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Fターム[5F157CF92]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 構成要素細部 (6,182) | 洗浄装置の構成 (539) | チャンバ (351) | 可動要素有り (104)

Fターム[5F157CF92]に分類される特許

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ウエハのような半導体基材の表面を洗浄、調整する装置である。回転可能なチャックやチャンバー、1つ以上のドレン排出口を有して洗浄液を集める回転可能なトレイ、多数の洗浄液を集める多数の受容器、チャックを駆動する第1のモータ、トレイを駆動する第2のモータを含む。トレイのドレン排出口は、その下方に配置された所定の受容器の直上に位置させることができる。トレイに集められた洗浄液は、所定の受容器に導くことができる。最小限の相互汚染での確実で正確に制御された洗浄溶液の再利用がこの装置の1つの特徴である。
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【課題】処理槽の上方に乾燥処理部を備えた処理装置において、乾燥処理部に薬液雰囲気が流入することを防止でき、さらに、乾燥処理部から処理ガスを確実に排気できる基板処理装置、基板処理方法、記録媒体およびソフトウエアを提供する。
【解決手段】基板処理装置1は基板Wを処理液によって処理する処理槽3と、処理槽3の上方に配置された乾燥処理部6と、処理槽3と乾燥処理部6との間で基板Wを移動させる移動機構8とを備えている。乾燥処理部6は、移動機構8によって基板Wが処理槽3内に移送されたとき、外気と連通する状態と、外気と遮断した状態とをとることができる。乾燥処理部6は制御部65によって外気と連通する状態と、外気と遮断した状態とに切り換えられる。 (もっと読む)


【課題】 チャンバー外部に処理液の流出を抑制することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】 基板処理装置は、基板の処理空間を提供するチャンバー、チャンバーの内部に配置され、第1方向に延長されチャンバーの外部から両端部に提供された処理液が流れる第1供給ライン、第1供給ラインと連通され基板に向かうように延長され、処理液を基板に向かって噴射する噴射部、及び噴射部を第1方向と垂直な第2方向にスウィングさせるために、第1供給ラインと非接触方式で第1供給ラインを回転させる駆動ユニットを含む。従って、基板処理装置は、基板全体に均一に処理液を供給する。 (もっと読む)


【課題】容器内の複数の基板を取り出して所定の処理を行い、処理後の基板を容器内に戻す一連の処理を繰り返し行う際に、スループットを向上させることができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】洗浄処理装置は、一連の搬送動作を制御する制御部40を有し、制御部40は、一のウエハの基板を処理装置内に投入している状態において、フープ搬送装置12およびウエハ出し入れステージ15が空いているタイミングで、次のロットの未処理基板を収容したフープをウエハ出し入れステージ15に搬送し、トータルの搬送時間が適切になるように、フープ搬送装置12の動作タイミング、ウエハ出し入れステージ15での操作のタイミング、およびウエハ移載装置19の動作タイミングを個別に調整した搬送スケジュールを作成するスケジュール作成部54を有する。 (もっと読む)


【課題】処理槽の内部において硫酸と過酸化水素とを効率よく混合させ、処理槽の内部にCaro酸を多量かつ均一に生成することにより、基板の表面から有機膜を良好に除去することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】基板処理装置1は、内槽11の内部に硫酸成分を含む液体を吐出する吐出管36a,36bと、吐出管36a,36bから吐出される液体に向けて過酸化水素水を吐出する吐出管55a,55bとを備えている。このため、硫酸と過酸化水素水とを効率よく混合させることができ、それにより、処理槽10の内部においてCaro酸を多量かつ均一に生成することができる。したがって、基板Wの主面からフォトレジスト膜を良好に剥離することができる。 (もっと読む)


【課題】微細パターンが形成された基板であっても乾燥不良を防止することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】制御部67は、処理槽1に純水を処理液として供給して、処理位置にある基板Wを純水で処理した後、排出ポンプ52によりチャンバ27内を減圧するとともに溶剤ノズル33からチャンバ27内に溶剤蒸気を供給する。これにより基板Wの表面の純水は溶剤によって置換されるものの、微細パターンの奥に入り込んだ純水までは置換できない。基板Wを乾燥位置へ移動させた状態で、溶剤濃度が所定値に達した場合には、排出ポンプ52によりチャンバ27内を再び減圧する。これにより、微細パターンの表面にできた蓋状のものが取り除かれ、微細パターンの奥に入り込んだ純水が溶剤によって置換される。したがって、微細パターンが形成された基板Wであっても乾燥不良を防止できる。 (もっと読む)


【課題】複雑な機構を用いることなく、効率的に薬液を回収することができる基板処理装置および基板処理方法を提供すること。
【解決手段】基板処理装置において、制御部121は、リンス液によるリンス処理後に薬液による薬液処理を制御する。この際に、最初に、リンス処理用の回転数以上の回転数で基板Wを回転させながら基板上に薬液を供給して排液カップを薬液により洗浄し、その際に排液カップ51で受けた液を廃棄ライン113によって廃棄する。その後、薬液処理用の回転数で基板を回転させながら基板上に薬液を供給して基板の薬液処理を行い、その際に排液カップで受けた液を回収ライン112によって回収する。 (もっと読む)


【課題】露光装置において基板に付着した液体による動作不良および処理不良が防止された基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】基板Wの洗浄後、基板Wの一面を覆うようにリンス液の液層Lが形成される。続いて、液供給ノズル650が基板Wの中心部上方から外方に向かって移動する。液供給ノズル650は、基板Wの中心部上方から所定距離移動した時点で一旦停止する。この期間に、遠心力により液層Lが薄層領域内で分断され、液層Lの中心部に乾燥コアCが形成される。その後、液供給ノズル650が再び外方に向かって移動することにより、乾燥コアCを始点としてリンス液が存在しない乾燥領域R1が基板W上で拡大する。 (もっと読む)


【課題】基板上の不要物を良好に除去することができる基板処理装置および基板処理方法を提供すること。
【解決手段】バキュームチャック11の上方には、ほぼ円錐形状の遮断板12が配置されている。遮断板12の下面121には、それぞれエッチング液、純水および窒素ガスを吐出する開口122a,122b,122cが形成されている。エッチング液、純水および窒素ガスは、ウエハWの回転半径外方に向かうにつれてウエハWに近づくように傾斜した方向に吐出されて、それぞれウエハWの表面のエッチング液供給位置Pe、純水供給位置Pdおよび窒素ガス供給位置Pnに供給される。 (もっと読む)


【課題】チャンバ蓋部における溶接部分の剥離等の発生を抑制することにより不良基板が生産されるのを抑えることのできる減圧乾燥装置を提供する。
【解決手段】基板載置部に対して相対的に接離可能なチャンバ蓋部を備え、この基板載置部とチャンバ蓋部とによって形成される基板収容部内に、塗布液が塗布された基板を収容した状態で前記基板収容部内を減圧させることにより前記塗布液を乾燥させる減圧乾燥装置において、前記チャンバ蓋部は、前記基板載置部と対面するとともに4つの縁辺部を有する四辺形状を有しており、基板載置部側と反対側の外表面には、隣り合う縁辺部と交差する方向に延びるように補強リブを溶接する。 (もっと読む)


【課題】複数枚の基板を精度よく処理することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】複数枚の基板を洗浄する基板処理装置は、固定アーム19によって水平姿勢で保持された基板Wの下面を覆う下部板21と、この下部板21に対向配置されて基板Wの上面を覆う上部板31とを備えて構成される処理部33を、上下方向に複数積層し、さらに、固定アーム19等を縦軸芯P周りに回転させる電動モータ11と、下部板21に対して上部板31を上下方向に接離させて、下部板21と上部板31との間隔であるギャップGを可変する昇降機構23と、を備えている。この基板処理装置によれば、下部板21に対して上部板31を上昇または下降させることで、下部板21と上部板31との間隔であるギャップGを可変する。これにより、固定アーム19に基板Wを保持させる動作や、
基板の処理をそれぞれ適切に行うことができる。 (もっと読む)


ウェハ(1010)又は基板の表面を洗浄する装置であって、ウェハ(1010)又は基板の表面に対して隙間を隔てて配設され且つ該ウェハ(1010)又は基板の表面に垂直な軸周りに回転するプレート(1008)を含む。ウェハ又は基板の表面に対向する回転プレートの表面には、洗浄効率を高めるために、規則的なパターン及び不規則なパターンを有する溝が形成されている。他の実施例では、上記洗浄装置は、洗浄処理中に回転プレートを振動させる超音波変換器又はメガソニック変換器を更に含む。
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【課題】超臨界流体の存在下に被処理基板に対して成膜工程、エッチング工程、レジスト剥離工程等の加工を容易に行うことのできる基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の基板の製造方法は、基板が設置された反応室内に超臨界流体を充填し、該超臨界流体に溶解させた原料を基板の表面近傍で反応させることで基板の表面を加工する基板の製造方法であって、基板を、反応室内の天井部10に基板の表面を下方に向けて設置するものである。 (もっと読む)


【課題】基板表面に処理液を物理的に作用させることによって基板に対する処理を実行するにあたり、どのような処理液を用いた場合であっても、基板にダメージを与えることなく処理を実行することを可能とする基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置100は、複数の基板を、処理液中に浸漬させることにより基板Wに対する超音波洗浄処理を実行する処理部1を備える。制御部5は、処理液供給部2から処理部1に対して処理液の供給を開始するに先だって、当該供給される処理液が基板にダメージを与えにくい適正処理液であるか否かを、当該処理液の分子密度の値と分子密度閾値との比較によって判断する。処理液が適正処理液でないと判断された場合には、処理液調整部3において処理液に窒素ガスを溶解させる。 (もっと読む)


【課題】プラズマ処理を効率よく行うことができるプラズマ処理装置を提供すること。
【解決手段】プラズマ処理装置1は、印加電極2と、ワーク100を載置するとともに印加電極2の対向電極としての機能を併有するパレット(第1の電極)4と、プラズマ処理用のガスを供給するガス供給手段11と、印加電極2とパレット4との間に電圧を印加する第1の回路(電源部)8を備え、パレット4を載置するテーブル6の下面63には、振動子9が配設され、振動子9の振動数を調整する周波数調整手段74と、周波数調整手段74の作動を制御する制御手段70とを有しており、この振動子9によりパレット4とワーク100とを一体的に振動させながらワーク100の被処理面110を処理するに際し、制御手段70により、周波数調整手段74が作動するよう構成されている。 (もっと読む)


板状物品をウエット処理するための装置であって、板状物品が液体により処理されているときこれから流れ出ている液体を受けるための上向きの面を備えている1個の板状物品を保持するチャックであって、周囲の環状のリップにより外側の境界が定めれ、処理される板状物品の最大直径より大きい外径を有する前記チャック、及びチャックの周囲のリップから振り飛ばされる液体を受け入れるための上向きのリング状の面を有する回転可能な部品であって、この回転可能な部品はチャックに関して回転可能であり、リング状の面は周囲の環状リップに関して同軸に配置され、リング状の面の内径はチャックの外径より小さく、そしてリップと上向きのリング状の面との間の距離dが0.1mmから5mmの範囲にある前記回転可能な部品を備えた前記装置が明らかにされる。更に、関連した方法が明らかにされる。 (もっと読む)


【課題】基板上に複数の薬液や気体を供給して基板を洗浄乾燥する基板処理装置を提供する。
【解決手段】この基板処理装置は、基板が置かれるチャックを有する基板支持部材、上部が開放され、前記チャック周辺を包むように形状された下部チャンバー120、基板に対する乾燥工程が外部と隔離された状態で進行されるように前記下部チャンバーの上部を開放又は閉鎖する上部チャンバー130、及び前記上部チャンバーに設置され、前記上部チャンバーが前記下部チャンバーの上部を閉鎖した状態で基板に流体を直接噴射する直接噴射ノズル部材180を含む。このような構成の基板処理装置は、基板全体の乾燥効率増大、及び外部汚染遮断、又、酸化膜防止などの効果を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】基板上に複数の薬液や気体を供給して、基板を洗浄乾燥する基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置100において、基板が在置されるチャックを持つ基板支持機構110と、上部が開放されて、チャック周辺を囲むように配置された下部チャンバー120と、基板に対する乾燥工程が外部と隔離された状態で進行されるように下部チャンバー120の上部を開閉する上部チャンバー130と、上部チャンバー130のエッジに設置され、乾燥流体が基板に間接憤射されるように上部チャンバーの中心へ向かって、乾燥流体を憤射する間接憤射ノズル140と、を含むことを特徴とする基板処理装置100。このような構成の基板洗浄装置は、基板の乾燥効率の増大及び外部汚染の遮断そして酸化膜の防止などの効果を得ることができる。 (もっと読む)


本発明は、液体、気体、流動粉体、分散、これらの組合せ等を含む1つ以上の処理流体によりマイクロエレクトロニクス半製品を処理する装置を提供する。
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開示されているのは、プレート状物体の湿式処理用装置であり、以下のように構成されている:第一プレート、前記第一プレートと実質的に平行な単一のプレート状物体を保持するための保持手段、処理時に前記第一プレートとプレート状物体の間の第一ギャップに液体を導入するための第一分配手段、この場合、第一プレートは少なくとも99重量%のシリコンから成っているシリコン・プレート、そのプレート状の物体を処理している時に、そのシリコン・プレートが処理液と接触していること、それに関連した方法がさらに開示されている。
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