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Fターム[5F157CF76]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 構成要素細部 (6,182) | 装置の配置 (78)

Fターム[5F157CF76]に分類される特許

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【課題】基板の搬送経路を複数有する処理部であっても、当該処理部から本装置とは別体の露光機へ基板を搬送する順番を好適に管理することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】処理部3は、基板Wを略水平方向に搬送しつつ基板Wに処理を行う基板処理列Lu、Ldを上下方向に設けて構成される。IF部5は、各基板処理列Lu、Ldから払い出された基板Wを、本装置10とは別体の露光機EXPに搬送する。ここで、露光機EXPに搬送する基板Wの順序(順番OE)は、処理部3に搬入された基板の順番OAどおりである。このように基板処理列Lu、Ldを上下方向に設けているので、フットプリントを増大させることなく、本装置10のスループットを大きく向上できる。また、露光機EXPに搬送する基板Wの順番OEは、処理部3に搬入された基板Wの順番OAと一致するので、各基板Wを容易に管理することができる。 (もっと読む)


【課題】省スペースで、水平姿勢の基板に対して処理具を移動させて基板に処理を行うことができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】略水平方向に並べて設けられ、基板Wを略水平姿勢で保持する複数の処理ユニット101a、101bと、基板Wに現像液を供給するノズル111a、111bと、ノズル111a、111bを支持するアーム部材113a、113bと、アーム部材113a、113bを直線的に移動させる駆動部120a、120bと、を備えている。駆動部120a、120bは異なる高さ位置に配置され、平面視で一部重複している。アーム部材113aは、駆動部120bと干渉しない形状を呈して、駆動部120aが駆動部120bと平面視で一部重複している範囲にも移動可能である。このように、複数の駆動部120a、120bを平面視で一部重複させて設けているので、設置面積を抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】装置の占有面積の増大を抑えつつ、基板搬送手段に対する処理、基板の待機或いは基板に対する処理を行なう付属モジュールを追加すること。
【解決手段】真空搬送室3の底部30に凹部41を形成し、ここに第2の搬送アーム32の洗浄処理を行う付属モジュール(洗浄モジュール4)を、前記第2の搬送アーム32によるウエハWの搬送を阻害しないように前記凹部41に収納する位置と、前記真空搬送室3内において前記第2の搬送アーム32の前記保持領域を洗浄する位置との間で昇降させる。前記洗浄モジュール4は使用しないときには前記凹部41に収納し、使用するときには真空搬送室3内に突出するようにしているので、装置の占有面積の増大を抑えつつ、前記付属モジュールを追加することができる。 (もっと読む)


【課題】小型で、しかも基板表面を良好に処理することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】乾燥処理を実行する前に処理空間162の湿度を低下させており、乾燥処理を低湿度雰囲気で行っているため、基板乾燥により基板表面にウォーターマーク等が発生するのを効果的に抑えることができる。また、乾燥性能を高めるために置換処理を行っているが、湿度が低下した処理空間でIPA液が蒸発するため、IPA乾燥時に発生する気化熱に起因する乾燥不良を効果的に抑えて基板乾燥を良好に行うことができる。 (もっと読む)


【課題】処理液供給ユニット13内の処理液の減少に起因する基板処理装置の強制停止の頻度を減少させて、処理液を有効に使い、歩留まりの良好な基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板に液処理を施す複数の液処理ユニット12と、複数の液処理ユニット12に対する基板の搬入・搬出を行う基板搬送手段と、複数の液処理ユニット12へ処理液を供給する処理液供給ユニット13と、前記処理液供給ユニット13の処理液貯留槽16内の処理液の残量を検出するレベルゲージ161を備えて、レベルゲージ161が検出する処理液貯留槽16内の処理液の残量が所定量を下回る場合に、液処理ユニット12への基板の搬入を停止する。 (もっと読む)


【課題】スケジュール作成時間が長くなることを防止するとともに、稼働率を向上させることができる基板処理装置のスケジュール作成方法を提供する。
【解決手段】処理の実行前に予めスケジュールすることで、前の処理工程の後作業と、その後の処理工程の前作業とを重複させて配置可能であり、前の処理工程が早く終了するロットの処理工程を次の処理工程として優先的に選択して配置することで、次の処理工程が終了するまでの時間を短縮することができる。さらに、先に配置したロットと同一のロットの処理工程を優先的に配置(ステップW7,W11)することにより、装置が停止した状態から処理を再開するスケジュールに関してスケジュール時間を短縮できる。その結果、スケジュール作成時間が長くなることを防止するとともに、かえって無駄な待機時間が生じることを防止して稼働率を向上できる。 (もっと読む)


【課題】オゾン水混合液供給装置及び方法、並びにこれを具備する基板処理装置を提供する。
【解決手段】本発明によるオゾン水混合液供給装置は、処理液供給ライン及びオゾン水供給ライン夫々から処理液及びオゾン水の供給を受けこれを混合して予め設定された濃度範囲内のオゾン水混合液を製造する混合ラインと、混合ラインから製造するオゾン水混合液を処理ユニットに分配させる分配ラインと、を有する。混合ラインには、混合バルブ及びスタティックミキサを設ける。本発明は、混合タンクのような混合容器なしにインライン混合方式で予め設定のオゾン水混合液を製造及び供給する。 (もっと読む)


【課題】BSPをより確実に除去することが可能なBSP除去方法を提供すること。
【解決手段】被処理基板のベベル面、及び裏面に付着した無機層、及び有機層を含む多層ベベル/バックサイドポリマー(BSP)を除去するBSP除去方法であって、多層BSPを機械的に破壊する第1工程(ステップ2)と、機械的に破壊された多層BSPの残渣を加熱する第2工程(ステップ3)と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】複数の処理チャンバ全体を積層方向に関して小型化できる基板処理装置を提供する。
【解決手段】ハウジング2の内部の収容空間に、第1処理チャンバ10、第2処理チャンバ20および第3処理チャンバ30が、下方から順に積層されている。第1処理チャンバ10の上方には、第1蓋11を介して、第2処理チャンバ20が積層されている。第1蓋11および第2処理チャンバ20が、一体的に、第1処理チャンバ10に対して相対的に昇降する。第2処理チャンバ20の上方には、第2蓋21を介して、第3処理チャンバ30が積層されている。第2蓋21および第3処理チャンバ30が、一体的に、第2処理チャンバ20に対して相対的に昇降する。 (もっと読む)


【課題】容器内の複数の基板を取り出して所定の処理を行い、処理後の基板を容器内に戻す一連の処理を繰り返し行う際に、スループットを向上させることができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】洗浄処理装置は、一連の搬送動作を制御する制御部40を有し、制御部40は、一のウエハの基板を処理装置内に投入している状態において、フープ搬送装置12およびウエハ出し入れステージ15が空いているタイミングで、次のロットの未処理基板を収容したフープをウエハ出し入れステージ15に搬送し、トータルの搬送時間が適切になるように、フープ搬送装置12の動作タイミング、ウエハ出し入れステージ15での操作のタイミング、およびウエハ移載装置19の動作タイミングを個別に調整した搬送スケジュールを作成するスケジュール作成部54を有する。 (もっと読む)


【課題】基板搬送に要する時間を短くすることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】FOUP搬送ロボット20は、複数枚の基板が収納されたFOUP80をロードポート10とFOUP載置台30との間で搬送する。インデクサロボット40は、FOUP載置台30に載置されたFOUP80に収納された基板W(未処理基板)を基板受渡部50を介して洗浄処理部60に渡すとともに、洗浄処理部60でスクラブ洗浄処理された基板W(処理済み基板)を基板受渡部50を介して受け取ってFOUP80に収納する。FOUP載置台30は、インデクサロボット40の周囲に複数個設けられる。したがって、インデクサロボット40は基板Wを搬送するにあたって水平方向に沿って移動する必要がない。これによって基板搬送に要する時間を短くすることができる。 (もっと読む)


【課題】 複数の処理液を用いる枚葉式のウエット処理装置において、高揮発性や反応性等の処理液について、その処理液及び処理液から発生するミストや気体の流出、及び、他の処理液の流入を防止することが可能なウエット処理装置を提案する。
【解決手段】第一のチャンバ1と、第一のチャンバ1の上方又は下方に位置する第二のチャンバ2とを備え、両チャンバ1,2には互いに対向する位置に開口部1a,2aが設けられており、第一のチャンバ1と第二のチャンバ2の間にて二つの開口部1a,2aを介して保持手段3を昇降させる昇降手段4と、第一のチャンバ1の開口部1aを開閉する開閉手段1bと、第一のチャンバ1内に位置した保持手段3に保持される被処理物Wに処理液を供給する第一の供給手段6と、第二のチャンバ2内に位置した保持手段3に保持される被処理物Wに処理液を供給する第二の供給手段7とを備える。 (もっと読む)


【課題】所望の粒径の微粒子を所望の速度にて基板に向けて噴射する。
【解決手段】基板処理装置では、第1ノズル部41aおよび第2ノズル部41bから衝突位置P1に向けて純水の1次微粒子を噴射することにより、1次微粒子よりも粒径が小さい2次微粒子がカバー部42の内部空間421内に生成され、気体送出部43から衝突位置P1に向けて窒素ガスが送出されることにより、2次微粒子が基板9に噴射される。ノズルユニット4では、第1ノズル部41aおよび第2ノズル部41bに供給される純水および窒素ガスの流量を調整することにより、各ノズル部から所望の粒径の1次微粒子が噴射されるとともに、各ノズル部からの1次微粒子の衝突により所望の粒径の2次微粒子が生成される。そして、気体送出部43から送出される窒素ガスの流量を調整することにより、所望の粒径の2次微粒子を所望の速度にて基板9上の所望の範囲に向けて噴射することができる。 (もっと読む)


【課題】低コストで貯留槽内の処理液の温度を調整することが可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】処理液タンクTB内の処理液は、ポンプP2の動作により配管18,19,23を通して簡易式熱交換器S2に導かれる。簡易式熱交換器S2により冷却された処理液は、配管23,25を通して処理液タンクTBに戻される。処理液の温度が予め定められた規定値N1以下になると、処理液タンクTB内の処理液は、ポンプP2の動作により配管18,19,21を通して処理液タンクTBに戻される。配管21は処理液タンクTA内を通過するので、配管21を流れる処理液は、処理液タンクTA内の処理液によって温調される。 (もっと読む)


【課題】スループットが向上された基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置100は、インデクサIDおよび処理部PRを有する。インデクサIDと処理部PRとの間に隔壁Dが形成されている。インデクサIDと処理部PRとの間で基板Wの受け渡しを行う受け渡し部3は、処理部PR内に設けられている。インデクサIDでは、インデクサロボットIRがキャリア1と受け渡し部3との間でハンドにより基板Wを搬送する。インデクサロボットIRは、第1の軸Saに沿った移動動作および回転動作を行う。ハンドは前進動作および後退動作を行う。受け渡し部3の一端部(第1の受け渡し位置)351は隔壁Dの中央部からインデクサID内に突出している。第1の受け渡し位置351の両側方には、通路スペースSPが形成されている。通路スペースSPは、インデクサロボットIRのハンドが前進した状態で通過できるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】装置を停止することなく不具合の発生を未然に防止することができる回転式基板処理装置を提供する。
【解決手段】エッジ露光ユニットEEW1は、基板Wを回転させつつ露光ヘッド530から光を照射して基板Wの端縁部を露光する。端縁部の露光処理に先立って、保持回転部200によって基板Wを1回転させつつエッジセンサ800が基板Wの端縁部の位置を検知してエッジデータを取得する。EEWコントローラ900は、取得されたエッジデータに基づいて、基板Wの偏心量の異常、基板WのノッチNTの角度異常およびエッジセンサ800の異常の有無を判断する。そして、エッジデータに異常有りと判断されたときには、EEWコントローラ900アラーム発報を行う。 (もっと読む)


【課題】被処理基板の適切な回転数による処理を最適にし、膜厚の均一化を図り、膜質の低下を抑制し、かつ、ミストの基板への再付着を防止すること。
【解決手段】ウエハWを保持するスピンチャック40と、スピンチャック40を回転駆動するモータ41と、ウエハにレジスト液を供給するレジストノズル42と、スピンチャックを収容する上端が開口した処理容器43と、処理容器の底部から排気する排気手段44と、を具備する基板処理装置において、処理容器の内周側に配設され、ウエハの表面側の気流を排気手段側に流す多翼遠心ファン50と、モータと多翼遠心ファンの駆動電源51aとに接続され、ウエハの回転数に対応して多翼遠心ファンの回転数を制御するコントローラと、を具備する。コントローラからの制御信号により多翼遠心ファンを回転して、ウエハの回転により生ずるウエハ表面上の周方向に流れる乱気流を、放射方向に流れる層気流に補正する。 (もっと読む)


【課題】簡単な方法により、ロット間におけるパーティクルの除去効率のばらつきを抑制することができる基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】基板洗浄方法は、洗浄槽12内の洗浄液に溶解したガスの溶存濃度を飽和濃度にする工程と、洗浄槽内の洗浄液に超音波を照射して、洗浄槽内の洗浄液に浸漬された基板Wを洗浄する工程と、を備える。溶存濃度を飽和濃度にする工程においては、洗浄槽内にガスを供給して、洗浄槽内に洗浄液にガス溶存濃度を飽和濃度にする。また、溶存濃度を飽和濃度にする工程において、洗浄槽内の洗浄液への超音波の照射は停止されている。 (もっと読む)


【課題】基板端部の洗浄を行なうことによって、基板端部で生じた異物に起因する汚染発生を防止し、歩留まり低下を抑制することのできる基板洗浄装置及び基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】基板Wの端部W1を洗浄する基板洗浄装置1A、1Bであって、前記基板Wを略水平姿勢に保持し、該基板Wを鉛直軸周りに回転自在な基板保持手段2と、前記基板保持手段2により保持され、所定の回転速度で回転する基板Wの端部W1に洗浄液を噴射する洗浄液噴射手段7とを備え、前記洗浄液噴射手段7は、前記洗浄液を前記基板Wの端部W1に対し側方から噴射する。 (もっと読む)


【課題】基板上にエッチング処理により形成された凹部に露出する低誘電率絶縁膜から水分を脱離させた上で新たな水分を吸収し難くすることができるとともに,エッチング処理などにより凹部に露出する金属層に形成された不所望の金属化合物を除去する。
【解決手段】ウエハを所定の温度に加熱しつつ,このウエハ上に水素ラジカルを供給することによって,凹部に露出した金属層の表面をクリーニングするとともに,低誘電率絶縁膜を脱水する水素ラジカル処理工程(ステップS130)と,水素ラジカル処理が施されたウエハに所定の処理ガスを供給することによって,凹部に露出した低誘電率絶縁膜を疎水化する疎水化処理工程(ステップS150)とを有し,水素ラジカル処理工程と疎水化処理工程とを大気に晒すことなく連続して行う。 (もっと読む)


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