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国際特許分類[C23C16/30]の内容

国際特許分類[C23C16/30]の下位に属する分類

炭化物 (93)
窒化物 (917)
炭窒化物 (108)
ほう化物 (37)
酸化物 (819)
けい化物 (1,009)

国際特許分類[C23C16/30]に分類される特許

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【課題】ステンレス鋼、低炭素鋼等の溶着を発生しやすい被削材の切削加工において硬質被覆層がすぐれた耐溶着性を発揮する表面被覆切削工具を提供する。
【解決手段】WC超硬合金、TiCN基サーメットからなる工具基体の表面に、(a)Ti化合物層からなる下部層、(b)酸化アルミニウム層からなる中間層、(c)第1上部層と第2上部層とからなる上部層、からなる硬質被覆層を蒸着形成した表面被覆切削工具において、上記第1上部層は、上記中間層に接して形成され、0.5〜5μmの平均層厚を有し、層中の平均塩素濃度が0.2〜2原子%であるTi化合物層であって、上記第2上部層は、切れ刃稜線部以外では上記第1上部層に接して形成され、0.2〜5μmの平均層厚を有する酸化アルミニウム層または平均塩素濃度が0.1原子%以下のTi化合物層であって、上記上部層は、切れ刃稜線部において第2上部層が存在せず上記第1上部層が露出して形成されている。 (もっと読む)


【課題】鋼や鋳鉄等の高速連続切削加工において、硬質被覆層がすぐれた耐チッピング性と耐摩耗性を発揮する表面被覆切削工具を提供する。
【解決手段】工具基体の表面に、(a)3〜20μmの合計平均層厚を有するTi化合物層からなる下部層、(b)1〜15μmの平均層厚を有する酸化アルミニウム層からなる中間層、(c)4〜14μmの平均層厚の縦長成長結晶組織をもつ改質Ti炭窒化物層からなる上部層、前記(a)、(b)、(c)の硬質被覆層が化学蒸着により形成された表面被覆切削工具において、(d)上部層を構成する改質Ti炭窒化物層は、表面から層厚方向に沿って内部側に、深さ0.5〜4.0μmの範囲内の間隔をおいて、酸素含有量の複数のピークが現れ、該ピーク位置における酸素含有量OMAXは、OMAX=3〜8原子%である酸素濃化領域を少なくとも1つ備えている。 (もっと読む)


【課題】非晶質炭素とシリコン酸化物の特性を兼ね備えた非晶質炭素・シリコン酸化物混合膜を均一且つ迅速に成膜可能な成膜方法を提供する。
【解決手段】対向配置された保持電極1と印加電極2を有する電極体10との間に原料ガスを含む混合ガスG0を供給し、大気圧雰囲気下において、必要に応じて電極体10と保持電極1との間に直流バイアス電圧を発生させながら、印加電極2に交流電圧を印加する。これにより、保持電極1に保持された被成膜体Wと電極体10との間でグロー放電プラズマを発生させ、被成膜体Wに非晶質炭素・シリコン酸化物混合膜を成膜する。原料ガスは、炭化水素系ガスと有機シラン系ガスと酸素源ガスとを含む。原料ガス中、有機シラン系ガス:酸素源ガス=99.9:0.1〜0.1:99.9であり、且つ、炭化水素系ガス:有機シラン系ガス+酸素源ガス=1:99〜99:1の混合比で構成されている。 (もっと読む)


【課題】高速断続切削加工において硬質被覆層がすぐれた耐チッピング、耐欠損性を発揮する表面被覆切削工具を提供する。
【解決手段】WC超硬合金、TiCN基サーメットからなる工具基体の表面に、(a)Ti化合物層からなる下部層、(b)酸化アルミニウム層からなる上部層、からなる硬質被覆層を蒸着形成した表面被覆切削工具において、前記上部層中に孔径分布がバイモーダルな分布をとる孔径2〜50nmの微小空孔が分布している。 (もっと読む)


【課題】保護膜の成膜時に圧電体膜が水素によって還元されることがなく、圧電体膜を水分から保護する保護膜を有する圧電体の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様は、圧電体膜16上に、水素を含まない原料ガスを用いたCVD法によりC膜、C膜、C膜及びC膜のいずれかの膜15を形成する圧電体の製造方法であって、前記原料ガスは、炭素とフッ素を含む有機物原料ガスを有することを特徴とする圧電体の製造方法である。ただし、a,b,c,dは、自然数である。 (もっと読む)


【課題】低誘電率、低エッチングレート、高絶縁性の特性を備える絶縁膜を形成する。
【解決手段】処理容器内の加熱された基板に対して、所定元素含有ガスと、炭素含有ガスと、窒素含有ガスとを供給することで、基板上に所定元素を含む所定厚さの炭窒化層を形成する工程と、処理容器内の加熱された基板に対して、所定元素含有ガスと、酸素含有ガスとを供給することで、基板上に所定元素を含む所定厚さの酸化層を形成する工程と、を交互に繰り返すことで、基板上に、炭窒化層と酸化層とが交互に積層されてなる所定膜厚の酸炭窒化膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】 良好な結晶品質を確保しながら能率よく成長することができる、エピタキシャルウエハの製造方法および当該エピタキシャルウエハを得る。
【解決手段】 半導体の基板を準備する工程と、基板の上に、ペアをなす一方の層または両方の層にアンチモン(Sb)を含むタイプIIの多重量子井戸構造を、ペア数50以上700以下で、形成する工程と、InP表面層を形成する工程とを備え、多重量子井戸構造の形成工程の開始からInP表面層の形成工程の終了まで、再成長界面が含まれないように一つの成長槽内で処理し、すべての層を有機金属原料を用いる全有機気相成長法により形成することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】相対的に高い変換効率を持つ新規なカルコゲナイト系化合物半導体及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】以下の構成を備えたカルコゲナイト系化合物半導体及びその製造方法。(1)カルコゲナイト系化合物半導体は、Cu、Zn、Sn、元素X3(=S及び/又はSe)、及び、Oを必須元素として含む。(2)カルコゲナイト系化合物半導体は、(a)Cu、Zn及びSnを含み、(b)Cu、Zn及びSnから選ばれるいずれか1以上の元素を含む、1種又は2種以上の非結晶の酸化物及び/又は水酸化物を含む前駆体を硫化及び/又はセレン化することにより得られる。前駆体は、大気開放型CVD装置にCu源、Zn源及びSn源を含むCVD原料を供給し、CVD原料を同時に気化させることにより形成するのが好ましい。 (もっと読む)


【課題】サファイア、GaAs、シリコンまたは炭化ケイ素といった異種基板上で第3族窒化物の半導体材料の層を1層以上成長させる上で遭遇する、少なくともいくつかの問題に対処する。
【解決手段】ラミネート基板システムは、AlxGa1-xN(5)と支持基板材料(4)(または当該材料と一般化学組成が同一である材料)とが交互に積層された多数の層からなる変成遷移領域(2)を含む。転位密度が低い第3族窒化物半導体素子(2)がラミネート基板システム上に形成される。変成遷移領域(2)の多数の層(4、5)は、格子定数が支持基板(1)(支持基板付近)の格子定数から素子(3)(素子付近)の格子定数へと成長方向に沿って変化する超格子構造を形成する。 (もっと読む)


【課題】硬質被覆層が高速断続切削加工ですぐれた耐チッピング性を発揮する表面被覆切削工具を提供する。
【解決手段】工具基体の表面に、下部層として少なくともTiCN層を含むTi化合物層、上部層としてZr含有κ−Al結晶粒とZr含有α−型Al結晶粒との混合相からなるZr含有Al層が形成された表面被覆切削工具において、下部層には、TiCN{110}結晶粒とTiCN{112}結晶粒が合計面積割合で60%以上形成され、また、TiCN{110}結晶粒の上方には上部層のZr含有κ−Al結晶粒が、また、TiCN{112}結晶粒の上方には上部層のZr含有α−Al結晶粒が夫々形成され、Zr含有α−Al結晶粒のうちの30%以上はAl{0001}結晶粒で構成され、Zr含有α−Al結晶粒のクラック密度はZr含有κ−Al結晶粒のそれよりも高い。 (もっと読む)


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