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Fターム[5F157CE85]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 検知制御 (3,601) | 処理、制御方法 (156) | 入力情報の操作 (23) | 入力情報の適正化、補正 (21)

Fターム[5F157CE85]に分類される特許

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【課題】プラズマ洗浄処理の制限を緩和し、使用勝手の良いプラズマ洗浄装置を提供すること。
【解決手段】プラズマ洗浄処理のレシピ設定をする際には、パソコン15により、プラズマエッチング(PE)方式かリアクティブイオンエッチング(RIE)方式かのどちらであるかを判定し、RIE方式であればプラズマ処理制限を内部メモリから読み込む。次に、プラズマ処理パワー(W)と処理時間(秒)の積がプラズマ処理制限を超えていないか判定する。RF電源出力パワーを「500(W)」と入力して、プラズマ処理時間を「25(秒間)」と入力すると、パソコン15は500W×25秒=12500W秒と算出して、プラズマ処理制限の10000W秒を超えたと判定して、超えた旨をモニター17に表示させる。次に、RF電源出力パワーはそのままとし、10000W秒÷500W=20秒間を算出し、プラズマ処理時間を20秒間として内部メモリに保存する。 (もっと読む)


【課題】複数の液体を混合してなる混合液を用いる液処理装置における混合液の濃度について、大きなコストをかけることなく、よりワイドレンジな調整を実現すること。
【解決手段】液処理装置10は、主配管20と、主配管に接続された液供給機構40と、主配管から分岐する複数の分岐管25と、各分岐管に接続された複数の処理ユニット50と、を有する。液供給機構40は、主配管上に設けられた混合器43と、第1液源からの第1液を前記混合器へ供給する第1液供給管41bと、第2液源からの第2液を前記混合器へ供給する第2液供給管42bと、を有する。第2液供給管42bに流量調整バルブ42dが設けられると共に、主配管20を液供給機構40に対して他側から開閉し得る主開閉機構22が設けられている。前記混合比に基づいて流量調整バルブ42dと主開閉機構22とが制御される。 (もっと読む)


【課題】ティーチングのための作業者による作業を軽減することができ、かつ、より正確なティーチングを実現することができる基板処理装置およびティーチング方法を提供すること。
【解決手段】ティーチング時においては、制御部によって、ステッピングモータが駆動される。そして、処理液ノズルがホームポジションに位置することが第1センサによって検出された時、および処理液ノズルが第1周縁相当位置に位置することが第2センサによって検出された時に、それぞれ、ステッピングモータの回転量が取得される。それら取得された回転量に基づいて、第1教示情報および第2教示情報が演算され、これら第1教示情報および第2教示情報がモータ制御部21に登録される。 (もっと読む)


【課題】被洗浄物に対するダメージを抑え、所望な洗浄性能を発揮することができる超音波洗浄装置を提供すること。
【解決手段】超音波洗浄装置1は、洗浄液700を用いて被洗浄物800を超音波洗浄処理する洗浄処理部100と、洗浄液700に対して超音波振動を照射する振動子200と、振動子200を圧電効果によって超音波振動させるために、所望の周波数で、且つ所望の振幅の電気信号を振動子200に付与する発振器300と、洗浄液700中に所望の気体410を溶解する気体溶解部400と、洗浄液700に溶解している気体410の濃度を測定する気体濃度測定部500と、データベースに基づいて超音波の出力範囲を算出する制御部600とを有している。制御部600は、気体410の濃度と、超音波の出力範囲との関係に基づいて、発振器300が振動子200へ付与する超音波の出力値を制御し、発振器300が振動子200に付与する電気信号を制御する。 (もっと読む)


【課題】薬液の使用量を抑えながら、基板の処理を均一に行う。
【解決手段】基板1を移動しながら、薬液タンク23から薬液ノズル21へ薬液2を供給し、薬液ノズル21から基板1へ薬液2を吐出し、薬液ノズル21から基板1へ吐出した薬液2を回収して薬液タンク23へ戻す。薬液タンク23から薬液ノズル21へ供給する薬液2の濃度を検出し、薬液2の濃度の検出結果に基づき、基板1の移動速度を変更する。そして、薬液ノズル21から基板移動方向側に離して配置された洗浄液ノズル31から基板1へ洗浄液を吐出して、基板1から薬液2を洗い流す。 (もっと読む)


【課題】スケジュールに基づいて処理が実行中であっても、最優先で処理を行う必要があるロットを他のロットよりも優先的に処理できるようにスケジュールを再作成できる。
【解決手段】スケジュールに基づいて処理が実行されている時に、最優先で処理を行う必要があるロットの処理命令が入った場合、制御部は、処理命令が入った時刻において、処理中のロットについては安全に待機可能なリソース以降のスケジュールを一旦削除し、処理が開始されていないロットについてはスケジュールをすべて一旦削除し、削除によりできた空きスケジュールに優先で処理すべきロットのスケジュールをハードリンクで追加し、一旦削除したロットのスケジュールを加えて再スケジューリングを行う。これにより、処理中のロットの基板処理に影響を与えることなく、最優先で処理を行う必要があるロットを優先的に処理できるようにスケジュールを再作成できる。 (もっと読む)


【課題】液交換処理を伴うスケジュールであっても稼働率を向上させることができる。
【解決手段】液交換処理を開始する際には、液交換情報を薬液処理部CHB2から制御部31の液交換時間算出部37に出力し、制御部31の液交換時間算出部37が最新液交換時間を算出する。この算出された最新液交換時間を考慮して、制御部31のスケジューリング機能部33が第1の再スケジュールを行い、さらに、実際に液交換処理が開始されて液交換処理が実際に完了した時点で、制御部31のスケジューリング機能部33が第2の再スケジュールを行う。したがって、液交換の態様により時間的に前後する、液交換処理の実際の時間を考慮して再スケジューリングを行うことができるので、液交換処理を伴うスケジュールであっても稼働率を向上できる。 (もっと読む)


【課題】実際に基板を処理させる処理部の数が変動しても、複数種類の処理を所定の順番どおりに効率よく基板に行うことができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】レジスト膜用塗布処理ユニットRESIST、加熱冷却ユニットPHP、冷却ユニットCPの順番で基板Wを搬送し、複数種類の処理を基板Wに行う。たとえば、レジスト膜用塗布処理ユニットRESIST、加熱冷却ユニットPHPおよび冷却ユニットCPをそれぞれ3台、2台、1台使用しているところ、1台の加熱冷却ユニットPHPを使用処理部から外れた場合であっても、残っている使用処理部によって、所定の順番で基板Wに処理を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】正常に処理された時の補充履歴を用いることにより、比較的簡単に故障判断の基準の設定を行うことができ、故障検知の精度を高くすることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板Wに対して正常な処理ができた際の実績のある処理液への液体の補充量に対する履歴を、処理液が生成されてからの供給流量の積算により基準補充履歴とし、この基準補充履歴を履歴メモリ61に予め記憶し、基準補充履歴を演算部63が近似化して近似化基準補充履歴とし、この近似化基準補充履歴を近似化メモリ65に予め記憶しておく。設定部67を介して近似化基準補充履歴に対して上下限の範囲を設定するが、近似化基準補充履歴はバラツキが小さくなるので、上下限を容易に、かつ比較的狭い範囲で設定することができる。制御部55は、補充量の積算値と、設定された上下限とに基づいて液体供給の良否を判断する。 (もっと読む)


【課題】ユーザの作業負担を増加させることなく、レシピの最適化を自動的に行い、基板の処理品質の低下やばらつきを防止できるレシピ最適化方法及び基板処理システムを提供する。
【解決手段】複数の候補レシピをデータベース部31に記憶させ、各候補レシピを順次に使用して、基板Wの処理および検査を行う。レシピ最適化装置30は、基板検査装置20から送信された品質パラメータQPに基づいて、複数の候補レシピの中から仮最良レシピを選択する。また、レシピ最適化装置30は、仮最良レシピに基づいて新たに複数の候補レシピを作成する。このような候補レシピの作成と、基板Wの処理及び検査とを、品質パラメータが所定の基準値以上となるまで繰り返し、最良レシピを得る。これにより、ユーザの作業負担を増加させることなくレシピを自動的に最適化でき、基板の処理品質の低下やばらつきを防止できる。 (もっと読む)


【課題】ランプの通算点灯時間に応じて、適切な初期点灯電力で点灯させることができる紫外線照射装置及び該装置の制御方法を提供すること。
【解決手段】エキシマランプ1に設けられたICタグ1aに、該ランプの点灯時間の積算値である通算点灯時間、点灯履歴情報などの情報に加え、初期電圧規定値、初期周波数規定値、定常電圧規定値、定常周波数規定値等の該ランプに固有の電気的特性値を記録しておく。装置を起動する際、制御部4は、ICタグ1aから上記情報を読み取り、ランプの通算点灯時間と該ランプに固有の電気的特性値に基づき、初期点灯時にランプに印加する電圧、周波数などを設定してランプを初期点灯させる。初期点灯後、定常点灯に移行させ、ランプ1へ印加する電力の定電力制御を行なう。 (もっと読む)


【課題】スケジュール作成時間が長くなることを防止するとともに、稼働率を向上させることができる基板処理装置のスケジュール作成方法を提供する。
【解決手段】処理の実行前に予めスケジュールすることで、前の処理工程の後作業と、その後の処理工程の前作業とを重複させて配置可能であり、前の処理工程が早く終了するロットの処理工程を次の処理工程として優先的に選択して配置することで、次の処理工程が終了するまでの時間を短縮することができる。さらに、先に配置したロットと同一のロットの処理工程を優先的に配置(ステップW7,W11)することにより、装置が停止した状態から処理を再開するスケジュールに関してスケジュール時間を短縮できる。その結果、スケジュール作成時間が長くなることを防止するとともに、かえって無駄な待機時間が生じることを防止して稼働率を向上できる。 (もっと読む)


【課題】ウェハエッジ部分のチッピングやウェハ割れの発生を抑制することができるスピン処理装置を提供すること。
【解決手段】ウェハ搬送アームにより、ウェハWの中央部と複数のウェハエッジ近傍部を真空吸着することによって、ウェハエッジを他の物体に接触させずに、ウェハWをウェハカセットからスピンチャック29へ搬送する。その際、非接触型センサにより、ウェハWの中心とスピンチャック29の回転の中心とのずれ量を検出し、そのずれ量を相殺するようにXYステージ35によりスピンチャック29の回転軸32を移動させ、ウェハ搬送アームからスピンチャック29にウェハWを移す際にウェハWの中心をスピンチャック29の回転の中心に一致させる。 (もっと読む)


【課題】ワンバス式の洗浄槽を有するバッチ洗浄装置において、洗浄槽内の洗浄液の平均液温をバッチ間で一定となるように制御する。
【解決手段】ワンバス式の洗浄槽20は、被洗浄物を洗浄するメガソニック発振器を備える。制御コンピュータ30は、メガソニック照射の際に発生する液温変化を補償するために、純水加温装置40から供給され薬液を希釈する純水の供給温度を制御する。被洗浄物は、各バッチが平均液温一定の元で洗浄され、高い洗浄効率が維持される。 (もっと読む)


【課題】処理プロセスの途中にある基板の保持状態を正確に検出することができる基板検出装置およびこれを備えた基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板検出装置が、保持された基板を撮像して撮像画像データを生成する撮像画像生成手段と、基板像を構成する画素の画素値を基板の円周方向について積算する操作を基板の配列方向に沿って行って生成したピークプロファイルデータに表れるピーク位置を特定したうえで保持手段の基板保持枚数の違いに起因して生じるピーク位置のずれを補正し、補正されたピーク位置に基づいて基板の保持位置を特定する保持位置特定手段と、特定された基板の保持位置と想定保持位置とを比較し、両者が合致する場合に基板の保持状態が正常であるという検出結果を生成し、両者が合致するか否かに応じて基板の保持状態が正常であるか否かという検出結果を生成する保持状態判定手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】処理プロセスの途中にある基板の保持状態を正確に検出することができる基板検出装置を提供する。
【解決手段】基板検出装置が、保持された基板を相異なる露光条件で複数回撮像することにより複数の撮像画像データを生成する撮像画像生成手段と、複数の撮像画像データを合成して合成画像データを生成する画像合成手段と、合成画像に基づいて、保持手段における基板の保持位置を特定する保持位置特定手段と、特定された基板の保持位置と想定保持位置とを比較し、両者が合致する否かに応じて基板の保持状態が正常か否かという検出結果を生成する保持状態判定手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】超音波発振子から発せられる超音波を洗浄液の加振に効率よく利用しつつ、超音波発振子の作動状況と洗浄液の吐出圧力を含めて洗浄液の吐出状態を監視できる超音波洗浄装置を提供すること。
【解決手段】超音波洗浄装置は、洗浄すべき基板を搭載して回転する回転テーブルと、超音波発振子を有し超音波が印加された洗浄液を吐出して基板の洗浄処理を行う洗浄ノズルと、洗浄ノズル近傍の湿度を測定する湿度センサと、湿度センサによって測定される湿度を監視する監視部とを備える。 (もっと読む)


プレート状物品の超音波湿式処理のための方法およびそれぞれの装置が開示され、この方法は、プレート状物品の表面に近接するトランスデューサに接続された固体要素を移送するステップであって、固体要素とプレート状物品との間に隙間が形成され、隙間は0.1mmと5mmとの間の距離d2を有するような、ステップと、固体要素とプレート状物品との間の隙間を満たすための液体を分配するステップと、超音波を検出するおよび/または距離d2を測定することによって距離d2を制御するステップと、測定された距離を所望の距離d0と比較し、それに応じて距離を調節するステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】プラズマの放射状態を画像イメージとして取得した後、該画像イメージのピクセル情報を制御部で分析して、プラズマの放射状態をリアルタイムに観察することができるようにしたプラズマモニタリング装置を提供すること。
【解決手段】本発明のプラズマモニタリング装置は、プラズマモニタリング装置であって、電源を供給する電源供給部と、反応ガスを供給する供給ラインと、内部で発生するプラズマを処理対象物に向かって放射する放射ノズルとが形成されるプラズマ供給手段と、該プラズマ供給手段から放射されるプラズマの放射状態を画像イメージとして取得するカメラ部と、該カメラ部の画像イメージのピクセル情報を数値化させて得た測定値を正常的な放射状態の基準値と比較して、プラズマの放射状態を検査する制御部とを備えて達成される。
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【課題】洗浄処理に使用される液体の量を低減しつつ、基板処理装置の内部に付着した薬液成分を確実に除去することができる基板処理装置の中和洗浄装置および中和洗浄方法を提供する。
【解決手段】中和洗浄装置1は、基板処理装置90の内部との間で希釈液の循環経路を構成し、希釈液を循環させつつ希釈液中に中和剤を添加する。また、中和洗浄装置1は、循環される希釈液のpH値をpHセンサ16により計測し、その計測値が所定の数値範囲内に入るまで中和剤の添加を継続する。このため、希釈液を循環させることにより希釈液の使用量を低減させることができ、また、pHセンサ16の計測値に基づいて希釈液中の薬液成分を確実に中和することができる。 (もっと読む)


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