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Fターム[5F157CF76]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 構成要素細部 (6,182) | 装置の配置 (78)

Fターム[5F157CF76]に分類される特許

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【課題】純水使用量を節減しつつ研磨後のウェハに処理速度を高めた洗浄処理を施し、複数の洗浄処理槽を洗浄処理プロセス等に応じて、より最適な配列に入れ替え並べ替えることを可能とした装置構成の洗浄装置を提供する。
【解決手段】それぞれ複数の洗浄処理槽2a〜2d,2e〜2hを備えた洗浄ライン2A,2Bを下層及び上層の2段に構成するとともに、下層及び上層の各洗浄処理槽2a〜2hに対し、被処理ウェハを搬入する機能及び処理されたウェハを搬出する機能を持つ中央搬送手段6と、下層及び上層の各洗浄ライン2A,2Bにおいて隣合う洗浄処理槽へウェハを順次搬送する槽間搬送手段16と、上層の洗浄ライン2Bにおける精密洗浄を行う洗浄処理槽で使用した純水を、下層の洗浄ライン2Aにおける粗洗浄を行う洗浄処理槽に当該粗洗浄用の洗浄水として導入する導入手段とを具備する洗浄装置を提供するものである。 (もっと読む)


【課題】ArFレジスト膜等の難剥離性膜を容易に除去することができる基板処理方法を提供すること。
【解決手段】ArFレジスト膜を伴ったウエハからこのArFレジスト膜を除去する処理方法である。ArFレジスト膜に紫外線照射処理を施し、次にArFレジスト膜にオゾンガスと水蒸気を供給して処理することにより、このArFレジスト膜を水溶性に変性させる。その後、水溶性に変性したArFレジスト膜に純水を供給することにより、ArFレジスト膜を基板から剥離する。チャンバに水蒸気とオゾンを供給する際には、チャンバ内に収容されたウエハに結露が生じないように、チャンバへ水蒸気を一定流量で供給しながら、水蒸気に対するオゾンの供給量を減少させる。 (もっと読む)


【課題】 基板表面に形成される被膜のうち、基板の端縁部表面の端縁部被膜に処理液を吐出して、端縁部被膜を除去するときに、ピンホール発生頻度を低減することができるとともに、被膜除去性が充分に発揮できる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】 端縁部被膜16に向けて処理液の吐出を開始する処理液吐出初期工程および処理液の吐出を停止する処理液吐出終期工程において、処理液供給管6内を流れる処理液をバイパス配管10に分岐して流して、処理液吐出ノズル5から吐出する処理液吐出流量が小さくなるように設定し、ピンホール発生頻度を低減する。また処理液吐出中期工程において、処理液吐出流量が大きくなるように設定し、端縁部被膜16を完全に除去する。 (もっと読む)


【課題】結晶物や剥離物等の異物を良好に捕捉する一方で、メンテナンスフリーやランニングコスト削減に貢献する。
【解決手段】剥離装置は、シャワーノズル18を備えたチャンバ10もつ処理部1と、薬液を貯溜するタンク2とを有し、このタンク2からシャワーノズル18に薬液を送液しつつチャンバ10内の使用済みの薬液をタンク2に回収して再使用するように構成される。チャンバ10には、その内定部の一部に薬液の排出口11が設けられ、さらに排出口11と基板Sの処理位置(搬送ローラ16の位置)との間の部分には、前記排出口11よりも広い濾過面積をもつフィルタ部材20が配備されている。 (もっと読む)


【課題】この発明は基板を上下駆動する際にダウンフローの乱れによって基板が汚染されることがないようにした処理装置を提供することにある。
【解決手段】清浄空気が上方から下方に向かって流がされるとともに、基板を上下方向に駆動する上下駆動装置27が設けられたチャンバ5aを有する基板の処理装置であって、
上下駆動装置は、基板を水平に支持する上下可動体18と、上下可動体を上下方向に駆動する上下駆動機構28と、上下可動体の幅方向両端部に設けられ上下可動体が上下駆動機構によって上下方向に駆動されたときにチャンバの上方から下方に向かって流れる清浄空気を上下可動体の幅方向両端部において幅方向外方に向かってガイドする傾斜面26とを具備する。 (もっと読む)


【課題】基板の損傷を防止しつつ基板の表面に均一に処理液を供給することができる基板処理装置を提供する
【解決手段】基板処理装置の洗浄処理部5a〜5dは、基板保持台21、処理液ノズル50、不活性ガス供給板110、および供給板回転駆動機構138を備える。基板保持台21により基板Wが略水平に保持され、その基板Wに処理液ノズル50から処理液が供給されるとともに、不活性ガス供給板110から不活性ガスが供給される。このとき、不活性ガス供給板110は、供給板回転駆動機構138により回転されつつ不活性ガスを基板Wの表面に供給する。 (もっと読む)


【課題】吐出位置に関わらず常に一定の条件にて処理液を吐出することができ、しかも装置サイズの大型化を抑制した基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板にフォトレジストを吐出してレジスト塗布処理を行う3つの塗布処理ユニットSC1〜SC3が鉛直方向に沿って積層配置される。吐出ユニットLT2は、薬液ボトル71から送球されたレジストを貯留するトラップタンク64、レジストを吐出する吐出ノズル61およびトラップタンク64から吐出ノズル61にレジストを圧送する吐出ポンプ63を一体に備え、鉛直方向に沿って昇降して塗布処理ユニットSC1〜SC3の間を移動する。トラップタンク64、吐出ポンプ63および吐出ノズル61の相互間の距離および高低差は、吐出ユニットLT2の高さ位置にかかわらず一定であり、レジスト吐出条件も吐出ユニットLT2の高さ位置にかかわらず常に一定となる。 (もっと読む)


【課題】枚葉式フラットパネル洗浄システムの設計手直しを無くすため、仕様打ち合わせ時点で、主制御盤の大きさに関し、精度の高い寸法情報が得られる主制御盤設計システム、主制御盤設計方法及びそのプログラムを提供する。
【解決手段】主制御盤の大きさを設計するための計算を行う複数の計算手段の計算処理と、計算処理結果を基に主制御盤の大きさを決定する決定手段の決定処理とを行う処理手段10と、主制御盤の大きさを設計するための条件を入力するための入力手段14と、処理手段10が入力条件に基づいて計算処理を行うための、ファイルデータを記憶する記憶手段12と、処理手段10の処理結果を基に、主制御盤の大きさを表示する出力手段16とを具備する。 (もっと読む)


【課題】表面硬化層が形成されたレジストを基板の表面から良好に剥離することのできるレジスト剥離方法およびレジスト剥離装置を提供する。
【解決手段】基板Wが処理チャンバー11にローディングされると、プレート14に吸着保持された基板Wは基板加熱用ヒータ19からの発熱により加熱処理される。このとき、コントローラは基板Wの温度が300℃以上で、かつ450℃以下の温度範囲となるように基板加熱用ヒータ19を駆動制御する。基板Wの加熱によりレジストにポッピング現象が生じると、表面硬化層の内側(下層側)に位置する未硬化層のポッピングによる衝撃で表面硬化層に亀裂が生じ、未硬化層が灰化される。続いて、加熱処理後に高圧流体を用いたレジスト除去を行うことで、基板表面からレジストが表面硬化層ごと剥離される。 (もっと読む)


【課題】未処理のウエハの戻し作業が生ずる事態を防止して、ロットごとの液処理を行うことにより生産効率を高めることを可能とした液処理装置を提供すること。
【解決手段】基板Wが収納されたキャリアCを搬入出するキャリア搬入出部5と、キャリアCを複数保管可能なキャリアストック部6と、キャリアCを搬送するキャリア搬送装置12と、検査/搬入出ステージ15と処理部7との間で基板Wを搬送する基板搬送部3と、キャリアC内の基板Wを検査する基板検査装置18と、一括して処理される複数のキャリアCのうち、一のキャリアを基板検査装置18に搬送し、液処理可能ならば一のキャリアをキャリアストック部6へ戻し、他のキャリアを基板検査装置18に搬送し、液処理可能ならば一のキャリア及び他のキャリア内の複数の基板Wを、検査/搬入出ステージ15から搬出するように制御する制御部90と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】平坦な基材を湿式でクリーニングまたはエッチングする装置及び方法を提供する。
【解決手段】基材9の導入口5及び導出口7を有するタンク3を含み、前記基材9を湿式クリーニングまたはエッチングするための装置1。このタンクはクリーニング液11を収容しており、気体環境13内に設置される。導入出口の少なくとも一方はタンク側壁に形成され、液面15よりも下方に位置する。タンク3内には、気体環境13内の圧力よりも低い圧力のガスで満たされた部分25が液11の上方に存在してもよい。本発明の方法は、前記装置を利用して、クリーニングまたはエッチング液に、液面よりも低いレベルで基材を導入、導出するステップから成る。 (もっと読む)


【課題】本発明は、基板処理装置及び方法を提供する。
【解決手段】本発明の基板処理装置は、処理液が供給されて保存される処理槽と、前記処理液を前記処理槽に供給する処理液供給手段とを含む処理部と、流体が供給されて噴射される乾燥槽と、前記流体を前記乾燥槽に供給する流体供給手段とを含む乾燥部とで構成され、前記流体供給手段は、前記流体が前記乾燥槽に提供される前にフィルタリングするフィルタと、前記フィルタを加熱する第1ヒーターとを備える。本発明によれば、乾燥用流体が凝固された状態で乾燥槽に提供されることによって引き起こされるパーティクルの発生が抑制されるから、安定的かつ不良のない基板処理が可能になって、生産量又は歩留まりが向上するという効果がある。 (もっと読む)


【課題】互いに交差する2つの直線状ラインに沿ってユニットを配列した構成の基板処理装置において、構成を簡素化し、コストを低減する。搬送ロボット間での基板の受け渡しをなくすことによって、基板の汚染を減少する。
【解決手段】第1搬送路10に沿ってカセット載置部11,12が設けられている。第1搬送路10に直交する第2搬送路20に沿って、めっき処理ユニット21〜24、裏面洗浄ユニット25,26および周縁洗浄ユニット27,28が設けられている。搬送ロボットTRは、ロボット本体30と、このロボット本体30を第2搬送路20にほぼ沿うレール58上で走行させるボールねじ機構50と、レール58の第1搬送路10側の端部をこの第1搬送路10に沿って移動させることにより、レール58を揺動させるボールねじ機構40とを備えている。 (もっと読む)


【課題】処理効率が高く、高品質の半導体装置が製造できる処理装置を提供する。
【解決手段】内部を所定の気圧に維持し得る移載室の周囲に配設され、被処理基体を処理する、窒化チタン層形成ユニット、窒化タンタル層形成ユニット、および窒化タングステン層形成ユニットからなる群から選択される一の処理ユニットと、チタン層形成ユニットと、タングステン層形成ユニットとを各二基以上と、前記移載室の周囲に配設され、前記所定の気圧下で前記被処理基体を処理する一または二以上の予備洗浄処理ユニットと、前記移載室内に配設され、被処理基体を移載する移載アームとを具備し、前記ユニットの少なくとも一つが他の前記ユニットに対して上下方向に配設されている。 (もっと読む)


【解決手段】半導体ウエハの表面を洗浄するための方法が開示される。ウエハ表面上の汚染物質を除去するために、ウエハ表面に第1の洗浄溶液が適用される。第1の洗浄溶液は、ウエハ表面上の汚染物質の一部とともに除去される。次に、ウエハ表面に酸化剤溶液が適用される。酸化剤溶液は、残る汚染物質上に酸化層を形成する。酸化剤溶液は除去され、次いで、ウエハ表面に第2の洗浄溶液が適用される。第2の洗浄溶液は、ウエハ表面から除去される。この洗浄溶液は、酸化層を残る汚染物質とともに実質的に除去するように構成される。 (もっと読む)


【課題】上面部材をウェハとともに回転させて処理し,処理流体供給ノズルをウェハの処理面に移動させて処理流体を供給できる基板処理方法を提供する。
【解決手段】上面部材90を上昇させた状態で,基板Wをスピンチャック60によって保持し,上面部材90を下降させて基板Wの表面に近接させ,スピンチャック60に係合させた状態にし,上面部材90と基板Wとの間に形成された隙間に処理流体を供給し,基板W,スピンチャック60及び上面部材90を一体的に回転させて基板Wを処理し,基板W,スピンチャック60及び上面部材90の回転を停止し,上面部材90を上昇させてスピンチャック60から離脱させた状態で基板W及びスピンチャック60を一体的に回転させて基板Wを処理し,基板W及びスピンチャック60の回転を停止し,スピンチャック60の基板Wに対する保持を解除する。 (もっと読む)


移動可能な対象物洗浄装置となれる少なくとも一つの対象物洗浄装置を使用して、半導体ウェーハのような対象物を研磨するための装置及び方法である。該移動可能な洗浄装置は、保持管理のために該装置の他の部品に接近が許容される。 (もっと読む)


膜スタックを処理するためのクラスタツール、処理チャンバ及び方法の実施形態が提供される。一実施形態においては、膜スタックのシリコン層と金属層をインサイチュエッチングするための方法であって、処理チャンバ内で膜スタックの金属上層をエッチングして下にあるシリコン層の一部を露出させるステップと、処理チャンバから基板を取り出さずにシリコン層におけるトレンチをエッチングするステップと、を含む前記方法が提供される。本発明は、フラットパネルディスプレイの薄膜トランジスタ製造に特に有用である。 (もっと読む)


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