衝突またはフラグメンテーションセル（５）の上流に配置されたイオン移動度分光計またはセパレータ（３）を含む質量分析計が開示される。イオンは、イオン移動度分光計またはセパレータ（３）内でそのイオン移動度にしたがって分離される。衝突またはフラグメンテーションセル（５）に入射する際のイオンのフラグメンテーションエネルギーを最適化するために、イオン移動度分光計またはセパレータ（３）に存在するイオンの運動エネルギーは時間とともに実質的に直線的に増加される。
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本発明は、半径方向内向きの方向に沿って磁化された１つの半径方向内向きの構造体と、半径方向外向きの方向に沿って磁化された１つの半径方向外向きの構造体という、中空円筒の形態における少なくとも２つの磁化された構造体（３０、３２）を含む、永久磁石を形成しているアセンブリを有する真空磁気イオントラップに関するものであり、半径方向内向き及び外向きの磁化された構造体（３０、３２）は、共通の長手方向の軸（ＸＸ’）に沿って配列されている。又、このトラップは、少なくとも２つの磁化された構造体（３０、３２）の間に固定され、且つ、電圧生成器（１２）に接続可能な少なくとも２つのトラッピング電極（１０）を含むイオン閉じ込めセル（８）を格納している、密封チャンバ（４）をも有している。
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【課題】 ２個以上の原子からなる粒子団を試料表面に照射することにより、試料表面から放出される２次粒子量を大幅に増大させるようにすること。
【解決手段】 炭素非粒子団及び粒子団荷電粒子ａを、質量分析器１により粒子団荷電粒子ｂ１と非粒子団荷電粒子ｂ２とに選別し、これらの粒子団荷電粒子ｂ１と非粒子団荷電粒子ｂ２を物質表面に照射する。荷電粒子を粒子団で物質に照射すると、粒子団が被照射物質と衝突する際に、粒子の有するエネルギーが物質表面の狭い領域に集中し、エネルギー密度の高い場が生じる。このような荷電粒子団の照射による特異的な高密度エネルギー場の中では、イオン化反応が促進され、非粒子団照射時に比べて生成される２次粒子の量が増加する。また、荷電粒子団の代わりに中性粒子団を用いた場合にも同様の効果を奏する。 （もっと読む）

非線形伝達関数を有する信号増幅器。入力信号の限られた範囲にわたって非線形関数を有する高速（高帯域）回路が提供される。コンポーネントの適切な選択により、非線形伝達関数は、平方根伝達関数など、任意の単調関数の近似値を正確に求めるために使用され得る。別の側面において、入力信号の拡張されたダイナミックレンジにわたって望ましい非線形伝達関数を正確に生成するために、非線形サブ回路のセットを使用する区分非線形回路配置が提供される。そのような回路の一実装において、サブ回路のそれぞれは、入力範囲の一部にわたって望ましい非線形関数を近似する。
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【課題】濃縮工程を行わない測定試料についても効果的に用いることができる、目的の物質を主として質量分析により検出することができる方法を提供する。
【解決手段】質量分析において、測定すべき特定の物質と前記特定の物質以外の物質とを含む混合物サンプルに含まれる、前記特定の物質を、前記特定の物質以外の物質よりも、前記特定の物質をよりイオン化させやすいマトリックスを用いることによって特異的にイオン化し、混合物から特定の物質を選択的に測定する質量分析方法。
好ましくは、前記特定の物質が２−ニトロベンゼンスルフェニルクロリドによってラベル化されたペプチドであり、且つ前記マトリックスがヒドロキシニトロ安息香酸などのニトロベンゼン誘導体である。マトリックスは、α−シアノ−４−ヒドロキシケイ皮酸と組み合わせて用いることが好ましい。 （もっと読む）

結合されたシリコンオン絶縁物（ＢＳＯＩ）ウエハから、マイクロエンジニアリングされた質量分析器を製造する方法が、四極子分析器を参照して記載される。四極子幾何形状は、モノリシックブロック４１０を形成するようにともに結合される２つのＢＳＯＩウエハ２００を使用して達成される。外側シリコン層に形成されたディープエッチングされた特徴及びばねは、円筒状金属電極ロッド３００を位置付けるために使用される。アセンブリの精度は、リソグラフィとディープエッチングとの組み合わせにより、かつ結合されたシリコン層の機械的構成度合により決定される。内側シリコン層に形成されディープエッチングされた特徴は、イオン入口及びイオン収集光学部品を画定するために使用される。また、流体チャネルなどの他の特徴を組み込むことができる。
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【課題】 多数の成分が含まれる試料について測定する際に、測定感度を低下させることなく容易にSIM測定の条件を設定することができるクロマトグラフ質量分析測定方法を提供する。
【解決手段】 各成分毎に、その保持時間の前及び後の所定の時間を、その成分についてSIM測定を行う時間範囲30-1〜30-11に設定する。ここで各成分の時間範囲は、他の成分の時間範囲とは無関係に設定される。これにより、同時に測定される成分の個数を少なくすることができ、測定感度が低下することを防ぐことができる。また、カラムのメンテナンス等により保持時間が変動しても、SIM測定の時間範囲を容易に再設定することができる。 （もっと読む）

本発明は、タンデム質量分析を実施する装置および方法を提供する。本発明のタンデム質量分析計（４００）は、第１質量分析器（４２０）および第２質量分析器（４３０）を備える。少なくとも１つの質量分析器は、飛行時間型質量分析器であり、少なくとも１つの電気セクタ（２５０、３５０、４５０、５５０）を備える。１つの局面において、本発明のタンデム質量分析計は、以下を備える：イオン供給源；第１質量分析器；第２質量分析器；およびイオン検出器。このイオン供給源は、第１質量分析器とイオン連絡しており；この第１質量分析器は、第２質量分析器とイオン連絡しており；この第２質量分析器は、イオン検出器とイオン連絡しており；そして質量分析器のうちの少なくとも１つは、少なくとも１つの電気セクタを備える飛行時間型質量分析器である。
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使用中、イオンが経路に沿って運ばれる第１及び第２の圧力チャンバを有する質量分光計を備えた差動排気質量分光計システム。チャンバ（62,66,68）を差動排気するポンプ組立体（10）は質量分光計に取付けられる。ポンプ組立体は、質量分光計に取付けられたハウジング（12）と、ハウジングに挿入されたカートリッジ（14）を有する。カートリッジは、それぞれの圧力チャンバ（62,66,68）から流体を各々受け入れる複数の流入口（16,18,20）と、チャンバから流体を差動排気する排気機構（30,32,34）を有する。カートリッジは、排気機構（10）がイオン経路（76）に対して傾けられるように、しかし少なくとも１つの流入口（16,18）がイオン経路を横切ることなく、少なくとも部分的にそれぞれの圧力チャンバ（62,66）内に突入する程度まで質量分光計内に突入してハウジングに挿入される。 （もっと読む）

時間的に指標が付けられたスペクトル走査によって分光計から生成されたデータからスペクトルを抽出するシステム及び方法が提供される。該方法は、分光計からデータ・マトリクスを受け取る操作を含む（３０２）。次いで、ノイズがデータ・マトリクスから除去される（３０４）。更なる操作は、情報内容に基づいてデータ・マトリクスにおいて所定のスペクトルを識別することである（３０６）。更に、データ・マトリクスから所定のスペクトルを抽出するために、デニゼン変換に基づいて、所定のスペクトルに基づき、データ・マトリクスに還元変換が適用される（３０８）。
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