【課題】簡易な演算で放電発生位置を推定できる放電発生位置推定装置他を得る。
【解決手段】変圧器本体３は、外鉄形の鉄心４に巻回されたコイル５を有し、鉄心４が下部タンク２ａのフランジ部に載置され、コイル５の下部渡り部５ａが下部タンク２ａに収容され、上部渡り部５ｂが上部タンク２ｃに収容されている。アンテナ６，８は、それぞれ支持装置７，９にて下部タンク２ａ、上部タンク２ｃの内部の図２（ｂ）における手前側の左右方向の中央部付近の同じ座標（ｘ１，ｙ１）上でｚ軸の座標のみが異なる位置に支持されている。コイル５で発生した放電による電磁波Ｂをアンテナ６，８にて検出して検出信号ＳＤ１，ＳＵ１を出力し、位置推定手段１０は検出信号ＳＤ１，ＳＵ１の強度（例えば波高値の最大値）の比に基づき放電発生位置を推定する。検出信号の強度の比によれば、演算が簡易になり、容易に放電発生位置を推定できる。 （もっと読む）

【課題】複数の被試験器に対して、同時に効率良く試験を行う測定試験装置および測定試験方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る測定試験装置は、複数の測定器を有し、測定器を制御して被試験器に対して試験を行う本体部と、本体部に接続される１つ以上の増設部とを有し、本体部は、使用を要求された測定器が使用可能か否かを判定する使用可否判定部と、使用可能であると判定された場合、測定器から増設部までの接続経路を制御する第１の経路制御部とを備え、増設部は、本体部が有する測定器のうち、この増設部に接続された被試験器の試験に使用する測定器の使用を要求する使用要求部と、使用可能であると判定された場合、第１の経路制御部に制御された接続経路から前記被試験器までの接続経路を制御する第２の経路制御部と、本体部に対して、使用する測定器を制御して、前記接続経路を用いて、被試験器に対して試験を行うよう要求する試験要求部とを備える。 （もっと読む）

【課題】電源電圧を平滑化するためのコンデンサの故障を精度良く報知すること。
【解決手段】電源回路の故障検出装置は、スイッチングレギュレータ１３の出力側である電力供給経路に接続されたコンデンサＣの故障を検出する。スイッチングレギュレータ１３の出力電力を、マイコン１５からの停止信号ＳＰによりマイコン消費電力に基づいて設定された所定の停止時間ｔｓｐだけ停止させる。この停止期間中に、電力供給経路の電圧レベルがマイコン１５への動作電圧Ｖｃｃ未満となった場合、故障報知部１７によりコンデンサＣが故障と報知する。 （もっと読む）

【課題】機器内で発生する電磁ノイズと同じ周波数の試験信号を注入した場合の近似的な分布を得ることのできる電磁ノイズ分布検出装置を得る。
【解決手段】信号発生器１は、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数から僅かにずらした周波数の信号を出力し、注入プローブ３によって供試機器１００に注入する。検出プローブ４は可動部７により供試機器１００上を走査し、供試機器１００の電磁界分布を検出し、電磁界強度計６によって電磁界強度の分布を測定する。ノイズ分布検出手段１１は、電磁界強度計６で測定された電磁界強度の分布を、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの近似的な分布として検出する。 （もっと読む）

【課題】ハードディスクの電流を容易に測定することができるハードディスク電流のテストシステム及びこの測定を補佐するアダプターボードを提供すること。
【解決手段】本発明に係るハードディスク電流のテストシステムは、ハードディスク、アダプターボード、テスト装置、第一ケーブル、第二ケーブル及び２つのクリップオン電流計を備える。前記アダプターボードは、第一ポート、第二ポート、第一コネクター、第二コネクター及び１つのバスラインを備える。前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行う。その過程において、２つの前記クリップオン電流計のクリップで、それぞれ前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを挟み、当該第一ケーブル及び第二ケーブルを流れる電流を測定する。 （もっと読む）

【課題】電源および負荷が設けられるように構成された回路内の過渡電圧保護デバイスをテストする方法を提供する。
【解決手段】過渡電圧保護デバイスと並列に検出器を設けるステップと、回路内に設けられたスイッチングデバイスを開路するステップと、スイッチングデバイスを開路することによって生じる、回路インダクタンス内の電流の変化率によって引き起こされる電圧スパイクの特性を検出して、保護デバイスの状態を決定するステップとを含む。そのピーク電圧など、電圧スパイクの検出された特性が、期待される所定の値ではない、または期待される所定の範囲内ではない場合は、過渡電圧保護デバイス内に障害が存在すると見なすことができる。それにより過渡電圧保護デバイスは、稼働寿命の間に信頼性良くテストすることができる。 （もっと読む）

【課題】基板上に形成されたアクティブエリアと共にアクティブエリア外に設けられたＴＦＴ駆動回路の欠陥を検出する。
【解決手段】ＴＦＴアレイ検査装置は、ＴＦＴ駆動回路に検査信号を供給するＴＦＴ駆動回路用ドライバ部と、アクティブエリアの走査画像に基づいて、ＴＦＴ駆動回路およびアクティブエリアの駆動状態を検出する検出部とを備える。ＴＦＴ駆動回路用ドライバ部は、基板上のＴＦＴ駆動回路に検査信号を供給することによってＴＦＴ駆動回路のＴＦＴアレイを駆動し、基板上のアクティブエリアに形成されたＴＦＴアレイを駆動する。検出部は、アクティブエリアの走査画像を用いて、アクティブエリア上で駆動していない非駆動部位を検出する。 （もっと読む）

【課題】抵抗体の発熱量が過大にならず、かつ蓄電デバイスの容量測定に要する時間が長くなり過ぎない範囲で、精度よく蓄電デバイスの劣化を判定する。
【解決手段】本発明の蓄電デバイスの劣化判定装置は、蓄電デバイス（３）と直列に接続された抵抗体７と、蓄電デバイス（３）からの放電電流Ｉを抵抗体７に所定時間流した後の蓄電デバイス（３）の電圧値に基づき蓄電デバイス（３）の容量を求めることにより、蓄電デバイス（３）の劣化を判定する判定部（１０）とを備える。上記抵抗体７の抵抗値Ｒに対する蓄電デバイス（３）の新品時の内部抵抗値（ｒ×ｎ）の割合は、０．０２％以上１％以下に設定される。 （もっと読む）

【課題】経年後の巻線に対して精度よく絶縁特性を評価することができる巻線の絶縁特性評価方法を提供することを目的としている。
【解決手段】初期状態及び経年後における巻線の交流試験、絶縁抵抗測定、交流電流試験の測定を実施し、測定された静電容量Ｃ、誘電正接ｔａｎδ₀、絶縁抵抗Ｒからそれぞれ乾燥／吸湿評価指標Ｉｘを求め、併せて電流急増電圧Ｐｉ、電流勾配ａの測定結果から経年後の絶縁特性（電流急増電圧比Ｅｓ／Ｐｉ、電流勾配増加率（ａ−ａ₀）／ａ₀、絶縁抵抗Ｒ、静電容量Ｃ、誘電正接ｔａｎδ₀及び誘電正接変化量Δｔａｎδ）を初期状態での乾燥／吸湿評価指標Ｉｘの条件で換算して、初期状態の絶縁特性と比較することによって巻線の絶縁劣化や余寿命を判定するための判定材料となる経年後の巻線の絶縁特性を算出する。 （もっと読む）

【課題】正常に機能しているフライングキャパシタに生じる静電容量変化とは区別して、静電容量変化を伴うフライングキャパシタの故障を検出すること。
【解決手段】フライングキャパシタＣ１の放電開始時に、読込用コンデンサＣａの充電電圧に基づいてフライングキャパシタＣ１の放電電圧ＶＤ１を測定する（ステップＳ１）。次に、放電開始から時間ｔ２が経過した時点で、読込用コンデンサＣａの充電電圧に基づいてフライングキャパシタＣ１の放電電圧ＶＤ２を測定する（ステップＳ３）。続いて、ステップＳ１で測定した放電電圧ＶＤ１とステップＳ３で測定した放電電圧ＶＤ２との差分からフライングキャパシタＣ１の放電量（放電割合）を求め（ステップＳ５）、求めた放電量（放電割合）を基準となるしきい値と比較して、フライングキャパシタＣ１を構成する４つのコンデンサに関するオープン故障を診断する（ステップＳ７）。 （もっと読む）