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Fターム[5F157BB37]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 液体による洗浄形態(又は方式) (4,470) | 噴射、泡、スプレー (2,689) | ノズルの構造 (606) | 混合 (243) | 液体と気体 (192)

Fターム[5F157BB37]に分類される特許

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【課題】 基板洗浄をさらに効率的に実行できる二流体ノズル、およびこの二流体ノズルによって洗浄処理を実行可能な基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】 流路形成部材31および蓋部材39は、主として圧縮空気供給源側から供給される気体の導入路を形成する部材である。流路形成部材41および蓋部材49は、主として圧縮空気供給源側から供給される気体の導入路を形成する部材である。また、各流路形成部材31、41の背面同士が合わせられると、洗浄液供給源71から供給される液体の導入路が形成されるとともに、Y軸方向を長手方向とし、X軸方向を幅方向とする略長方形状の液体吐出口が形成される。導出部材51は、流路形成部材31側から供給される気体の吐出口と、流路形成部材41側から供給される気体の吐出口と、を形成する部材である。 (もっと読む)


【課題】従来の洗浄剤組成物は、枚葉処理装置に用いるには除去能力は必ずしも十分ではない。HSQ、MSQ等のシロキサン膜からなる低誘電率膜のドライエッチングにおいてはHSQ、MSQのエッチング表面に変質層が生成されるが、従来の洗浄剤組成物は、この変質層に対するエッチング速度が極めて速く、このため、この組成物を用いたドライエッチングの後処理洗浄においては意図するエッチング寸法よりも実際のエッチング寸法が拡大してしまう問題がある。
【解決手段】半導体回路の製造工程においてドライエッチング後及び/又はアッシング後の半導体基板からフォトレジスト残渣及び/又はポリマー残渣を除去する洗浄剤組成物であって、残渣除去成分(A)、半導体基板の配線材料に用いる金属の腐食防止成分(B)、半導体基板の層間絶縁膜材料の保護成分(C)及び水を含有し、(A)、(B)及び(C)が下記化合物であることを特徴とする洗浄剤組成物。 (もっと読む)


【課題】半導体ウエハ等の基板の帯電を抑制することができる基板洗浄方法を提供すること。
【解決手段】基板を所定の薬液で処理する工程と、基板を略水平姿勢で回転させながら、純水を基板へ供給してリンス処理する工程と、基板を前記リンス処理時よりも高速で回転させて乾燥させる工程とを有する基板洗浄方法において、リンス処理工程では、基板の単位面積あたりの処理時間が同じになるように、純水の基板への供給ポイントの移動速度を、基板の外周部よりも中心部で速くする。 (もっと読む)


【課題】基板の表面及びベベル部並びに裏面の洗浄を行うことができる洗浄装置を提供すること。
【解決手段】洗浄装置100は、裏面を下方に向けた状態の基板を裏面から支えて保持する2つの基板保持手段(吸着パッド2、スピンチャック3)を備え、支える領域が重ならないようにしながらこれらの基板保持手段の間で基板を持ち替える。洗浄部材(ブラシ5)は基板保持手段により支えられている領域以外の基板の裏面を洗浄し、2つの基板保持手段の間で基板が持ち替えられることを利用して基板の裏面全体を洗浄する。また基板がスピンチャック3により保持され、回転されるときに、基板の裏面の洗浄と合わせて、基板表面及びベベル部に夫々洗浄液を供給して、当該表面とベベル部の洗浄を行う。 (もっと読む)


【課題】この発明は基板のデバイス面に形成された回路パターンを損傷させずに洗浄処理することができるようにした処理装置を提供することにある。
【解決手段】内部に上記基板が保持される処理槽1と、処理槽に保持された基板の少なくとも被処理面にナノバブルを含む処理液を供給するナノバブル発生器11と、ナノバブル発生器から処理液が供給された上記基板の被処理面に向けて流体を噴射する2流体ノズル16と、2流体ノズルから噴射される流体にマイナスイオンを帯電させそのマイナスイオンによって処理液に含まれるナノバブルを破裂させその破裂によって生じるエネルギで基板のデバイス面を洗浄処理させるイオナイザ19を具備する。 (もっと読む)


【課題】この発明は基板のデバイス面を確実に洗浄処理することができるようにした処理装置を提供することにある。
【解決手段】上面に基板が保持されるテーブル4と、テーブルに保持された基板にその板面と直交する上下方向に超音波振動を付与する振動子3と、テーブルに保持され振動子によって超音波振動する基板の上面に処理液を供給するノズル体を具備する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、微細構造体の表面に形成された突起間に残留する液体の表面張力の影響で突起が変形、破壊されるのを抑制することができる微細構造体の処理方法、微細構造体の処理システムおよび電子デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】表面に突起を有する微細構造体の前記表面に水よりも表面張力が小さくかつ水と実質的に相溶性のない液体を供給し、前記微細構造体の表面の処理を行うこと、を特徴とする微細構造体の処理方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】基板処理装置において、処理液の使用量を減らすとともに、静電気の発生を抑制する。
【解決手段】基板処理装置1の本体102は、半導体ウエハWを保持するとともに半導体ウエハWを回転させる保持回転部111と、半導体ウエハWの周辺に処理液のミストを発生させるミスト発生部120とをチャンバ104の内部に設け、半導体ウエハWに赤外光を照射する加熱用ランプ110を石英窓108の外側に設けた構造を有している。半導体ウエハWの周辺に処理液のミストを発生させた上で、半導体ウエハWへの処理液のミストの付着と、半導体ウエハWからの処理液の脱離と引き起こし、これを利用して半導体ウエハWを洗浄する。基板処理装置1は、「ドライミスト」と呼ばれる微細なミストはある温度以上の物体を濡らすことがないという現象を利用した装置である。 (もっと読む)


【課題】被処理基板に対する洗浄効果を向上させることができるとともに、洗浄液の液滴の噴霧の際における被処理基板に対するダメージを軽減することができる二流体ノズル、基板洗浄装置および基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】二流体ノズル20は、洗浄液および液滴生成用ガスが混合することにより生成される洗浄液の液滴が流れる流路20hと、流路20hから送られる洗浄液の液滴が外部に噴霧される吐出口20jと、を備えている。流路20hの少なくとも一部分は湾曲しており、流路20hの湾曲した部分における径方向外側には排出口20iが設けられている。排出口20iは、流路20hの湾曲した部分における径方向外側を流れる洗浄液の液滴を当該流路20hから排出するようになっている。 (もっと読む)


【課題】銅を含む配線の腐食を抑制できる洗浄工程を含む半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】まず半導体基板1上に銅を含む配線5wが形成される((A)工程)。配線5w上にエッチングストッパ膜6esが形成される((B)工程)。エッチングストッパ膜6es上に絶縁層6が形成される((C)工程)。絶縁層6に、エッチングストッパ膜6esに達するビアホール6vが形成される((D)工程)。ビアホール6vおよび絶縁層6の表面が有機溶剤Cで洗浄される((E)工程)。配線5wが露出するようにエッチングストッパ膜6esが除去される((F)工程)。露出した配線5wに電気的に接続する配線6wがさらに形成される((G)工程)。 (もっと読む)


【課題】アルカリ性処理液及び酸性処理液を用いても、新たなパーティクルの発生を抑制し得る基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板Wを保持し、基板Wとともに回転可能な基板保持部1と、基板保持部1に保持された基板Wに対してアルカリを含む処理液を供給する第1の処理液供給部2aと、基板保持部1に保持された基板Wに対して酸を含む処理液を供給する第2の処理液供給部2bとを、備える処理液供給機構2と、基板保持部1の外側に設けられ、基板保持部1の周囲に設けられた外周壁3aを備えるドレインカップ3と、ドレインカップ3の外側に設けられた外カップ4と、ドレインカップ3と外カップ4との間で昇降する昇降カップ8と、ドレインカップ3と外カップ4の間に設けられた昇降カップ8を洗浄する昇降カップ洗浄室4bと、を具備する。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】本発明の実施形態は、微細なフィーチャを備えたパターニング済み基板を洗浄するための方法を提供する。パターニング済み基板を洗浄するための方法は、記載の洗浄剤を用いて、フィーチャに対して実質的に損傷を与えることなく、微細なフィーチャを備えたパターニング済み基板を洗浄できる利点を有する。洗浄剤は、液相または液/気相の流体であり、デバイスのフィーチャの周りで変形するため、実質的にデバイスのフィーチャを損傷することも損傷をまとめて低減することもない。分子量の大きい高分子化合物のポリマを含む洗浄剤は、基板上の汚染物質を捉える。さらに、洗浄剤は、汚染物質を取り込み、基板表面に汚染物質を戻さない。分子量の大きい1または複数の高分子化合物のポリマは、長いポリマ鎖を形成しており、ポリマ鎖は、さらに、架橋されて網目(すなわちポリマ網目)を形成しうる。長いポリマ鎖および/またはポリマ網目は、従来の洗浄剤と比較して、汚染物質を捉えて取り込む能力が高い。 (もっと読む)


【課題】液状被膜中へのガス成分の改善された拡散で半導体ウェーハを湿式化学的処理するのに特に効果的な方法を提供する。
【解決手段】a)半導体ウェーハを回転させ;b)100μmまたはそれ以下の直径を有する気泡を有する清浄化液体を、回転する半導体ウェーハに適用し、こうして液状被膜を半導体ウェーハ上に形成させ;c)回転する半導体ウェーハを、反応性ガスを有するガス雰囲気に晒し;d)液状被膜を除去する。
【効果】改善された粒子の清浄化がマイクロバブルとシリコン表面を腐蝕する清浄化化学薬品との組合せによって達成され、清浄化液体中への反応性ガスの改善されたガス輸送(拡散)は、有機汚染物質および金属含有汚染物質の酸化および除去を簡易化し、ウェーハの中心での液状被膜の隆起は、マイクロバブルの使用によって減少される。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】本発明の実施形態は、微細なフィーチャを備えたパターニング済み基板を洗浄剤で洗浄するための装置を提供する。この洗浄剤を用いる装置は、フィーチャを実質的に損傷することなく微細なフィーチャを備えたパターニング済みウエハを洗浄するのに有効である。洗浄剤は、液相または液/気相の流体であり、デバイスのフィーチャの周りで変形するため、実質的にデバイスのフィーチャを損傷することも損傷をまとめて低減することもない。分子量の大きい高分子化合物のポリマを含む洗浄剤は、基板上の汚染物質を捉える。さらに、洗浄剤は、汚染物質を取り込み、基板表面に汚染物質を戻さない。分子量の大きい1または複数の高分子化合物のポリマは、長いポリマ鎖を形成しており、ポリマ鎖は、さらに、架橋されて網目(すなわちポリマ網目)を形成しうる。長いポリマ鎖および/またはポリマ網目は、従来の洗浄剤と比較して、汚染物質を捉えて取り込む能力が高い。 (もっと読む)


半導体ウェーハのような電子基板の表面および/または斜面からサブミクロンの微粒子を除去するための洗浄溶液および方法。前記洗浄溶液は、ポリカルボキシレートポリマーまたはエトキシル化ポリアミンを含んでなる。前記方法は、基板の表面をポリカルボキシレートポリマーまたはエトキシル化ポリアミンで構成される洗浄溶液と接触させる工程を具備する。前記方法における付加的な任意の工程は、前記洗浄溶液に音響エネルギーを適用すること、および/またはすすぎ溶液に音響エネルギーを適用して、もしくは適用せずに、すすぎ溶液で表面をすすぐことを含む。 (もっと読む)


【課題】エッチング処理と洗浄処理を行うだけでなく、さらに半導体ウェハー表面の有機物質の洗浄または改質処理をも一つの装置で行える回路基板の製造装置を提供する。
【解決手段】半導体ウェハー20の処理面に各種薬液または洗浄液を窒素ガスと共に噴射する流体噴射機構24と、処理面に紫外線を放射する紫外線照射ランプ30と、上部が上下に分離可能で下部がロータ12に固定され、さらに側部に流体抜き隙間38を有する内側タンク32と、上部が上下に分離可能な外側タンク40と、内側タンク32および外側タンク40の各上部とを上方に持ち上げる昇降機構56と、内側タンク32と外側タンク40との間の空間を減圧化する真空ポンプ58とを備えている。流体噴射機構24と紫外線照射ランプ30は、中空回転軸14の回転軸心とは異なる位置に回転軸心を有する切替用中空回転軸62に連結されている。 (もっと読む)


【課題】炭化ケイ素焼結体の表面に付着している汚染物を簡易且つ短時間で確実に洗浄除去し得る炭化ケイ素焼結体の洗浄方法を提供する。
【解決手段】洗浄液供給手段11と、気体供給手段13と、を備え、洗浄液供給手段11による洗浄液と、気体供給手段13による気体とを2流体ジェット流として噴出口15から噴出させる2流体ジェットノズルを用いて、炭化ケイ素焼結体の表面に付着している汚染物を除去する炭化ケイ素焼結体の洗浄方法において、洗浄液に、濃度が60[%]以下の硝酸、濃度が50[%]以下のフッ化水素酸、或いは、硝酸、フッ化水素酸および純水または超純水の混合液を用い、また気体に窒素ガスあるいはアルゴンあるいは空気を用いる。 (もっと読む)


【課題】処理精度及び処理能力を著しく向上できる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】被処理基板を回転させながら保持する基板保持機構と、基板保持機構に保持された被処理基板の周縁部の一部が挿入される溝を有する処理ヘッドと、を備え、溝内に被処理基板の周縁部を挿入して処理する基板処理装置において、処理ヘッドは、所定の隙間をあけて対向する一対の第1、第2鍔辺部8A、8Bと該第1、第2鍔辺部の一端を連結する奥壁部8Cと処理液を供給する処理液供給手段に連結された第1、第2供給口13A、14Aと減圧吸引手段に連結された吸引口11Aとを備え、第1供給口及び吸引口は溝内に設けられ、第2供給口は第1、第2鍔辺部の少なくとも一方の鍔辺の開口9A近傍に設けられている。 (もっと読む)


【課題】処理精度及び処理能力を著しく向上できる基板処理方法を提供すること。
【解決手段】本発明の基板処理方法は、被処理基板の周縁部の一部が挿入される溝を備えた処理部の該溝内に、被処理基板を挿入して相対的に移動させながら該被処理基板の周縁部を処理する基板処理方法において、前記処理部は、前記溝内に流速30〜1000m/secの処理液を含む気体の高速気流を発生させて、該高速気流を相対的に移動する前記被処理基板の周縁部に接触させて処理する。 (もっと読む)


【課題】処理精度及び処理能力を著しく向上させることができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】ウェーハWを回転させながら保持する基板保持機構とウェーハWの周縁部の一部が挿入される溝を有する処理ヘッド7とを備えており、処理ヘッド7は、一対の第1、第2鍔辺部8A、8Bと第1、第2鍔辺部8A、8Bの一端を連結する連結部8Cとからなり、第1、第2鍔辺部8A、8Bと連結部8Cとで囲まれた部分が溝(S)を形成し、第1、第2鍔辺部8A、8Bの他端間がウェーハWの周縁部の一部が挿入される開口9Aを形成し、さらに、供給口10A及び吸引口11Aを設けて、溝内にウェーハWの周縁部を挿入して処理する基板処理装置1において、処理ヘッド7は、処理液供給装置15Aに連結した供給口10AをウェーハWの周縁部が侵入する侵入側に設け、吸引装置15Bに連結した吸引口11AをウェーハWの周縁部が脱出する脱出側に設けた。 (もっと読む)


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