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国際特許分類[C23C16/30]の内容

国際特許分類[C23C16/30]の下位に属する分類

炭化物 (93)
窒化物 (917)
炭窒化物 (108)
ほう化物 (37)
酸化物 (819)
けい化物 (1,009)

国際特許分類[C23C16/30]に分類される特許

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【課題】発光特性及び注入電流均一性に優れ、十分な耐性を有する窒化物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】第一の主面101aと第二の主面101bを有し、窒化物半導体基板101と、第一の主面101aに接して形成された第一の窒化物半導体層102と、第一の窒化物半導体層102の第一の主面101aと接する側とは反対側に形成された、n型窒化物半導体層103、活性層104及びp型窒化物半導体層105を含む積層体と、n型窒化物半導体層103に電気的に接続されたn側電極106と、p型窒化物半導体層105に電気的に接続されたp側電極107とを備える。第一の窒化物半導体層102は、アンドープの窒化物半導体層である。また、第二の主面101bが光取り出し面とする窒化物半導体発光素子である。 (もっと読む)


【課題】p型層を形成する際に混入するSiによって発生する順方向電圧(Vf)の不良を従来より低減させ、順方向電圧が良好なエピタキシャルウエーハの製造方法を提供する。
【解決手段】少なくとも、化合物半導体からなる基板上に、ハイドライド気相成長法によってp型層をエピタキシャル成長させる工程を有するエピタキシャルウエーハの製造方法であって、前記p型層をエピタキシャル成長を開始する前の前記基板の昇温時に、p型ドーパントガスを前記p型層のエピタキシャル成長時より多く流すことを特徴とするエピタキシャルウエーハの製造方法。 (もっと読む)


【課題】p型層を形成する際に混入するSiによって発生する順方向電圧(Vf)の不良を従来より低減させ、順方向電圧が良好なエピタキシャルウエーハの製造方法を提供する。
【解決手段】少なくとも、化合物半導体からなる基板上に、ハイドライド気相成長法によってp型層をエピタキシャル成長させる工程を有するエピタキシャルウエーハの製造方法であって、前記p型層のエピタキシャル成長を開始する前の前記基板の昇温時に、HVPE炉内に窒素ガスを流すことを特徴とするエピタキシャルウエーハの製造方法。 (もっと読む)


【課題】基材に対する密着力が高いDLC膜を有し、基材の材料選択の幅が広い被覆部材を提供すること。
【解決手段】被覆部材100は、基材200と、基材200の表面を覆う中間層300と、中間層300の表面を覆うDLC膜400とを含む。中間層300およびDLC膜400は、基材200の温度が300℃以下に維持された状態で形成されている。また、中間層300は、金属窒化物を含む。中間層300における硬さH2のヤング率E2に対する比は、基材200における硬さH2のヤング率E2に対する比よりも大きく、DLC膜400における硬さH4のヤング率E4に対する比よりも小さい。 (もっと読む)


【課題】低誘電率、低エッチングレート、高絶縁性の特性を備える絶縁膜を形成する。
【解決手段】基板を収容した処理容器内にCVD反応が生じる条件下で所定元素含有ガスを供給することで、基板上に所定元素含有層を形成する工程と、処理容器内に炭素含有ガスを供給することで、所定元素含有層の上に炭素含有層を形成して所定元素および炭素を含む層を形成する工程と、処理容器内に窒素含有ガスを供給することで、所定元素および炭素を含む層を窒化して炭窒化層を形成する工程と、を1セットとしてこのセットを所定回数行うことで所定厚さの炭窒化層を形成する工程と、処理容器内に酸素含有ガスを供給することで、所定厚さの炭窒化層を酸化して酸炭窒化層を形成する工程と、を1サイクルとして、このサイクルを所定回数行うことで、基板上に所定膜厚の酸炭窒化膜を形成する工程を有する。 (もっと読む)


【課題】硬質被覆層が高速断続切削加工ですぐれた耐チッピング性を発揮する表面被覆切削工具を提供する。
【解決手段】工具基体の表面に、(a)下部層としてTi化合物層、(b)中間層としてα型Al層、(c)上部層として、平板多角形状かつたて長形状の結晶粒組織構造を有するTiおよびZr含有α型Al層を蒸着形成した表面被覆切削工具において、中間層及び上部層は、それぞれ、(0001)面配向率の高いα型Al層、TiおよびZr含有α型Al層からなり、また、上部層の結晶粒の内、面積比率で60%以上の結晶粒の内部は、少なくとも一つ以上のΣ3で表される構成原子共有格子点形態からなる結晶格子界面により分断されている。 (もっと読む)


【課題】硬質被覆層が高速断続切削加工ですぐれた耐チッピング性を発揮する表面被覆切削工具を提供する。
【解決手段】工具基体の表面に、(a)下部層としてTi化合物層、(b)中間層としてα型Al層、(c)上部層として、平板多角形状かつたて長形状の結晶粒組織構造を有するB含有α型Al層を蒸着形成した表面被覆切削工具において、中間層及び上部層は、それぞれ、傾斜角度数分布グラフにおいて、傾斜角0〜10度の範囲内にシャープな最高ピークが現れ、かつ傾斜角区分0〜10度の範囲内に存在する度数の割合の高いα型Al層、B含有α型Al層からなり、また、上部層の結晶粒の内、面積比率で60%以上の結晶粒の内部は、少なくとも一つ以上のΣ3で表される構成原子共有格子点形態からなる結晶格子界面により分断されている。 (もっと読む)


【課題】AlGaInP系半導体発光素子用エピタキシャルウェハ表面平坦度およびダイオードチップを製造する際の発光強度の歩留まりを向上できるAlGaInP系半導体発光素子用エピタキシャルウェハを提供する。
【解決手段】N型GaAs基板2上に、N型AlGaInP系クラッド層4、AlGaInP系活性層5、P型AlGaInP系クラッド層6、及びGaPからなる電流拡散層7を有するAlGaInP系半導体発光素子用エピタキシャルウェハ1において、電流拡散層7が、P型AlGaInP系クラッド層6上に形成されたV/III比が1以上100以下の低V/III比部分8と、低V/III比部分上に形成されたV/III比が100以上500以下の高V/III比部分9とからなるものである。 (もっと読む)


【課題】高真空容器を使用しない簡便な方法によって透明導電性非晶質膜を製造する方法、および導電性、透明性、及び表面平滑性が従来のスパッタリング法によって得られる膜と同等以上である透明導電性非晶質膜の提供。
【解決手段】亜鉛元素および錫元素を含む透明導電性非晶質膜の製造方法であって、加熱した基板に、亜鉛化合物および錫化合物を含有する霧状の溶液又は分散液を吹き付けて成膜することを特徴とする透明導電性非晶質膜の製造方法。 (もっと読む)


【課題】プラスチックの質感を避けるため、物品の変色を防止するためそして調節可能な着色効果または完全に透明なコーティングを同時に提供するために、物品上に非常に薄いフィルムを形成することができる、金属物品を着色するための表面処理方法を提供する。
【解決手段】基板を用意することと、原子層析出(ALD)によって基板の表面にセラミック層を形成することとからなり、セラミック層は1〜1000nmの厚さを有する表面処理方法。処理された基板表面は、基板の表面と同じ色または異なる色を有することができ、同時に酸化/変色の発生を避けることができる。 (もっと読む)


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