Ｓ／ＴＥＭ分析のためにサンプルを抽出および取り扱うための改善された方法および装置。本発明の好適な実施形態は、マイクロマニピュレータと、真空圧を用いてマイクロプローブ先端をサンプルに付着させる中空マイクロプローブとを使用する。小さな真空圧をマイクロプローブ先端を通してラメラに印加することによって、ラメラをより確実に保持することができ、静電力だけを用いるよりも、ラメラの配置をより正確に制御することができる。勾配の付いた先端を有し、その長手軸線周囲に回転させることも可能なプローブを用いることによって、抽出されたサンプルをサンプル・ホルダ上に平坦に置くことができる。これによってサンプルの配置および配向を正確に制御することが可能になるので、分析の予測可能性および処理能力が大幅に増大される。
（もっと読む）

【課題】製作能力の向上、ならびに包埋組織標本の質、およびその後で得られる、診断にかけられることになる包埋組織のスライスまたはリボンの質を向上させ、かつばらつきをより少なくするカセットを提供する
【解決手段】ミクロトーム内で切片化可能なカセット（１０）は、その第１および第２の側壁（２２ａ〜２２ｃ）が概ねＶ形であり、カセット（１０）の蓋（３２）は、カセット（１０）の底壁（２４）よりも剛性が高い。このカセットの側壁（２２ａ〜２２ｄ）には、穴が開けられている。また、１つの側壁（１２４ａ）上のリブ（１２８）は、反対側の側壁（１２４ｂ）上のリブ（１２８）に対して相対的に長手方向にオフセットされる。このカセットの上部フランジ（１４０）は、フレーム（１２）内の移動止め（５４、５６および５８、６０）と位置が合うように構成されたくぼみ（１４２ａ〜１４２ｆ）を含む。 （もっと読む）

【課題】ＴＥＭ観察に好適な試料を容易に作製可能な試料作製装置及び試料作製方法を得る。
【解決手段】イオンビームを形成する照射光学系と、試料の観察部位をイオンビームにより切り出してなる微小薄片試料と、この微小薄片試料が載置及び接着される試料ホルダと、微小薄片試料に接着されるプローブを有し、このプローブを介して該微小薄片試料を試料ホルダまで移送する移送手段とを備えた試料作製装置において、移送手段とは別に、三次元方向に駆動可能な、試料ホルダに載置または接着された微小薄片試料の姿勢を調整する姿勢調整ニードルを設けた。 （もっと読む）

【課題】半導体基板を用いた被評価液の品質評価において、一度容器に接触した被評価液が再び半導体基板に接触しない構造を持ち、基板保持容器からの汚染を受けずに被評価液中の不純物を高精度で測定する半導体基板保持容器を得ることを目的とする。
【解決手段】本発明に係る半導体基板保持容器１は、密閉した内部空間である基板保持室３と基板保持室３に半導体基板４を出し入れする基板出入り口とを有する保持容器本体２と、基板保持室３に保持容器本体３の内壁面とは間隔を有して半導体基板４を中空状態で保持する保持体５と、基板保持室３に保持された半導体基板４上に被評価液６を滴下する給水口７と、半導体基板４上から落下した被評価液６を排水する排水口８とを備える。 （もっと読む）

Ｓ／ＴＥＭサンプルの調製および分析用の改良された方法および装置である。本発明の好ましい実施形態により、ＴＥＭサンプル作成用、特に小さい形状（厚さ１００ｎｍ未満）のＴＥＭラメラ用の改良された方法が提供される。新規なサンプル構造およびミリング・パターンの新規な用途は、大きな反りまたは歪みなしで５０ｎｍの薄さのＳ／ＴＥＭサンプルの作成を可能にする。本発明の好ましい実施形態により、ＴＥＭサンプル作成を一部または全部自動化するための方法、ＴＥＭサンプルの作成および分析のプロセスを労力のより少ないものにするための方法、ならびにＴＥＭ分析のスループットおよび再現性を高めるための方法が提供される。
（もっと読む）

【課題】ペースト状の試料を無駄にすることなく、且つ、簡単に試料の設定が可能な試料塗布用治具を提供する。
【解決手段】ＡＴＲ装置の試料塗布用治具１０は、開口部１２ａを有し、所定の厚さを有する板状のマスク１２を含む。マスク１２が測定面２８に降ろされて、マスク１２がＡＴＲ装置のＡＴＲプリズムに当接したとき、開口部１２ａはＡＴＲプリズムの試料塗布面２２ａに位置する。 （もっと読む）

【課題】延伸過程のゴム切片、さらには延伸過程から収縮過程のゴム切片の顕微鏡観察を可能にするメッシュおよび該メッシュを用いたゴム切片の観察方法を提供する。
【解決手段】延伸過程のゴム切片および収縮過程のゴム切片を顕微鏡により観察可能に支持するメッシュであって、中央部上面を前記ゴム切片１０を固定する載置領域とすると共に、該載置領域を挟む左右両側が前記延伸方向に移動される試料ホルダ分離部への固定部とされ、該左右固定部の間で且つ前記ゴム切片の載置位置に向けて前記延伸方向と直交方向あるいは傾斜方向の分断用スリット１２ａ，１２ｂが入れられ、前記試料ホルダ分離部による延伸方向への移動時に前記分断用スリットで左右に分断され、分断された左右両側部に固定される前記ゴム切片を延伸させる構成としている。 （もっと読む）

Ｓ／ＴＥＭサンプルの調製および分析用の改良された方法および装置である。本発明の好ましい実施形態により、ＴＥＭサンプル作成用、特に小さい形状（厚さ１００ｎｍ未満）のＴＥＭラメラ用の改良された方法が提供される。本発明の好ましい実施形態は、ＴＥＭサンプルの作成および分析のプロセスの労力を低減し、ＴＥＭ分析のスループットおよび再現性を高めるために、ＴＥＭサンプル作成を一部または全部自動化する方法を提供することにより半導体ウェハ上に製造される集積回路または他の構造などの対象に対するＳ／ＴＥＭベースの計測用のインライン・プロセスも提供する。 （もっと読む）

【課題】生体標本中の個々の細胞ごとに標的物質を位置精度よく分析するための前処理として、生体標本内の標的物質の位置情報を保持したまま、試薬および反応生成物を固定するための生体標本の処理方法、および解析方法を提供すること。
【解決手段】細胞または組織を含む生体標本上に多孔質体によって構成される薄膜を接触させ、該薄膜の非接触面側より、インクジェットで標本の特定の領域に試薬溶液を供給することにより、前記生体標本表面内の細胞レベルでの領域内に限定して前記試薬の供給、保持および反応生成を行う生体標本の試薬処理方法。さらに、生体標本の画像情報を読み取り位置情報を記録し、当該画像情報に合わせて特定の領域に上記試薬処理方法を行った後、顕微鏡観察または質量分析によって解析する、生体標本の解析方法。 （もっと読む）

【課題】安全かつ簡便に標本用プレートを供給するための標本用プレート供給装置およびそれを備える有形成分分析装置に関する。
【解決手段】複数の標本用プレートを収納可能、かつ収納された該標本用プレートを１枚ずつ取り出すための取り出し口を有する標本用プレート収納カセットと、
該標本用プレート収納カセットを設置するためのカセット設置部が、複数個設けられた回転体と、
該回転体を回転させるための駆動手段と、
該カセットの上部に配置され、該カセットの取出口から該標本用プレートを取り出すための標本用プレート取出手段と、
を有する標本用プレート供給装置。 （もっと読む）