【課題】簡易かつ廉価に電子−イオンコインシデンス分光を行うことができる、新規な電子−イオンコインシデンス分光器及び電子−イオンコインシデンス分光法を提供する。
【解決手段】放出極角が26±2度の範囲にある電子のみを分析する円筒鏡電子エネルギー分析器を準備し、この円筒鏡電子エネルギー分析器内に飛行時間型イオン質量分析器を配置する。前記円筒鏡電子エネルギー分析器の前方に試料を設置し、前記試料からの電子を検出し、前記飛行時間型イオン質量分析器で前記試料からのイオンを検出する。この電子シグナルとイオンシグナルを利用して電子−イオンコインシデンス分光を行う。 （もっと読む）

【課題】試料上の二次元領域についての複数の質量数のイオン分布イメージを高速且つ高空間分解能で取得し、且つ装置のコストを抑える。
【解決手段】面状のレーザ光等を試料９に照射することで試料９上の二次元範囲の物質を一斉にイオン化し、発生したイオンをその出射位置の相互関係を保持するようにＴＯＦ質量分離部４で質量分離して二次元検出部６に導入する。二次元検出部６はマイクロチャンネルプレート７と蛍光板８と画素周辺記録型撮像素子である二次元アレイ検出器２０とから成る。二次元アレイ検出器２０は光電変換により得た信号電荷を複数フレーム分保持可能であるから、１回のイオン発生からの時間経過に伴って繰り返し高速に撮像したイメージに対応した画素信号を内部に保持し、撮像終了後にその画素信号を順次読み出してデータ処理部１１に送る。これにより、質量数の異なる複数のイオン分布イメージを取得することができる。 （もっと読む）

第１の扇形電場（５）および第２の扇形電場（８）を含むマルチターン飛行時間質量分析器を開示する。第２の扇形電場（８）は、第１の扇形電場（５）と直交するように配置される。イオンは、検出および質量分析される前に質量分析器を複数回周回し得る。これにより、高分解能質量分析器が提供できる。別の実施形態によると、質量分析器は、第１の扇形電場が細長く、かつさらなる扇形電場が第１の扇形電場の長さに沿って千鳥状に配置される開ループ形状を有する。第１および第２の扇形電場（５、８）は、複数の扇形電場区分に細分され得る。
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【課題】個別質量スペクトロメータについて説明する。
【解決手段】分析器構成要素をモジュール上に作製し、そのモジュールにそのモジュールの識別子を含むことにより、ユーザ又はタスクを１つ又は複数のモジュールに一意に関連付けることができる。モジュールは、ハウジング内で取外し可能な状態で受入れられるので、必要な場合は別のモジュールと交換することができる。 （もっと読む）

【課題】圧力レベルの異なる２つのイオン源を切り替えて測定できる質量分析装置を提供する。
【解決手段】ＧＣカラム１により分離された試料ガスを分岐し、第１のイオン源（たとえばＡＰＣＩイオン源）２及び第１のイオン源より圧力レベルの低い第２のイオン源（例えばＥＩイオン源）３にそれぞれ別個に導入する。また、ＡＰＣＩイオン源２に導入する試料ガス流量をＥＩイオン源３に導入する試料ガス流量より多くなるようにして、各イオン源の圧力が維持できるようにした上で、感度面でバランスよく、各イオン化による分析を行えるようにする。 （もっと読む）

【課題】１台の質量分析装置を用いて、前駆イオンのマスクロマトグラムを予測し、良好なＭＳ^ｎデータを得られる可能性が高いタイミングでＭＳ^ｎを実行することができる質量分析システムを提供する。
【解決手段】試料の分離手段と質量分析手段から構成される質量分析システムにおいて、ｎ回目までのサンプル測定で得られたＭＳ^１データから全イオン種溶出パターンを算出し、前記イオン種溶出パターンとＭＳ^ｎデータとを基にｎ＋１回目のサンプル測定時に質量分析するイオン種の優先順位を決定する。 （もっと読む）

イオン流束を計算するためのシステムおよび方法。一実施形態において、質量分析器は、分析期間中に複数のパルスによってサンプルからイオンのビームを発するためのイオン源と、前記イオン源の下流に配置される検出器とを含む。すべてのパルスの対応パルス時間セグメントに各ビンが対応する、繰り返し可能な一連のビンを決定するように構成されるクロックが提供される。さらに、検出器とクロックとに動作可能に結合され、分析期間中の合計パルス数を決定するように構成される制御装置が提供される。制御装置はさらに、繰り返し可能な一連のビンにおける少なくとも１つビンについて、分析期間中にイオン衝撃が検出されなかった対応パルス時間セグメントの数を決定するように構成される。
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試料中の化合物を解析するためのシステムおよび方法。一実施形態において、質量分析計は、試料から複数のイオンを放出するためのイオン源、ならびに、前記イオン源の下流に位置決めされており放出されるイオンの衝撃を検出器上で検出するように構成されている検出器を含む。質量分析計は、検出器およびイオン源と動作可能に連結されており検出済み各イオンのｍ／ｚを計算するように構成されている制御装置も含む。制御装置は、検出済み各イオンのｍ／ｚが所定の質量欠損範囲に入るかどうかを判断するように構成されている質量欠損フィルタを含む。質量分析計は、制御装置に連結されているデータストレージも含み、データストレージは、ｍ／ｚが質量欠損範囲に入る場合、検出済みイオンのｍ／ｚに対応する検出済みイオンｍ／ｚデータを保存するように構成されている。
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【課題】改良された質量分析計および質量分析の方法を提供すること。
【解決手段】期間ΔＴ₁におけるゼロ透過率動作モードと期間ΔＴ₂における非ゼロ透過率動作モードとを繰り返し切り換えてイオンビームを減衰させるイオンビーム減衰器を含む質量分析計が開示されている。イオンビームの減衰の程度は、マークスペース比ΔＴ₂／ΔＴ₁を変化させることによって変化させることができる。イオンビーム減衰器は、イオンをパケットまたはパルスで放出し得るが、イオンのパケットまたはパルスは、イオンビーム減衰器の下流に配置された比較的高圧のイオンガイドまたはガス衝突セルによって、連続したイオンビームに変換され得る。 （もっと読む）

【課題】本発明は、試料を構成する原子および分子の空間的な位置情報と質量情報との両方を同時に高分解能で，しかも高速に測定できるイメージング飛行時間型質量分析装置を提供する
【解決手段】本発明にかかるイメージング質量分析装置１は、レンズ系６０を備えるイオン源１０と、分析部２０と、検出部３０とを備えている。イオン源１０では、試料の広い範囲を同時にイオン化し、上記レンズ系６０を用いて、上記試料のイオン像をそのまま引き出す。その後、分析部２０では、上記試料の上記試料のイオン像をそのまま維持し、上記試料のイオンの質量分離を行う。次に、検出部３０では、試料イオンの到達位置と飛行時間とを同時に検出する。 （もっと読む）