ダクト10Aの内側と上部外側との間でスライド可能に保持している。乾燥処理の開始から外周当接部WTが処理槽4から引き上げられるまでの間、仕切板12はドライエア供給ダクト10Aの上部外側に位置する。外周当接部WTが処理槽4から引き上げられると、仕切板12はドライエア供給ダクト10Aの内側にスライドする。この場合、仕切板12が最下部の通気路110を除く全ての通気路110を閉塞する。これにより、ドライエア供給ダクト10A内に供給されるドライエアDFが仕切板12により絞り込まれ、最下部の通気路110に導かれる。 (もっと読む)


【課題】処理液から引き上げられる複数の基板の全面を短時間で効率的に乾燥させることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板保持具330において、背板333の正面には、4本のアーム341〜344が取り付けられている。各アーム341〜344は、水平方向に延びている。背板333の背面には、4本のアーム341〜344に対応して4個のモータが取り付けられている。各アーム341〜344の軸心と垂直な方向における断面は、楕円形状となっている。各アーム341〜344に形成された径小部345に基板Wの外周端部が挿入される。それにより、複数の基板Wが各アーム341〜344の径小部345の外周面により保持される。基板Wが処理槽から引き上げられ、各アーム341〜344と基板Wとの当接部が処理液の液面に位置する際に、モータが各アーム341〜344を回転させる。 (もっと読む)


【課題】表面硬化層が形成されたレジストを基板の表面から良好に剥離することのできるレジスト剥離方法およびレジスト剥離装置を提供する。
【解決手段】基板Wが処理チャンバー11にローディングされると、プレート14に吸着保持された基板Wは基板加熱用ヒータ19からの発熱により加熱処理される。このとき、コントローラは基板Wの温度が300℃以上で、かつ450℃以下の温度範囲となるように基板加熱用ヒータ19を駆動制御する。基板Wの加熱によりレジストにポッピング現象が生じると、表面硬化層の内側(下層側)に位置する未硬化層のポッピングによる衝撃で表面硬化層に亀裂が生じ、未硬化層が灰化される。続いて、加熱処理後に高圧流体を用いたレジスト除去を行うことで、基板表面からレジストが表面硬化層ごと剥離される。 (もっと読む)


【課題】基板処理におけるスループットの低下が抑制されつつ、露光装置内の汚染が十分に防止されるとともに、小型化が可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置500は、インデクサブロック9、反射防止膜用処理ブロック10、レジスト膜用処理ブロック11、レジストカバー膜用処理ブロック12、現像処理ブロック13、レジストカバー膜除去ブロック14、洗浄/乾燥処理ブロック15およびインターフェースブロック16を含む。これらのブロック9〜16は上記の順で並設される。インターフェースブロック16に隣接するように露光装置17が配置される。露光装置17においては、液浸法により基板Wの露光処理が行われる。洗浄/乾燥処理ブロック15は、洗浄/乾燥処理部80を有する。洗浄/乾燥処理部80には、基板の表面および端部を洗浄する表面端部洗浄/乾燥ユニットが設けられる。 (もっと読む)


板状物品の表面を洗浄する方法が開示される。この方法は、液体が分配ノズルを通して表面上に連続的液体流状で分配されるようにして表面を自由流洗浄で処理し、そして液体が噴霧ノズルを通して表面に対して小滴の形態で向けられるようにして表面を噴霧洗浄で処理する段階を含んでなる。表面は自由流洗浄段階前に噴霧洗浄段階でそして自由流洗浄段階後に噴霧洗浄段階で処理される。 (もっと読む)


本発明は、薄いウェハ(6)を洗浄する装置で、ウェハ(6)が各々の一辺で担持装置(2)に固定されており、2つの隣接する基板間に空隙(7)が形成されている。本装置は、流体を各空隙(7)内に注入するシャワー装置(15)と、流体を満たすことができ且つ担持装置(2)を収容できる寸法を有する槽(14)とから実質上構成される。本発明によれば、任意選択的に、シャワー装置(15)が移動不能な担持装置(2)に対して移動可能であるか、あるいは担持装置(2)が移動不能なシャワー装置(15)に対して移動可能であるか、あるいは担持装置(2)とシャワー装置(15)が相対的に移動可能である。本発明による方法は、好ましい洗浄処理において、担持装置(2)を槽内で移動しながらまず温流体でシャワー洗浄を行った後、冷流体で超音波洗浄を行い、さらに温流体でシャワー洗浄を再度行うことを特徴とする。
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【課題】電極の変形を最小化し、誘電体の間隔を一定に維持するプラズマ発生装置を提供すること。
【解決手段】
本発明では、ノズルヘッド50に一対の誘電体板52、52’が着脱可能に設置される。このため、前記誘電体板52、52’の上端は、チャンバハウジング46の下部に形成された安着スリット49に挟み込まれ、前記誘電体板52、52’の下端は、電極カバー58の下端に形成された段差部59におかれることにより、固定される。また、前記誘電体板52、52’間の隙間53hを維持するために、前記隙間53hの両端部には、スペーサ64が挿入される。このような構成を有する本発明によると、誘電体板間の隙間を一定に維持することができるので、均一なプラズマを形成することができ、誘電体板の交替及びメンテナンスが容易になるという利点がある。 (もっと読む)


【課題】洗浄工程での残渣により製造物に悪影響を及ぼさないようにした洗浄装置及びその洗浄方法を提供する。
【解決手段】槽体210と、槽体210の中に配置されたステージ220と、槽体210の中に設けられ、ステージ220を囲む少なくとも1つの第1の側壁(230又は240)と、槽体210の中で、ステージ220の上方に配置され、ステージ220と第1の側壁との間の第1の範囲を閉じ込める操作可能なプレート265と、ステージ220と第1の側壁との間の第1の範囲と流体連通された排気装置270と、を備える。 (もっと読む)


【課題】フットプリントを小さくすることができ、排気と排液との分離機構を特別に設ける必要がなく、排気カップの全周に亘って均一に排気することが可能な液処理装置を提供すること。
【解決手段】回転カップ4をウエハWと一体的に回転させるように構成するとともに回転カップ4の外側を囲繞するように環状の排液カップ51を設け、さらにこの排液カップ51を収容するように同心状に排気カップ52を設け、排気カップ52に取り入れられた気体成分の気流がほぼ全周から排気口70に向けて流れるように気流を調整する気流調整機構99a,97を設けて、ウエハWに処理液を供給しながら液処理を行う液処理装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】 1つの工程装備にインシャワー、吸入および乾燥工程を行えるようにし、基板を塗布または剥皮したり洗浄工程を行ったりする際に時間と空間的な効率性を高めることができるインシャワー、吸入および乾燥工程を行う工程装置を提供する。
【解決手段】 インシャワー、吸入および乾燥工程を行う工程装置は、インシャワーナイフ、エアナイフを含むナイフユニットおよびナイフユニットが取付けられて基板上にナイフユニットを移送することができるフレームを含む。 (もっと読む)


【課題】 実質的にアルカリ金属原子を含有せず、洗浄時において微細化したパーティクルの再付着防止性に優れ、効率的な高度洗浄を可能にするエレクトロニクス材料用洗浄剤を提供することにある。
【解決手段】 有機酸(A)の第4級アンモニウム塩(B)を含有してなるエレクトロニクス材料用洗浄剤であって、アルカリ金属原子およびアルカリ土類金属原子の合計含有量が洗浄剤の重量に基づいて0.01重量%以下あり、第4級アンモニウム塩(B)が、pKaが11〜40の第3級アミン(C)と炭酸ジメチルとの反応で得られた第4級アンモニウム炭酸塩と、有機酸(A)とのアニオン交換反応によって得られた第4級アンモニウム塩であることが好ましい。また、第4級アンモニウム塩(B)の重量平均分子量は1,000〜1,000,000であることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】プラズマイオンエネルギに対する制御能力が高く、より均一な大面積の高密度プラズマを発生させることが可能なプラズマ反応器を提供する。
【解決手段】被処理基板が搭載される基板支持台を有する真空チャンバと、真空チャンバの内部にガスを供給するガスシャワーヘッドと、真空チャンバの上部に設けられる誘電体ウィンドウと、誘電体ウィンドウ上部に設けられる無線周波数アンテナとを含み、ガスシャワーヘッドと基板支持台は真空チャンバ内部のプラズマに容量的に結合され、無線周波数アンテナは真空チャンバの内部のプラズマに誘導的に結合されるプラズマ反応器が提供される。 (もっと読む)


【課題】ディスク状対象物の少なくとも下面の処理を行うための装置において、ディスク状対象物の汚染が回避できるような装置を提供する。
【解決手段】本発明の装置は、上面(2o)を有しかつディスク状対象物(1)を位置決めするための少なくとも2つの部材(19)が上面から垂直に突出している回転可能保持器(2)と、ディスク状対象物(1)の下面(1u)に処理媒体を供給するために固定的に設けられかつ保持器(2)を貫通するように配置された少なくとも1つの配管(24,26)と、保持器(2)の下面(2u)の少なくとも一部から離隔して固定配置され環状間隙(16)を形成しているカバー(4)と、を備え、前記少なくとも1つの配管(24,26)は、隙間のない状態でカバー(4)を貫通していることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 洗浄液を供給する洗浄ノズル及び基板端面の位置合わせを行う基板端面洗浄装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 両端が開放された洗浄溝部6を有し、洗浄溝部6内の洗浄ノズル7から吐出される洗浄液により基板端面1Eを洗浄する洗浄ユニット5と、洗浄ユニット5に設けられ、洗浄ユニット5に対する基板1の相対的位置を検出する基板検出センサと、洗浄溝部6の溝方向に直交する面内で洗浄ユニット5及び基板支持部2を相対的に移動させる位置合わせ駆動部3と、位置合わせ駆動部3を制御し、洗浄ノズル7及び基板端面1Eの位置合わせを行う位置合わせ制御部22とを備える。 (もっと読む)


本発明は、半導体製造工程中、洗浄工程、エッチング工程などのように基板を回転させながら工程を行うために使用するスピンチャックに関する。本発明のスピンチャックは、基板が載置される回転可能なスピンヘッドと、スピンヘッドを回転させる駆動部と、スピンヘッドに設けられ、基板の回転の時、基板のフラットゾーンによる渦流現象を防止するために、基板のフラットゾーンに対応する位置にフラットゾーンのフラット面と接する接触面を有する固定ブラケットと、を含む。
上述した構成のスピンチャックは、基板のフラットゾーンと同一な形状の固定ブラケットを備えることによって、基板のフラットゾーンによる気流の不均衡を防止できる。従って、基板の背面に噴射されるエッチング液が均一に広がるようにすることができるという利点を有する。 (もっと読む)


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